JPS6341991A - 画像処理装置のエッジ検出回路 - Google Patents

画像処理装置のエッジ検出回路

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JPS6341991A
JPS6341991A JP61185342A JP18534286A JPS6341991A JP S6341991 A JPS6341991 A JP S6341991A JP 61185342 A JP61185342 A JP 61185342A JP 18534286 A JP18534286 A JP 18534286A JP S6341991 A JPS6341991 A JP S6341991A
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Yuji Koizumi
小泉 祐二
Takayuki Aoki
貴行 青木
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Amada Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、画像処理装置のエツジ検出方法及びその回
路に関する。
[従来技術] 2値画像の処理においては、その画像の特徴を抽出する
ため、第12図に示すように、画像の外周図形、即も2
M1のOと1の境弄を線画として求めエツジ検出処理が
行われる。
この処理を行うために、デジタル画像では次式の如き差
かを用いる。
△×・f(i、j) =f  (i、j)−f  (i−1,j)・・・(1
) △y−f(i、j) =r  (i、j)−f  (i、j−1)・・・(2
) 八〇 ・ fに、j) =△X −r (I 、j ) ・CO5O+Δy  
−f(:、J )  ・sin  θ・・・(3) しかしながらこの方法では、例えば画像線の中に1個だ
け割り込んだ自画像をエツジであると誤って検出してし
まうことがあるように、画像の方向によっては大きな影
響を受け、特に斜め線の検出を正確に行うことができな
いという問題点がある。
又、他の方法として、マスクパターンをかけて一致する
ところをエツジとするものがある。第13図に代表的な
マスクパターンの列を示した。このパターンは、数学的
には(1)〜(3)式と一致する。
ここでφはOでも1でも良く、マスクが一致するとX部
を1とする。
しかしながら、この方式による処理時間は、マスクパタ
ーンが4つあるので、全処理時間が(画511i数)×
(1パターンの処理時間)×4となり、比較的大きな処
理時間を要してしまうという問題点があった。
[発明の目的] この発明は上記問題点を改善し、第1にエツジ検出をよ
り正確に行うことができる画像処理装置のエツジ検出方
法を提供することを目的とする。
又、この発明は、第2に、エツジ検出をより高速に行う
ことができる画像処理装置のエツジ検出方法及びの回路
を提供することを目的とする。
E発明の概要] 上記第1の目的を達成するためにこの発明では、エツジ
被検出画素と周囲8ビットの画素とで形成される方形マ
トリクスのコード和を求め、該和によって前記被検出画
素がエツジであるか否かを判定するようにした。ここに
、形状を表わすコードが「1」である場合のエツジ判定
基準は2〜4であり、形状を表わすコードがrOJであ
る場合のγり定基準は5〜7である。
又、上記第1及び第2の目的を達成するためにこの発明
では、画像メモリから3行複数列についての列用を求め
、各列について自己の列と相隣り合う列の列用の総和を
一気に求め、各列の中心両像のエツジ検出を一気に行う
ようにした。
更に、前記第1及び第2の目的を達成するためにこの発
明では、画像処理装置のエツジ検出回路を、2値画を記
憶する画像メモリと、前記画像メモリから3行複数列の
画素を1択し記憶保持するラッチ回路と、該ラッチに記
憶保持された2値画コードの列用を一気に求めるυ目算
回路と、該回路の各列について自己の列と相隣り合う列
の列用の総和を合計し各列の中心画素がエツジであるか
否かを一気に判定するエツジ判定回路と、を備えて構成
し、複数ビットの検出を一気に行うことができるように
した。
〔実施例] 以下、添付図面を用いてこの発明の実1!例を説明する
第1図〜第3図は特許請求の範囲第1項記載の発明につ
いての実施例を示し、第1図は原画を記憶した画像メモ
リの説明図、第2図は画素マトリクスの説明図、第3図
はエツジ検出処理の結末を記憶する画像メモリの説明図
である。
第1図に示すように、画像メモリ1には、エツジ検出す
べき2値画3が記憶されている。ここに、黒画素はコー
ド「1」で、白画素は「o」で記憶されているとする。
本例では、第2図に示すように、前記画像メモリ1の被
検出画素fo、及びその周囲の画素f、〜f8で画素マ
トリクス5を形成し、全画素fO2「1・−r8の画像
データの和Sが2〜4であれば画素fOはエツジである
と判定する。
「n−〇 or  1            ・・・
(4)S−ΣFn  (n =O〜8 )      
  ・<5)if   2≦S≦4 then  fo= 1             −
<6>irS<2 0r  4<5 then  fo= O・<7) そして、第3図に示すように、前記画像メモリ1に対応
する画像メモリ7を準備して、画素F。
