JPS6358642A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPS6358642A JPS6358642A JP20247586A JP20247586A JPS6358642A JP S6358642 A JPS6358642 A JP S6358642A JP 20247586 A JP20247586 A JP 20247586A JP 20247586 A JP20247586 A JP 20247586A JP S6358642 A JPS6358642 A JP S6358642A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magneto
- layers
- optical recording
- layer
- dielectric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 29
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 29
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 17
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 abstract description 12
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 abstract description 5
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 90
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910000808 amorphous metal alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 2
- -1 5i3Na Chemical class 0.000 description 1
- 229910002546 FeCo Inorganic materials 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 235000013619 trace mineral Nutrition 0.000 description 1
- 239000011573 trace mineral Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気光学効果を利用してレーザ光により情輯
の記録、再生を行う光磁気記録媒体に関するものであり
、特にその耐蝕性の改善に関するものである。
の記録、再生を行う光磁気記録媒体に関するものであり
、特にその耐蝕性の改善に関するものである。
本発明は、希土類元素と遷移金属元素の非晶質合金磁性
膜を記録層とする光磁気記録媒体において、 記録層を希土類元素と遷移金属元素を主体とする層と誘
電体材料よりなる層との積N構造とすることにより、 耐蝕性の改善を図り、特に記録層の厚み方向に貫通する
腐食を防止し保存安定性を高めようとするものである。
膜を記録層とする光磁気記録媒体において、 記録層を希土類元素と遷移金属元素を主体とする層と誘
電体材料よりなる層との積N構造とすることにより、 耐蝕性の改善を図り、特に記録層の厚み方向に貫通する
腐食を防止し保存安定性を高めようとするものである。
C従来の技術)
近年、書き換え可能な高密度記録方式として、半導体レ
ーザ光により記録、再生を行う光磁気記録方式が注目さ
れている。
ーザ光により記録、再生を行う光磁気記録方式が注目さ
れている。
この光磁気記録方式において使用される記録材料として
は、Tb、 Gd等の希土類元素とFe、 Co等の遷
移金属元素との非晶質合金膜が研究されでおり、なかで
もTbPeCo、 TbFe、 GdFe、 GdTb
Feなどの材料は感度、読み出し性能等の点でかなり良
好な特性が得られている。
は、Tb、 Gd等の希土類元素とFe、 Co等の遷
