JPS6378567A - Image sensor - Google Patents

Image sensor

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Publication number
JPS6378567A
JPS6378567A JP61224180A JP22418086A JPS6378567A JP S6378567 A JPS6378567 A JP S6378567A JP 61224180 A JP61224180 A JP 61224180A JP 22418086 A JP22418086 A JP 22418086A JP S6378567 A JPS6378567 A JP S6378567A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitors
turned
junction
switching
image sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP61224180A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Komai
敦 駒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP61224180A priority Critical patent/JPS6378567A/en
Publication of JPS6378567A publication Critical patent/JPS6378567A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers

Abstract

PURPOSE:To assure the simultaneousness with incident light and the reduction in production cost by a method wherein outputs from respective photodiodes are once transmitted to respective memory capacitors to be read out successively later. CONSTITUTION:When a precharging power supply terminal 5 is held at specified charging voltage; respective switching MOS transistors 6, 9 are turned on; and after charging respective junction capacitors 8 and respective memory capacitors 10, said transistors 6, 9 are turned off; and after exposure for specified time, the transistors 9 are turned on; the junction capacitors 8 discharged corresponding to the incident light quantity from memory capacitors 10 are charged up to equivalent potential. Later when the transistors 9 are turned off, respective outputs from respective photodiodes 12 are to be transferred to respective memory capacitors 10. Finally, switching MOS transistors 11 are successively turned on by a shift register 1 to read out the outputs by charging current etc. from an output terminal 2 to the memory capacitors 10.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分!7] この発明は、入射光に対する同時性が得られるようにし
たMOS型イメージセンサに関する。
[Detailed description of the invention] [Industrial use! 7] The present invention relates to a MOS image sensor capable of achieving simultaneity with respect to incident light.

[従来の技術] 従来のMOS型イメージセンサとしては、例えば第3図
に示すようなものが知られている。
[Prior Art] As a conventional MOS image sensor, one shown in FIG. 3, for example, is known.

第3図において、12はフォトダイオードであり、この
フォトダイオード12は接合ダイオード7と接合容量8
の並列回路て等価的に示される。
In FIG. 3, 12 is a photodiode, and this photodiode 12 has a junction diode 7 and a junction capacitance 8.
is equivalently shown as a parallel circuit.

フォトダイオード12は、スイッチングMOSトランジ
スタ11の一部を構成しており、スイッチングMOSト
ランジスタ11はシフトレジスタlに、それぞれ並列接
続されている。また、図中2はスイッチングMOSトラ
ンジスタ11の出力端子を示す。
The photodiode 12 constitutes a part of the switching MOS transistor 11, and the switching MOS transistor 11 is connected in parallel to the shift register l. Further, 2 in the figure indicates an output terminal of the switching MOS transistor 11.

このように構成された従来例は以下のような動作を行な
う。
The conventional example configured in this manner operates as follows.

まず、出力端子2を所定電圧VPに保持し、スイッチン
グMO5)−ランジスタ11をオン状態にすることによ
り、フォトタイオード12の接合容量8を所定電圧VP
まで充電する。充電終了後、スイッチングMOS)−ラ
ンジスタ11をオフ状y島にすると、接合容量8に充電
された電荷は、入射光量に応じて放電を開始する。この
状態て−定の時間放首させた後、スイッチングMOS)
ランジスタ11をオン状態にして、再び接合容量8を所
定電圧VPまで充電する。この時、出力端子2から供給
された電荷量か出力信号となる。
First, by holding the output terminal 2 at a predetermined voltage VP and turning on the switching MO5)-transistor 11, the junction capacitance 8 of the photodiode 12 is set to a predetermined voltage VP.
Charge up to. After charging is completed, when the switching MOS transistor 11 is turned off, the electric charge charged in the junction capacitor 8 starts discharging according to the amount of incident light. In this state, after allowing the head to open for a certain period of time, the switching MOS)
The transistor 11 is turned on and the junction capacitance 8 is charged again to the predetermined voltage VP. At this time, the amount of charge supplied from the output terminal 2 becomes the output signal.

以上の動作をシフトレジスタlにより各画素について順
次繰返すことにより、各画素の出力を時系列信号として
得ることができる。
By sequentially repeating the above operations for each pixel using the shift register 1, the output of each pixel can be obtained as a time-series signal.

