JPS6346631A - 光学デイスク再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンパクトディスク等の光学ディスクを再生す
る光学ディスク再生装置の改良に関し、更に詳細には疵
、汚れ、ピット欠落等の光学ディスクの欠陥に起因する
トラック飛び及び再生装置に加わる振動に起因するトラ
ンク飛びの双方を防止することができる光学ディスク再
生装置に関するものである。

〔従来の技術〕

コンパクトディスクプレーヤ等の光学ディスク再生装置
に於いては、コンパクトディスク等の光学ディスクに疵
、汚れ、ピット欠落等の局部的な欠陥があると、トラッ
キングサーボのトラフキングエラー信号に一時的な乱れ
が生じ、トラック飛びが起こることがある。

このような、光学ディスクの局部的な欠陥に伴うトラン
ク飛びを防止するには、一時的に生じるトラッキングエ
ラー信号の乱れに対してトラッキングサーボを応答しに
くく構成すれば良く、ホーム用コンパクトディスクプレ
ーヤ等では、トラッキングサーボループの高域利得を下
げることで対処している。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、上述した従来例には次のような問題点があった
。　［！ＩＩち、サーボ機構の耐振性は一般にサーボル
ープの利得に比例するものであるから、上述した従来例
のように、トラッキングサーボループの高域利得を下げ
たのでは、振動によりトラック飛びが生じやすくなる問
題があった。従って、車載用コンパクトディスクプレー
ヤ等のように振動の多い場所で使用する光学ディスク装
置に於いて、トラッキングサーボループの利得を下げた
のでは光学ディスクの局部的な欠陥によるトラック飛び
は防止できるが、振動によるトラック飛びが生じやすく
なる問題があった。

本発明は前述の如き問題点を解決したものであり、その
目的は光学ディスクの局部的欠陥に伴うトラック飛び及
び振動に伴うトラック飛びを防止できるようにすること
にある。

〔問題点を解決するための手段〕

前述の如き問題点を解決するため、第１の発明では、 反射光を受光する受光素子と、 該受光素子の各部の同一ピットに対する受光出力の時間
差に対応したパルス幅のパルスを出力する時間差検出回
路と、 該時間差検出回路から出力されるパルスのパルス幅の上
限を規制する時間フィルタと、前記受光素子の受光出力
に基づいて前記光学ディスクの欠陥を検出する欠陥検出
手段と、前記時間フィルタの出力に従ってトラッキング
エラー信号を作成するトラッキングエラー信号作成手段
と、 前記トラッキングエラー信号が入力され、前記欠陥検出
手段の検出結果に基づいて前記トラッキングエラー信号
に対する減衰量を制御する減衰手段と、 該減衰手段の出力信号に従って前記受光素子の光軸と前
記光学ディスクのトラックとのずれを補正する補正手段
とを設けたものである。

また、第２の発明に於いては、前述の如き問題点を解決
するため、 複数の部分に分ｖ１され、光学・ディスクからの反射光
を受光する受光素子と、 該受光素子の各部の同一ビノドに対する受光出力の時間
差に対応したパルス幅のパルスを出力する時間差検出回
路と、 該時間差検出回路から出力されるパルスのパルス幅の上
限を規制する時間フィルタと、前記受光素子の受光出力
に基づいて前記光学ディスクの欠陥を検出する欠陥検出
手段と、前記時間フィルタの出力に従ってトラッキング
エラー信号を作成するトラッキングエラー信号作成手段
と、 前記トラッキングエラー信号の低域成分のみを通過させ
る予測回路と、 該予測回路の出力或いは前記トラッキングエラー信号作
成手段から出力されるトラッキングエラー信号の内の何
れか一方を、前記欠陥検出手段の検出結果に従って出力
する切換手段と、該切換手段の出力信号に従って前記受
光素子の光軸と前記光学ディスクのトランクとのずれを
補正する補正手段とを設けたものである。

〔作　用〕

疵等の光学ディスクの欠陥によるトラック飛びを防止す
るためには、トラッキングサーボループの利得を下げれ
ば良く、また、振動によるトランク飛びを防止するため
にはトラッキングサーボループの利得を上げれば良い、
従って、第１の発明のように、欠陥検出手段で光学ディ
スクの欠陥を検出した時のみ、減衰手段の減衰量を太き
（してトラッキングサーボループの利得を小さくすれば
、疵等の光学ディスクの欠陥によるトランク飛び及び振
動によるトラック飛びの双方を防止することが可能とな
る。

