JPS6353917A - Crystal growth apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は化合物半導体の気相エピタキシャル装置に係り
、特に異種接合の形成に好適な結晶成長装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a vapor phase epitaxial apparatus for compound semiconductors, and particularly to a crystal growth apparatus suitable for forming a heterojunction.
従来の二室結晶成長装置は例えばUsui他、インステ
イテユート・フィジックス・コンファレンス、シリーズ
第63、第3章、第137〜142頁、1981年(U
sui et al、 I nst、 Phys、Co
nf、。A conventional two-chamber crystal growth apparatus is described, for example, by Usui et al., Institute Physics Conference, Series No. 63, Chapter 3, pp. 137-142, 1981 (U
Sui et al, Inst, Phys, Co.
nf,.
Set、No、63、Chapter3、 P137〜
142(1981))に述べられている様に基板結晶の
置かれている場所が例えば740℃と一定であり、この
温度で異種結合を形成している二つの異なる種類の結晶
を成長している。Set, No. 63, Chapter 3, P137~
142 (1981)), the location where the substrate crystal is placed is constant at, for example, 740°C, and two different types of crystals forming heterogeneous bonds are grown at this temperature. .
また、その従来の多反応室気相成長装置はFig、 1
に示すごとく反応室内部を分割してそれぞれ希望する組
成の反応ガスを流し、基板の位置を一方から他方へと移
動して所望の異種接合を形成する方式をとっていた。こ
の構造では各反応室を流れるガスを完全に分離すること
は困難でありかつ異なった最適成長温度を有する二種の
薄膜結晶を連続して成長することは温度を急速に変えら
れないため困難である。したがって鋭い界面と良好な結
晶性を有する異種接合の形成は雛かしい。In addition, the conventional multi-reaction chamber vapor phase growth apparatus is shown in Fig. 1.
As shown in the figure, the interior of the reaction chamber was divided, reactant gases of desired compositions were flowed into each chamber, and the position of the substrate was moved from one side to the other to form the desired heterojunction. With this structure, it is difficult to completely separate the gas flowing through each reaction chamber, and it is difficult to continuously grow two types of thin film crystals with different optimal growth temperatures because the temperature cannot be changed rapidly. be. Therefore, the formation of heterojunctions with sharp interfaces and good crystallinity is difficult.
上記従来技術は異なった結晶の最適成長温度はそれぞれ
異なっているという点に配慮がなされていないので異種
結合を形成するそれぞれの結晶が真に最適な温度で形成
されていないという問題があった。The above-mentioned conventional technology does not take into consideration the fact that the optimal growth temperatures of different crystals are different, so there is a problem that each crystal forming a heterobond is not formed at a truly optimal temperature.
本発明の目的は異種接合を形成する結晶をそれぞれ最適
な温度で成長させうる装置を提供するものであって、つ
まり、実用上多路室間のガスの相互混合がなく、短時間
に一つの最適成長温度を有する薄膜結晶から他の最適結
晶成長温度を有する別種の薄膜結晶の形成へと移行しう
るスライドウェハ式薄膜結晶形成装置を提供することに
ある。An object of the present invention is to provide an apparatus that can grow crystals forming heterojunctions at optimal temperatures. In other words, in practice, there is no mutual mixing of gases between multiple passage chambers, and only one crystal can be grown in a short time. An object of the present invention is to provide a slide wafer type thin film crystal forming apparatus that can shift from forming a thin film crystal having an optimum growth temperature to forming a different type of thin film crystal having another optimum crystal growth temperature.
最近の異種接合を応用した半4体デバイスの進歩は著し
く高電子移動度トランジスタや多重量子井戸レーザなど
の新しいデバイスが提案され、実用化されつつある。こ
れらの新デバイスにおいては異なった化合物半導体を格
子整合条件下でつぎつぎに結晶成長させて得られる異種
接合が本質的に重要な働きをしている。この異種接合に
おいては格子整合が10−8台という高精度で実現され
る必要があり、かつ異種接合の界面遷移層が1結晶格子
以下、出来れば1原子層以下であることが高い二次元電
子ガス移動度を実現しかつたとえば5o人という狭い量
子井戸を実現する上に必要である。このような異種接合
結晶の成長には分子線エピタキシャル成長とならんで有
機金属をもちいたエピタキシャル成長法が盛んに用いら
れている。Recent advances in semi-quaternary devices using heterojunctions have been remarkable, and new devices such as high electron mobility transistors and multiple quantum well lasers have been proposed and are being put into practical use. In these new devices, heterojunctions, which are obtained by successively growing crystals of different compound semiconductors under lattice matching conditions, play an essentially important role. In this heterojunction, lattice matching must be achieved with high precision on the order of 10-8, and the interfacial transition layer of the heterojunction must be less than one crystal lattice, preferably less than one atomic layer, which is highly sensitive to two-dimensional electrons. It is necessary to realize gas mobility and to realize narrow quantum wells, for example, 50 nm. In addition to molecular beam epitaxial growth, epitaxial growth methods using organic metals are widely used to grow such heterojunction crystals.
