JPS6367741A - Hinge tape - Google Patents

Hinge tape

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JPS6367741A
JPS6367741A JP62159513A JP15951387A JPS6367741A JP S6367741 A JPS6367741 A JP S6367741A JP 62159513 A JP62159513 A JP 62159513A JP 15951387 A JP15951387 A JP 15951387A JP S6367741 A JPS6367741 A JP S6367741A
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JP
Japan
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tape
slot
pattern
fingers
bonding
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JP62159513A
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Japanese (ja)
Inventor
アリ・エマンジョメー
リチャード・ライス
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National Semiconductor Corp
Original Assignee
National Semiconductor Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Abstract] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体素子のテープ自動ボンディング(TAB
)に関する。TABの基本的な教示については米国特許
第4.234,666号を参考にすることにする。19
80年4月7日付同時係属出願第138.030号「半
導体自動組立のためのリード設計」(カーメン、D、バ
ーンズ)(現在1982年8月12日付第407,51
5号の継続出願のために放棄済み)には熱圧縮ボンディ
ングに有効な一体形の歪軽減用材を有するボンディング
・テープが開示されている。上記引例中の教示は参考用
に本文中に組込んである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to tape automatic bonding (TAB) of semiconductor devices.
) regarding. Reference is made to US Pat. No. 4,234,666 for the basic teachings of TAB. 19
Co-pending Application No. 138.030, ``Lead Design for Automated Semiconductor Assembly,'' dated April 7, 1980 (Carmen, D., Burns) (currently No. 407,51, dated August 12, 1982)
No. 5 (abandoned for continuation application) discloses a bonding tape having an integral strain relief material useful in thermocompression bonding. The teachings in the above references are incorporated herein by reference.

基本的にいってT A Bの単一層テープ・バージョン
の場合メタルテープは少なくとも一列(望むらくは2列
)のインデキシングならびに搬送用ロケータ孔を備えて
いる。テープ内にはロケータ孔と整合するように一連の
個性窓が形成される。
Basically, in the single layer tape version of T A B the metal tape is provided with at least one row (preferably two) of indexing and transport locator holes. A series of individual windows are formed in the tape to align with the locator holes.

それぞれの個性窓は、該個性窓の辺縁部から内側方向に
、ICチップその他の電子的な素子の如き特定の半導体
素子上でボンディング・パッド・パターンを整合するよ
うに設計された、中心アレーに延びるメタル・フィンガ
・パターンを備えている。テープは、テープ・フィンガ
を、好ましくはTCガング・ボンディング法によりその
時テープに取付けられることになるICチップにボンデ
ィングする自動化機を通過する。
Each individual window includes a central array designed to align a bonding pad pattern on a particular semiconductor device, such as an IC chip or other electronic device, inwardly from the edge of the individual window. It has a metal finger pattern that extends to . The tape is passed through an automated machine that bonds the tape fingers to the IC chips that are then to be attached to the tape, preferably by the TC Gang bonding method.

メタル・フィンガを付着したICチップは、次いでテー
プから切り取られ第2構造にボンディングされ、プリン
ト配線板上に直接実装するようにして更にパッケージし
たりデュアル・インライン・パッケージ(D I P)
やその他のハウジング内に格納される。この後者の方法
は、チップフレームを取付けたフィンガをDIPソケッ
ト内に最終的にプラグインもしくはプリント配線板内の
適当な孔に実装可能なリードアレーを使用した、より実
質的なリードフレーム上にマウントするプロセスを伴う
のが普通である。
The IC chip with the metal fingers attached is then cut from the tape and bonded to a second structure for further packaging such as direct mounting onto a printed wiring board or dual in-line packaging (DIP).
or other housing. This latter method allows the fingers with the chip frame attached to be mounted on a more substantial lead frame using a lead array that can ultimately be plugged into a DIP socket or mounted into appropriate holes in a printed wiring board. It usually involves a process of

先に指摘したように、アセンブリ・テープはまづICチ
ップをテープ・ラインガ・アレーの各々にボンディング
する自動機を通り抜ける。これはインナー・リード拳ボ
ンディング(ILB)形成と呼ばれる。本作業において
は、サーモード(tt+crmode)が、メタル・テ
ープ・フィンガの内側端部を、テープ・フィンガをTC
ガング・ボンディングするように、チップ上のボンディ
ング・パッドに加圧する。本作業の場合、テープは、テ
ープを制御された空間位置に保持するテープ・ガイド・
シュー下部を通過する。このシューは機械を通過すると
きにテープがたわむような形をしている。かかるたわみ
はテープ・フィンガ・アレー内の素子を変位させるよう
に作用しその所期経路から、ボンディングされたチップ
を偏向させるように作用する。ボンディングされたチッ
プは、偏向すると機械内に配置されたまだボンディング
されていない他のチップと接触し破裂をひきおこす慮れ
がある。完全に自動化された設備の場合、フィンガ・パ
ターンを求めそれを半導体素子ボンディング・パッドと
整合させるために映像処理法が用いられる。もし一本の
リードが曲がるとその光学的反射が変化して映像処理が
不正確になるおそれがある。自動化した設備は、曲がっ
たリードを紛失したフィンガと混同してアセンブリ・テ
ープを不合格品とするおそれがあることが伴っている。
As previously noted, the assembly tape first passes through an automated machine that bonds the IC chips to each of the tape liner arrays. This is called inner lead fist bonding (ILB) formation. In this work, a thermode (tt+crmode) is used to connect the inner edge of the metal tape finger and the tape finger to the TC.
Pressure is applied to the bonding pads on the chip, as if performing a gang bond. For this operation, the tape is attached to a tape guide that holds the tape in a controlled spatial position.
Pass through the bottom of the shoe. This shoe is shaped so that the tape flexes as it passes through the machine. Such deflection acts to displace elements within the tape finger array and deflect the bonded chip from its intended path. If a bonded chip is deflected, it may come into contact with other unbonded chips placed in the machine and cause rupture. In fully automated equipment, image processing methods are used to determine the finger pattern and align it with the semiconductor device bonding pads. If one lead is bent, its optical reflection may change and image processing may become inaccurate. Automated equipment involves the possibility of confusing bent leads with missing fingers and rejecting the assembly tape.

