JPS6330988A - マ−ク検出装置 - Google Patents
マ−ク検出装置Info
- Publication number
- JPS6330988A JPS6330988A JP61174881A JP17488186A JPS6330988A JP S6330988 A JPS6330988 A JP S6330988A JP 61174881 A JP61174881 A JP 61174881A JP 17488186 A JP17488186 A JP 17488186A JP S6330988 A JPS6330988 A JP S6330988A
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- Japan
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- phase
- signal
- mark
- detection
- phase adjusting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 46
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 claims description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
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- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、マークのエツジ部分に対応した信号波形をは
つきりした形で得られる様に成したマーク検出装置に関
する。
つきりした形で得られる様に成したマーク検出装置に関
する。
[従来の技術]
例えば電子ビーム描画装置等の荷電ビーム描画装置にお
いては、パターンが描画される材料又は材料ホルダ等に
マークを形成しておき、パターン描画に先立ってビーム
により該マーク上を走査し、該マークのエツジ部から発
生した信号に基づいて該マーク位置を求め、該求めたマ
ーク位置に基づいて所定の位置にビームによりパターン
描画を行なっている(例えば、特公昭44−24840
号を参照)。又、材料が配置される位置に鋭い直線部を
持つ材料(尚、本発明においては、該材料もマークと称
す)を配置させ、パターン描画に先立って該マーク上を
ビームにより走査し、該マークのエツジ部から発生した
信号に基づいて、該強度分布等、該ビームの特性を測定
している(例えば特公昭55−51338号を参照)。
いては、パターンが描画される材料又は材料ホルダ等に
マークを形成しておき、パターン描画に先立ってビーム
により該マーク上を走査し、該マークのエツジ部から発
生した信号に基づいて該マーク位置を求め、該求めたマ
ーク位置に基づいて所定の位置にビームによりパターン
描画を行なっている(例えば、特公昭44−24840
号を参照)。又、材料が配置される位置に鋭い直線部を
持つ材料(尚、本発明においては、該材料もマークと称
す)を配置させ、パターン描画に先立って該マーク上を
ビームにより走査し、該マークのエツジ部から発生した
信号に基づいて、該強度分布等、該ビームの特性を測定
している(例えば特公昭55−51338号を参照)。
さて、この様にマークからの信号を検出する場合、マー
クの上方に例えば反射電子検出索子を配置させるが、偏
らない信号を得る為に、又、充分な強度の信号を得る為
に、通常光軸に対して対称な位置に複数対の検出索子を
配置して、該各検出索子から得られた信号を加算したり
減算したりしている。
クの上方に例えば反射電子検出索子を配置させるが、偏
らない信号を得る為に、又、充分な強度の信号を得る為
に、通常光軸に対して対称な位置に複数対の検出索子を
配置して、該各検出索子から得られた信号を加算したり
減算したりしている。
[発明が解決しようとする問題点]
所で、複数対設けられた検出索子には製作時の特性のバ
ラツキや配置位置のバラツキがある為に、該谷検出索子
から11られるマーク信号波形に位相のズレがある。例
えば、第4図に示す様に、直方体状のマークMの上方で
光軸に対し対称な4つの位置に検出索子D+ 、D2
、D3 、D4が配置されている場合に、該マークをビ
ームBで走査した時、該谷検出索子により検出されるマ