がエツジであれば画素FOに対応する画素に「1」を記
憶すると共に画素FoがエツジでなければrOJを記憶
する。
本例では、上記条1′r式2≦S≦71を用いてエツジ
部分を検出するがため、従来例((1)〜(3)式及び
第13図)と異なって、例えば、黒画素で全周を取り囲
まれた白画素部分をエツジと判定してしまうことがなく
、又、例えばコの字形状に黒画素で囲まれた白画素部分
をエツジであると誤って検出するようなことがない。
なお、画像メモリ7は、走査順に順次前の画像を消去す
ることとして画像メモリ1を1用するようにしても良い
第4図〜第11図は特許請求の範囲第2項及び第3項に
記載の発明についての実施例を示すものであり、第4図
はエツジ検出回路のブロック図、第5図は画像メモリの
説明図、第6図は画像データラッチ回路のラッチ状態の
説明図である。又、第7図及び第8図はエツジ検出用R
OMの回路構成の説明図、第9図及び第10図は画像メ
モリへの結果2き込み処理の説明図、第11図は検出結
果を記憶する画像メモリの説明図である。
第4図に示すように、エツジ検出回路はCPU9を有し
、該CPU9と接続されるバス11(データバス)には
、プログラム用ROM13と、画素メモリ15とが接続
されている。
前記CPU9は全体を総括制御するものである。
前記プログラム用ROM13は、エツジ検出用のプログ
ラムを格納し、第5図で詳述するように前記CPU9と
協働し、所定のアルゴリズムでエツジ検出処理を行うも
のである。
前記画像メモリ15は、第5図に示すように、1行が3
2バイト(256ビット)で256行の画素で形成され
、第1図に示した2値画3を記憶するものである。
前記バス11には、アドレスデコーダ17と、該デコー
ダ17と接続される3個の画像データラッチ用のラッチ
回路1u、LM、LLが接続されている。
第6図に示すように、ラッチ回路LU、LM。
LLは、アドレスデコーダ17からの指令信号に基いて
、第5図に示した画像メモリ15の一部から、8ビット
×3行の画像データRIJ、RM、RLを読み出して、
これをラッチする。アドレスデコーダ17から順次指令
される読出し順は、アドレス大なる方から小なる方への
順である。即ち、第5図において、右から左へ1バイト
ごと、下から上へ1ビットづつ繰り上げられ順である。
前記ラッチ回路LU、LM、LLには、8個の加算回路
CO〜Cy  (c2、C4、Csは図示せず)が接続
され、加算回路Ce 、C7と前記アドレスデコーダ1
1との間には2ビットの中間データラッヂ用のラッチ回
路1つが接続されている。
各加算回路CZ;=O〜8)は、ハード回路で構成され
、第6図に示したラッチデータについて、列和Siを2
ごットデータで求めるものである。
Si  =Ui  +Mi  +li        
   ・・・・・・(8)ラッチ回路1つは、加算回路
C6,C7の加算結果Ss 、SyをS−e 、S−7
として次ノエッジ検出のために保持するものである。
前記ラッチ回路19と前記加算回路cO〜c3には、下
位のエツジ検出用ROM 21が接続され、該RO1\
121は、前記アドレスデコーダ17及び前記バス11
と接続されている。又、前記ラッチ回路C2〜C7には
、上位のエツジ検出用ROM23が接続され、該ROM
23は、前記アドレスデコーダ17及び前記バス11と
)a続されている。
エツジ検出用ROM21.23の回路構成を第7図及び
第8図に示した。
エツジ検出用ROfVI21,23は、12ビットデー
タで決定される多数のアドレスにそれぞれ所定の4ピッ
1−データD−7〜D″6を対応させて記憶させたしの
である。
4ビットデータD−7〜D2及びD3〜D−6を形成す
る各ビットデータD1は、次式によって決定された「1
」又は「0」の値である。
K=S(i )+S(:  I )4−3(:  2 
)・・・(9) )「  2≦に≦4 thenD+−1・・・(10) if    K>2   Or   4<Kthen 
   D:   =O”’ ど:1)以上の通りに設定
される8ビットデータD−7〜D2及びD3〜D−aは
、ラッチ回路LMがラッチした8ピツ1〜の画像データ
の各画素がエツジであるか否かを示すデータとなる。
エツジ検出用ROM21.23は、前記アドレスデコー
ダ17からのタイミング制御信号(Read)に基いて
、各12ピツ]〜データで生成されたアドレス部分の8
とットデータD−7〜D″6を、第9図に示すように、
画像メ七り15のラッチ回路LLがラッチした部分に相
当する画mLo ”L7に前の内容を更新して記憶する
以上示したエツジ検出用ROM21.23の作用により
、第5図に示した画像メモリ15は、第10図に示した
ように、エツジ検出データで更新され、エツジ形状を記
憶するようになる。
エツジ検出回路の検出処理を第11図に示した。
図示の如く、ステップ1101でアドレスデコーダ17
はラッチ回路LLJ、LM、LLにアドレスセットし、
ステップ11o2で、ラッチ1つをデータクリアする。
ステップ1103では、ラッチ回路LU、LM。
LLが8ビットデータRu、Ry、Ruを読み出して、
ステップ1104で、加算回路Co〜C7で加算処理を
行って列用SO〜S7を求め、ステップ11o5でラッ
チ回路1つは前の列用S7 。
S6を保持する。
次いで、ステップ1106で、エツジ検出ROM21.