移金属元素との非晶質合金膜が研究されでおり、なかで
もTbPeCo、 TbFe、 GdFe、 GdTb
Feなどの材料は感度、読み出し性能等の点でかなり良
好な特性が得られている。
しかしながら、これらの記録材料は、一般に腐食され易
いきいう欠点を有しており、実用化するにあたってはそ
の耐蝕性の改善が望まれている。
いきいう欠点を有しており、実用化するにあたってはそ
の耐蝕性の改善が望まれている。
例えば、希土類−遷移金属系記録媒体は、酸素が存在す
る高温高湿の環境下において容易に酸化され、結果的に
媒体の記録再生時の信号の劣化、エラーレートの増加等
を生しる。
る高温高湿の環境下において容易に酸化され、結果的に
媒体の記録再生時の信号の劣化、エラーレートの増加等
を生しる。
この解決方法として、例えば
(a) 基板と光磁気記録層間に誘電体層を設ける方
法、 (bl 記録層上部(基板と反対側)に誘電体層ある
いは金属層を設ける方法、 tc+ 記録層にCr、Ti、^l、^u、PL等の
元素を添加する方法、 fdl 前記ta+〜(C1を組み合わせる方法、等
が検討されている。
法、 (bl 記録層上部(基板と反対側)に誘電体層ある
いは金属層を設ける方法、 tc+ 記録層にCr、Ti、^l、^u、PL等の
元素を添加する方法、 fdl 前記ta+〜(C1を組み合わせる方法、等
が検討されている。
しかしながら、例えば添加元素による方法では、往々に
して光磁気特性等の劣化をもたらし、あまり好ましいも
のとは言えない。
して光磁気特性等の劣化をもたらし、あまり好ましいも
のとは言えない。
また、上述の対策を施したものであっても、記録層の成
膜以前に基板上に存在する微細なチリ及び欠陥を核とし
て腐食が発生しする。この腐食は記録層の膜厚方向に貫
通していることが観察され、腐食された部分の記録層は
透明化することから、信号の欠落等を招来し、信号の劣
化やエラーの増加等が問題になる。
膜以前に基板上に存在する微細なチリ及び欠陥を核とし
て腐食が発生しする。この腐食は記録層の膜厚方向に貫
通していることが観察され、腐食された部分の記録層は
透明化することから、信号の欠落等を招来し、信号の劣
化やエラーの増加等が問題になる。
あるいは、例えば特開昭60−125933号公報に記
載されるように、上述の記録材料を窒素ガスを混入した
アルゴンガス雲囲気中でスパッタリングし、耐蝕性を改
善することも試みられている。しかしながら、これら方
法は記録層自体に窒素を混入するもので、垂直磁気異方
性膜としての特性を維持するためには窒素混入量に制約
があり、この程度の窒素混入では耐蝕性改善は充分なも
のとは言い難い。
載されるように、上述の記録材料を窒素ガスを混入した
アルゴンガス雲囲気中でスパッタリングし、耐蝕性を改
善することも試みられている。しかしながら、これら方
法は記録層自体に窒素を混入するもので、垂直磁気異方
性膜としての特性を維持するためには窒素混入量に制約
があり、この程度の窒素混入では耐蝕性改善は充分なも
のとは言い難い。
このように、希土類元素と遷移金属元素の非晶質合金磁
性膜を光磁気記録層とする光磁気記録媒体においては、
記録層の耐蝕性の改善、特に記録層のIIQ厚方向に貫
通ずる腐食の防止が大きな課題となっている。
性膜を光磁気記録層とする光磁気記録媒体においては、
記録層の耐蝕性の改善、特に記録層のIIQ厚方向に貫
通ずる腐食の防止が大きな課題となっている。
そこで本発明は、かかる実情に鑑みて提案されたもので
あって、希土顔−遷移金属非晶質合金磁性膜が腐食され
易いことによる信号の劣化、エラーレートの増加を解消
することを目的とし、特に記録層の膜厚方向に貫通する
腐食の発生を防止することが可能で、信頌性の高い光磁
気記録媒体を提供することを目的とする。
あって、希土顔−遷移金属非晶質合金磁性膜が腐食され
易いことによる信号の劣化、エラーレートの増加を解消
することを目的とし、特に記録層の膜厚方向に貫通する
腐食の発生を防止することが可能で、信頌性の高い光磁
気記録媒体を提供することを目的とする。
本発明の光磁気記録媒体は、上述の目的を達成するため
に、基板上に希土類元素と遷移金属元素とを主体とする
光磁気記録層と誘電体層とを交互に複数層積層したこと