しかしながら反応ガスの切換が配管系に存在するデッド
・ボリューム、配管系や反応管の壁面における吸脱着1
反応管中の反応ガスの対流などのために瞬時におこなわ
れず、たとえば10人〜20入ていどの結晶組成の遷移
領域を生じたり、均一であるべきある混晶層中の組成が
乱れたりする現象がみられる。However, due to the dead volume that exists in the piping system when switching the reaction gas, adsorption and desorption on the walls of the piping system and reaction tubes.
Phenomena that is not instantaneous due to convection of reaction gas in the reaction tube, and for example, a transition region of crystal composition occurs every 10 to 20 times, or the composition of a certain mixed crystal layer, which should be uniform, is disturbed. can be seen.
したがって得られるデバイスの性能が期待された特性を
下用ることになる。このような難点を克服するためには
一般に反応ガスを高流速で流したり、基板結晶を高速(
たとえば1000rpm)で回転する方法がとられてい
る1本発明はこのような極端な結晶成長方式をとらず、
異なった反応ガスが定常的に流れている二つの反応室の
間に基板結晶を移動させることにより、鋭い界面を有す
る異種接合を形成するこを意図したものである。Therefore, the performance of the resulting device uses the expected characteristics. In order to overcome these difficulties, it is generally necessary to flow the reactive gas at a high flow rate or to move the substrate crystal at high speed (
For example, the present invention does not use such an extreme crystal growth method,
By moving the substrate crystal between two reaction chambers in which different reactant gases are constantly flowing, it is intended to form a heterojunction with a sharp interface.
上記目的はスライディング・ウニ八方式をもちいた二室
結晶成長装置において各室を別個の加熱装置で加熱し異
なった温度に設定可能とすることによって達成される。The above object is achieved by heating each chamber with a separate heating device in a two-chamber crystal growth apparatus using the sliding Urchin-hachi method so that different temperatures can be set.
その具体的方式または方法としては、 ■ ス基板結晶をのせたスライダが各室間を移動する。The specific method or method is as follows: ■ A slider carrying a substrate crystal moves between each chamber.
■ 上記スライダがサセプタ上に移動し、その際スライ
ダ内の基板結晶がサセプタに直接接するようにして、早
い熱応答を得る。(2) The slider is moved onto the susceptor so that the substrate crystal inside the slider comes into direct contact with the susceptor to obtain a fast thermal response.
■ 基板結晶の温度が各結晶に適した温度になるよう反
応室の温度を設定する。■ Set the temperature of the reaction chamber so that the temperature of the substrate crystal is appropriate for each crystal.
■ 高周波加熱法により、グラファイトの表皮効果を応
用して温度差をつける。■ Using high-frequency heating, temperature differences are created by applying the skin effect of graphite.
■ 反応室ごとに別個のヒータを設置する。■ Install a separate heater for each reaction chamber.
などが考えられ、また、これらの組合せによって。etc., and combinations of these.
より効果的な装置が可能となる。A more effective device becomes possible.
基板結晶ウェハを共通の基板ホルダ上を一室から他室へ
移動させることによってそこに流す反応ガスの種類と濃
度に応じて異なった種類の結晶をつぎつぎに形成しうる
訳であるが、基板ホルダの内部は二室に別れておりそれ
ぞれ別個に駆動される加熱装置が収められている。これ
によってその上の基板ホルダの温度を別個に設定するこ
とが出来る。By moving the substrate crystal wafer from one chamber to another on a common substrate holder, different types of crystals can be formed one after another depending on the type and concentration of the reaction gas flowing there. The interior is divided into two chambers, each containing a heating device that is driven separately. This allows the temperature of the substrate holder above it to be set separately.