[この発明か解決しようとする問題点]しかしながら、
このような従来のイメージセンサにあっては、各画素に
対応したフォトダイオードの各出力を順次読出すように
なっていたため、入射光に対する同時性か得られなかっ
た。
[Problem that this invention attempts to solve] However,
In such a conventional image sensor, since each output of a photodiode corresponding to each pixel is read out sequentially, synchronization with respect to incident light cannot be obtained.

一方、CCD型イメージセンサでは各画素の出力を同時
にCCDシフトレジスタに伝送してから読出しを行なう
ため、入射光に対する同時性が得られるか、CCDy!
iCCD型イメージセンサイメージセンサと比較して、
製造プロセスが複雑で製造コストか高く、またイメージ
センサの周辺回路も複雑になるという問題があった。
On the other hand, in a CCD image sensor, the output of each pixel is simultaneously transmitted to the CCD shift register and then read out, so it is important to know whether synchronization with respect to incident light can be achieved or not.
Compared to iCCD type image sensor image sensor,
There are problems in that the manufacturing process is complicated, the manufacturing cost is high, and the peripheral circuitry of the image sensor is also complicated.

このように、MOS型イメージセンサを用いると、各画
素の出力の入射光に対する同時性か得られないという欠
点があり、また同時性を得るためにCCD型イメージセ
ンサを用いるとコストが高くなったり、周辺回路か複雑
になるという欠点があった。
As described above, using a MOS image sensor has the disadvantage that the output of each pixel cannot be synchronized with the incident light, and using a CCD image sensor to achieve synchronization increases the cost. However, the drawback was that the peripheral circuitry became complicated.

[問題点を解決するための手段] この発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされた
ものであって、低コストで製造できるMOS型イメージ
センサで入射光に対する同時性が得られるようにしたイ
メージセンサを提供することを目的としてし)る。
[Means for Solving the Problems] The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in the prior art. The purpose is to provide an image sensor with

この目的を構成するため、この発明は、半導体基板上に
拡散層で構成された接合容量を有する複数個のフォトダ
イオードと、前記各接合容量に隣接して設けられた拡散
層による複数個のメモリ容量と、両容量の間に設けられ
接合容量にメモリ容量を並列接続可能として前記フォト
ダイオードの各出力をメモリ容量に伝送す仝−複数個の
スイッチング素子と、メモリ容量に伝送された各出力を
順次読出すための複数個のスイッチング素子と、前記ス
イッチング素子駆動するためのシフトレジスタと、を備
えている。
In order to achieve this object, the present invention includes a plurality of photodiodes having a junction capacitance formed of a diffusion layer on a semiconductor substrate, and a plurality of memories each having a diffusion layer provided adjacent to each of the junction capacitances. A memory capacitor can be connected in parallel to a junction capacitor provided between both capacitors, and each output of the photodiode is transmitted to the memory capacitor.Therefore, a plurality of switching elements and each output transmitted to the memory capacitor are connected. It includes a plurality of switching elements for sequential reading and a shift register for driving the switching elements.

[作用] このような構成を有するこの発明においては、各フォト
ダイオードの各出力は、スイッチング素子を介して、−
担メモリ容量に伝送される。その後、伝送された出力は
シフトレジスタによりスイッチング素子をONとして、
その出力端子から111次読み出される。したがって、
高価なCCD型イメージセンサを用いなくとも、MOS
型イメージセンサて入射光に対する同時性を得ることが
できる。
[Function] In the present invention having such a configuration, each output of each photodiode is connected to - through a switching element.
transmitted to the carrier memory capacity. After that, the transmitted output turns on the switching element by the shift register,
The 111th order is read from the output terminal. therefore,
MOS without using an expensive CCD image sensor
Simultaneity with respect to incident light can be obtained using a type image sensor.

[実施例] 以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明する。[Example] Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings.

第1図および第2図はこの発明の一実施例を示す図であ
る。
FIG. 1 and FIG. 2 are diagrams showing one embodiment of the present invention.