また、第２の発明はトラッキングエラー信号の低域成分
のみを通過させる予測回路を設けたものであり、疵等に
起因したトラッキングエラー信号の乱れは予測回路で除
去されることになるので、欠陥検出手段で光学ディスク
の欠陥を検出した時のみ、予測回路の出力信号を補正手
段に加えるようにすることにより、疵等の光学ディスク
の欠陥に起因するトラック飛び及び振動によるトラック
飛びの双方を防止することが可能となる。

〔実施例〕

次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。

コンバク、トディスク等の光学ディスクｌに記録された
情報は光学ピックアップ２によって読取られる。光学デ
ィスク１は、例えば、第２図の断面図に示すように、合
成樹脂からなる基板１ａと、基板１ａ上に設けられた凸
部からなるピット１ｂと、へ１等を蒸着することにより
形成した反射面ＩＣと、反射面ＩＣ上に設けられた透明
保護層１ｄとから構成されている。また、光学ディスク
ｌに記録されている情報の読出しは、第３図に示すよう
に、光学ピックアップ２内に設けられている対物レンズ
１ｅによって集束した光ビーム１ｆを透明基板１ａを介
して反射面ｌｃ上に照射し、反射面ＩＣからの反射光を
光学ピックアップ２内の受光素子３に入射させることに
より行なう。

受光素子３は４つの部分Ａ−Ｄに分割されており、各部
分Ａ−Ｄの出力信号はそれぞれ増幅器４〜７に加えられ
る。加算器８は増幅器４．６の出力信号ａ、ｃを加算し
、加算器９は増幅器５．７の出力信号す、ｄを加算し、
加算器１０は加算器８゜９の出力１３号（ａ＋ｃ）、　
　（ｂ＋ｄ）を加算する。

波形整形回路１工は加算器ＩＯの出力信号を波形整形し
て２値化し、クロック再生回路１５は波形整形回路１１
の出力信号からクロックを再生してデコーダ１２及び速
度エラー検出回路１７に加える。デコーダ１２はクロッ
ク再生回路１５で再生されたクロックと発振器１６から
の基準クロックに従って波形整形回路１１からの２値信
号を復号化してディジタル信号を作成する。このディジ
タル信号はＤＡ変換器１３でアナログ信号に変換され、
出力端子１４よりオーディオ信号として出力される。ま
た、速度エラー検出回路１７はクロック再生回路１５で
再生されたクロックと発振器１６からの基準クロックと
を比較し、その誤差に対応したレベルの信号を駆動回路
１８を介してモータ１９に加えることにより、モータ１
９を基準クロックに同期した信号読出し速度となる回転
速度で回転させる。

フォーカシングエラー検出回路２０は増幅器５゜６の出
力信号す、ｃを加算する加算器２１と、増幅器４．７の
出力信号ａ、ｄを加算する加算器２２と、ローパスフィ
ルタ２３．２４と、ローパスフィルタ２３の出力信号と
ローパスフィルタ２４の出力信号との差を取る減算器２
５とから構成されており、その出力信号は光学ピックア
ップ２の合焦位置からのずれ量に対応したものとなる。

フォーカシングエラー検出回路２０の出力信号は位相補
償回路２６を介して駆動回路２７に加えられ、駆動回路
２７の出力信号によって第３図に示した対物レンズ１ｅ
を光学ディスク１に対して垂直方向に移動させるアクチ
ュエークコイル２８が駆動され、光学ディスク１に対し
て光学ピックアップ２が合焦状態にされる。

また、４個のＤクリップフロフプＦＦＩ〜ＦＦ４から構
成される時間差検出回路３１には、受光素子３のＡ、　
　Ｃの部分の増幅加算出力（ａ＋ｃ）を波形整形した波
形整形回路２９の出力信号ｅと、受光素子３のＢ、Ｄの
部分の増幅加算出力（ｂ＋ｄ）を波形整形した波形整形
回路３０の出力信号ｇと、インバータＩＮＬ、ＩＮ２の
出力信号ｆ、ｈとが加えられている。ここで、第５図（
Ａ）に示すように、受光素子３の光軸（中心）に対して
ピッ）ｌｂが右側にずれている場合は、ピット１ｂは受
光素子３のＡの部分を通過した後、Ｂの部分を通過する
ことになり、また同図（Ｂ）に示すように、受光素子３
の光軸に対してピット１ｂが左側にずれている場合は、
ピット１ｂは受光素子３のＤの部分を通過した後、Ｃの
部分を通過することになり、同図（Ｃ）に示すようにピ
ット１ｂが受光素子３の光軸を通過する場合は、ピン）
ｌｂはＡ、Ｄの部分を同時に通過した後、Ｂ、Ｃの部分
を同時にｌすることになる。従って、ピット１ｂが受光
素子３の光軸に対して右側にずれている場合は、時間差
検出回路３１に加えられる同一ピットに対する波形整形
回路２９の出力信号ｅの立上がり、立下がりは波形整形
回路３０の出力信号ｇの立上がり。