また、スライド・ウェハ方式による高周波加熱の多室気
相成長装置において、各室のサセプタの厚さを可変とし
、しかもモジュラ−な装着方式をとることによって各室
の温度設定の自由度を太きくとることが出来、かつ希望
する温度に確実に設定することが出来るようにした。温
度制御の基本原理は高周波磁界の表皮効果を利用するこ
とにある。導体の表面に平行な交流磁界によって導体中
に誘起される電流は一般に21工o ・exp−)と表
せる。ここにω:交流磁界の角周波数、に:導電率、μ
:透磁率、HO:磁界強度の最大値、t:時間、X:物
質中の深さである。サセプタに用いるパイロリティック
・グラファイトの導電率は約3mho/m、加熱のため
印加する高周波〜4×10″″3mとなる。したがって
グラファイト・サセプタの厚さをこの前後で変えると同
一の高周波入力において異なったサセプタ温度が得られ
る。よってサセプタの厚さを場所によって変えておき、
この厚さの異なった部位に基板結晶を滑り動かすことに
より、基板結晶ウェハは極めて短時間に異なった温度に
設定される。基板結晶はボート等に載せられて居らず直
接サセプタ上を滑り動くので温度変化は極めて急速に行
われる。In addition, in a multi-chamber vapor phase growth system that uses high-frequency heating using a slide wafer method, the thickness of the susceptor in each chamber can be made variable, and by using a modular installation method, the degree of freedom in setting the temperature of each chamber can be increased. This makes it possible to set the desired temperature reliably. The basic principle of temperature control is to utilize the skin effect of high-frequency magnetic fields. The electric current induced in a conductor by an alternating magnetic field parallel to the surface of the conductor can generally be expressed as 21 kO·exp-). where ω: angular frequency of alternating magnetic field, to: conductivity, μ
: magnetic permeability, HO: maximum value of magnetic field strength, t: time, X: depth in the material. The electrical conductivity of the pyrolytic graphite used for the susceptor is about 3 mho/m, and the high frequency applied for heating is ~4×10″3 m. Therefore, by changing the thickness of the graphite susceptor around this point, different susceptor temperatures can be obtained for the same high frequency input. Therefore, by changing the thickness of the susceptor depending on the location,
By sliding the substrate crystal to locations with different thicknesses, the substrate crystal wafer is set to different temperatures in a very short time. Since the substrate crystal is not placed on a boat or the like and slides directly on the susceptor, the temperature changes extremely rapidly.
以下、本発明の詳細な説明する。 The present invention will be explained in detail below.
実施例1
第1図によって説明する。第1図は反応管の断面を示し
ており、石英反応管1は隔壁によって第1反応室2と第
2反応室3とに分けられている。Example 1 This will be explained with reference to FIG. FIG. 1 shows a cross section of a reaction tube, and a quartz reaction tube 1 is divided into a first reaction chamber 2 and a second reaction chamber 3 by a partition wall.
基板結晶5は石英スライダ4に納められており。A substrate crystal 5 is housed in a quartz slider 4.
スライダを左右に駆動することによって第1反応室と第
2反応室間を往来することが出来る。基板ホルダ6はモ
リブデン又はグラファイトで出来ており、なかにモリブ
デン発熱体7および8を収納している。5 cm X
5 anのn型G a A s基板結晶5を装着し、第
1発熱体7、第2発熱体8に通電してそれぞれ610”
C,710℃とし、まず第1反応室にトリエチルガリウ
ム、トリメチルインジウム、及びフォスフインを主要反
応ガスとするガスを流して基板表面保護のためのn型G
aInPをつけ。By driving the slider left and right, it is possible to move back and forth between the first reaction chamber and the second reaction chamber. The substrate holder 6 is made of molybdenum or graphite and houses molybdenum heating elements 7 and 8 therein. 5 cm
A 5 an n-type GaAs substrate crystal 5 is attached, and the first heating element 7 and the second heating element 8 are energized to have a temperature of 610", respectively.
First, a gas containing triethyl gallium, trimethyl indium, and phosphine as main reaction gases was flowed into the first reaction chamber to form an n-type G gas for protecting the substrate surface.
Put on aInP.
ついで第2反応室に基板結晶を移動してn型A n G
aInPをつける。この間に第1発熱体への通電量を増
して670℃とする。ついで基板を第1反応室にもどし
てノンドープGaInP層をつけさらに第2反応室に戻
して今度はP型A Q GaInPをつける。Next, the substrate crystal is moved to the second reaction chamber and the n-type A n G
Attach aInP. During this time, the amount of current applied to the first heating element is increased to 670°C. The substrate is then returned to the first reaction chamber, where a non-doped GaInP layer is applied, and then returned to the second reaction chamber, where a P-type A Q GaInP layer is applied.