まず、構成を説明すると、第2図において、13はP形
基板てあり、このP形基板13にN′″拡散層12Aを
形成してフォトダイオード12を構成し、同様にN″″
拡散層6Aを形成してスイッチングMOSトランジスタ
(スイッチング素子)6のソースを構成している。また
、P多基板8の表面には5iftよりなる酸化膜15を
形成し、さらに、酸化膜15上に形成したソース電極6
Bをソースに接続するとともに拡散層12Aと拡散層6
Aとの間にスイッチングMOS)−ランジスタロのゲー
ト電極6Cを形成している。5はソース電極6Bに接続
されたプリチャージ用の電源端子(ソース端子)、4は
ゲート電極6Cに接続されたゲート端子である。
First, to explain the structure, in FIG. 2, reference numeral 13 denotes a P-type substrate, and an N'''' diffusion layer 12A is formed on this P-type substrate 13 to constitute the photodiode 12.
A diffusion layer 6A is formed to constitute a source of a switching MOS transistor (switching element) 6. Further, an oxide film 15 made of 5ift is formed on the surface of the P multi-layer substrate 8, and a source electrode 6 is further formed on the oxide film 15.
B to the source, and the diffusion layer 12A and the diffusion layer 6
A gate electrode 6C of a switching MOS transistor is formed between the transistor A and the gate electrode 6C. 5 is a power supply terminal (source terminal) for precharging connected to the source electrode 6B, and 4 is a gate terminal connected to the gate electrode 6C.

一方、P多基板13上に前記ダイオード12を構成する
拡散層12Aに隣接して同じ大きさのN′″拡散層10
Aを形成して、メモリ容量10を構成するとともに、内
拡散層10A、12Aの間にスイッチングMO5)−ラ
ンジスタ(スイッチング素子)9のゲートTL極9Aを
形成している。3はゲート電極9Aに接続されたゲート
端子である。また、メモリ容量10を構成する拡散層1
0Aに隣接してP多基板13上にN9拡散層11Aを形
成してスイッチングMOS)−ランジスタ(スイッチン
グ素子)11のソースを構成し、このソースに接続して
出力端子2に接続される信号取り出し間のソース電極1
1Bを形成している。拡散層11Aと拡散層10Aとの
間にはスイッチングMO3)ランジスタ11のゲート電
極11Gを形成しており、ゲート電極11Cにはゲート
端子11Aが接続されている。また、14は。
On the other hand, an N'' diffusion layer 10 of the same size is placed adjacent to the diffusion layer 12A constituting the diode 12 on the P multilayer substrate 13.
A is formed to constitute the memory capacitor 10, and a gate TL pole 9A of the switching MO5)-transistor (switching element) 9 is formed between the inner diffusion layers 10A and 12A. 3 is a gate terminal connected to the gate electrode 9A. In addition, the diffusion layer 1 constituting the memory capacity 10
An N9 diffusion layer 11A is formed on the P-multilayer substrate 13 adjacent to 0A to constitute a source of a switching MOS)-transistor (switching element) 11, and is connected to this source to take out a signal connected to the output terminal 2. Source electrode 1 between
1B is formed. A gate electrode 11G of the switching MO3) transistor 11 is formed between the diffusion layer 11A and the diffusion layer 10A, and the gate terminal 11A is connected to the gate electrode 11C. Also, 14.

酸化lA15、ゲート電極I IC,9A、6Cおよび
ソース電極11B、6Bを覆うように形成した遮光膜で
あり、この遮光W214には開孔部14Aか形成されて
いる。入射光は開孔部14Aを介してフォトダイオード
12にのみ入射し、メモリ容量10を構成する拡散層1
0Aには入射しないようにしている。
This is a light-shielding film formed to cover the oxidized lA15, gate electrodes IIC, 9A, 6C, and source electrodes 11B, 6B, and an opening 14A is formed in this light-shielding W214. The incident light enters only the photodiode 12 through the aperture 14A, and the diffusion layer 1 constituting the memory capacitor 10
It is made so that it does not enter 0A.