[従来の技術] 第1図においてセグメント10は従来技術に用いられて
いた種類のアセンブリ・テープの一部を示す。ロケータ
孔11はテープの両辺縁部に沿って延びる孔の列を形成
する。これらの孔はフィンガ・パターンに対してインデ
キシングされる。横方向に延びるダム・バー12とテー
プ側部レール13とにより形成されるいわゆる個性窓の
内部に延びるフィンガ・パターンが一つ示されている。
PRIOR ART In FIG. 1, segment 10 represents a portion of an assembly tape of the type used in the prior art. Locator holes 11 form a row of holes extending along both edges of the tape. These holes are indexed to the finger pattern. One finger pattern is shown extending within the so-called individual window formed by the laterally extending dam bars 12 and tape side rails 13.

一点鎖線で輪部を示したICチップ14は、そのボンデ
ィング・パッドが片持ち方式に個性窓内へ延びるフィン
ガ15の内側延長部にボンディングされることになる。
The IC chip 14, whose annulus is shown in dash-dotted lines, will be bonded to the inner extension of the finger 15 whose bonding pads extend in a cantilevered manner into the individual window.

まず、チップ14はILB作業によってテープに取付け
られる。その後チップと取付けられたリードは一点鎖線
16でテープから切り取られる。その後ボンディングさ
れたフィンガの外側延長部は第2構造へ取付けられチッ
プ・パッケージングを促進する。一つのよ(知られた方
法はメタル・フィンガをプリント配線基板上のメタル・
トレースヘボンディングすることから成る。その後、チ
ップと配線板のすぐ近接する部分はプラスチック化合物
の小塊により被覆される。もう一つのよく知られた方法
はメタル・フィンガをもっと大きな実質的なリードフレ
ームにボンディングする方法である。その後、プラスチ
ック成形化合物がリードフレームのまわりに形成され周
知のプラスチックDIPをつくりだす。大きなリードフ
レーム内のリードは、成形プラスチックから突出して適
当な接続をつくりだすピン素子を形成する。
First, the chip 14 is attached to tape by an ILB operation. The chip and attached leads are then cut from the tape along dash-dotted lines 16. The outer extensions of the bonded fingers are then attached to the second structure to facilitate chip packaging. One known method is to attach the metal fingers to the metal
It consists of tracing head bonding. The immediate areas of the chip and the wiring board are then coated with a nodule of plastic compound. Another well-known method is to bond metal fingers to a larger substantial lead frame. A plastic molding compound is then formed around the lead frame to create the well-known plastic DIP. The leads within the large lead frame form pin elements that protrude from the molded plastic to create the appropriate connections.

第2図はILB機の要素を示す簡単図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the elements of an ILB machine.

本機の場合、処理されたシリコンウェハは、ヒート・リ
リーサプル・セメント19により支持プレート18(ガ
ラスもしくはセラミックの場合が普通である)上にマウ
ントされる。ウェハが支持プレートに取付けられる一方
、それはソーによりチップにダイシングされる。このこ
とによってプレート18に接着されたICチップ20の
アレーが残ることになる。ILB機はプレート18を上
下させそれをX、 Y方向にインデキシングするための
手段(図示せず)を備えている。ILB機はテープ10
を格納する位置決めチャネルを備えるテープ・ガイド・
シュー21を備える。シュー21の中心部分の孔22は
テープ10内のフィンガ・パターンの内側端部間にかか
るように設計されたボンディング面24を有するサーモ
ード23を格納するように配置される。
In this machine, the processed silicon wafer is mounted on a support plate 18 (usually glass or ceramic) with heat release cement 19. While the wafer is attached to a support plate, it is diced into chips by a saw. This leaves an array of IC chips 20 adhered to plate 18. The ILB machine includes means (not shown) for raising and lowering the plate 18 and indexing it in the X and Y directions. ILB machine has tape 10
Tape guide with positioning channel for storing
A shoe 21 is provided. A hole 22 in the central portion of the shoe 21 is arranged to house a thermode 23 having a bonding surface 24 designed to span between the inner edges of the finger pattern in the tape 10.