23は、データSO〜87.S−6゜8−7よりアドレ
ス生成し、ステップ1107゜1108で、該RO〜4
21.23の内容を画像メモリにヨキ込んで、ステップ
1109.1110で次の8ビット処理に移行する。
そして最後に、ステップ1111で作成終了を確認し、
第10図に示す結果を(口てエツジ検出処理を終了する
本例では、ハード処理部(ラッチ回路LIJ、LM、L
L、19及び加算回路CO〜C7並びにエツジ検出用R
OM21.23>を主体として並列処理を行うことがで
きるため、処理を極めて高速に行うことができる。
しかも本例では、原理的にも第1図〜第3図に示した方
法を応用したものであるがため、エツジ検出精度が良好
である。
以上の実施例では、物体ないし形状を表わす画素を黒画
素「1」としそれ以外の画素を白画素rOJとして示し
たが、これとは逆に物体ないし形状を表わす画素を白画
素rOJとしそれ以外の画素を黒画素「1」で表わすこ
とができること勿論である。この場合、<4>、 (5
)式又は(+01. (111式で示した2≦S≦4.
2≦に≦4なる条件式は、5≦S≦7.5≦に≦7に代
えられる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、適宜の設計的変更を行うことにより、他の態様でも実
施し得るものである。
[発明の効果] 以上の通り、特許請求の範囲第1項に記載の発明に係る
エツジ検出方法によれば高精度のエツジ検出を行うこと
ができる。
又、特許請求の範囲第2項及び第3項に記載の発明に係
るエツジ検出方法及びその回路によれば、複数ビットの
画素を並列処理することができるので、エツジ検出を高
速に行える。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は特許請求の範囲第1項記載の発明の実
施例を示し、第1図は原画を記憶した画像メモリの説明
図、第2図は画素マトリクスの説明図、第3図はエツジ
検出処理の結果を記憶する画像メモリの説明図である。 第4図〜第11図は特許請求の範囲第2項及び第3項に
記載の発明の実施例を示すものであり、第4図はエツジ
検出回路のブロック図、第5図は画像メモリの説明図、
第6図は画像データラッチ回路のラッチ状態の説明図、
第7図及び第8図はエツジ検出用ROMの回路構成の説
明図、第9図及び第10図は画像メモリへの結果書き込
み処理の説明図、第11図は検出結果を記憶する画像メ
モリの説明図である。 第12図及び第13図は従来例を示し、第12図はエツ
ジ検出例の説明図、第13図はマスクパターンの説明図
である。 1.15・・・画像メモリ 「0〜r8・・・画素マトリクス LIJ、1M、LL・・・ラッチ回路 CO〜C7・・・加算回路 21.23・・・エツジ検出用ROM 代理人 弁理士 三 好 保 男 第5図 7jS7図 第8図 第9図 第10図 第H図 2値画 第12図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)次の工程(a)〜(d)より成る画像処理装置の
    エッジ検出方法。 (a)2値画を画像メモリに記憶する工程。 (b)前記2値画のエッジ被検出画素を中心としてその
    周囲8ビットの画素と共に方形マトリクスを規定する工
    程。 (c)前記方形マトリクスについて2値コードの和を求
    める工程。 (d)形状を表わす画素のコードが「1」他のコードが
    「0」である場合、前記2値コードの和が2〜4であれ
    ば前記マトリクスの中心画素はエッジであると判定する
    工程。
  2. (2)次の工程(a)〜(d)より成る画像処理装置の
    エッジ検出方法。 (a)2値画を画像メモリに記憶する工程。 (b)前記画像メモリから3行複数列の画素を選択する
    工程。 (c)前記3行の2値コードの列和を一気に求める工程
    。 (d)各列について自己の列と相隣り合う列の列和の総
    和を一気に求め各列の中心画素がエッジであるか否かを
    全列について一気に判定する工程。
  3. (3)2値画を記憶する画像メモリと、前記画像メモリ
    から3行複数列の画素を選択し記憶保持するラッチ回路
    と、該ラッチに記憶保持された2値画コードの列和を一
    気に求める加算回路と、該回路の各列について自己の列
    と相隣り合う列の列和の総和を一気に求め各列の中心画
    素がエッジであるか否かを全列について一気に判定する
    エッジ判定回路と、を備えて構成される画像処理装置の
    エッジ検出回路。
  4. (4)前記エッジ判定回路は、前記加算回路の加算結果
    の入力でアドレス生成するものとして、生成されるアド
    レス位置に前記加算回路の加算結果に応じた判定結果を
    記憶するROMで構成されることを特徴とする特許請求
    の範囲第3項記載の画像処理装置のエッジ検出回路。
JP61185342A 1986-08-08 1986-08-08 画像処理装置のエッジ検出回路 Expired - Fee Related JPH0814850B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59212981A (ja) * 1983-05-18 1984-12-01 Hitachi Ltd 画像の特徴抽出方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59212981A (ja) * 1983-05-18 1984-12-01 Hitachi Ltd 画像の特徴抽出方法

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