ークからの信号が第3図(a)、(b)、(c)、(d
)に示す様に位相が異なった波形であるとした場合、こ
の様な信号を加算した信号波形は第3図(e)に示す様
になり、該信号波形からマークのエツジ部を特定するの
が厄介であフた。
ラツキや配置位置のバラツキがある為に、該谷検出索子
から11られるマーク信号波形に位相のズレがある。例
えば、第4図に示す様に、直方体状のマークMの上方で
光軸に対し対称な4つの位置に検出索子D+ 、D2
、D3 、D4が配置されている場合に、該マークをビ
ームBで走査した時、該谷検出索子により検出されるマ
ークからの信号が第3図(a)、(b)、(c)、(d
)に示す様に位相が異なった波形であるとした場合、こ
の様な信号を加算した信号波形は第3図(e)に示す様
になり、該信号波形からマークのエツジ部を特定するの
が厄介であフた。
本発明はこの様な問題を解決する事を目的としたもので
ある。
ある。
[問題点を解決するための手段]
そこで、本発明のマーク検出装置はマークの上をビーム
により走査させる手段、該走査により発生した該マーク
からの信号を検出する複数の検出索子、該検出索子のう
ち、特定の検出索子の検出信号の位相に、伯の検出索子
の検出信号の位相を合わせる位相調整手段、該特定の検
出索子の検出信号と位相調整された信号を加算する加算
手段、及び該加算した信号の自己相関関数を算出する手
段を具備し、該自己相関関数算出手段の出力が最大にな
る様に前記位相調整手段をコントロールする様に成した
。
により走査させる手段、該走査により発生した該マーク
からの信号を検出する複数の検出索子、該検出索子のう
ち、特定の検出索子の検出信号の位相に、伯の検出索子
の検出信号の位相を合わせる位相調整手段、該特定の検
出索子の検出信号と位相調整された信号を加算する加算
手段、及び該加算した信号の自己相関関数を算出する手
段を具備し、該自己相関関数算出手段の出力が最大にな
る様に前記位相調整手段をコントロールする様に成した
。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例として示したマーク検出装置
の概略図である。
の概略図である。
図中D1.Dz 、D3 、D4は前記第4図にて示し
た検出索子と同様なもので、直方体状のマークMの上方
で光軸に対し対称な4つの位置に配置されている。P+
、Pz 、P3 、P4は該谷検出索子D+ 、D2
、D3 、D4で検出されたマークからの信号の位相
を調整する位相調整回路である。
た検出索子と同様なもので、直方体状のマークMの上方
で光軸に対し対称な4つの位置に配置されている。P+
、Pz 、P3 、P4は該谷検出索子D+ 、D2
、D3 、D4で検出されたマークからの信号の位相
を調整する位相調整回路である。
Aは該多位相調整回路によって位相調整された信号を加
算する加算回路である。Cは該加算器の出力に基づいて
、自己相関関数を算出する自己相関関数算出器である。
算する加算回路である。Cは該加算器の出力に基づいて
、自己相関関数を算出する自己相関関数算出器である。
MNは該算出された相関関数の波形を表示するモニター
である。Eは算出器で、前記加算器Aの出力と前記各位
相調整回路P+。
である。Eは算出器で、前記加算器Aの出力と前記各位
相調整回路P+。
Pz 、P3 、P4が調整した位相信号に基づいて、
マークの位置を算出するものである。
マークの位置を算出するものである。
この様な装置において、上記マークをビーム(図示せず
)で走査した時、該谷検出索子D+。
)で走査した時、該谷検出索子D+。
D2.03 、D4により検出されるマークからの信号
が第3図(a)、(b)、(c)、(d)に示す様に位
相が夫々φ1.φ2.φ3.φ4と異なっている場合に
ついて、以下に説明する。
が第3図(a)、(b)、(c)、(d)に示す様に位
相が夫々φ1.φ2.φ3.φ4と異なっている場合に
ついて、以下に説明する。
各信号は夫々位相調整回路P+ 、P2 、P3 。
P4を介して加算器Aに入力される。そして、該加算器
の出力は自己相関関数算出器Cに入力される。該自己相
関関数算出器Cは前記各位相調整回路P+ 、P2 、
P3 、P4により夫々位相調整された前記各検出索子
D+ 、D2 、D3 、Daからの信号の自己相関関
数を算出する。叩ら、これら前記各検出索子D+ 、D
2 、D3 、D4からの信号の重なり具合を算出し、
