JPS6353445A - ちよう度測定装置 - Google Patents
ちよう度測定装置Info
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- JPS6353445A JPS6353445A JP61197055A JP19705586A JPS6353445A JP S6353445 A JPS6353445 A JP S6353445A JP 61197055 A JP61197055 A JP 61197055A JP 19705586 A JP19705586 A JP 19705586A JP S6353445 A JPS6353445 A JP S6353445A
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- Japan
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- grease
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- absorbance
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は基油と増ちょう剤とからなるグリースのちょう
度を測定する装置に関する。
度を測定する装置に関する。
（従来の技術）
従来、グリースの如く粘度の高い粘ちょう体の粘ちょう
度を測定するためには、円すいを侵入させる手法が一般
的で現在に至っている。同装置はＪＩＳ Ｋ２２２０と
して規格化されているが試料は最小でも４グラム程度必
要である。多量に保有しているグリースのちょう度を測
る場合は、同装置が最適であるが、試料グリースの量が
少ない場合は、同装置では測定不可能である。
度を測定するためには、円すいを侵入させる手法が一般
的で現在に至っている。同装置はＪＩＳ Ｋ２２２０と
して規格化されているが試料は最小でも４グラム程度必
要である。多量に保有しているグリースのちょう度を測
る場合は、同装置が最適であるが、試料グリースの量が
少ない場合は、同装置では測定不可能である。
（発明が解決しようとする問題点）
したがって少量のグリースのちょう度を知ろうとするた
めには不便な場合があった。また操作類・度の少ない機
器等のグリースは頻度に反比例して寿命が延びることが
多いが、少量での測定ができないために一定期間ごとに
交換する場合が多く、停止２分解等々を考えると工業的
にも有利とは云えない状況にある。
めには不便な場合があった。また操作類・度の少ない機
器等のグリースは頻度に反比例して寿命が延びることが
多いが、少量での測定ができないために一定期間ごとに
交換する場合が多く、停止２分解等々を考えると工業的
にも有利とは云えない状況にある。
本発明の目的は稀頻度操作機器等のグリースを一定期間
ごとに交換することなく、少量のグリースを回収しちょ
う度を調入ることにより劣化の程度を知り、適正な交換
時期を決定することのできるちょう度計り定装置を提供
しようとするものである。
ごとに交換することなく、少量のグリースを回収しちょ
う度を調入ることにより劣化の程度を知り、適正な交換
時期を決定することのできるちょう度計り定装置を提供
しようとするものである。
（問題点を解決するための手段とその作用）前記目的を
達成するために、本発明は対象機器から回収した、少量
のグリースのちょう度を測定し、劣化の程度を知るため
に基油と増ちょう剤の分子骨格に起因する、赤外線の透
過率を利用して吸収度におきかえその吸光度比より検出
する手段を設けたことを特徴とするものである。
達成するために、本発明は対象機器から回収した、少量
のグリースのちょう度を測定し、劣化の程度を知るため
に基油と増ちょう剤の分子骨格に起因する、赤外線の透
過率を利用して吸収度におきかえその吸光度比より検出
する手段を設けたことを特徴とするものである。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
単光束型分光器の光学系を示す第２図において試料室１
へ予め回収したグリースをブロムカリ等の板へ薄く塗っ
て装着し、光源２より発した赤外線を、おう面鏡３等を
介して試料室１を透過させ、出口スリット４を通して放
物面ｍ５、プリズム６を通過させリトロ−鏡７で光束を
反射させプリズム６、放物面鏡５を通して光を返し、出
口スリット８．だ内面鏡９を介し検知器１０で測定する
。
へ予め回収したグリースをブロムカリ等の板へ薄く塗っ
て装着し、光源２より発した赤外線を、おう面鏡３等を
介して試料室１を透過させ、出口スリット４を通して放
