JPS6347018B2 - - Google Patents
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- JPS6347018B2 JPS6347018B2 JP55142052A JP14205280A JPS6347018B2 JP S6347018 B2 JPS6347018 B2 JP S6347018B2 JP 55142052 A JP55142052 A JP 55142052A JP 14205280 A JP14205280 A JP 14205280A JP S6347018 B2 JPS6347018 B2 JP S6347018B2
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- parallel conductor
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/101—Monitoring; Testing of transmitters for measurement of specific parameters of the transmitter or components thereof
- H04B17/103—Reflected power, e.g. return loss
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は妨害電界に対する受信機の排除能力を
評価するに好適な入射妨害排除能力評価装置に関
する。
評価するに好適な入射妨害排除能力評価装置に関
する。
最近、受信機における入射妨害排除能力の評
価、即ち周囲の電磁界の影響に対する受信機の耐
雑音特性が問題化している。この評価は１つの手
段としてジヤツキー法により行なわれるが、これ
は後に述べるように種々の問題を有している。
価、即ち周囲の電磁界の影響に対する受信機の耐
雑音特性が問題化している。この評価は１つの手
段としてジヤツキー法により行なわれるが、これ
は後に述べるように種々の問題を有している。
第１図及び第２図はジヤツキー法による評価シ
ステムの構成例で、第１図は平行導体の構成、第
２図は評価システムのブロツク図を示す。平行導
体は、下部導体１と該下部導体１上に絶縁材によ
る柱４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄで平行に保持される
上部導体２で構成される。下部導体１の両端１ａ
及び１ｂと上部導体２の両端２ａ及び２ｂは図示
のごとく絞り込まれ、互いに対応する端（１ａと
２ａ，１ｂと２ｂ）が絶縁物を介して機械的に結
合される。平行導体の寸法はLa＝200mm、Lb＝
2750mm、W1＝900mm、W2＝600mm、Ｈ＝800mmで
図示される。
ステムの構成例で、第１図は平行導体の構成、第
２図は評価システムのブロツク図を示す。平行導
体は、下部導体１と該下部導体１上に絶縁材によ
る柱４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄで平行に保持される
上部導体２で構成される。下部導体１の両端１ａ
及び１ｂと上部導体２の両端２ａ及び２ｂは図示
のごとく絞り込まれ、互いに対応する端（１ａと
２ａ，１ｂと２ｂ）が絶縁物を介して機械的に結
合される。平行導体の寸法はLa＝200mm、Lb＝
2750mm、W1＝900mm、W2＝600mm、Ｈ＝800mmで
図示される。
平行導体の一方の結合端は平行導体１及び２に
妨害信号を印加するための給電端３ａを構成し、
該妨害信号は整合回路１０を介してもうけられる
妨害信号発生器１１から供給される。他方の結合
端３ｂは終端抵抗１２で終端される。平行導体の
下部導体１上には絶縁用のプラスチツク製又は木
製の台５を介して被測定受信機６が配置され、電
磁波の漏洩及び侵入するための電源用阻止フイル
タ１８を介して電源が供給される。受信機６には
更に、アンテナ阻止フイルタ６を介して希望信号
発生器１４が接続され希望信号が受信機６に印加
されると共に、スピーカ用阻止フイルタ／終端抵
抗１５及びバンドパスフイルタ１６を介して音声
周波電圧計１７がもうけられ受信機６の出力信号
が取り出される。
妨害信号を印加するための給電端３ａを構成し、
該妨害信号は整合回路１０を介してもうけられる
妨害信号発生器１１から供給される。他方の結合
端３ｂは終端抵抗１２で終端される。平行導体の
下部導体１上には絶縁用のプラスチツク製又は木
製の台５を介して被測定受信機６が配置され、電
磁波の漏洩及び侵入するための電源用阻止フイル
タ１８を介して電源が供給される。受信機６には
更に、アンテナ阻止フイルタ６を介して希望信号
発生器１４が接続され希望信号が受信機６に印加
されると共に、スピーカ用阻止フイルタ／終端抵