立下がりよりも早くなり、ピット１ｂが受光素子３の光
軸に対して左側にずれている場合は、波形整形回路２９
の出力信号ｅの立上がり、立下がりは波形整形回路３０
の出力信号ｇの立上がり、立下がりよりも遅くなり、ピ
ット１ｂが受光素子３の光軸に一敗している場合は波形
整形回路２９の出力信号ｅは波形整形回路３０の出力信
号Ｃと同一のタイミングで立上がり、立下がることにな
る。即ち、信号ｅ１ｇの立上がり、立下がりの時間差（
位相差）は受光素子３の光軸とビン）ｌｂとのずれ量に
対応したものとなる。また、波形整形回路２９゜３０の
出力信号ｅ、ｇを反転したインバータＩＮＩ。

ＩＮ２の出力信号ｆ、ｈの立上がり、立下がりの時間差
（位相差）も受光素子３の光軸とピッ）ｌｂとのずれ量
に対応したものとなる。

ここで、時間差検出回路３１内の各Ｄフリンブフロソブ
ＦＦＩ〜ＦＰ４のデータ端子りには電源Ｖｃｃが接続さ
れ（論理“１”に固定）、クロック端子ＣＫにはそれぞ
れ信号ｆ、ｅ、ｇ、ｈを加えられ、クリア端子ＣＬＲに
はそれぞれ信号ｇ、ｈ、ｆ、ｅが加えられているもので
あるから、第４図（Ａ）〜（Ｈ）に示すように、Ｄフリ
フブフロフブＰＦＩの出力信号Ｑａは信号ｇが“ｌ”の
時に信号ｆが立上がった時点から信号ｇが立下がるまで
の間“１”となり、ＤフリップフロップＦＦ２の出力信
号Ｑｂは信号りが“１”の時に信号ｅが立上がった時点
から信号りが立下がるまでの間“１“となり、Ｄフリッ
プフロップＦＦ３の出力信号Ｑｃは信号ｆが“１”の時
に信号ｇが立上がった時点から信号ｆが立下がるまでの
間“１“となり、ＤフリップフロップＦＦ４の出力信号
Ｑｄは信号ｅが“１”の時に信号りが立上がった時点か
ら信号ｅが立下がるまでの間“１”となる。即ち、受光
素子３の光軸に対してピット１ｂが右側にずれている場
合は、そのずれ蛍に対応したパルス幅を有するパルス信
号Ｑａ　、Ｑｂが出力され、受光素子３の光軸に対して
ピットｌピットが左側にずれている場合は、そのずれ量
に対応したパルス幅を有するパルス信号Ｑｃ、Ｑｄが時
間差検出回路３１から出力されることになる。このよう
に、時間差検出回路３１の出力信号Ｑａ＝Ｑｄのパルス
幅は受光素子３の光軸と光学ディスクのピットとのずれ
世に対応したものとなるが、光学ディスクの欠陥がある
部分に於いては、波形整形回路２９．３０の出力信号ｅ
、ｇの位相差が極端になるため、ＤフリップフロップＦ
ＦＩ〜ＦＦ４の出力信号Ｑａ＝Ｑｄの内の何れかのパル
ス幅が異常に長くなる。同図（Ｆ）の（イ）の部分は、
疵等の欠陥によりパルス幅が異常に長くなった部分を示
している。

時間フィルタ３２は時間差検出回路３１の出力信号Ｑａ
＝Ｑｄのパルス幅の上限を規制するものであり、信号Ｑ
ａ　、Ｑｂの論理和をとるオアゲートＯＲ１と、信号Ｑ
ｃ、Ｑｄの論理和をとるオアゲートＯＲ２と、オアゲー
トＯＲＩ、ＯＲ２の出力信号の論理和をとるオアゲート
ＯＲ３と、オアゲートＯＲ３の出力信号ｉを所定時間τ
だけ遅延させる遅延回路ＤＬＹと、遅延回路ＤＬＹの出
力信号を反転するインバータＩＮ３と、オアゲートＯＲ
３の出力信号ｉとインバータＩＮ３の出力信号ｊとの論
理積をとるアントゲ−）ＡＮＤ３と、オアゲートＯＲＩ
の出力信号とアンドゲート＾Ｎ［１３の出力信号との論
理積をとるアントゲ−ＬＡＮＤＩと、オアゲー）ＯＲ２
の出力信号とアンドゲートＡＮＤ３の出力信号との論理
積をとるアントゲ−）ＡＮＤ２とから構成されている。