物面ｍ５、プリズム６を通過させリトロ−鏡７で光束を
反射させプリズム６、放物面鏡５を通して光を返し、出
口スリット８．だ内面鏡９を介し検知器１０で測定する
。
この種の装置で例えばシリコーンオイルを基油とし、リ
チューム石けんで増ちょうしたグリースを調べると、基
油の主成分であるメチルシリコーン（Ｓｘ Ｃ＋１３
）の吸収が１ 、２５９■−１に、増ちょう剤のＬｉ
石けん（Ｌｉと略す）の吸収が１，５７５０″１へ表わ
れる。
チューム石けんで増ちょうしたグリースを調べると、基
油の主成分であるメチルシリコーン（Ｓｘ Ｃ＋１３
）の吸収が１ 、２５９■−１に、増ちょう剤のＬｉ
石けん（Ｌｉと略す）の吸収が１，５７５０″１へ表わ
れる。
なお第２図では、説明を簡略にするために単光束型分光
器の一例で示したが精度を良くするために大気中の水蒸
気や二酸化炭素の吸収を相殺するために復元型の分光器
が用いら九でいる。
器の一例で示したが精度を良くするために大気中の水蒸
気や二酸化炭素の吸収を相殺するために復元型の分光器
が用いら九でいる。
この方式による具体的なちょう度の測定例を第３図によ
り説明する。 ＪＩＳ Ｋ２２２０のちょう度番号２号
の前述のシリコーングリースを調合し、前述の透過率か
ら吸光度を求め基油に対する増ちょう剤の吸光度の比を
算出すると０．７４となる。
り説明する。 ＪＩＳ Ｋ２２２０のちょう度番号２号
の前述のシリコーングリースを調合し、前述の透過率か
ら吸光度を求め基油に対する増ちょう剤の吸光度の比を
算出すると０．７４となる。
当該グリースはＪＩＳ Ｋ２２２０のちょう度試験器で
ちょう度を測定すると、２９０である。同様の謂定を、
基油と増ちょう剤配合比率を数段層に変えた試料でｄ１
１定すると特性線１１が求まる。
ちょう度を測定すると、２９０である。同様の謂定を、
基油と増ちょう剤配合比率を数段層に変えた試料でｄ１
１定すると特性線１１が求まる。
測定器の概念を第１図で説明すると、試料室１へ試料を
装着し、光源部１２の赤外線１３を通過させ、検知器部
１４で試料グリースの基油と増ちょう剤の分子骨格に該
当する波長の透過率を計測する。予め波長選択部１５へ
測定対象グリースの基油と増ちょう剤の主成分の分子骨
格に該当する波長を設定しておき、前記透過率の信号を
取り出して、演算表示部１６で透過率の対数計算処理し
た吸光度を求める。同時に基油に対する増ちょう剤の吸
光度比を演算して特性線１１によりちょう度が求まる。
装着し、光源部１２の赤外線１３を通過させ、検知器部
１４で試料グリースの基油と増ちょう剤の分子骨格に該
当する波長の透過率を計測する。予め波長選択部１５へ
測定対象グリースの基油と増ちょう剤の主成分の分子骨
格に該当する波長を設定しておき、前記透過率の信号を
取り出して、演算表示部１６で透過率の対数計算処理し
た吸光度を求める。同時に基油に対する増ちょう剤の吸
光度比を演算して特性線１１によりちょう度が求まる。
ちょう度の表示はグリースの種類に応じた特性線を記憶
されておき演算処理の一環で処理しデジタル表示しても
良い。
されておき演算処理の一環で処理しデジタル表示しても
良い。
本発明で説明したシリコーングリースのＬｉ／Ｓｉ−Ｃ
Ｈ３吸光度比が１．２５でちょう度が約１００の試料を
バウデン式摩擦係数測定器で延５００メートル走行させ
たところ非常に不安定な特性を示した。当然正規調合の
シリコーングリースは延ｓ、ｏｏｏメートル以上走行し
ても一定範囲の摩擦係数である。
Ｈ３吸光度比が１．２５でちょう度が約１００の試料を
バウデン式摩擦係数測定器で延５００メートル走行させ
たところ非常に不安定な特性を示した。当然正規調合の
シリコーングリースは延ｓ、ｏｏｏメートル以上走行し
ても一定範囲の摩擦係数である。
以上説明した様に、対象機器から少量のグリースを回収
することができればそのグリースのちょう度を知ること
ができ劣化の程度を推定することができるのでグリース
の交換の要否を決める重要な情報が得られる。
することができればそのグリースのちょう度を知ること
ができ劣化の程度を推定することができるのでグリース
の交換の要否を決める重要な情報が得られる。
この場合の交換時期の目安は、ちょう度が１００以下に
なった場合が好ましい。
なった場合が好ましい。
また、一定期間ごとに交換していた場合でもその機械の
負荷によって劣化の程度が異るので稀度の少ない機器に
於いては更に交換時期の延長が可能で機械の停止、グリ
ースの交換時間等々の経費の削減に寄与できる。
負荷によって劣化の程度が異るので稀度の少ない機器に
於いては更に交換時期の延長が可能で機械の停止、グリ
ースの交換時間等々の経費の削減に寄与できる。