抗１５及びバンドパスフイルタ１６を介して音声
周波電圧計１７がもうけられ受信機６の出力信号
が取り出される。
以上のごとき構成で、妨害信号発生器１１のレ
ベルを低レベルから上昇させることにより受信機
６の入射妨害にする排除能力を測定することがで
き、この方法によれば150kHzから10MHzの周波
数範囲における排除能力の評価が可能とされてい
る。
ベルを低レベルから上昇させることにより受信機
６の入射妨害にする排除能力を測定することがで
き、この方法によれば150kHzから10MHzの周波
数範囲における排除能力の評価が可能とされてい
る。
ところで、上記平行導体のごとく不平衡駆動さ
れる線路では線路の１周の長さが１波長に相当す
る周波数からアンテナとして動作するとされてい
る。従つて、先に述べた平行導体の寸法から概算
すれば平行導体の１周の長さは約6.2ｍとなるの
で、約48MHzからアンテナとして動作し電磁波が
外部に放射される。放射された電磁波は平行導体
の周囲に存在する反射体、例えば壁面或いは測定
者もしくは測定装置等で反射され、平行導体内部
に再入射する。そのため、平行導体内部の電界は
所定の強度を維持できず、適切な評価が困難とな
る。
れる線路では線路の１周の長さが１波長に相当す
る周波数からアンテナとして動作するとされてい
る。従つて、先に述べた平行導体の寸法から概算
すれば平行導体の１周の長さは約6.2ｍとなるの
で、約48MHzからアンテナとして動作し電磁波が
外部に放射される。放射された電磁波は平行導体
の周囲に存在する反射体、例えば壁面或いは測定
者もしくは測定装置等で反射され、平行導体内部
に再入射する。そのため、平行導体内部の電界は
所定の強度を維持できず、適切な評価が困難とな
る。
平行導体内部の適切な電界強度は第３図に示す
較正曲線で説明される。これは１辺20cmの金属板
を平行導体の下部導体上に１cmの高さで配置し、
下部導体に対する金属板の高周波電圧を適当な測
定装置、例えば高周波ミリボルトメータで測定す
るもので、縦軸は金属板の検出電圧（ｍＶ）、横
軸は周波数（ＭHz）を示す。図中のイは無変調の
測定用送信機の無負荷電圧が10Vの場合の較正曲
線で、平行導体で適切な評価を得るためには、該
導体内に配置された金属板の電圧が較正曲線イを
中心とする±2dBの範囲になければならないとさ
れる。しかしながら、電磁波の再入射があると金
属板の電圧値は上記範囲から逸脱することになる
ので、受信機の排除能力に対する適切な評価は困
難となる。これは第４図でより詳しく説明され
る。第４図は、電波吸収体を装着しない金属ケー
ス１９の中に該ケースの下面より80cmの高さに第
１図で説明した平行導体１及び２を保持した入射
妨害排除能力評価装置を示し、金属ケースの寸法
は長さ3.5ｍ、幅3.0ｍ、高さ2.5ｍである。該構成
における検出電圧（金属板の電圧）の周波数特性
は第５図に示される。図から明らかなように金属
板の検出電圧は40MHz程度から第３図で述べた較
正曲線の許容範囲を大きく逸脱するので、上記構
成では適切な評価が困難になることがわかる。
較正曲線で説明される。これは１辺20cmの金属板
を平行導体の下部導体上に１cmの高さで配置し、
下部導体に対する金属板の高周波電圧を適当な測
定装置、例えば高周波ミリボルトメータで測定す
るもので、縦軸は金属板の検出電圧（ｍＶ）、横
軸は周波数（ＭHz）を示す。図中のイは無変調の
測定用送信機の無負荷電圧が10Vの場合の較正曲
線で、平行導体で適切な評価を得るためには、該
導体内に配置された金属板の電圧が較正曲線イを
中心とする±2dBの範囲になければならないとさ
れる。しかしながら、電磁波の再入射があると金
属板の電圧値は上記範囲から逸脱することになる
ので、受信機の排除能力に対する適切な評価は困
難となる。これは第４図でより詳しく説明され
る。第４図は、電波吸収体を装着しない金属ケー
ス１９の中に該ケースの下面より80cmの高さに第
１図で説明した平行導体１及び２を保持した入射
妨害排除能力評価装置を示し、金属ケースの寸法
は長さ3.5ｍ、幅3.0ｍ、高さ2.5ｍである。該構成
における検出電圧（金属板の電圧）の周波数特性
は第５図に示される。図から明らかなように金属
板の検出電圧は40MHz程度から第３図で述べた較
正曲線の許容範囲を大きく逸脱するので、上記構
成では適切な評価が困難になることがわかる。
この問題は平行導体を自由空間とみなしうる電
波暗室内に配置することにより解決される。しか
しながら、電波暗室は形状が大きく従つて使用す
る電波吸収体の量も多いため製造コストが極めて
高くなり、また設置のための広い敷地を必要とす
ることから電子機器の製造工程の一環としてもう
けるには好適でないなどの欠点を有する。
波暗室内に配置することにより解決される。しか
しながら、電波暗室は形状が大きく従つて使用す
る電波吸収体の量も多いため製造コストが極めて