従って、時間差検出回路３１の出力信号Ｑａ＝Ｑｄが例
えば第４図（Ｅ）〜（Ｈ）に示すものであるとすると、
オアゲートＯＲ３の出力信号ｌ及びインバータＩＮ３の
出力信号ｊはそれぞれ同図（Ｉ）、　　（Ｊ）に示すも
のとなるので、アンドゲートＡＮ口ｌ、ＡＮＤ２の出力
信号に、ｊｌはそれぞれ同図（Ｋ）、　　（Ｌ）に示す
ものとなる。つまり、時間フィルタ３２は時間差検出回
路３１の出力信号Ｑａ〜Ｑｄのパルス幅が遅延回路ＤＬ
Ｙの遅延時間τに対応したパルス幅よりも短い場合はそ
のまま出力し、信号Ｑａ〜Ｑｄのパルス幅が遅延回路Ｄ
ＬＹの遅延時間τに対応したパルス幅よりも長い場合は
、そのパルス幅を遅延時間τに対応したパルス幅に制限
して出力するものである。

時間フィルタ３２の出力信号に、１はそれぞれローパス
フィルタ３３．３４を介して減算器３５に加えられ、減
算器３５でローパスフィルタ３３．３４の出力信号の差
をとることにより、トラッキングエラー信号が作成され
る。減算器３５から出力されたトラッキングエラー信号
は位相補償回路３６及び抵抗Ｒ１゜Ｒ２とコンデンサＣ
とスイッチ籏とからなる減衰器３７を介して駆動回路３
８に加えられる。尚、スイッチＳＷは後述する圧検出回
路４０の出力信号ｍによってオン、オフするものである
。駆動回路３８は減衰器３７の出力信号に従ってアクチ
ュエータコイル３９を駆動して第３図に示した対物レン
ズ１ｅを光学ディスク１に対して水平方向に移動させ、
受光素子３の光軸と光学ディスクのトラックとを一致さ
セる。

つまり、時間フィルタ３２で信号Ｑａ−Ｑｄのパルス幅
の上限を制限するようにしたのは、光学ディスクに疵等
の欠陥により、例えば第４図（Ｆ）の（イ）の部分に示
すように時間差検出回路３１の出力信号Ｑｂのパルス幅
が異常に長くなった場合、これを直接ローパスフィルタ
３３に加えると第３図に示した対物レンズ１ｅの位置が
ずれ過ぎ、トランク飛びを起こしやすくなるからである
。

また、圧検出回路４０は波形整形回路１１の出力信号ｎ
に基づいて、光学ディスクｌに付けられた疵。

汚れ等の局部的な欠陥を検出した時のみ、その出力信号
ｑを“１”とするものである、圧検出回路４０の出力信
号ｑは減衰器３７のスイッチＳＷに加えられており、ス
イッチｓＨは信号ｑが１１″の時はオン状態となり、信
号ｑが“０”の場合はオフ状態になる。即ち、圧検出回
路４０によって疵等が検出された場合は、減衰器３７の
減衰量が大となってトランキングサーボループの利得が
小となり、疵等が検出されなかった場合は、減衰器３７
の減衰量が小となってトラッキングサーボループの利得
が大となる。

ここで、前述したように、トラッキングサーボループの
利得を大とした場合は振動によるトランク飛びが生じに
くく、また利得を小とした場合は疵等の光学ディスク１
の局部的な欠陥によるトラック飛びが住しにくいもので
あるから、上述したように、圧検出回路４０で光学ディ
スク１の局部的な欠陥を検出した時のみ、減衰器３７の
減衰量を増加させ、トラッキングサーボループの利得を
下げることにより、振動によるトランク飛び及び光学デ
ィスクｌの局部的な欠陥によるトラック飛びの双方を防
止することが可能となる。尚、トラッキングサーボルー
プの利得を下げることにより、振動によるトラック飛び
は生しやすくなるが、利得を下げるのは光学ディスクｌ
の局部的な欠陥を検出した時だけであり、また、車両に
於いては、大きな振動が加わるのは例えば窪みに落ちる
。急停車すると言った場合であり、利得を下げた時に大
きな振動が加わる確率は非常に少ないものであるから、
上述したようにすることにより、振動にょるトラック飛
び及び光学ディスク１の局部的な欠陥に伴うトラック飛
びの双方を防止することが可能となる。