を特徴としている。
に、基板上に希土類元素と遷移金属元素とを主体とする
光磁気記録層と誘電体層とを交互に複数層積層したこと
を特徴としている。
すなわち、本発明の光磁気記録媒体は、第1図に示すよ
うに、透明哉板(1)上に例えばレーザ光の照射により
情報の書き込み及び読み出しが行われる光磁気記録層(
2)、ならびに優れた耐蝕性を有し光磁気配13層(2
)を腐食から保31する役割を果たす誘電体層(3)と
を積層形成することにより構成されるものである。なお
上記光磁気記録N(2)及び誘電体N(3)よりなる記
録層部(10)の両面には、窒化ケイ素や窒化アルミニ
ウム等の誘電体からなる保a[(4)、 (5)を設け
ることが望ましい。
うに、透明哉板(1)上に例えばレーザ光の照射により
情報の書き込み及び読み出しが行われる光磁気記録層(
2)、ならびに優れた耐蝕性を有し光磁気配13層(2
)を腐食から保31する役割を果たす誘電体層(3)と
を積層形成することにより構成されるものである。なお
上記光磁気記録N(2)及び誘電体N(3)よりなる記
録層部(10)の両面には、窒化ケイ素や窒化アルミニ
ウム等の誘電体からなる保a[(4)、 (5)を設け
ることが望ましい。
光磁気記録層(2)は、希土類元素と遷移金属元素の非
晶質合金磁性■りであり、垂直磁気異方性を有するもの
である。ここで、希土類元素としてば、Tb、Gd、D
yが挙げられ、これらの1種若しくは2征以上が使用さ
れる。また、遷移金属元素は、Feを主体とするもので
あるが、Coを含んでいてもよい。
晶質合金磁性■りであり、垂直磁気異方性を有するもの
である。ここで、希土類元素としてば、Tb、Gd、D
yが挙げられ、これらの1種若しくは2征以上が使用さ
れる。また、遷移金属元素は、Feを主体とするもので
あるが、Coを含んでいてもよい。
さらに、これら希土類元素や遷移金属元素の他、Ti、
Cr、PL等の微量元素が添加されていても差し支えな
い。
Cr、PL等の微量元素が添加されていても差し支えな
い。
上記記録層(2)は、Δr雰囲気中でのスパッタリング
により形成される。スパッタリングの方法としては、如
何なるものであってもよく、例えば合金ターゲットを用
いたスパッタリングでも良いし、希土類元素と遷移金属
元素の別々のターゲットを用いた2元スパッタでも良い
。このスパッタリングの際の静ガス圧としては、3 X
1O−2Torr以下であれば垂直磁気異方性膜が作
製可能であるが、実用的には10−4〜10−”Tor
rの範囲に設定することが好ましい。
により形成される。スパッタリングの方法としては、如
何なるものであってもよく、例えば合金ターゲットを用
いたスパッタリングでも良いし、希土類元素と遷移金属
元素の別々のターゲットを用いた2元スパッタでも良い
。このスパッタリングの際の静ガス圧としては、3 X
1O−2Torr以下であれば垂直磁気異方性膜が作
製可能であるが、実用的には10−4〜10−”Tor
rの範囲に設定することが好ましい。
一方、上記誘電体層(3)は、耐蝕性に優れた誘電体材
料の薄膜として形成されるものであって、かかる誘電体
物質としては5i3Na、A I N等の窒化物、5i
Oz、 SiO+ 5not等の酸化物、ZnS、Cd
S等の硫化物、さらにはhgp、等が挙げられるが、特
に5iJ4.ANN等の窒化物が好適である。かかるW
W体層(3)もスパッタリング等の真空薄膜形成技術に
より被着形成されるもので、スパッタリングの方法とし
ては、例えば窒化物をスパッタリングする場合にはN!
雰囲気中で、酸化物をスパッタリングする場合には0□
雰囲気中で、硫化物をスパッタリングする場合には11
□S雰囲気中でそれぞれスパッタリングを行う方法や、
ターゲットとして窒化物、酸化物。
料の薄膜として形成されるものであって、かかる誘電体
物質としては5i3Na、A I N等の窒化物、5i
Oz、 SiO+ 5not等の酸化物、ZnS、Cd
S等の硫化物、さらにはhgp、等が挙げられるが、特
に5iJ4.ANN等の窒化物が好適である。かかるW
W体層(3)もスパッタリング等の真空薄膜形成技術に
より被着形成されるもので、スパッタリングの方法とし
ては、例えば窒化物をスパッタリングする場合にはN!