高くなり、また設置のための広い敷地を必要とす
ることから電子機器の製造工程の一環としてもう
けるには好適でないなどの欠点を有する。
従つて本発明は従来の技術の上記欠点を改善す
るもので、その目的は、平行導体内部の電界強度
を適切に保持することができると共に製造コスト
が安価でしかも電子機器の製造工程の一環として
もうけるに好適な入射妨害排除能力評価装置を提
供することにある。この目的を達成するための本
発明の特徴は、ほぼ直方体形状の金属ケースと、
金属ケースの下面に配置される妨害電界を模擬す
るための平行導体と、金属ケースの内面に装着さ
れる電波吸収体と、平行導体の上部導体とほぼ同
一の幅を有し該上部導体に対面して延び両端が下
面に至る金属ケースの帯状面と該ケースの下面に
形成される電波吸体を装着しない無装着部とを有
するごとき入射妨害排除能力評価装置にある。以
下図面により実施例を説明する。
るもので、その目的は、平行導体内部の電界強度
を適切に保持することができると共に製造コスト
が安価でしかも電子機器の製造工程の一環として
もうけるに好適な入射妨害排除能力評価装置を提
供することにある。この目的を達成するための本
発明の特徴は、ほぼ直方体形状の金属ケースと、
金属ケースの下面に配置される妨害電界を模擬す
るための平行導体と、金属ケースの内面に装着さ
れる電波吸収体と、平行導体の上部導体とほぼ同
一の幅を有し該上部導体に対面して延び両端が下
面に至る金属ケースの帯状面と該ケースの下面に
形成される電波吸体を装着しない無装着部とを有
するごとき入射妨害排除能力評価装置にある。以
下図面により実施例を説明する。
第６図は本発明による入射妨害排除能力評価装
置の一実施例、第７図は第６図のＡ−Ａ断面、第
８図は平行導体の電磁界分布を示す。
置の一実施例、第７図は第６図のＡ−Ａ断面、第
８図は平行導体の電磁界分布を示す。
金属ケース２０はほぼ直方体形状で、前壁２０
ａ、後壁２０ｂ、上面２０ｃ、下面２０ｄ、左右
側壁２０ｅ及び２０ｆを有し、使用者の出入り或
いは測定装置の搬出入等のための扉２１が必要個
所にもうけられる。金属ケースの中には第１図で
説明した平行導体がもうけられる。該平行導体は
図示するごとく、長手方向の中心軸が金属ケース
の下面２０ｄの１つの対角線に一致するように配
置される。このような金属ケースの内面には平行
導体による電磁波を反射減衰するため電波吸収体
がもうけられるが、前述したように入射妨害排除
能力の評価に影響を及ぼすのは平行導体内部に再
入射する電磁波であるから、平行導体による電磁
波の放射方向を考慮することにより金属ケースの
内面に電波吸収体の無装着部分をもうけることが
可能となる。平行導体による電磁波の放射方向は
第８図で説明される。
ａ、後壁２０ｂ、上面２０ｃ、下面２０ｄ、左右
側壁２０ｅ及び２０ｆを有し、使用者の出入り或
いは測定装置の搬出入等のための扉２１が必要個
所にもうけられる。金属ケースの中には第１図で
説明した平行導体がもうけられる。該平行導体は
図示するごとく、長手方向の中心軸が金属ケース
の下面２０ｄの１つの対角線に一致するように配
置される。このような金属ケースの内面には平行
導体による電磁波を反射減衰するため電波吸収体
がもうけられるが、前述したように入射妨害排除
能力の評価に影響を及ぼすのは平行導体内部に再
入射する電磁波であるから、平行導体による電磁
波の放射方向を考慮することにより金属ケースの
内面に電波吸収体の無装着部分をもうけることが
可能となる。平行導体による電磁波の放射方向は
第８図で説明される。
第８図は平行導体の電磁界分布を示し、Ａは電
気力線、Ｂは磁力線である。電磁波は電解と磁界
のベクトル積の向き（Ｅ×Ｈ）に放射されるもの
で、図から明らかなように下部導体１の下方及び
上部導体２の上方への放射は極めて小さくほぼ雰
とみることができる。
気力線、Ｂは磁力線である。電磁波は電解と磁界
のベクトル積の向き（Ｅ×Ｈ）に放射されるもの
で、図から明らかなように下部導体１の下方及び
上部導体２の上方への放射は極めて小さくほぼ雰
とみることができる。
上記考察より、平行導体からの電磁波の放射が
ない金属ケースの内面には電波吸収体を装着する
必要のないことがわかる。具体的には第６図及び
第７図に図示された部分にのみ装着すればよい。
図において、金属ケースの内面に装着される電波
吸収体は参照番号３０1，３０2，３０3，３０4，
３０5，３０6で示される。電波吸収体３０1は金
属ケースの前壁２０ａに、３０2は後壁２０ｂに、
３０3及び３０4は側壁２０ｅ及び２０ｆに、３０
５及び３０6は上面２０ｃに夫々装着される。平行
導体の下部導体１が配置される金属ケースの下面
２０ｄには電波吸収体はもうけられない。更に、
上部導体２の上方への電磁波の放射はないから、
これに対応する電波吸収体の無装着部４０が金属
ケースの内面に形成される。無装着部４０は平行
導体の上部導体２とほぼ同一の幅を有し該導体２