典型的な場合、テープ・ガイド・シュー21は水平に配
列された中心ボンディング位置に対して約30°の角度
を形成する接近と退去とのリーチを有する。ILB機も
またテープ搬送インデキシング引取リールと供給リール
との機構(図示せず)を備えている。作業中、本機はフ
ィンガ・パターンが孔22下に正確に配置されるように
テープを前進させる。その後、プレート18上にマウン
トされたICチップは、テープ・ガイド・シュー21の
ちょうど下方のボンディング位置に上昇した、テープ・
フィンガとプレート18とに対して所定位置にインデキ
シングされる。その後、加熱されたサーモード23は、
下降し十分な圧力と熱によってテープに対して押しつけ
られ、メタル・フィンガをチップ・ボンディング・パッ
ドにガング・ボンディングする。サーモードはTCボン
ディングするために加熱されるため、チップは、該チッ
プをプレート18上の素子19から離すように加熱され
る。
Typically, the tape guide shoe 21 has approach and exit reaches that form an angle of approximately 30 degrees with respect to the horizontally aligned central bonding location. The ILB machine also includes a tape transport indexing take-off and supply reel mechanism (not shown). During operation, the machine advances the tape so that the finger pattern is placed precisely under the hole 22. Thereafter, the IC chip mounted on the plate 18 is raised to the bonding position just below the tape guide shoe 21.
It is indexed into position relative to the finger and plate 18. After that, the heated thermode 23
It is lowered and pressed against the tape with sufficient pressure and heat to gang bond the metal fingers to the chip bonding pads. As the thermode is heated for TC bonding, the chip is heated to move it away from element 19 on plate 18.

その後サーモード27は上昇しプレート18は下降し、
テープは前進して新たなフィンガ・パターンヲ所定位置
に持ち込み、新たなテープ部位を所定位置にインデキシ
ングすることができることになる。
After that, the thermode 27 rises and the plate 18 falls,
The tape can be advanced to bring the new finger pattern into position and index the new tape section into position.

必要ならば光学モニタ(図示せず)を本機内に組込んで
インデキシング・プロセスを観察できるようにすること
ができる。更に、必要ならばテープ10をプレート18
に対して、自動的に、光学的に位置決めすることもつげ
加えることができよう。
If desired, an optical monitor (not shown) can be incorporated into the machine to allow observation of the indexing process. Furthermore, if necessary, the tape 10 can be attached to the plate 18.
Automatic optical positioning could also be added.

第2図からはテープ10は、ILB機を通過するときに
それがテープ・ガイド・シュー21を横断するときにた
わまなければならないことが判る。
It can be seen from FIG. 2 that tape 10 must flex as it traverses tape guide shoe 21 as it passes through the ILB machine.

テープが左からボンディング位置に進入するとき、テー
プ・フィンガはプレート18方向に下部方向に曲がる傾
向をもつことになろう。第1図について見ると、この作
用は、側部レール13に取付けられたフィンガよりも、
ダム会バー121ことりつけられたフィンガを歪ませる
傾向をもつことになろう。
When the tape enters the bonding position from the left, the tape fingers will tend to bend downwardly toward the plate 18. Referring to FIG.
The dam club bar 121 will have a tendency to distort the attached fingers.

この条件はダム・バーを非常に広くすることによって容
易にすることができる。しかしながら、このことによっ
てフィンガ・パターンの密度を大きくするためにもっと
よく使用することができる貴重なテープ面積をむだにし
てしまう。いいかえれば、ダム・バー12をできるだけ
狭くすることが望ましい。
This condition can be facilitated by making the dam bar very wide. However, this wastes valuable tape area that could be better used to increase finger pattern density. In other words, it is desirable to make the dam bar 12 as narrow as possible.

ボンディング領域からのテープ出口にはもう一つの条件
が存在する。−たんテープ・フィンガがICチップにボ
ンディングされるとチップはテープの一部になる。この
ことはボンディング後にチップがテープをこわばらせる
ことを意味する。
Another condition exists for tape exit from the bonding area. - When the tape fingers are bonded to the IC chip, the chip becomes part of the tape. This means that the chip stiffens the tape after bonding.

そのため、ボンディング領域を退去するテープ製品は、
進入する製品よりも相当こわばることになろう。このた
め、ボンディング領域を退去するテープが、テープ・ガ
イド・シューに従うことができなくなる傾向をもつこと
になる。このため、テープがボンディング位置の右にル
ープを形成し、丁度取付けられたばかりのチップ20′
はその期待位置から下部方向に配置されることになろう
。このように変位したチップは支持プレート18上の他
のチップと接触状態に入ることが判る。このために、ボ
ンディングされたチップもしくはマウントされたチップ
の何れか(もしくはその双方)を損傷することになるか
ら、この条件を避けることが肝要である。本発明により
提供されるテープの柔軟性は、上記問題点の双方を解決
するものである。
Therefore, the tape product leaving the bonding area is
It will be considerably stiffer than the incoming product. As a result, tape exiting the bonding area will tend to be unable to follow the tape guide shoe. This causes the tape to form a loop to the right of the bonding location, causing the tape to form a loop around the just-attached chip 2'.
will be placed downward from its expected position. It can be seen that the chips thus displaced come into contact with other chips on the support plate 18. It is important to avoid this condition as it can damage either the bonded chip or the mounted chip (or both). The tape flexibility provided by the present invention solves both of the above problems.