第６図は底栓出回路４０の構成例を示すブロック図であ
り、４１はクロックパルスｍを出力する発振器、４２は
波形整形回路１１の出力信号ｎの入力端子、４３、４４
はカウンタ、４５．４６は比較器、Ｇｌ、Ｇ２はインヒ
ビソトゲート、ＯＲ４はオアゲート、１１１４はインバ
ータである。また、第７図（Ａ）〜（Ｇ）は第６図の動
作説明図であり、同図（Ａ）は発振器４１から出力され
るクロックパルスｍを示し、同図（Ｂ）は波形整形回路
１１の出力信号ｎを示し、同図（Ｃ）はカウンタ４３の
動作を、同図（Ｄ）は比較器４５の出力信号０を、同図
（Ｅ）はカウンタ４４の動作を、同図（Ｆ）は比較器４
６の出力信号ｐを、同図ＣＧ）はオアゲー）ＯＲ４の出
力信号ｑを示している。尚、第７図（Ｃ）、　　（Ｆ）
に於いて斜線を施した部分はカウンタ４３．４４が動作
している状態を表している。

入力端子１１に加えられる波形整形回路１１の出力信号
ｎは受光素子３の各部Ａ−Ｄの出力信号を増幅、加算し
た信号（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）を波形整形したものであり、
光学ディスク１上のピットの有無に対応して“Ｏ″、“
１″となる。また、発振器４１は波形整形回路１１の出
力信号ｎより十分短い周期のクロックパルスｍを出力す
るのものでありクロックパルスｍはインヒピットゲート
Ｇｌ、Ｇ２を介してカウンタ４３．４４のクロック端子
ＣＫに加えられる。カウンタ４３．４４はクリア端子Ｃ
ＬＲに加えられる信号が“ｌ”の間、そのカウント値Ｃ
ＮＴ１．ＣＮＴ２を「０」に保持し、クロック端子ＣＫ
にクロックパルスｍが加えられる毎にそのカウント値Ｃ
ＮＴｌ、ＣＮＴ２を歩進するものである。また、比較器
４５．４６はそれぞれカウンタ４３．４４のカウント値
ＣＮＴ１．ＣＮＴ２と設定値３１．Ｓ２とを比較し、両
者が一致した場合、その出力信号ｏ、ｐを“１”とする
ものである。

また、インヒビフトゲー）Ｇｌ、Ｇ２はそれぞれ比較器
４５．４６の出力信号０．ｐが１″の時、カウンタ４３
．４４へのクロックパルスｍの入力を禁止し、カウント
動作を一時停止させるものである。

従って、カウンタ４３は第７図（Ｃ）に示すように、波
形整形回路１１の出力信号ｎが“０”となることにより
カウント動作を開始し、比較器４５は同図（Ｄ）に示す
ように、カウンタ４３のカウント値ＣＮＴｌが設定値Ｓ
１となることにより、即ち、波形整形回路１１の出力信
号ｎの“０”の部分が前記設定値Ｓ１に対応した時間Ｔ
１以上連続した場合、その出力信号０を“１′とし、ま
た、カウンタ４４は同図（Ｅ）に示すように、波形整形
回路１１の出力信号ｎが１“となることによりカウント
動作を開始し、比較器４６は同図（Ｆ）に示すように、
カウンタ４４のカウント値ＣＮＴ２が設定値ｓ２となる
ことにより、即ち波形整形回路１１の出力信号ｎの“１
”の部分が前記設定値Ｓ２に対応した時間１２以上連続
した場合、その出力信号ｐを“１”とすることになる。

ここで、信号ｎが“１゛の部分は光学ディスク１上に設
けられたピットとピットとの間の部分に対応し、ピット
間の長さの最大値は予め決められているものであるから
、前記時間ＴＩ　（設定値Ｓｌ）を最大のピット間隔を
再生するのに要する時間としておけば、比較器４６の出
力信号ｐに基づいて光学ディスク１の疵等の局部的な欠
陥を検出することが可能となる。即ち、比較器４６の出
力信号ｐが“１゛となるのは、疵等の欠陥により等価的
にピット間の長さが予め定められている最大値よりも長
くなった場合であるので、比較器４６の出力信号ｐに基
づいて疵等の欠陥を検出することができる。

また、信号ｎが“０”の部分は光学ディスク１上に設け
られたピットの部分に対応し、ピットの長さの最大値は
予め決められているものであるから、前記時間Ｔ２　（
設定値Ｓ２）を最大の長さを有するピットを再生するの
に要する時間としておけば、比較器４５の出力信号０に
基づいて光学ディスク１の疵等の局部的な欠陥を検出す
ることが可能となる。