に対面して延びる帯状面で、その両端は金属ケー
スの下面２０ｄに至る。従つて、水平断面で本実
施例における電波吸収体の装着状態をみれば、第
６図に示すように壁面に装着された電波吸収体が
平行導体をはさんで互いに対向するＬ字状とな
る。
ない金属ケースの内面には電波吸収体を装着する
必要のないことがわかる。具体的には第６図及び
第７図に図示された部分にのみ装着すればよい。
図において、金属ケースの内面に装着される電波
吸収体は参照番号３０1，３０2，３０3，３０4，
３０5，３０6で示される。電波吸収体３０1は金
属ケースの前壁２０ａに、３０2は後壁２０ｂに、
３０3及び３０4は側壁２０ｅ及び２０ｆに、３０
５及び３０6は上面２０ｃに夫々装着される。平行
導体の下部導体１が配置される金属ケースの下面
２０ｄには電波吸収体はもうけられない。更に、
上部導体２の上方への電磁波の放射はないから、
これに対応する電波吸収体の無装着部４０が金属
ケースの内面に形成される。無装着部４０は平行
導体の上部導体２とほぼ同一の幅を有し該導体２
に対面して延びる帯状面で、その両端は金属ケー
スの下面２０ｄに至る。従つて、水平断面で本実
施例における電波吸収体の装着状態をみれば、第
６図に示すように壁面に装着された電波吸収体が
平行導体をはさんで互いに対向するＬ字状とな
る。
なお、電波吸収体としては200MHz〜1000MHz
程度の周波数範囲で20dB以上の反射減衰量を有
する例えば東京電気化学工業(株)製のフエライト電
波吸収体IB−003W（Ni−Zn系フエライト）が好
適で、これは上記周波数帯以下の例えば30MHz程
度の周波数でも磁気損失により充分な減衰量の得
られることが知られている。
程度の周波数範囲で20dB以上の反射減衰量を有
する例えば東京電気化学工業(株)製のフエライト電
波吸収体IB−003W（Ni−Zn系フエライト）が好
適で、これは上記周波数帯以下の例えば30MHz程
度の周波数でも磁気損失により充分な減衰量の得
られることが知られている。
金属ケース２０は例えば長さ３ｍ、幅2.5ｍ、
高さ２ｍと小型で、しかも電波吸収体は前述した
ごとく部分的に装着されるので製造コストが安価
になるばかりでなく、電子機器の製造工程の一環
として容易に設置することができる。なお、金属
ケースの高さは平行導体の間隔（第１図における
Ｈ）に対して２倍以上とすることが望ましい。こ
れは平行導体内部の電界強度を適切に保持するた
めである。
高さ２ｍと小型で、しかも電波吸収体は前述した
ごとく部分的に装着されるので製造コストが安価
になるばかりでなく、電子機器の製造工程の一環
として容易に設置することができる。なお、金属
ケースの高さは平行導体の間隔（第１図における
Ｈ）に対して２倍以上とすることが望ましい。こ
れは平行導体内部の電界強度を適切に保持するた
めである。
第９図は、上記寸法で限定した以上述べたごと
き構成において平行導体内部の電界を第３図で説
明した手段に準拠して測定したものである。図か
ら明らかなように、金属板の電圧値ロは全測定周
波数範囲にわたつて較正曲線イを中心とする±
2dBの許容範囲内となり、所定の規格を満足する
ことが判る。なお電波吸収体としては前述のフエ
ライト電波吸収体IB−003Wを用いた。
き構成において平行導体内部の電界を第３図で説
明した手段に準拠して測定したものである。図か
ら明らかなように、金属板の電圧値ロは全測定周
波数範囲にわたつて較正曲線イを中心とする±
2dBの許容範囲内となり、所定の規格を満足する
ことが判る。なお電波吸収体としては前述のフエ
ライト電波吸収体IB−003Wを用いた。
以上述べた実施例では、平行導体が金属ケース
の下面の対角線の１つに長手方向の中心軸が一致
するように配置されているので、平行導体より放
射される電磁波は第６図に示すように金属ケース
の吸収体装着面で少なくとも２回反射した後平行
導体内部に再入射することになる。その結果、再
入射する電磁波は充分に減衰されることになり、
従つてより適切な評価が可能になる。更に、ワー
キングスペースを広くとることができるので装置
の搬出入等が容易になるなどの利点が得られる。
の下面の対角線の１つに長手方向の中心軸が一致
するように配置されているので、平行導体より放
射される電磁波は第６図に示すように金属ケース
の吸収体装着面で少なくとも２回反射した後平行
導体内部に再入射することになる。その結果、再
入射する電磁波は充分に減衰されることになり、
従つてより適切な評価が可能になる。更に、ワー
キングスペースを広くとることができるので装置
の搬出入等が容易になるなどの利点が得られる。
以上説明したように本発明によれば、平行導体
内部の電界強度を所望の周波数範囲で適切に保持
することができると共に製造コストが安価でしか
もコンパクトな寸法の入射妨害排除能力評価装置
を提供することができ、電子機器の製造工程にお