第1図は第2図に示した1画素の断面構造の等価回路を
示すとともに全画素の回路構成を示しており、拡散層1
2Aて構成されるダイオード12は接合ダイオード7と
接合容量8の並列回路で示され、また前記拡散層10A
はメモリ容量10として、それぞれ示される。ここて、
接合容量8とメモリ容量lOとは同一容量となるように
構成されているか、必ずしも同−容5Bとしなくとも良
い、ダイオード12とメモリ容fl 10との1fil
には、スイッチングMO3)−ランジスタ9が接続され
ており、このスイッチングMOSトランジスタ9を介し
てダイオートエ2の出力は全てメモリ容110に伝送さ
れることになる。また、メモリ容量l 10とシフトレ
ジスタlとに間にはスイッチングMO3)−ランジスタ
11が接続されており、シフトレジスタ2によりスイッ
チングMOSトランジスタ11をONとすることにより
、出力端子2からメモリ容量10に伝送された出力を順
次読み出すようにしている。前記スイッチングMOS)
−ランジスタ9にはタイオート12を介してスイッチン
グMOS)−ランジスタロか接続されており、このスイ
ッチングMO3)−ランジスタロの電源端子5から両ト
ランジスタ6.9をオン状態して接合容量8とメモリ容
量10とを所定電圧VPに充電するようにしている。
Figure 1 shows an equivalent circuit of the cross-sectional structure of one pixel shown in Figure 2, and also shows the circuit configuration of all pixels.
The diode 12 composed of 2A is shown as a parallel circuit of a junction diode 7 and a junction capacitance 8, and the diffusion layer 10A
are each shown as a memory capacity of 10. Here,
The junction capacitance 8 and the memory capacitance lO are configured to have the same capacitance, or they do not necessarily have to be the same capacitance of 5B.
A switching MOS transistor 9 is connected to the switching MOS transistor 9, and all outputs of the diode 2 are transmitted to the memory capacitor 110 via this switching MOS transistor 9. Furthermore, a switching MOS transistor 11 is connected between the memory capacity l 10 and the shift register l, and by turning on the switching MOS transistor 11 by the shift register 2, the memory capacity 10 is transferred from the output terminal 2. The transmitted outputs are read out sequentially. (Switching MOS)
- A switching MOS) - transistor is connected to the transistor 9 via a tie auto 12, and both transistors 6 and 9 are turned on from the power supply terminal 5 of the switching MO 3) - transistor to increase the junction capacitance 8 and the memory capacity 10. and is charged to a predetermined voltage VP.

次に、動作を説明する。Next, the operation will be explained.

まず、ブリチャ〜シ用電源端子5を所定の充電電圧vP
に保持し、各スイッチングMOS)−ランジスタロと各
スイッチングMOSトランジスタ9とをオン状態にして
、各接合容量8と各メモリ容量10を所定電圧vPに充
電する。充電が終了したら各スイッチングMO3)ラン
ジスタロと各スイッチングMOSトランジスタ9をオフ
状態にする。
First, connect the power supply terminal 5 for charging to a predetermined charging voltage vP.
, each switching MOS)-transistor and each switching MOS transistor 9 are turned on, and each junction capacitor 8 and each memory capacitor 10 are charged to a predetermined voltage vP. When charging is completed, each switching MO3) transistor and each switching MOS transistor 9 are turned off.

プリチャージ終了後、各接合容量8に充電された電荷は
入射光量に応じて放電し、充電電圧は所定電圧vPから
減少していくか、メモリ容量lOの充電電圧は所定電圧
vPのまま保持される。
After the precharging is completed, the charge charged in each junction capacitor 8 is discharged according to the amount of incident light, and either the charging voltage decreases from the predetermined voltage vP, or the charging voltage of the memory capacitor IO is maintained at the predetermined voltage vP. Ru.

一定の時間露光を行なった後、各スイッチングMO3)
−ランジスタ9をオン状71にすると、メモリ容量10
から接合台&8に電荷か充電され、両者の電位か等しく
なったところで安定する。例えば、メモリ容量10と接
合容量8の静電容量が等しく、接合容量8の充電電圧か
入射光により所定−、HfJEvpからある電圧Vにな
っていたとすると。
After exposure for a certain period of time, each switching MO3)
- When the transistor 9 is turned on 71, the memory capacity is 10
The junction table &8 is charged with electric charge, and becomes stable when the potentials of both become equal. For example, assume that the capacitance of the memory capacitor 10 and the junction capacitor 8 are equal, and that the charging voltage of the junction capacitor 8 or the incident light changes it from a predetermined value -HfJEvp to a certain voltage V.

電位が(VP+V)/2になったところて安定する。こ
のように電位が安定した後、各スイッチングMO3)−
ランジスタ9をオフ状態にすると、各フォトタイオート
にの各出力は全て各メモリ容量10に伝送されたことに
なる。
It becomes stable when the potential reaches (VP+V)/2. After the potential is stabilized in this way, each switching MO3)-
When the transistor 9 is turned off, all outputs from each photodiode are transmitted to each memory capacity 10.