第１図は本発明の一実施例を示すちょう度測定装置の概
念図、第２図はＭ定の一例を示すＦＩ’＝理図、第３図
は第２図の装置よりちょう度を演算するための関係を示
す［・４である。 １・・・試料室 ２・・・光源３・・・お
う面鏡 ４・・入口スリット５・・・放物面
鏡 ６・・・プリズム７゛°リトロ−鏡
８・・・出口スリット０．だ内面鏡
１ｏ・・・検知器１１・・特性線 １２・
・光源部１３０１．赤外線 １・１・・・
検知器部１５．波長選択部 １６・・演算表示
部代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 三俣弘文 ／２ ／、４ ′第２図 一□ 天ｉシ１２ノブ 第３図
念図、第２図はＭ定の一例を示すＦＩ’＝理図、第３図
は第２図の装置よりちょう度を演算するための関係を示
す［・４である。 １・・・試料室 ２・・・光源３・・・お
う面鏡 ４・・入口スリット５・・・放物面
鏡 ６・・・プリズム７゛°リトロ−鏡
８・・・出口スリット０．だ内面鏡
１ｏ・・・検知器１１・・特性線 １２・
・光源部１３０１．赤外線 １・１・・・
検知器部１５．波長選択部 １６・・演算表示
部代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 三俣弘文 ／２ ／、４ ′第２図 一□ 天ｉシ１２ノブ 第３図
Claims (1)
- 電気機械等の回転ないし摺動等の運動部分へ適用するあ
る種の基油へ、ある種の増ちょう剤を添加したグリース
のちょう度測定装置において、適用しているグリースの
一部を回収し基油と増ちょう剤の分子骨格に起因する外
赤線波長の透過率より吸光度を計算し、その吸光度比よ
りグリースのちょう度を算出する演算機能とを備えたこ
とを特徴とするちょう度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61197055A JPS6353445A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ちよう度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61197055A JPS6353445A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ちよう度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6353445A true JPS6353445A (ja) | 1988-03-07 |
Family
ID=16367961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61197055A Pending JPS6353445A (ja) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | ちよう度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6353445A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008058152A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toshiba Corp | 潤滑剤及び粘稠性物質の劣化診断装置及びその劣化診断方法 |
| CN113866047A (zh) * | 2021-10-21 | 2021-12-31 | 南京信息工程大学 | 一种基于机器学习的粘滞系数光学测定装置及方法 |
-
1986
- 1986-08-25 JP JP61197055A patent/JPS6353445A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008058152A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toshiba Corp | 潤滑剤及び粘稠性物質の劣化診断装置及びその劣化診断方法 |
| CN113866047A (zh) * | 2021-10-21 | 2021-12-31 | 南京信息工程大学 | 一种基于机器学习的粘滞系数光学测定装置及方法 |
| CN113866047B (zh) * | 2021-10-21 | 2024-04-02 | 南京信息工程大学 | 一种基于机器学习的粘滞系数光学测定装置及方法 |
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