JPS6354048A - ル−プバツク試験方式 - Google Patents
ル−プバツク試験方式Info
- Publication number
- JPS6354048A JPS6354048A JP19856086A JP19856086A JPS6354048A JP S6354048 A JPS6354048 A JP S6354048A JP 19856086 A JP19856086 A JP 19856086A JP 19856086 A JP19856086 A JP 19856086A JP S6354048 A JPS6354048 A JP S6354048A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- zero
- loopback test
- echo canceller
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 235000014121 butter Nutrition 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔ネ既 要〕
ループバック試験方式であって、擬似ノイズ(PN)パ
ターン検出に代えてゼロパターン検出器を用い、エコー
キャンセラー動作の確認を含めたループバック試験を可
能とする。
ターン検出に代えてゼロパターン検出器を用い、エコー
キャンセラー動作の確認を含めたループバック試験を可
能とする。
本発明はエコーキャンセラーを用いたディジタル加入者
線方式に適用されるループバック試験方式に関するもの
で、さらに詳しく言えば、エコーキャンセルされた後の
信号を用いてループバック試験を可能とするループバッ
ク試験方式に関するものである。
線方式に適用されるループバック試験方式に関するもの
で、さらに詳しく言えば、エコーキャンセルされた後の
信号を用いてループバック試験を可能とするループバッ
ク試験方式に関するものである。
エコーキャンセラーを用いたディジタル加入者線方式に
おいても、ループバック試験方式が必要とされる。
おいても、ループバック試験方式が必要とされる。
エコーキャンセラーが無い場合、送信部より送出したP
Nパターンが受信部で支障無く検出されれば、その区間
での回路に異常が生じていないものと判定される。
Nパターンが受信部で支障無く検出されれば、その区間
での回路に異常が生じていないものと判定される。
しかし、エコーキャンセラーが組み込まれている場合、
送出されたPNパターンはエコーキャンセラーによって
推定再生されて差し引かれるため、消去されてゼロとな
る。したがって上述の試験方法は適用できない。
送出されたPNパターンはエコーキャンセラーによって
推定再生されて差し引かれるため、消去されてゼロとな
る。したがって上述の試験方法は適用できない。
従来のループバック試験方式は、第3図に示すように、
送信部11.受信部12及び両者と回線3間を個別に結
合するハイブリッド回路13より構成されたステーショ
ン1と、同様な構成によるステーション2の各々の試験
をするに際し、送信部11よりPNパターンを送出し、
このパターンが受信部12側へ入力されたことをもって
、試験区間内の回路の異常無しを判定している。
送信部11.受信部12及び両者と回線3間を個別に結
合するハイブリッド回路13より構成されたステーショ
ン1と、同様な構成によるステーション2の各々の試験
をするに際し、送信部11よりPNパターンを送出し、
このパターンが受信部12側へ入力されたことをもって
、試験区間内の回路の異常無しを判定している。
この従来方式では、エコーキャンセラーを設けた場合、
ハイブリッド回路13と受信部12との間でPNパター
ンがキャンセルされてしまうため、ループバック試験を
行なうことができない不都合があった。
ハイブリッド回路13と受信部12との間でPNパター
ンがキャンセルされてしまうため、ループバック試験を
行なうことができない不都合があった。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、エコ
ーキャンセラーの動作確認を含んだループバック試験を
行なえるループバック試験方式を提供することを目的と
している。
ーキャンセラーの動作確認を含んだループバック試験を
行なえるループバック試験方式を提供することを目的と
している。
第1図は本発明のループバック試験方式の原理ブロック
図を示す。
図を示す。
図において、15は送信時に自局の受信部に漏れる信号
をキャンセルするエコーキャンセラー、16はハイブリ
ッド回路13よりの漏れ信号を含んだ受信信号に対しエ
コーキャンセラー15の出力を減算する減算器である。
をキャンセルするエコーキャンセラー、16はハイブリ
ッド回路13よりの漏れ信号を含んだ受信信号に対しエ
コーキャンセラー15の出力を減算する減算器である。
17はPNパターンを発生するPNパターン発生器であ
る。18は減算器16の出力がゼロ状態か否かを検出す
るゼロパターン検出器である。
る。18は減算器16の出力がゼロ状態か否かを検出す
るゼロパターン検出器である。
エコーキャンセラー15が正常に動作していれば、減算
器16に対するハイブリッド回路13の出力とエコーキ
ャンセラー15の出力とは同一レベルにある。
器16に対するハイブリッド回路13の出力とエコーキ
ャンセラー15の出力とは同一レベルにある。
したがって、減算器16の出力は零となり、これがゼロ
パターン検出器18で検出されることによって、エコー
キャンセラー15の動作を確認できる。
パターン検出器18で検出されることによって、エコー
キャンセラー15の動作を確認できる。
第2図は本発明の実施例であって、ステーション1にエ
コーキャンセラー15及び減算器16を含めて構成され
るステーション10に対し本発明は通用される。
コーキャンセラー15及び減算器16を含めて構成され
るステーション10に対し本発明は通用される。
PNNバター発生器17の出カバターンは送信部11の
出力信号に代えて用いられ、ゼロパターン検出器18は
受信部12に代えて用いられる。
出力信号に代えて用いられ、ゼロパターン検出器18は
受信部12に代えて用いられる。