最後に第一反応室に移してp型G a A sをつける
。Finally, it is transferred to the first reaction chamber and p-type GaAs is applied.
このようにして得られたGaInP/ A Q GaI
nPダブルへテロ結晶からストライプ型半導体レーザを
つくると波長650℃で室温連続発振し、発振閾電流密
度1kA/dという著しく低い値を示す。この閾値は5
as X 5 aiウェハ面内での変動が±15%に
収っており、半導体レーザの高性能化と大面積結晶の均
一成長が可能であることが示された。GaInP/ A Q GaI obtained in this way
When a striped semiconductor laser is made from an nP double heterocrystal, it oscillates continuously at a wavelength of 650° C. at room temperature, and exhibits an extremely low oscillation threshold current density of 1 kA/d. This threshold is 5
The variation within the as X 5 ai wafer surface was within ±15%, indicating that it is possible to improve the performance of a semiconductor laser and uniformly grow a large-area crystal.
実施例2
第1図及び第2図によって説明する。石英反応管11は
隔壁12で隔てられ左右各室に別の組成のガスが流れ、
下流の隔壁のなくなった所で合流する。隔壁は中途から
切欠きが出来ており、その下に石英から成るステータ1
7があり、中央の凹部にグラファイトサセプタ15が嵌
込まれている。Example 2 This will be explained with reference to FIGS. 1 and 2. The quartz reaction tube 11 is separated by a partition wall 12, and gases of different compositions flow into the left and right chambers.
They merge downstream where the bulkhead disappears. A notch is made in the middle of the bulkhead, and a stator 1 made of quartz is placed below it.
7, and a graphite susceptor 15 is fitted into the central recess.
このサセプタの厚さは隔壁で隔てられた一つの反応室と
他の反応室では厚さが異なっている。薄いサセプタの方
には石英スペーサ16が入っておりサセプタが水平に保
たれる。このように左右のサセプタの厚さを変えること
により高周波の加熱効果が異なり温度を変えることがで
きる。水素ガスをそれぞれ各室に3fl/win流し、
高周波300kHzを高周波加熱用コイルで印加する。The thickness of this susceptor is different between one reaction chamber and another reaction chamber separated by a partition wall. A quartz spacer 16 is included in the thin susceptor to keep the susceptor horizontal. In this way, by changing the thickness of the left and right susceptors, the high frequency heating effect differs and the temperature can be changed. Flow 3 fl/win of hydrogen gas into each chamber,
A high frequency of 300 kHz is applied using a high frequency heating coil.
厚い方のサセプタの厚さが10mn、薄い方が3■とす
ると、それぞれの温度を700℃、650℃とすること
ができる。薄い方の厚さを211fiに減じると温度は
それぞれ700℃、600℃となる。このようにサセプ
タの厚さを変たものを用意しておきかつこれに相応する
スペーサを用意しておけば各反応室の温度を希望する異
なった値に設定することができる。If the thicker susceptor has a thickness of 10 mm and the thinner susceptor has a thickness of 3 mm, the respective temperatures can be set to 700°C and 650°C. When the thickness of the thinner side is reduced to 211fi, the temperatures become 700°C and 600°C, respectively. In this way, by preparing susceptors with different thicknesses and preparing corresponding spacers, the temperature of each reaction chamber can be set to different values as desired.
サセプタの上には石英製のスライダ13がありその底部
の中央には結晶成長用基板14を納めるための穴が開け
られている。このスライダを右および左に動かすことに
より基板は異なった反応ガスが流れ異なった温度に設定
された反応室間を往復することができる。したがって異
なった材料をその最適形成温度においてつぎつぎと形成
することが出来、かつ移動時間が短かくしかもサセプタ
上に基板が直接に接しているので極めて短時間に基板の
温度変化が速やかに行われる1通常印加する高周波の電
力を変えてサセプタの温度を変える場合には安定した値
に落着くのに数分間を要するが、ここに述べた方式によ
れば温度は予め希望する値に設定されており基板結晶が
滑って移動してくるだけであるから温度変化は2〜3秒
で完了してしまう。A slider 13 made of quartz is placed on top of the susceptor, and a hole is made in the center of the bottom of the slider 13 to accommodate a substrate 14 for crystal growth. By moving this slider to the right and left, the substrate can be shuttled between reaction chambers where different reaction gases flow and are set at different temperatures. Therefore, different materials can be formed one after another at their optimum forming temperature, and since the transfer time is short and the substrate is in direct contact with the susceptor, the temperature of the substrate can be changed quickly in an extremely short period of time. Normally, when changing the temperature of the susceptor by changing the applied high-frequency power, it takes several minutes for the temperature to settle to a stable value, but with the method described here, the temperature is set in advance to the desired value. Since the substrate crystal simply slides and moves, the temperature change is completed in 2 to 3 seconds.