即ち、比較器４５の出力信号０力び１”となるのは、疵
等の欠陥により等価的にピットの長さが予め定められて
いる最大値よりも長くなった場合であるので、比較器４
５の出力信号に基づいて疵等の欠陥を検出することがで
きる。従って、比較器４５．４６の出力信号ｏ、ｐの論
理和をとるオアゲートＯＲ４の出力信号ｑは、疵等の局
部的な欠陥の有無を示していることになる。

このように、本実施例は圧検出回路４０で疵等の光学デ
ィスクｌの局部的な欠陥を検出した場合のみ、トラッキ
ングサーボループの利得を下げるようにしたものである
から、光学ディスク１の局部的な欠陥に伴うトラック飛
び及び振動に伴うトランク飛びの双方を防止することが
可能となる。

第８図は本発明の他の実施例の要部ブロック図であり、
５０はブラックドツト検出回路、５１はバンファンプ、
５２．５３はピークホールド回路、５４は比較器、ＯＲ
５はオアゲート、Ｒ３，Ｒ４は抵抗である。

尚、同図に於いて他の第１図と同一符号は同一部分を表
している。また、比較器５４は子端子に加えられる信号
が一端子に加えられる信号よりも大きい間、その出力信
号ｔを“１”するものである。

ブラックドツト検出回路５０には加算器１０の出力信号
（１＋ｂ＋ｃ＋ｄ）が加えられている。この信号（ａ十
り＋Ｃ４−ｄ）はピット欠落等の反射率の低い欠陥が光
学ディスクに存在する場合、第９図（Ａ）に示すように
そのレベルが小となるものである。ピークホールド回路
５２．５３はバッファアンプ５１を介して加えられる加
算器ｌＯの出力信号の包路線を示す信号を出力する。こ
こで、ピークホールド回路５２の放電時定数はピークホ
ールド回路５３の放電時定数に比較して十分短く設定さ
れているものとする。従って、比較器５４には同図（Ｂ
）に実線で示すピークホールド回路５２の出力信号ｒと
ピークホールド回路５３の出力信号Ｓを抵抗Ｒ３゜Ｒ４
によって分圧した同図（Ｂ）に点線で示す信号とが加え
られることになるので、比較器５４の出力信号ｔは同図
（Ｃ）に示すものとなる。このように、比較器５４の出
力信号りはピット欠落等の反射率の低い欠陥がある部分
に於いて“ｌ”となるものであるから、比較器５４の出
力信号ｔをオアゲートＯＲ５を介して第１図に示した減
衰器３７内のスイッチＳ−に加え、トラッキングサーボ
ループの利得を制御することにより、ピット欠落等の反
射率の低い欠陥がある場合に於いても、トラック飛びを
防止することが可能となる。尚、本実施例に於いては圧
検出回路４０の出力信号ｑと比較器５４の出力信号ｔと
の論理和をとるオアゲートＯＲ５の出力信号により、減
衰器３７内のスイッチ針のオン、オフを制御するように
したが、比較器５４の出力信号ｔのみを用いてスイッチ
連のオン、オフを制御するようにしても良い。

第１０図は本発明のその他の実施例の要部ブロック図で
あり、６０は抵抗Ｒ５〜Ｒ７、コンデンサＣ１−Ｃ５及
び演算増幅器ＯＰからなる予測回路、６１は圧検出回路
４０の出力信号ｑが“０”の場合は接点をＡ側にし、“
１”の場合は接点をＢ側にする切換回路であり、他の第
１図と同一符号は同一部分を表している。

予測回路６０には減算器３５から出力されるトラッキン
グエラー信号が加えられており、この信号は光学ディス
ク１に疵等の欠陥がない場合は一定値或いは光学ディス
クｌの偏心の影響を受けて第１１図（Ａ）に示すように
緩やかに正弦状に変化するものであるが、光学ディスク
ｌに欠陥がある場合は（ロ）に示すような乱れが生じる
。予測回路６０内の抵抗Ｒ５とコンデンサＣＩとはカッ
トオフ周波数が例えば１０Ｈｚ程度のローパスフィルタ
を構成しており、加算器３５の出力信号に重畳された微
小なリップル（ハ）を除去する。また、演算増幅器ＯＰ
と抵抗Ｒ７とコンデンサＣ３とはカットオフ周波数が例
えばＩ　ＫＨｚ程度のローパスフィルタを構成しており
、同図（Ａ）に示す信号の乱れ（ロ）を除去する。また
、演算増幅器ＯＰと抵抗Ｒ６とコンデンサＣ２とは位相
補償回路を構成しており、前記ローパスフィルタの出力
信号の位相遅れを補償する働きをする。従って、予測回
路６０から出力される信号Ｕは同図（Ｂ）に示すように
、乱れのないものとなる。