本発明の望ましい実施例は、テープ・パターン内のメタ
ル・フィンガがそれらがICパッドにボンディングされ
るその端部にバンブを備えているいわゆるバンブ・テー
プに関する。本発明は平坦なメタル・フィンガがICボ
ンディング・パッド上に形成されたメタル・バンブにボ
ンディングされる旧来のテープ組立系においても有効で
ある。
A preferred embodiment of the invention relates to a so-called bump tape in which the metal fingers in the tape pattern are provided with bumps at their ends where they are bonded to IC pads. The present invention is also useful in traditional tape assembly systems where flat metal fingers are bonded to metal bumps formed on IC bonding pads.

同様にして、単一層のメタル・テープ形式が望ましいが
、本発明は2層もしくは3層のアセンブリ・テープ上に
使用することができる。
Similarly, although a single layer metal tape format is preferred, the present invention can be used on two or three layer assembly tapes.

第1図のテープは両面ホトリソグラフィー・メタル・エ
ツチング法を用いて製作するのが普通である。まず、メ
タルの両面はホトレジストで被覆される。その後マスク
を用いて両面を異なった光パターンに露光する。第1図
に示した側はフィンガ・パターンを表わす。典型的には
ロケータ孔11は、フィンガをつくりだすと同時につく
りだし、露光マスクが自動的にインデキシングされたロ
ケータ孔を与えるようにする。テープの対向側はレジス
トをフィンガの先端にわたって残すが、フィンガの隣接
部分には残さないような光パターンで露光される。その
後、テープは、該テープを中途を僅かに越えてエツチン
グする工程で両側をエツチングする。両面をエツチング
するとメタルは完全に除去されることになる。このエツ
チングによって先端に隣接した領域でフィンガが薄くな
リフィンガ先端にはちりあがったすなわちバンプ部分が
つくりだされることになる。このバンブのためにテープ
・フィンガを普通のICチップ・ポンディングパッドに
TCボンディングすることが可能になる。TCボンディ
ング中にフィンガのバンブが崩れてテープもしくはボン
ディング・パッドに不均一さが収納されることになり、
信頼性のあるガング・ボンディング作業はパターン内の
フィンガの全てを同時に接着させることになろう。
The tape of FIG. 1 is typically fabricated using a double-sided photolithographic metal etching process. First, both sides of the metal are coated with photoresist. A mask is then used to expose both sides to different light patterns. The side shown in Figure 1 represents the finger pattern. Typically, the locator holes 11 are created at the same time as the fingers are created, so that the exposure mask automatically provides indexed locator holes. The opposite side of the tape is exposed with a pattern of light that leaves resist across the tips of the fingers, but not adjacent portions of the fingers. The tape is then etched on both sides in a step that etches the tape slightly past the halfway mark. Etching both sides will completely remove the metal. This etching creates a raised or bumped area at the tip of the refinger where the finger is thinner in an area adjacent to the tip. This bump allows TC bonding of the tape fingers to common IC chip bonding pads. During TC bonding, the bumps on the fingers may collapse, creating unevenness in the tape or bonding pad.
A reliable gang bonding operation will bond all of the fingers in the pattern at the same time.

[発明が解決しようとする問題点及び目的]本発明の目
的は、アセンブリ・テープの柔軟性を相当大きくするこ
とである。
Problems and Objects to be Solved by the Invention The object of the invention is to considerably increase the flexibility of the assembly tape.

本発明の目的は、更にアセンブリ・テープにおける連続
的なフィンガ・パターンどうしを隔離することによって
、テープのたわみが隣接フィンガ・パターンの変形を生
じさせないようにすることである。
It is a further object of the invention to isolate successive finger patterns in the assembly tape so that sagging of the tape does not cause deformation of adjacent finger patterns.

本発明の目的は更に、アセンブリ・テープの隣接フィン
ガ・パターンどうしを機械的に隔離することによってテ
ープがガイド・シューの形に従うようにテープの柔軟性
を大きくすることである。
It is a further object of the present invention to increase the flexibility of the tape so that it conforms to the shape of the guide shoe by mechanically isolating adjacent finger patterns of the assembly tape.