メモリ容jl 10にへの伝送が終了したら、シフトレ
ジスタlによりスイッチングMO3)−ランジスタ11
を順次オン状態にして、出力端子2からのメモリ容i1
0への充電1(i流などで出力の読出しを行なう。
When the transmission to memory capacity jl 10 is completed, switching MO3)-transistor 11 is performed by shift register l.
are sequentially turned on, and the memory capacity i1 from output terminal 2 is
Charging to 0 1 (Reading the output using i-stream, etc.)

全画素の読出しが終了後、再びプリチャージから繰り返
すことにより、イメージでンサとしての動作をする。
After reading out all pixels, repeating the process from precharging again operates as an image sensor.

以上のように、このイメージセンサは通常のMO3形イ
メージセンサと全く同じプロセスて製造てきるため、製
造コストか安くてきるのにもかかわらず、各)オドダイ
オードに各出力を同時に各メモリ容量lOに伝送し、そ
の伝送された各出力を1項次読み出すようにしているの
で入射光に対する同時性か得られる。
As mentioned above, this image sensor is manufactured using exactly the same process as a normal MO3 type image sensor, so even though the manufacturing cost is low, it is possible to simultaneously send each output to each odd diode to each memory capacity lO Since each transmitted output is read out one term at a time, simultaneity with respect to the incident light can be obtained.

[発明の効果] 以上説明してきたように、この発明によれば、各フォト
ダイオードの出力を一担各メモリ容量に伝送し、この後
伝送された出力を順次読み出すようにしたため、CCD
形イメージセンサを用いなくても、MO3形イメージセ
ンサで入射光に対する同蒔性が得られ、CCD形イメー
ジセンサに比較して製造コストを低減することができる
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the output of each photodiode is transmitted to each memory capacity, and then the transmitted outputs are sequentially read out, so that the CCD
Even without using a CCD type image sensor, the MO3 type image sensor can provide uniformity with respect to incident light, and the manufacturing cost can be reduced compared to a CCD type image sensor.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例を示す回路構成図、第2図
はその一画素の断面構造を示す図、第3図は従来例を示
す回路構成図である。 l・・・・シフトレジスタ、2・・・・出力端子、3゜
4、IIA・・・・ゲート端子、5・・・・プリチャー
ジ用電源端子、6..9.11・・・・スイッチングM
OSトランジスタ、6B、IIB・・・・ソース電極、
6C,9A、I IC・・・・ゲート電極、7・・・・
接合ダイオード、8・・・・接合容量、6A。 10A、IIA、12A・・・・拡散層、13・・・中
シリコン基板、14・・・・遮光膜、14A・・・・開
孔部、15・・・・シリコン酸化膜。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional structure of one pixel, and FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional example. l...Shift register, 2...Output terminal, 3゜4, IIA...Gate terminal, 5...Precharge power supply terminal, 6. .. 9.11...Switching M
OS transistor, 6B, IIB...source electrode,
6C, 9A, I IC...Gate electrode, 7...
Junction diode, 8... Junction capacitance, 6A. 10A, IIA, 12A...diffusion layer, 13...middle silicon substrate, 14...light shielding film, 14A...opening portion, 15...silicon oxide film.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 半導体基板上に拡散層で構成された接合容量を有する複
数個のフォトダイオードと、前記各接合容量に隣接して
設けられた拡散層による複数個のメモリ容量と、両容量
の間に設けられ接合容量にメモリ容量を並列接続可能と
して前記フォトダイオードの各出力をメモリ容量に伝送
する複数個のスイッチング素子と、メモリ容量に伝送さ
れた各出力を順次読出すための複数個のスイッチング素
子と、前記スイッチング素子を駆動するためのシフトレ
ジスタと、を備えたことを特徴とするイメージセンサ。
A plurality of photodiodes each having a junction capacitor formed of a diffusion layer on a semiconductor substrate, a plurality of memory capacitors each having a diffusion layer provided adjacent to each of the junction capacitors, and a junction provided between the two capacitors. a plurality of switching elements capable of connecting memory capacitors in parallel to the capacitors and transmitting each output of the photodiode to the memory capacitor; and a plurality of switching elements for sequentially reading each output transmitted to the memory capacitor; An image sensor comprising: a shift register for driving a switching element.
JP61224180A 1986-09-22 1986-09-22 Image sensor Pending JPS6378567A (en)

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JP61224180A JPS6378567A (en) 1986-09-22 1986-09-22 Image sensor

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0226076A (en) * 1988-07-14 1990-01-29 Sharp Corp Semiconductor device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0226076A (en) * 1988-07-14 1990-01-29 Sharp Corp Semiconductor device

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