これらの信号相互の位相のズレ具合に応じた波高値(ピ
ーク)を持つ波形の信号を出力する。信号波形はモニタ
ーMNにより表示される。オペレータはこの信号波形を
観察し乍ら、該信号波形のピークが最も高くなる様に、
前記各位相調整回路P+ 、P2 、P3 、P4を調
整する。この調整の仕方は、例えば、先ず、位相調整回
路P2 、P3.P4は初期状態の侭にしておき、位相
調整回路P1だけを調整してモニターMNの信号波形の
ピークが最も高くなる様にする。この調整により、検出
索子D1の検出信号の位相がΔφ1変化したとする。次
に、位相調整回路P1は今調整した侭とし、更に、位相
調整回路P’3.P4は初期状態の侭として、モニター
MNの信号波形のピークが最も高くなる様に位相調整回
路P2だけを調整する。この調整により、検出索子D2
の検出信号の位相がΔφ2変化したとする。次に、位相
調整回路P+ 、P2は今調整した侭とし、位相調整回
路P4は初期状態の侭として、モニターMNの信号波形
のピークが最も高くなる様に位相調整回路P3だけを調
整する。この調整により、検出索子D3の検出信号の位
相がΔφ3変化したとする。次に、位相調整回路P1゜
Pg 、P3は今調整した侭とし、モニターMNの信号
波形のピークが最も高くなる様に位相調整回路P4だけ
を調整する。この調整により、検出索子D4の検出信号
の位相がΔφ4変化したとする。
の出力は自己相関関数算出器Cに入力される。該自己相
関関数算出器Cは前記各位相調整回路P+ 、P2 、
P3 、P4により夫々位相調整された前記各検出索子
D+ 、D2 、D3 、Daからの信号の自己相関関
数を算出する。叩ら、これら前記各検出索子D+ 、D
2 、D3 、D4からの信号の重なり具合を算出し、
これらの信号相互の位相のズレ具合に応じた波高値(ピ
ーク)を持つ波形の信号を出力する。信号波形はモニタ
ーMNにより表示される。オペレータはこの信号波形を
観察し乍ら、該信号波形のピークが最も高くなる様に、
前記各位相調整回路P+ 、P2 、P3 、P4を調
整する。この調整の仕方は、例えば、先ず、位相調整回
路P2 、P3.P4は初期状態の侭にしておき、位相
調整回路P1だけを調整してモニターMNの信号波形の
ピークが最も高くなる様にする。この調整により、検出
索子D1の検出信号の位相がΔφ1変化したとする。次
に、位相調整回路P1は今調整した侭とし、更に、位相
調整回路P’3.P4は初期状態の侭として、モニター
MNの信号波形のピークが最も高くなる様に位相調整回
路P2だけを調整する。この調整により、検出索子D2
の検出信号の位相がΔφ2変化したとする。次に、位相
調整回路P+ 、P2は今調整した侭とし、位相調整回
路P4は初期状態の侭として、モニターMNの信号波形
のピークが最も高くなる様に位相調整回路P3だけを調
整する。この調整により、検出索子D3の検出信号の位
相がΔφ3変化したとする。次に、位相調整回路P1゜
Pg 、P3は今調整した侭とし、モニターMNの信号
波形のピークが最も高くなる様に位相調整回路P4だけ
を調整する。この調整により、検出索子D4の検出信号
の位相がΔφ4変化したとする。
この様な調整により、上記検出索子D2 、 D3 。
D4の検出信号の位相が全て該位相調整回路P1からの
検出信号の位相(φ1+Δφ1)に一致するようになり
、該位相の一致した検出信号の加算されたものが、加算
器Aから演算回路Eに入力される。該位相の一致した検
出信号の加算されたものは、第2図に示す如き波形の信
号で、マークのエツジ部の対応した部分からの信号波形
Qが極めてシャープとなる。該該演n回路では、上記一
致位相(φ1+Δφl)を有する信号を処理することに
よりエツジ位置座標データXを算出し、この算出値Xに
以下の補正を行う。即ち、各位相調整回路P+ 、Pz
、P3 、P4における各位相調整mΔφ1.△φ2
.Δφ3.Δφ4の平均値((Δφ1+Δφ2+Δφ3
+Δφ4)/4)をUとするとき、−口に対応した間だ
けXの値をシフトさせ、これをマークの真のエツジ位置
として出力す°る。
検出信号の位相(φ1+Δφ1)に一致するようになり
、該位相の一致した検出信号の加算されたものが、加算
器Aから演算回路Eに入力される。該位相の一致した検
出信号の加算されたものは、第2図に示す如き波形の信
号で、マークのエツジ部の対応した部分からの信号波形
Qが極めてシャープとなる。該該演n回路では、上記一
致位相(φ1+Δφl)を有する信号を処理することに