ループバック試験を行なうに際しては、エコーキャンセ
ラー15をオフにし、PNNバター発生器17よりPN
パターンを発生し、このPNパターンが受信部12によ
って検出されたことをもって、回路に異常の無いことを
判定できる。
ラー15をオフにし、PNNバター発生器17よりPN
パターンを発生し、このPNパターンが受信部12によ
って検出されたことをもって、回路に異常の無いことを
判定できる。
次に、エコーキャンセラー15をオンにし、再びPNN
バター発生器17よりPNパターンを発生させる。この
PNパターンはハイブリッド回路13をリークして減算
器16へ出力される。また、−PNパターンはエコーキ
ャンセラー15を介して減算器16にも出力される。減
算器16は、ハイブリッド回路13の出力からエコーキ
ャンセラー15の出力を減算して出力する。減算器16
の出力はゼロパターン検出器18によって零レベルか否
かが検出され、零であればエコーキャンセラー15が正
常に動作しているものと判断する。また、零で無い場合
には、エコーキャンセラー15の異常を判定できる。
バター発生器17よりPNパターンを発生させる。この
PNパターンはハイブリッド回路13をリークして減算
器16へ出力される。また、−PNパターンはエコーキ
ャンセラー15を介して減算器16にも出力される。減
算器16は、ハイブリッド回路13の出力からエコーキ
ャンセラー15の出力を減算して出力する。減算器16
の出力はゼロパターン検出器18によって零レベルか否
かが検出され、零であればエコーキャンセラー15が正
常に動作しているものと判断する。また、零で無い場合
には、エコーキャンセラー15の異常を判定できる。
なお、ゼロパターン検出器18は、レベル設定変更に伴
う対応するレベルの検出をもその検出対象とするように
してもよい。
う対応するレベルの検出をもその検出対象とするように
してもよい。
以上述べてきたように本発明によれば、従来不可能であ
ったエコーキャンセラーの動作の確認も含んだディジタ
ル加入者回線系のループバック試験を行なづことができ
る。
ったエコーキャンセラーの動作の確認も含んだディジタ
ル加入者回線系のループバック試験を行なづことができ
る。
第1図は本発明のループバック試験方式の原理ブロック
図、 第2図は本発明の実施例を示す回路図、第3図はエコー
キャンセラーを有しないディジタル加入者線方式の構成
図である。 第1図及び第2図において、 10はステーション、 11は送信部、 12は受信部、 13はハイブリッド回路、 15はエコーキャンセラー、 16は減算器、 17はPNNバター発生器、 18はゼロパターン検出器である。 第1図
図、 第2図は本発明の実施例を示す回路図、第3図はエコー
キャンセラーを有しないディジタル加入者線方式の構成
図である。 第1図及び第2図において、 10はステーション、 11は送信部、 12は受信部、 13はハイブリッド回路、 15はエコーキャンセラー、 16は減算器、 17はPNNバター発生器、 18はゼロパターン検出器である。 第1図
Claims (1)
- (1)ハイブリッド回路(13)を介して相手方に信号
を送信し、或いは相手方よりの信号を受信すると共に、
送信時の受信部(12)に対する漏れ信号をキャンセル
するエコーキャンセラー(15)を備えたシステムにお
いて、 送信部(11)側に擬似ノイズ(PN)パターン発生器
(17)を設け、 受信部(12)側に信号の有無を検出可能なゼロパター
ン検出器(18)を設け、 加入者回路系についての障害試験を行なうことを特徴と
するループバック試験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19856086A JPS6354048A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ル−プバツク試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19856086A JPS6354048A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ル−プバツク試験方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6354048A true JPS6354048A (ja) | 1988-03-08 |
Family
ID=16393213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19856086A Pending JPS6354048A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ル−プバツク試験方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6354048A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0330540A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-08 | Nec Corp | 双方向バス伝送方式 |
KR100400935B1 (ko) * | 1999-12-21 | 2003-10-08 | 엘지전자 주식회사 | 티에스아이 칩과 마더보드 칩의 테스트 장치 및 그방법 |
-
1986
- 1986-08-25 JP JP19856086A patent/JPS6354048A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0330540A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-08 | Nec Corp | 双方向バス伝送方式 |
KR100400935B1 (ko) * | 1999-12-21 | 2003-10-08 | 엘지전자 주식회사 | 티에스아이 칩과 마더보드 칩의 테스트 장치 및 그방법 |
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