雰囲気中で、酸化物をスパッタリングする場合には0□
雰囲気中で、硫化物をスパッタリングする場合には11
□S雰囲気中でそれぞれスパッタリングを行う方法や、
ターゲットとして窒化物、酸化物。
硫化物を使用する方法等が挙げられる。
上記光磁気配IJ層(2)と誘電体層(3)をそれぞれ
2層以上ずつ積層することにより記録層部(10)は形
成されるが、各光(6気記録層(2)の膜厚は100〜
1000人の範囲内に、また各誘電体層(3)の膜厚は
10〜100 人の範囲内に設定することが好ましい、
持に、各誘電体PJ(3)の膜厚が100人を越えると
照射光(レーザ光)のろ過が悪くなることがあり、CN
比が下がって信号が読み取れなくなる虞れがある。逆に
、各誘電体層(3)の膜厚が10人未満であると、均一
な成膜が困難であり、実用的でない。
2層以上ずつ積層することにより記録層部(10)は形
成されるが、各光(6気記録層(2)の膜厚は100〜
1000人の範囲内に、また各誘電体層(3)の膜厚は
10〜100 人の範囲内に設定することが好ましい、
持に、各誘電体PJ(3)の膜厚が100人を越えると
照射光(レーザ光)のろ過が悪くなることがあり、CN
比が下がって信号が読み取れなくなる虞れがある。逆に
、各誘電体層(3)の膜厚が10人未満であると、均一
な成膜が困難であり、実用的でない。
また、上記記録層部(10)全体の膜厚は、220〜5
000人の範囲内とすることが好ましい。特にこの11
2厚が5000人を越えると、記録に要するレーザ光の
出力が大となり、効率的な記録が難しくなるばかりか、
記録密度も小さくなる傾向にある。
000人の範囲内とすることが好ましい。特にこの11
2厚が5000人を越えると、記録に要するレーザ光の
出力が大となり、効率的な記録が難しくなるばかりか、
記録密度も小さくなる傾向にある。
前述の如く光磁気記録層(2)と誘電体層(3)とを積
層形成するには、例えば光磁気記録層(2)を成膜する
ときに、希土類元素と遷移金属元素からなるクーゲット
側のシャフタを開き金属元素のターゲット側のシャッタ
を閉して成膜し、逆に誘電体層(3)を成膜するときに
、誘電体材料のクーゲット側のシャッタを開き希土類元
素と遷移金属元素からなるターゲット側のシャッタを閉
して成膜し、これを繰り返せばよい。
層形成するには、例えば光磁気記録層(2)を成膜する
ときに、希土類元素と遷移金属元素からなるクーゲット
側のシャフタを開き金属元素のターゲット側のシャッタ
を閉して成膜し、逆に誘電体層(3)を成膜するときに
、誘電体材料のクーゲット側のシャッタを開き希土類元
素と遷移金属元素からなるターゲット側のシャッタを閉
して成膜し、これを繰り返せばよい。
5iJa等の誘電体材料よりなる誘電体層は、優れた耐
蝕性を示し腐食に対する障壁としての役割を果たす。
蝕性を示し腐食に対する障壁としての役割を果たす。
したがって、この誘電体層と光磁気記録層とを積層する
ことにより、何等かの原因で光記録層に腐食が発生した
としても腐食の進行は当該誘電体層で規制され、記S、
ゑ層の膜厚方向に貫通する腐食は防止される。
ことにより、何等かの原因で光記録層に腐食が発生した
としても腐食の進行は当該誘電体層で規制され、記S、
ゑ層の膜厚方向に貫通する腐食は防止される。
また、上記誘電体層は、極めて薄いものであるので、照
射されるレーザ光を良く透過し、光磁気記録層の光磁気
特性を1貝なうことはない。
射されるレーザ光を良く透過し、光磁気記録層の光磁気
特性を1貝なうことはない。
以下、本発明を具体的な実験結果に基づいて説明する。
実施例1
直径300mm、厚さ1.21のポリメチルメタクリレ
ート基板上に誘電体である5iyNaを1iり厚約80
0人となるようにスパッタ法によって成膜した。
ート基板上に誘電体である5iyNaを1iり厚約80
0人となるようにスパッタ法によって成膜した。
次に、上記5iJa膜を成膜した基板上にTbFeC。
からなる光磁気記録層を約100人、SiJ<からなる
誘電体層を約20人の厚さで層状に交互に8層となるよ
うに4i層成膜した。なお、上記光磁気記録層と誘電体
層との成膜は、先ずTbFeCo層をTbとFeCoの
各ターゲットを使用した2元同時スパッタリング法によ
って成膜した後、S:Ja F3を同しくS+3N4を
ターゲットとするスパッタリング法によって成膜して積
層したもので、TbFeCo層の成膜時にはSi:+N
< N成膜側のシャッタを閉じ、5iJa層の成膜時に
はTbFeCo層成膜側のシャッタを閉じることによっ
てTbFeCo層及びS+ 2層4層を積層していき所
望の層数となるまで上記漠作を繰り返し記録層部を形成
した。
誘電体層を約20人の厚さで層状に交互に8層となるよ
うに4i層成膜した。なお、上記光磁気記録層と誘電体
層との成膜は、先ずTbFeCo層をTbとFeCoの
各ターゲットを使用した2元同時スパッタリング法によ
って成膜した後、S:Ja F3を同しくS+3N4を
