JPS6338070U - - Google Patents

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JPS6338070U
JPS6338070U JP13117786U JP13117786U JPS6338070U JP S6338070 U JPS6338070 U JP S6338070U JP 13117786 U JP13117786 U JP 13117786U JP 13117786 U JP13117786 U JP 13117786U JP S6338070 U JPS6338070 U JP S6338070U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図は本考案に電子部品テスト用
クリツプ装置の実施例を示し、第1図は斜視図、
第2図は正面図、第3図はクリツプレバーを取り
外した状態の正面図、第4図はコネクタを取り外
した状態の斜視図である。 1:クリツプ装置全体、2:クリツプベース、
3:テストプローブ、4:クリツプレバー、5:
コネクタ、6,7:板、8:軸受部、9:シヤフ
ト、10:バネ、11:固定部材、12:可動部
材、13:調節用長孔、14:蝶ネジ、15:取
付長孔、16:保持ベース板、17:長孔、18
:取付ビス、20:プリント基板、21:電子部
品、22:端子ピン。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子部品の端子ピンに対応するテストプローブ
    を立設したクリツプベースと、該クリツプベース
    の両端に分解自在に取り付けられていて先端側を
    常時閉じる方向に付勢されているクリツプレバー
    と、上記クリツプベース上に取り付けられていて
    高さ調節自在になつているコネクタとを備えてい
    ることを特徴とする電子部品テスト用クリツプ装
    置。
JP13117786U 1986-08-29 1986-08-29 Expired JPH0350460Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13117786U JPH0350460Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13117786U JPH0350460Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6338070U true JPS6338070U (ja) 1988-03-11
JPH0350460Y2 JPH0350460Y2 (ja) 1991-10-28

Family

ID=31029377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13117786U Expired JPH0350460Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

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JP (1) JPH0350460Y2 (ja)

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Publication number Publication date
JPH0350460Y2 (ja) 1991-10-28

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