[問題点を解決するだめの手段及び作用1以上の目的な
らびにその他の目的はアセンブリ・テープにおいて達成
される。テープはテープ辺縁部に沿って延びる少なくと
も一列、望ましくは2列のロケータ孔を備える。継起す
るフィンガ・パターンはダム・バーと呼ばれる狭い横断
部分により隔離される。ダム・バーはフィンガ・パター
ンがその内部に延びる個性窓の横手方向境界を形成する
。長手方向境界はテープに沿って延びロケータ孔を有す
る側部レールによりつくりだされる。駆動スプロケット
は、ロケータ孔内に延びテープをインデキシングして搬
送する歯を備えている。テープ・フィンガの内側端部は
、テープがガイド・シュー下を通過するILB作業にお
いて、ICチップの対になったボンディング・パッドに
TCガング・ボンディングされる。テープはヒンジをそ
の構造内に組込むことによって柔軟にされる。ダム・バ
ーを横断するスロットを形成して、隣接するフィンガ・
パターンどうしが互いに機械的に隔離されるようにする
。望ましい実施例においては、スロットはロケータ孔の
内側部分に沿って存在する線で終結するように延びてい
る。望ましい実施例の更なる一部として、ヒンジ作用は
、テープのその部分を横切ってロケータ孔の外側辺縁部
へ延びる厚さを減じられた断面形をしたスロットを越え
て延びる。これはロケータ孔の外側辺縁部からテープの
辺縁部へ延びるテープの全厚部分を残す。この厚さの減
じられたレール部分は、相当な強度をテープに付与し側
部レールのせん新運動に抗することになる。このことに
よってテープがガイド・シュー下をたわむ時にテープ内
の圧縮応力が軽減されることになる。その結果、テープ
は、それがILB機によりインデキシングされるときに
ガイド・シューの形にぴったり従うことになろう。スロ
ットが存在することによってテープがたわむときにテー
プ・フィンガが偏向することがないという効果が確保さ
れる。テープ全体の柔軟性によって、チップ・ボンディ
ング後にボンディングされたチップがILB機内で他の
まだボンディングされていないチップに接触することは
なくなる。
SUMMARY OF THE INVENTION One or more objects and other objects are achieved in an assembly tape. The tape includes at least one, and preferably two, rows of locator holes extending along the tape edge. Successive finger patterns are separated by narrow transverse sections called dam bars. The dam bar forms the lateral boundary of the individual window into which the finger pattern extends. The longitudinal boundaries are created by side rails extending along the tape and having locator holes. The drive sprocket includes teeth that extend into the locator hole for indexing and transporting the tape. The inner ends of the tape fingers are TC gang bonded to mated bonding pads on the IC chip in an ILB operation where the tape passes under a guide shoe. The tape is made flexible by incorporating hinges into its structure. Form a slot across the dam bar to connect adjacent fingers.
Ensure that patterns are mechanically isolated from each other. In the preferred embodiment, the slot extends to terminate at a line along the inner portion of the locator hole. As a further part of the preferred embodiment, the hinge action extends over a reduced-thickness cross-sectional slot extending across that portion of the tape to the outer edge of the locator hole. This leaves a full thickness section of tape extending from the outer edge of the locator hole to the edge of the tape. This reduced thickness rail portion provides significant strength to the tape to resist shearing motion of the side rails. This reduces compressive stress within the tape as it flexes under the guide shoe. As a result, the tape will closely follow the shape of the guide shoe when it is indexed by the ILB machine. The presence of the slot ensures that the tape fingers are not deflected when the tape flexes. The overall flexibility of the tape prevents bonded chips from touching other unbonded chips in the ILB machine after chip bonding.

[実 施 例] 第3図は、第1図に類似したテープのセグメントの正面
図で本発明によるヒンジ部分を詳しく示したものである
。テープ部分20は、側部レール13の従来のロケータ
孔11と、ダム・バー12と、個性窓内に延びるフィン
ガ15とを備える。各々のダム・バー12には、ロケー
タ孔11の内側のリーチに規定される位置に延び出るス
ロット21が横断する。
EXAMPLE FIG. 3 is a front view of a tape segment similar to FIG. 1, detailing the hinge portion according to the invention. Tape section 20 includes conventional locator holes 11 in side rails 13, dam bars 12, and fingers 15 that extend into the individual windows. Each dam bar 12 is traversed by a slot 21 that extends to a position defined by the inner reach of the locator hole 11.

厚さを減じられた部分22がスロットを越えてロケータ
孔11の外側のリーチへと延びる。厚さを減じられた部
分22は、スロット21よりも広く作られテープ・フィ
ンガ・パターンを規定する側からテープ内へエツチング
される。先に説明したように、テープはフィンガ・パタ
ーン側(第1図と第3図に示す)と、その内部にテープ
・ボンディング・バンプが製作されるバンプ側とを有す
る。この後者の側は第1図と第3図においてそむいた側
である。テープ製作プロセスにおいては、第1図と第3
図に描かれた面内ヘエッチングされるパターンは、スロ
ット12と厚さを減じられた領域22とを有することに
なる。テープのバンブ側はスロット21のエツチングを
含むことになる。そのためスロットはテープ厚を完全に
貫いて延びる一方、領域22はテープの中途を若干越え
て延びることになる。
A reduced thickness portion 22 extends beyond the slot to the outer reach of the locator hole 11. A reduced thickness portion 22 is etched into the tape from the side that is made wider than the slot 21 and defines a tape finger pattern. As previously discussed, the tape has a finger pattern side (shown in FIGS. 1 and 3) and a bump side within which tape bonding bumps are fabricated. This latter side is the side facing away in FIGS. 1 and 3. In the tape production process, Figures 1 and 3
The in-plane etched pattern depicted in the figure will have slots 12 and areas of reduced thickness 22. The bump side of the tape will include etchings of slots 21. The slot thus extends completely through the thickness of the tape, while region 22 extends slightly beyond the middle of the tape.