実施例3
実施例2に述べた装置をもちいてサセプタの温度を72
0℃および670℃に設定し、高温側にトリメチルアル
ミニウム、トリメチルガリウムおよびアルシンを水素を
キャリアガスとして流し、低温側にトリメチルガリウム
、アルシンおよび水素を流す。砒化ガリウム基板結晶を
上記二室間を反復移動することによって砒化アルミニウ
ムガリウム/砒化ガリウムからなる多層構造を形成する
ことができた。透過電子顕微鏡による断面観察をおこな
った結果、上記二種の結晶層の遷移領域は一原子層以下
であった。Example 3 Using the apparatus described in Example 2, the temperature of the susceptor was increased to 72°C.
The temperature is set at 0° C. and 670° C., and trimethylaluminum, trimethylgallium, and arsine are flowed on the high temperature side with hydrogen as a carrier gas, and trimethylgallium, arsine, and hydrogen are flowed on the low temperature side. By repeatedly moving the gallium arsenide substrate crystal between the two chambers, a multilayer structure consisting of aluminum gallium arsenide/gallium arsenide could be formed. As a result of cross-sectional observation using a transmission electron microscope, the transition region of the two types of crystal layers described above was one atomic layer or less.
実施例4
実施例2に述べた装置をもちいてサセプタの温度がそれ
ぞれ710℃、660℃になるように設定する。高温側
にはトリエチルアルミニラ11.トリエチルガリウム、
トリメチルインジウム、ならびにフォスフインを流し、
低温側にはトリエチルガリウム、トリメチルインジウム
及びフォスフインを流す。(100)砒化ガリウム基板
結晶をこの二つの反応室間を往復させることにより基板
結晶と格子定数の一致した燐化アルミニウムガリウムイ
ンジウム混晶と燐化ガリウムインジウム混晶が3nmず
つ積層された超格子構造を作製することができた。Example 4 Using the apparatus described in Example 2, the temperatures of the susceptors were set to 710° C. and 660° C., respectively. Triethylaluminum 11. on the high temperature side. triethyl gallium,
Flowing trimethylindium and phosphine,
Triethylgallium, trimethylindium and phosphine are flowed on the low temperature side. (100) A superlattice structure in which aluminum gallium indium phosphide mixed crystal and gallium indium phosphide mixed crystal whose lattice constant matches that of the substrate crystal are stacked by 3 nm each by reciprocating the gallium arsenide substrate crystal between these two reaction chambers. was able to be created.
この二つの混晶の最適成長温度は上記のごとく約50°
Cはなれているから一方の成長温度に合せると他方の結
晶の表面状態が著しく劣化する。又、各層毎に成長温度
を最適値に設定していたのでは界面が鋭くならず良好な
超格子構造を作製することは困難である6
本発明になる装置は上記実施例以外の■■族化合物半導
体や■■族化合物半導体、あるいはIVVI族化合物半
導体など結晶の種類を問わず広く使用しうるものである
ことは言うまでもない。The optimum growth temperature for these two mixed crystals is approximately 50° as mentioned above.
Since the C crystals are separated from each other, adjusting the growth temperature of one crystal will significantly deteriorate the surface condition of the other crystal. In addition, if the growth temperature is set to the optimum value for each layer, the interface will not be sharp and it will be difficult to create a good superlattice structure. Needless to say, it can be widely used regardless of the type of crystal, such as a compound semiconductor, a ■■ group compound semiconductor, or a IVVI group compound semiconductor.
本発明によれば、異種接合界面を遷移層を形成すること
なく鋭いものに出来、かつ異種接合を形成するそれぞれ
の結晶を最適温度で成長出来、さらにそれらの温度を自
由に設定することが可能である。According to the present invention, the heterojunction interface can be made sharp without forming a transition layer, and each crystal forming the heterojunction can be grown at an optimal temperature, and these temperatures can be freely set. It is.