ける最終的な検査部問の一環として容易に設置す
ることが可能となる。
内部の電界強度を所望の周波数範囲で適切に保持
することができると共に製造コストが安価でしか
もコンパクトな寸法の入射妨害排除能力評価装置
を提供することができ、電子機器の製造工程にお
ける最終的な検査部問の一環として容易に設置す
ることが可能となる。
第１図は平行導体の構成図、第２図は入射妨害
排除能力評価システムのブロツク図、第３図は較
正曲線、第４図は入射妨害排除能力評価装置の従
来例、第５図は第４図の構成における検出電圧の
周波数特性、第６図は本発明による入射妨害排除
能力評価装置の一実施例、第７図は第６図のＡ−
Ａ断面図、第８図は平行導体の電磁界分布を示す
図、第９図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の実験例である。 １……下部導体、２……上部導体、６……被測
定受信機、２０……金属ケース、３０1，３０2，
３０3，３０4，３０5，３０6……電波吸収体、４
０……帯状無装着部。
排除能力評価システムのブロツク図、第３図は較
正曲線、第４図は入射妨害排除能力評価装置の従
来例、第５図は第４図の構成における検出電圧の
周波数特性、第６図は本発明による入射妨害排除
能力評価装置の一実施例、第７図は第６図のＡ−
Ａ断面図、第８図は平行導体の電磁界分布を示す
図、第９図は本発明による入射妨害排除能力評価
装置の実験例である。 １……下部導体、２……上部導体、６……被測
定受信機、２０……金属ケース、３０1，３０2，
３０3，３０4，３０5，３０6……電波吸収体、４
０……帯状無装着部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ほぼ直方体形状の金属ケースと、金属ケース
の下面に配置される妨害電界を模擬するための平
行導体と、金属ケースの内面に装着される電波吸
収体と、平行導体とほぼ同一の幅を有し該上部導
体に対面して延び両端が下面に至る金属ケースの
帯状面と該ケースの下面に形成される電波吸体を
装着しない無装着部とを有することを特徴とする
入射妨害排除能力評価装置。 ２ 前記平行導体を金属ケースの下面の対角線の
１つに長手方向の中心軸が一致するように配置す
るごとき特許請求の範囲第１項の入射妨害排除能
力評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55142052A JPS5765934A (en) | 1980-10-13 | 1980-10-13 | Appreciating device for capability of eliminating incident |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55142052A JPS5765934A (en) | 1980-10-13 | 1980-10-13 | Appreciating device for capability of eliminating incident |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5765934A JPS5765934A (en) | 1982-04-21 |
| JPS6347018B2 true JPS6347018B2 (ja) | 1988-09-20 |
Family
ID=15306283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55142052A Granted JPS5765934A (en) | 1980-10-13 | 1980-10-13 | Appreciating device for capability of eliminating incident |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5765934A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0227825A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-30 | Tdk Corp | 電波暗室 |
| JP2510153Y2 (ja) * | 1990-03-19 | 1996-09-11 | 日本電気株式会社 | 無線受信機測定装置 |
-
1980
- 1980-10-13 JP JP55142052A patent/JPS5765934A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5765934A (en) | 1982-04-21 |
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