スロット21は隣接するフィンガ・パターンどうしを機
械的に隔離していることが判る。テープがチップ取付け
に先立ってたわむと、フィンガ15の歪みはみられない
。それらはテープがたわむときその最初の面内に位置す
ることになる。チップがILBでテープに取付けられた
後、その結果生ずるテープのこわばりは、テープの柔軟
性を大きく低下させることはなく、テープはガイド・シ
ュー上のその通過経路に容易に従うことができる。
It can be seen that the slots 21 mechanically isolate adjacent finger patterns. When the tape is flexed prior to chip attachment, no distortion of fingers 15 is observed. They will be located in the initial plane of the tape as it flexes. After the chip is attached to the tape at the ILB, the resulting stiffness of the tape does not significantly reduce the flexibility of the tape and the tape can easily follow its path over the guide shoe.

厚さを減じられた領域22は側部レール13部分でのテ
ープのたわみを大きくする。それらはテープのフィンガ
・パターン側にエツチングされるため、それらはメタル
表面を圧縮状態におく傾向を有するテープたわみ作用を
小さくするように作用することになる。このためテープ
がILB機においてテープ◆ガイド・シューを横断する
ときにたわむのが容易になる。領域22は更に側部レー
ル13間のせん新運動に抗するほどの相当なテープ強度
を与える。
The reduced thickness region 22 increases the tape deflection at the side rail 13 portion. Because they are etched into the finger pattern side of the tape, they will act to reduce tape flexing effects that tend to place the metal surface in compression. This makes it easier for the tape to sag as it traverses the tape guide shoes in the ILB machine. Region 22 also provides considerable tape strength to resist shearing motion between side rails 13.

第1図に関して指摘したように、ILB後にテープ・フ
ィンガ15は個性窓の丁度内側に位置した地点でテープ
から切り取られる。これは普通、パンチとダイの組合せ
によって行われるがその組合せは鋭い条件と十分に制御
された相対関係に維持されなければならない。パンチは
繰返し使用されるため、摩損し、従って時折きれいな分
離を生ずるように研ぐ必要がある。ヒンジ・テープの一
つの大きな利点は、それがいつ切り取りパンチを研ぐ必
要があるかを指示する上で有効であるという点である。
As noted with respect to FIG. 1, after ILB the tape finger 15 is cut from the tape at a point located just inside the individual window. This is usually accomplished by a punch and die combination, which must be maintained in sharp conditions and well-controlled relationships. Because the punches are used repeatedly, they become abrasive and therefore occasionally need to be sharpened to produce a clean separation. One great advantage of hinge tape is that it is useful in indicating when the tear-off punch needs to be sharpened.

このことを行うために切り取り作業から退去するテープ
・スクラップを点検する。
To do this, inspect the tape scrap as it leaves the cutting operation.

パンチが鈍いと、切り取り作業によってダム・バー内で
テープ材料が裂けて変形することになる。
If the punch is dull, the cutting operation will tear and deform the tape material within the dam bar.

スロット21の存在によって非常に細いダム・バー残部
が生ずることになる。もし切り取り作業がきれいにされ
る場合には、ダム・バーの残りは歪みを生じないことに
なろう。しかしながら、もし切り取りパンチが十分に鋭
くないと、ダム・バーの残りが歪むことになろう。
The presence of slot 21 results in a very thin dam bar remainder. If the cut is made clean, the rest of the dam bar will be free of distortion. However, if the cutout punch is not sharp enough, the rest of the dam bar will become distorted.

第3図は本発明の実施例を示したものであるが、他の構
成のものを使用してもよい。例えば領域22をスロット
21と同一の幅を有するように作ることもできる。同様
にして、領域22は一部をエツチングするのではなくテ
ープ全体を完全にエツチングすることもできる。スロッ
ト21はそれらが図のように孔11の内側辺縁部に延び
るのではなく丁度フィンガ・パターンどうしにまたがる
処で終結するようにすることができる。肝要な特性は、
テープがたわむときに隣接するフィンガ)パターンどう
しを機械的に隔離すると共に側部レールせん新運動に対
する十分な抵抗を維持することである。
Although FIG. 3 shows an embodiment of the invention, other configurations may be used. For example, region 22 can be made to have the same width as slot 21. Similarly, region 22 could be completely etched over the entire tape rather than being partially etched. The slots 21 could be such that they terminate just across the finger patterns rather than extending to the inner edges of the holes 11 as shown. The essential characteristics are
The objective is to mechanically isolate adjacent finger patterns from each other as the tape flexes while maintaining sufficient resistance to side rail shearing motion.

第4図は本発明の代替形を示す。この場合ダム・バー1
2を一連のスロット31が横断する。これらのスロット
は全体としてダム・バー内の横断スロットの等価物を形
成するように作用する。そのため、スロット31は第3
図のスロット21の等価物である。
FIG. 4 shows an alternative form of the invention. In this case dumb bar 1
2 is traversed by a series of slots 31. These slots collectively act to form the equivalent of a transverse slot in a dam bar. Therefore, the slot 31 is the third
This is the equivalent of slot 21 in the figure.

当業者が更なる発明に頼ることなく本発明を実施できる
ように本発明を説明した。このような当業者が前述の説
明を読んだとき、代替や等価なものは、本発明の精神と
意向内で明らかであろう。
The invention has been described to enable any person skilled in the art to practice the invention without resorting to further invention. Upon reading the foregoing description, alternatives and equivalents will be apparent to such skilled persons within the spirit and spirit of the invention.