また、予測回路６０の出力信号Ｕが加えられている切換
回路６１は前述したように、圧検出回路４０の出力信号
ｑが“０”の場合は接点Ａ側に接続され、“１”の場合
は接点Ｂ側に接続されるものであり、また、圧検出回路
４０は疵等の欠陥が光学ディスク上にあることを検出し
た場合、その出力信号ｑを同図（Ｃ）に示すように“１
”とするものであるから、切換回路６１の出力イδ号Ｖ
は同図（Ｄ）に示すように、乱れのないものとなる。従
って、切換回路６１の出力信号Ｖを位相補償回路３６に
加えることにより、光学ディスクに欠陥がある場合に於
いてもトラック飛びを防止することが可能となる。

尚、上述した実施例に於いては底積出回路４０の出力信
号ｑにより切換回路６１を制御するようにしたが、第８
図に示したオアゲー）ＯＲ５の出力信号或いはブラック
ドツト検出回路５０出力信号ｔにより切換回路６１を制
御するようにすることもできる。

第１２図は本発明の更に他の実施例の要部ブロック図で
あり、フォーカシングエラー検出回路２０の出力信号を
位相補償回路２６及びｒｉＥ検出回路４０の出力信号ｑ
によってその減衰量が制御される第１図に示した減衰器
３７と同一構成を存する減衰器３７゛を介して駆動回路
２７に加えるようにしたものである。このようにするこ
とにより、光学ディスク１に疵等の欠陥がある場合に於
いても、フォーカシングを正ｈ′αに達成することが可
能となる。尚、同図に於いて第１図と同一符号は同一部
分を表している。また、本実施例に於いては底積出回路
４０の出力信号ｑによって減衰器３７′　の減衰量を制
御するようにしたが、第８図に示したオアゲートＯＲ５
の出力信号或いはブラノクドソ日負出回路５０の出力信
号ｔにより減衰量を制御するようにしても良い。

第１３図は本発明の更に他の実施例の要部ブロック図で
あり、フォーカシングエラー検出回路２０と位相補償回
路２６との間に、第１０図に示した予測回路６０と同一
構成の予測回路６０゛及び底積出回路４゜の出力信号ｑ
に従って予測回路６０’　の出力信号とフォーカシング
エラー検出回路２０の出力信号との内の何れか一方を位
相補償回路２６に加える第１０図に示した切換回路６１
と同一構成の切換回路６１“を設けることにより、光学
ディスクに疵がある場合に於いてもフォーカシングを正
確に達成できるようにしたものである。尚、同図に於い
て池の第１図と同一符号は同一部分を表している。また
、本実施例に於いては底積出回路４０の出力信号ｑによ
り切換回路６１′　を制御するようにしているが、第８
図に示したオアゲートＯＲ５の出力信号或いはブラック
ドツト検出回路５０の出力信号ｔにより切換回路６１°
を制御するようにしても良い。

〔発明の効果〕

以上説明したように、第１の発明は、複数の部分に分割
され、光学ディスクからの反射光を受光する受光素子と
、受光素子の各部の同一ピットに対する受光出力の時間
差に対応したパルス幅を有するパルスを出力する時間差
検出回路と、時間差検出回路から出力されるパルスのパ
ルス幅の上限を規制する時間フィルタと、受光素子の受
光出力に基づいて前記光学ディスクの欠陥を検出する欠
陥する底積出回路４０．ブラックドツト検出回路５０等
の欠陥検出手段と、時間フィルタの出力に従ってトラッ
キングエラー信号を作成するローパスフィルタ３３．３
４、加算器３５等からなるトラッキングエラー信号作成
手段と、Ｉ・ラッキングエラー信号が入力され、欠陥検
出手段の検出結果に基づいてトラッキングエラー信号に
対する減衰量を制御する減衰器３７等の減衰手段と、減
衰手段の出力信号に従って受光素子の光軸と光学ディス
クのトランクとのずれを補正する駆動回路３８．アクチ
ュエータコイル３９等からなる補正手段と備えたもので
あり、欠陥検出手段で光学ディスクの欠陥を検出した時
のみ、減衰手段の減衰量を大きくし、トラッキングサー
ボループの利得を小さくすることができるので、疵等の
光学ディスクの欠陥によるトラック飛び及び振動による
トランク飛びの双方を防止することが可能となる。