また、本発明によれば異種接合界面が急峻に形成出来、
異種結合を形成している各結晶をそれぞれの最適形成温
度で成長出来るため、さらに大面積、均一な特性を示す
異種接合結晶を成長することが可能である。Further, according to the present invention, a dissimilar joining interface can be formed steeply,
Since each crystal forming a heterojunction can be grown at its optimum formation temperature, it is possible to grow a heterojunction crystal with a larger area and uniform characteristics.
第1図は本発明のスライディング・ウエハニ室結晶成長
装置の断面図、第2図は本発明の結晶成長装置の断面図
および第3図はそれ側面図である。
1・・・石英反応管、2・・・第1反応室、3・・・第
2反応室、4・・・石英スライダ、5・・・基板結晶、
6・・・基板ホルダ(グラファイト)、7・・・第1発
熱体、8・・・第2発熱体、11・・・石英二室反応管
、12・・・石英隔壁、13・・・石英スライダ、14
・・・基@、結晶。
15・・・グラファイトサセプタ、16・・・石英スペ
ーサ、17・・・石英ステータ。
萬 / 巴
葉 2 区FIG. 1 is a cross-sectional view of a sliding wafer chamber crystal growth apparatus of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the crystal growth apparatus of the present invention, and FIG. 3 is a side view thereof. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Quartz reaction tube, 2... First reaction chamber, 3... Second reaction chamber, 4... Quartz slider, 5... Substrate crystal,
6... Substrate holder (graphite), 7... First heating element, 8... Second heating element, 11... Quartz two-chamber reaction tube, 12... Quartz partition wall, 13... Quartz slider, 14
...base@, crystal. 15...Graphite susceptor, 16...Quartz spacer, 17...Quartz stator. 10,000/Tomoeha 2nd Ward
Claims (1)
間を基板結晶が移動するスライディングウェハ式多室結
晶成長装置において、各室のサセプタの温度を別個の加
熱装置によつて加熱し、以つて基板結晶の温度を各室で
相異つた温度に設定することを特徴とした結晶成長装置
。 2、前記基板結晶が異なつた反応ガスが流れる二つの前
記反応室間を移動するように構成した特許請求の範囲第
1項記載の結晶成長装置。 3、前記サセプタ表面上を前記基板結晶が滑つて移動す
るように構成した特許請求の範囲第1もしくは2項記載
の結晶成長装置。 4、前記基板結晶が異なつた前記温度に設定された前記
サセプタ部位の間を移動するように構成した特許請求の
範囲第1から3項のいずれかに記載の結晶成長装置。 5、前記サセプタの厚さを部分的に変えて前記温度の異
なる部分を生ぜしめた特許請求の範囲第1から4項のい
ずれかに記載の結晶成長装置。 6、前記厚さを異なつた値に設定した一組のサセプタを
交換して使用することを可能とした特許請求の範囲第5
項記載の結晶成長装置。 7、前記各反応室中に入つている前記サセプタを別個の
加熱体で加熱して異なる温度に設定しうるようにした特
許請求の範囲第1から5項のいずれかに記載の結晶成長
装置。1. In a sliding wafer multi-chamber crystal growth apparatus that has susceptors in two or more reaction chambers and in which the substrate crystal moves between the susceptors, the temperature of the susceptor in each chamber is heated by a separate heating device, and the following A crystal growth apparatus characterized by setting the temperature of a substrate crystal at a different temperature in each chamber. 2. The crystal growth apparatus according to claim 1, wherein the substrate crystal is moved between two reaction chambers through which different reaction gases flow. 3. The crystal growth apparatus according to claim 1 or 2, wherein the substrate crystal is configured to slide and move on the surface of the susceptor. 4. The crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the substrate crystal is configured to move between the susceptor parts set at different temperatures. 5. The crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the thickness of the susceptor is partially changed to produce the portions having different temperatures. 6. Claim 5, which allows a set of susceptors having different thicknesses to be used interchangeably.
Crystal growth apparatus described in Section 1. 7. The crystal growth apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the susceptors contained in each of the reaction chambers are heated by separate heating bodies and can be set to different temperatures.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19712686A JPS6353917A (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | Crystal growth apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19712686A JPS6353917A (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | Crystal growth apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6353917A true JPS6353917A (en) | 1988-03-08 |
Family
ID=16369173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19712686A Pending JPS6353917A (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | Crystal growth apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6353917A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0227742A (en) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Fujitsu Ltd | Vapor epitaxially growing apparatus |
-
1986
- 1986-08-25 JP JP19712686A patent/JPS6353917A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0227742A (en) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Fujitsu Ltd | Vapor epitaxially growing apparatus |
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