従って、本発明の範囲は特許請求の範囲によってのみ限
定されることを意図している。
Accordingly, it is intended that the scope of the invention be limited only by the claims that follow.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はボンディング・テープの従来形を示すテープセ
グメントの正面図、 第2図はILB機の一部を示す概略図、第3図はたわみ
を大きくするスロットを有するヒンジ・テープのセグメ
ントの正面図、第4図は代替形を示すヒンジ・テープの
セグメントの正面図。 10・・・テープ・セグメント 11・・・ロケータ孔
13・・・側部レール     12・・・ダム・バー
14・・・ICチップ     15・・・フィンガ1
8・・・支持プレート    20・・・テープ部分2
L 31・・・スロット 22・・・厚さを減じられた領域 (外4名) く) 手続補正書(方式) 昭和/;年 ソ月−)2日
Figure 1 is a front view of a tape segment showing a conventional type of bonding tape. Figure 2 is a schematic diagram showing a part of an ILB machine. Figure 3 is a front view of a hinge tape segment with a slot that increases deflection. FIG. 4 is a front view of a segment of hinge tape showing an alternative form. 10... Tape segment 11... Locator hole 13... Side rail 12... Dam bar 14... IC chip 15... Finger 1
8...Support plate 20...Tape portion 2
L 31...Slot 22...Reduced thickness area (4 people in addition)) Procedural amendment (method) Showa/;

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、少なくとも一辺縁部に沿って延びる、インデキシン
グ用と搬送用との一列のロケータ孔と、テープの長さに
沿って間隔をおいて位置し上記ロケータ孔にインデキシ
ングされる複数の独立したメタル・フィンガ・パターン
とを有するアセンブリ・テープであって、上記メタル・
フィンガ・パターンのそれぞれが個性窓の辺縁部から内
側方向に片持ち方式で延び、上記テープにボンディング
される電子的な素子上でボンディング・パッド・パター
ンと整合するアレーを形成するフィンガ・アレーを備え
、上記独立したパターンが、上記テープを横切って横方
向に延び上記個性窓の横断辺縁部を規定する働きをする
ダム・バーにより互いに隔離されるようにしてなるアセ
ンブリ・テープにおいて、 スロット・パターンが上記テープ内に形成され上記ダム
・バーを横切って上記テープに横断するように延びるこ
とによって隣接する個性窓内の上記フィンガ・パターン
が互いに機械的に隔離され上記テープのたわみが大きく
なることを特徴とするヒンジ・テープ。 2、上記スロット・パターンが、単一の横断スロットの
等価物をつくりだす、一列に形成された複数の独立のス
ロットから構成されることを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載のヒンジ・テープ。 3、上記スロットと整合して延び上記ロケータ孔にまた
がる厚さを減じられた 上記側部レール内のある領域を
備えることによって、上記ダム・バー領域内の上記テー
プの柔軟性が実質的に改良されることを特徴とする特許
請求の範囲第1項に記載のヒンジ・テープ。 4、厚さを減じられた上記領域が上記スロットより実質
的に広いことを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載
のヒンジ・テープ。 5、上記テープがホトリソグラフィによりエッチングさ
れ上記フィンガ・パターンをつくる第1の面と、更にエ
ッチングされて上記フィンガを規定し該フィンガの内側
に延びる端部にボンディング・バンプを提供する第2の
面と、上記テープの上記第1面内へエッチングされた、
厚さを減じられた上記領域と、を有することを特徴とす
る特許請求の範囲第3項に記載のヒンジ・テープ。 6、メタル・フィンガを電子的な素子にテープ組立ボン
ディングするために使用されるアセンブリ・テープをつ
くりだす方法において、 各パターンが上記電子的な素子と関連する ボンディング・パッド・パターンを整合するアレーで終
結する、内側に延びる部分を備えた一連のメタル・フィ
ンガ・パターンをつくるため上記テープをエッチングす
るステップと、 上記テープの柔軟性を大きくするため上記 テープを隣接するメタル・フィンガ・パターンどうしの
間の領域でエッチングするステップと、を備えることを
特徴とする方法。 7、上記エッチングするステップが上記隣接するフィン
ガ・パターンどうしの間の領域に配置されたスロットを
含むことを特徴とする特許請求の範囲第6項に記載の方
法。 8、上記テープが組立機内で上記テープをインデキシン
グし搬送するために使用されるロケータ孔を備え、上記
スロットが上記テープを横切って延び上記ロケータ孔の
内側端部どうしの間の領域にわたることを特徴とする特
許請求の範囲第7項に記載の方法。 9、上記スロットが更にメタルの厚さが減じられたスロ
ット延長領域を備え、該延長領域が、上記スロットより
も広く、上記テープを横切って延び上記ロケータ孔にわ
たることを特徴とする特許請求の範囲第8項に記載の方
法。 10、上記エッチングするステップが、隣接するフィン
ガ・パターンどうしの間の領域で上記テープの横方向寸
法を横切って延びる一連のスロットを含むことを特徴と
する特許請求の範囲第6項に記載の方法。
[Scope of Claims] 1. A row of indexing and transport locator holes extending along at least one edge, and indexing to the locator holes spaced apart along the length of the tape. an assembly tape having a plurality of independent metal finger patterns, the assembly tape having a plurality of independent metal finger patterns;
an array of fingers each extending inwardly in a cantilevered manner from the edge of the individual window to form an array aligned with a bonding pad pattern on the electronic device to be bonded to the tape; an assembly tape comprising: said independent patterns separated from each other by dam bars extending laterally across said tape and serving to define transverse edges of said individual windows; a pattern is formed in the tape and extends across the dam bar and across the tape to mechanically isolate the finger patterns in adjacent individual windows from each other and increase deflection of the tape; Hinge tape featuring 2. The hinge according to claim 1, wherein the slot pattern is composed of a plurality of independent slots formed in a row creating the equivalent of a single transverse slot. tape. 3. The flexibility of the tape in the dam bar region is substantially improved by having a region in the side rail of reduced thickness that extends in alignment with the slot and spans the locator hole. The hinge tape according to claim 1, characterized in that: 4. The hinge tape of claim 3, wherein said area of reduced thickness is substantially wider than said slot. 5. A first side of the tape photolithographically etched to create the finger pattern; and a second side further etched to define the fingers and provide bonding bumps at inwardly extending ends of the fingers. and etched into the first surface of the tape,
4. A hinge tape as claimed in claim 3, characterized in that it has a region of reduced thickness. 6. A method of producing an assembly tape used for tape assembly bonding metal fingers to an electronic device, each pattern terminating in an array registering a pattern of bonding pads associated with said electronic device. etching the tape to create a series of metal finger patterns with inwardly extending portions; and etching the tape between adjacent metal finger patterns to increase the flexibility of the tape. etching in the region; 7. The method of claim 6, wherein said step of etching includes slots located in regions between said adjacent finger patterns. 8. The tape comprises locator holes used for indexing and transporting the tape in an assembly machine, and the slot extends across the tape and spans the area between the inner ends of the locator holes. The method according to claim 7. 9. The slot further comprises a slot extension region of reduced metal thickness, the extension region being wider than the slot and extending across the tape and spanning the locator hole. The method described in paragraph 8. 10. The method of claim 6, wherein said step of etching includes a series of slots extending across the lateral dimension of said tape in regions between adjacent finger patterns. .
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0289654A3 (en) * 1987-05-02 1989-06-07 VDO Adolf Schindling AG Method of soldering the terminals of an electronic component together, and foil for carrying out this method
US4967260A (en) * 1988-05-04 1990-10-30 International Electronic Research Corp. Hermetic microminiature packages
JP2771203B2 (en) * 1988-12-27 1998-07-02 日本電気株式会社 Integrated circuit mounting tape
KR900015279A (en) * 1989-03-17 1990-10-26 도모마쓰 겡고 Chip carrier
JP2751450B2 (en) * 1989-08-28 1998-05-18 セイコーエプソン株式会社 Mounting structure of tape carrier and mounting method
US5065227A (en) * 1990-06-04 1991-11-12 International Business Machines Corporation Integrated circuit packaging using flexible substrate
US5133118A (en) * 1991-08-06 1992-07-28 Sheldahl, Inc. Surface mounted components on flex circuits
DE10014620A1 (en) * 2000-03-24 2001-09-27 Andreas Plettner Electronic chip carrier band manufacturing method has contact elements for applied chips provided by metallized plastics foil or metal foil