また、第２の発明はトラッキングエラー信号の低域成分
のみを通過させる予測回路と、予測回路の出力信号或い
はトラ、キングエラー信号の内の何れか一方を、欠陥検
出手段の検出結果に従って出力する切換手段とを備えた
ものであるから、疵の光学ディスクの欠陥によるトラッ
ク飛び及び振動によるトラック飛びの双方を防止するこ
とが可能となる。

従って、本発明を車載用光学ディスク再生”ＡＷ等のよ
うに振動の多い場所で使用される光学ディスク再生装宣
に適用すれば好適である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は光学
ディスク１の構成例を示す断面図、第３図は情報読取時
の説明図、 第４図は時間差検出回路３１及び時間フィルタ３２の動
作説明図、 第５図は時間差検出回路３１の動作説明図、第６図は底
積出回路４０の構成例を示すブロック図、 第７図は底積出回路４０の動作説明図、第８図、第１０
図、第１２図及び第１３図はそれぞれ異なる本発明の実
施例の要部ブロック図、第９図はブランクドツト検出回
路５０の動作説明図及び、 第１１図は第１０図の動作説明図である。 図に於いて、１・・・光学ディスク、２・・・光学ピッ
クアップ、３・・・受光素子、４〜７・・・増幅器、８
〜ｔｏ、　２１．２２・・・加算器、１１．２９．３０
・・・波形整形回路、２０・・・フォーカシングエラー
検出回路、２５・・・減算器、２６、３６・・・位相補
償回路、２７．３８・・・駆動回路、２８゜３９・・・
アクチュエークコイル、３１・・・時間差検出回路、３
２・・・時間フィルタ、３３．３４・・・ローパスフィ
ルタ、３５・・・減算器、３７．３７’　・・・減衰器
、４ｏ・・・底積出回路、ＤＬＹ・・・遅延回路、５０
・・・ブランクドツト検出回路、６０、６０’　・・・
予測回路、６１．６１°・・・切換回路。 特許出願人　富士通テン株式会社 代理人弁理士　西教圭一部外２名 光学ディスク１の構成例を示す断面図 第２図 情報読取時の説明図 笛３図 時間差検出回路３１及い′時間フィルタ３２の駄作説明
図第４図 （Ａ）　　　　　　　　　　旧）（Ｃ〕時間差検出回路
３〕の動作説明図 第５図 圧検出回路４０の構成例を示すブロック図第６　図 ブラックドツト検出回路５０の 動作説明図 第　９図 第１０図の動作説ＢＡ図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の部分に分割され、光学ディスクからの反射
   光を受光する受光素子と、 該受光素子の各部の同一ピットに対する受光出力の時間
   差に対応したパルス幅のパルスを出力する時間差検出回
   路と、 該時間差検出回路から出力されるパルスのパルス幅の上
   限を規制する時間フィルタと、 前記受光素子の受光出力に基づいて前記光学ディスクの
   欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記時間フィルタの出
   力に従ってトラッキングエラー信号を作成するトラッキ
   ングエラー信号作成手段と、 前記トラッキングエラー信号が入力され、前記欠陥検出
   手段の検出結果に基づいて前記トラッキングエラー信号
   に対する減衰量を制御する減衰手段と、 該減衰手段の出力信号に従って前記受光素子の光軸と前
   記光学ディスクのトラックとのずれを補正する補正手段
   とを備えたことを特徴とする光学ディスク再生装置。
2. （２）複数の部分に分割され、光学ディスクからの反射
   光を受光する受光素子と、 該受光素子の各部の同一ピットに対する受光出力の時間
   差に対応したパルス幅のパルスを出力する時間差検出回
   路と、 該時間差検出回路から出力されるパルスのパルス幅の上
   限を規制する時間フィルタと、 前記受光素子の受光出力に基づいて前記光学ディスクの
   欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記時間フィルタの出
   力に従ってトラッキングエラー信号を作成するトラッキ
   ングエラー信号作成手段と、 前記トラッキングエラー信号の低域成分のみを通過させ
   る予測回路と、 該予測回路の出力或いは前記トラッキングエラー信号作
   成手段から出力されるトラッキングエラー信号の内の何
   れか一方を、前記欠陥検出手段の検出結果に従って出力
   する切換手段と、 該切換手段の出力信号に従って前記受光素子の光軸と前
   記光学ディスクのトラックとのずれを補正する補正手段
   とを備えたことを特徴とする光学ディスク再生装置。