よりエツジ位置座標データXを算出し、この算出値Xに
以下の補正を行う。即ち、各位相調整回路P+ 、Pz
、P3 、P4における各位相調整mΔφ1.△φ2
.Δφ3.Δφ4の平均値((Δφ1+Δφ2+Δφ3
+Δφ4)/4)をUとするとき、−口に対応した間だ
けXの値をシフトさせ、これをマークの真のエツジ位置
として出力す°る。
尚、上記実施例では全ての検出索子の検出信号の位相を
、検出索子D1の検出信号の位相に合せる様にしたが他
の検出索子の信号の位相に合せる様にしても良い。
、検出索子D1の検出信号の位相に合せる様にしたが他
の検出索子の信号の位相に合せる様にしても良い。
又、検出索子D1の位相φ1に全ての検出索子の位相を
合わせるようにすれば、位相調整回路P1のみ省くこと
もできる。
合わせるようにすれば、位相調整回路P1のみ省くこと
もできる。
又、上記実施例では、モニターの信号波形を見乍ら、オ
ペレータが各位相調整回路をコントロールする様にした
が、上記自己相関関数算出器Cの出力値が最も大きくな
る様に、該自己相関関数算出器Cの出力値に応じて各位
相調整回路が作動する制御機構を設け、自動的に上記自
己相関関数算出器Cの出力値が最も大きくなる様に成し
ても良い。
ペレータが各位相調整回路をコントロールする様にした
が、上記自己相関関数算出器Cの出力値が最も大きくな
る様に、該自己相関関数算出器Cの出力値に応じて各位
相調整回路が作動する制御機構を設け、自動的に上記自
己相関関数算出器Cの出力値が最も大きくなる様に成し
ても良い。
[発明の効果]
著しく簡単に複数の検出索子の出力信号の位相を合わせ
て、それらの加算信号を得ることができるため、簡単且
つ高精度に、マークのエツジ部を特定することが出来る
。
て、それらの加算信号を得ることができるため、簡単且
つ高精度に、マークのエツジ部を特定することが出来る
。
第1図は本発明の一実施例として示したマーク検出装置
の概略図、第2図及び第3図は信号波形を示すもの、第
4図はマークと検出索子の配置の一例を示したものであ
る。
の概略図、第2図及び第3図は信号波形を示すもの、第
4図はマークと検出索子の配置の一例を示したものであ
る。
Claims (1)
- マークの上をビームにより走査させる手段、該走査によ
り発生した該マークからの信号を検出する複数の検出素
子、該検出索子のうち、特定の検出素子の検出信号の位
相に他の検出素子の検出信号の位相を合わせる位相調整
手段、該特定の検出素子の検出信号と位相調整された信
号を加算する加算手段、及び該加算した信号の自己相関
関数を算出する手段を具備し、該自己相関関数算出手段
の出力が最大になる様に前記位相調整手段をコントロー
ルする様に成したマーク検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61174881A JPS6330988A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | マ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61174881A JPS6330988A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | マ−ク検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6330988A true JPS6330988A (ja) | 1988-02-09 |
Family
ID=15986293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61174881A Pending JPS6330988A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | マ−ク検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6330988A (ja) |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61174881A patent/JPS6330988A/ja active Pending
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