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5737866A (en) * 1980-08-20 1982-03-02 Nec Corp Tape carrier for semiconductor device
JPS5758346A (en) * 1980-09-24 1982-04-08 Nec Corp Tape carrier for semiconductor device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1199849A (en) * 1967-12-15 1970-07-22 Motorola Inc Improvements in and relating to Contact Bonding and Lead Attachment of an Electrical Device
US3672046A (en) * 1970-01-14 1972-06-27 Technitrol Inc The method of making an electrical component
US3768986A (en) * 1971-10-08 1973-10-30 Micro Science Ass Laminated lead frame and method of producing same
JPS5826828B2 (en) * 1978-04-26 1983-06-06 新光電気工業株式会社 Manufacturing method of tape carrier
JPS5521128A (en) * 1978-08-02 1980-02-15 Hitachi Ltd Lead frame used for semiconductor device and its assembling
US4331740A (en) * 1980-04-14 1982-05-25 National Semiconductor Corporation Gang bonding interconnect tape process and structure for semiconductor device automatic assembly
US4400714A (en) * 1980-11-06 1983-08-23 Jade Corporation Lead frame for semiconductor chip
US4496965A (en) * 1981-05-18 1985-01-29 Texas Instruments Incorporated Stacked interdigitated lead frame assembly
US4587548A (en) * 1982-04-26 1986-05-06 Amp Incorporated Lead frame with fusible links
US4646127A (en) * 1985-09-03 1987-02-24 Gte Products Corporation Scrap-less taping system for IC lead-frames
US4721993A (en) * 1986-01-31 1988-01-26 Olin Corporation Interconnect tape for use in tape automated bonding

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5737866A (en) * 1980-08-20 1982-03-02 Nec Corp Tape carrier for semiconductor device
JPS5758346A (en) * 1980-09-24 1982-04-08 Nec Corp Tape carrier for semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
US4721992A (en) 1988-01-26
DE3721661A1 (en) 1988-01-14
GB2194097A (en) 1988-02-24
GB8714825D0 (en) 1987-07-29
GB2194097B (en) 1990-12-19

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