ターゲットとするスパッタリング法によって成膜して積
層したもので、TbFeCo層の成膜時にはSi:+N
< N成膜側のシャッタを閉じ、5iJa層の成膜時に
はTbFeCo層成膜側のシャッタを閉じることによっ
てTbFeCo層及びS+ 2層4層を積層していき所
望の層数となるまで上記漠作を繰り返し記録層部を形成
した。
上記記録層部を形成した後、この記録層部上に再び5i
Ja層を膜+ypJaoo人となるようにスパック法に
よって成膜し、第1図に示すような光磁気記録媒体(た
だし、積層数は8層。)を作製し実施例2〜実施例8 実施例1において、記録層部の誘電体層として用いた5
iJa Nを、次表に示すようにAeN層。
Ja層を膜+ypJaoo人となるようにスパック法に
よって成膜し、第1図に示すような光磁気記録媒体(た
だし、積層数は8層。)を作製し実施例2〜実施例8 実施例1において、記録層部の誘電体層として用いた5
iJa Nを、次表に示すようにAeN層。
sio、層、 Si0層、SnJ層、 ZnS層、 C
dS層、 MgF。
dS層、 MgF。
層の何れかに変え、他は実施例1と同様な方法により光
磁気記録媒体を作製した。
磁気記録媒体を作製した。
比較例1
記録層部を膜厚960人のTbFeCo層単層膜として
成膜し、他は実施例1と同様な方法により光磁気記録媒
体を作製した。
成膜し、他は実施例1と同様な方法により光磁気記録媒
体を作製した。
上記各実施例及び比較例で得られた光磁気記録媒体に対
して基板側より信号の記録及び再生試験を行い、初期の
CN比及び初期の保磁力〔HcLo、〕をJり定した。
して基板側より信号の記録及び再生試験を行い、初期の
CN比及び初期の保磁力〔HcLo、〕をJり定した。
さらに、各光磁気記録媒体を接着剤を介してガラス基板
と貼り合わせ、この状態で温度60℃。
と貼り合わせ、この状態で温度60℃。
相対1度90%の恒温恒)2槽内に250時間及び50
0時間保存した後の記録再生特性を調べた。
0時間保存した後の記録再生特性を調べた。
なお、保存後の記録再生特性としては、CN比及び保磁
力の変化(It(/ 1ie(01:ただしIt、は保
存後の保磁力を、IIC+01は初期の保磁力をそれぞ
れ表す。〕を求めた。結果を次表に示す。
力の変化(It(/ 1ie(01:ただしIt、は保
存後の保磁力を、IIC+01は初期の保磁力をそれぞ
れ表す。〕を求めた。結果を次表に示す。
(以下余白)
上記表から明らかなように、TbFeCoJWに各種誘
電体材#4を層状に成膜した場合には、単層のものに比
べCN比の変化及びt(cの変化率は小さく、保護効果
が優れていることがわかる。
電体材#4を層状に成膜した場合には、単層のものに比
べCN比の変化及びt(cの変化率は小さく、保護効果
が優れていることがわかる。
以上の説明からも明らかなように、本発明の光磁気記録
媒体においては、希土類元素と遷移金属元素とからなる
光るイ1気記録層とSi+Ma等の誘電体材料よりなる
誘電体層とを層状に積層しているので、何等かの原因で
光記録層に腐食が発生したとしても腐食の進行は当該金
属層で規制され、記録層の膜厚方向に貫jffJする腐
食は防止される。したがって、例えば信号欠落の発生等
が1rll制され、良好な記録再生が可能とムる。
媒体においては、希土類元素と遷移金属元素とからなる
光るイ1気記録層とSi+Ma等の誘電体材料よりなる
誘電体層とを層状に積層しているので、何等かの原因で
光記録層に腐食が発生したとしても腐食の進行は当該金
属層で規制され、記録層の膜厚方向に貫jffJする腐
食は防止される。したがって、例えば信号欠落の発生等
が1rll制され、良好な記録再生が可能とムる。
しかも誘電体層は、極めて薄いものであるので、照射さ
れるレーザ光を良く透過し、光磁気配!3層の光磁気特
性も充分満足し得る特性が確保される。
れるレーザ光を良く透過し、光磁気配!3層の光磁気特
性も充分満足し得る特性が確保される。
すなわち、本発明によれば、光磁気特性を低下すること
なく耐蝕性を向上することが可能で、信頼性の高い光磁
気記録媒体を提供することが可能である。
なく耐蝕性を向上することが可能で、信頼性の高い光磁
気記録媒体を提供することが可能である。
第1図は本発明を適用した光磁気記録媒体の構成例を示
す要部拡大断面図である。 l・・・透明基板 2・・・光磁気記録層 3・・・誘電体層
す要部拡大断面図である。 l・・・透明基板 2・・・光磁気記録層 3・・・誘電体層
Claims (1)
- 基板上に希土類元素と遷移金属元素とを主体とする光磁
気記録層と誘電体層とを交互に複数層積層したことを特
徴とする光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20247586A JPS6358642A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20247586A JPS6358642A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6358642A true JPS6358642A (ja) | 1988-03-14 |
