JPS635236A - 吸光分析装置 - Google Patents

吸光分析装置

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Publication number
JPS635236A
JPS635236A JP14865686A JP14865686A JPS635236A JP S635236 A JPS635236 A JP S635236A JP 14865686 A JP14865686 A JP 14865686A JP 14865686 A JP14865686 A JP 14865686A JP S635236 A JPS635236 A JP S635236A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
receiving element
reaction tube
light receiving
photometric
Prior art date
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Pending
Application number
JP14865686A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Hanawa
浩一 花輪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS635236A publication Critical patent/JPS635236A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は、吸光分析装置における測光系に関する。
口、従来技術 吸光分析装置は、測定セルを挟むように発光素子と受光
素子を配設して構成されでおり、この測定セルには試料
流路の一部をなすフロー形式のものと、試料毎に容器を
異にする反応管形式のものかある。
前者のものは、測定セル、発光素子及び受光素子の配百
関係を寓に一定として測光光学系の精度を高く維持する
ことかできる反面、試料相互間でのコンタミネーション
による誤差や、試料を流動させた状態で測定するため必
要的に試料量が増加するという問題があつ、また後者の
ものは試料毎(こ容器が独立しているため、コンタミネ
ーションの防止や使用の節′JtAを図ることかできる
反面、発光素子及び受光素子と測定セル間の位!関係の
変動や測定セルを構成しでいる容器の固体差により測定
誤差を生じるという問題を抱えている。
ハ、目的 本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは測光条件を一定に維持しつつ
コンタミネーションを防止することかできる新規な吸光
分析表!’a提供することにある。
二、実施例 そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
図は、本発明の一実施例を示すものであって、図中符号
]は、軸2そ中心として回動可能に設けられたリング状
の移送機構で、ここには後述する測定ユニット3.3.
3・・・・か放射状に配Iされている。この測定ユニッ
ト3.3.3・・・・は、試料容器ヲナす反応管3aの
出光面に受光素子3bを配設し、また後述する導光材4
.4.4・・・・側にはハーフミラ−等のビームスプリ
ッタ3Cを配設して一部を基準用受光素子3dに入射さ
せるように構成されている。
移送機構1の回転中心側には、軸2の表面に配設された
接点2a・・・・、2b・・・・と電気接続するように
電気接点3e・・・・、3f・・・・そ測定ユニット3
.3.3の配置に合わせて設け、ここに各ユニットの受
光素子3b、3dからのリード線を接続して構成されで
いる。
4.4.4は、測光領域の基台に取り付けられた光ファ
イバー等の導光材で、−端が図示しない測光用光源に接
続され、他端を測定ユニット3.3.3・・・・の配列
形態に合わせて反応管3a、3a、3a・・・・に対向
するように配設されている。
この実施例において、移送機構]を駆動させた状態で、
測定ユニット3.3.3・・・・の反応管3a、3a、
3a・・・・に試料及び試薬を分注すると、反応管3a
内の試料は、試薬に反応しつつ測定領域に移送されでい
く、測定ユニット3が測定領域に到達すると、導光材4
から出た測定光はビームスプリッタ3Cにより分割され
、−部か基準用受光素子3dに入射して基準信号に変換
される。−方、ビームスプリツタ3CV通過した光は、
反応容器3aの一側から試料中に入射し、試料中の目的
成分量に対応した吸収を受けて受光素子3bに入射する
。これら受光素子3b、3dからの信号は、接点3e、
3f、2a、2bV介して静止側に取出され、ダブルビ
ーム法により吸光度信号に変換される。
ところで、測定ユニット3は、これを構成している反応
容器3a、ビームスプリッタ3C1受光素子3b、3d
の各要素を組なさしめているため、これら要素間での光
学的条件か常に一定に保持されており、また導光材4と
の間においでも移送機構1により相対位置関係が可及的
に保持されているため、測光光学的な誤差は極めて小さ
く抑えられることになる。
このようにして測定が終了した測定ユニット3.3.3
は、洗浄領域に移送されて反応管3a、3a、3a内の
試料や試薬を排出した復、洗浄液により残留分を除去さ
れて次の測定に備える。
なお、この実施例においては、測定ユニットを板状移送
体により搬送しているが、測定ユニット3.3.3・・
・・を移送ベルト8に装荷しても同様の作用を奏するこ
とは明らかである。
へ、9カ果 以上述べたように本発明によれば、反応管と測光用受光
素子を組にしてユニット化するとともに、これを移送手
段に複数配設して投光部を通過させるようにしたので、
反応管と受光素子相互間の測光条件を固定化することか
できて、反応管の個体差による測定誤差を可及的に減少
させることかてきるばかってなく、各試料を独立させた
状態で分析することかできて試料相互間でのコンタミネ
ーションを防止して測定精度の向上を図ることことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示す装置の斜視図である。 1・・・・移送機構  3.3.3・・・・測定ユニッ
ト3a・・・・反応管  3b・・・・測光用受光素子
3c・・・・ビームスプリッタ 3d・・・・基準用受光素子 4・・・・導光材

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 反応管と、これに対向配設された受光素子を組にしてユ
    ニットを構成するとともに、前記ユニットを移送手段に
    複数配設してなる吸光分析装置。
JP14865686A 1986-06-25 1986-06-25 吸光分析装置 Pending JPS635236A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14865686A JPS635236A (ja) 1986-06-25 1986-06-25 吸光分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14865686A JPS635236A (ja) 1986-06-25 1986-06-25 吸光分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS635236A true JPS635236A (ja) 1988-01-11

Family

ID=15457683

Family Applications (1)

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JP14865686A Pending JPS635236A (ja) 1986-06-25 1986-06-25 吸光分析装置

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