Family
ID=16458130
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20247586A Pending JPS6358642A (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6358642A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04221446A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気光学記録媒体 |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP20247586A patent/JPS6358642A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04221446A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気光学記録媒体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4975339A (en) | Magneto-optical recording medium with at least one protective layer containing platinum and/or palladium | |
US5958575A (en) | Magneto-optical recording medium | |
JP2504946B2 (ja) | 光磁気記録用媒体 | |
JPS6358642A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0550400B2 (ja) | ||
US4980875A (en) | Magneto-optical disk with perpendicular magnetic anisotropy film and high corrosion-resistant film | |
JPH01124131A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
EP0352333A1 (en) | Data recording medium | |
JPS6358641A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
EP0783749B1 (en) | Magneto-optic recording medium having magneto-optic film layers separated by yttrium oxide | |
JPH03156753A (ja) | 光記録媒体 | |
JP3414823B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0731831B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
US6048597A (en) | Optical device and manufacturing method thereof | |
JP3237977B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JP3381960B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JP2918599B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS6353735A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPS62252546A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
KR940007286B1 (ko) | 정보 기록용 광자기 매체 | |
JPH04337544A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
JPH0594647A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
JPS62200551A (ja) | 光磁気記録用媒体 | |
JP2001118286A (ja) | 光学記録媒体およびその製造方法 | |
JPS61144743A (ja) | 光磁気記録媒体及びその製造方法 |