JPS63292033A - 光ファイバの片端測定方法 - Google Patents

光ファイバの片端測定方法

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Publication number
JPS63292033A
JPS63292033A JP12737287A JP12737287A JPS63292033A JP S63292033 A JPS63292033 A JP S63292033A JP 12737287 A JP12737287 A JP 12737287A JP 12737287 A JP12737287 A JP 12737287A JP S63292033 A JPS63292033 A JP S63292033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light pulse
reflected
optical
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12737287A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Kamata
鎌田 良行
Hisaharu Yanagawa
柳川 久治
Mikio Kokayu
小粥 幹夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
Priority to JP12737287A priority Critical patent/JPS63292033A/ja
Publication of JPS63292033A publication Critical patent/JPS63292033A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ファイバの片端測定方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の光ファイバの片端測定方法は第3図に示すように
光ファイバ1と測定装置2とを入射端3にて供給し、前
記測定装置2内に光源4、受光器5、方向性結合器6^
を配置した構成において、光源4から光パルスを出射し
、方向性結合器6^を通り入射端3を通り光ファイバl
に入射する。光ファイバ1に入射した光パルスは遠端7
または長手方向に分布する複数の地点に設けられた反射
手段8または破断点9によって反射され、反射された光
パルスは入射@3にもどり方向性結合器6^を通り受光
器5に到達する。その受光器5に到達した光パルスの状
態を調べることにより、光ファイバの遠端7、反射手段
8あるいは破断点9までの距離及び伝送特性を知ること
ができる。入射端3から破断点9までの距離をl、光パ
ルスの速度をV、光源4から出射された出射光パルスが
前記破断点9にて反射されて受光器5にもどってくるま
での時間をtとし、光源4、及び受光器5から入射端3
までの距離は無視できるものとするとl = v’ t
/2なる関係式によってiは計算できる。第4図(a)
は光源4から出射された光パルスの時間と強度の関係を
示す図、同図(blは破断点9及び入射端3によって反
射されて受光器5に到達した反射光パルスの時間と強度
の関係を示す図であり、Aが入射端3にて反射された反
射光パルス、Bが破断点9にて反射された反射光パルス
を示している。同図(C)は前記の反射光パルスが受光
器5内の受光素 。
子によって検出された反射光パルスの電気レベルを示す
図である。また測定装置2内の光源4から出射される出
射光パルスの特定波長のみを、反射する反射手段8を有
する地点から反射されて受光器5に到達する光パルスの
状態を調べることにより測定装置から該地点までの伝送
損失特性を調べることもできる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上記の方向性結合器を用いて反射パルスを
測定する方法においては、方向性結合器自身のもつ損失
(例えば1:lカブラの場合3d[lの損失増)のため
被測定光ファイバに入射される光パルスの強度が弱まる
ため、測定できる光ファイバの長さが制限されるという
問題がある。また入射端3に近い光フアイバ内の破断点
9に関しては、第5図(b)に示すように入射端3から
の反射光パルスAと破断点9からの反射光パルスBとが
接近し、かつ入射端からの反射光パルスAは一般に破断
点からの反射光パルスBにくらべて大きいため(接続損
失を低減させるため入射端における光ファイバは鏡面研
磨されているため)、受光器5内の受光素子の感度に応
じて第5図(C)のような電気レベルを示し、破断点を
判定できないといった問題がある。
〔問題点を解決するための手段] 本発明は上記の問題点を解決するために鋭意器、究の結
果なされたもので、光ファイバの遠端もしくは長手方向
に分布する複数の地点に反射手段を設け、前記光ファイ
バの入射端側に設けられた測定装置内の光源から光パル
スを出射し、前記反射手段にて反射きせた反射光パルス
を前記測定装置内の受光器にて測定する光ファイバの片
端測定方法において、光スイッチを用いて、出射光パル
ス通過時には光源と被測定光ファイバを接続し、反射光
パルス通過時には受光器と光ファイバとを接続すること
を特徴とするものである。
以下本発明の光ファイバの片端測定方法を第1図ないし
第2図にもとづいて詳細に説明する。光ファイバ1と測
定装置2とを入射端3にて結合し、前記測定装置2内に
光源4、受光器5、光スイッチ6を配置した構成におい
て、光源4から光パルスを出射しスイッチ状態■の光ス
イッチを通って入射端3から光ファイバ1に光パルスを
入射する。
光フアイバl内に入射された光パルスは遠端7または長
手方向に分布する複数の地点に設けられた反射手段8(
例えば反射フィルタ)または破断点9によって反射され
、反射された光パルスは入射端3にもどりスイッチ状態
■の光スイッチを通って、受光器5に到達する。その受
光器5に到達した光パルスの状態を調べることにより光
ファイバの破断点9までの距離あるいは伝送特性を知る
ことができる。また測定装置2から出射される光パルス
の特定波長のみを反射する反射手段8例えば反射フィル
タを有する地点から反射された受光器5に到達する反射
光パルスの状態を調べることにより測定装置2から該地
点までの伝送特性を調べることもできる。ここで、通常
通信に使用されている波長以外の光を使うことにより、
通信を中断することなく光ファイバの特性を調査できる
。なお光源から出射される光パルスの周期Tは遠端7ま
での距離し、光パルスの速度をVとすると次式によって
決定される: T=21./v。
〔作用〕
本発明の光ファイバの片端測定方法においては従来の方
向性結合器のかわりに光スイッチを用いているため、第
2図(C)に示すように入射端3からの反射光パルスA
をカットすることができるため入射端3からより近い破
断点9までの距離を測定できる。但し光スイッチの■の
状態の時間幅をSとすると光源から光パルスが出射され
てからS/2の後に光スイッチ■に切り替るため、わず
かではあるがS/2の時間内に光パルスが往復する範囲
の距離内における破断点の測定は不可能である。また光
スイッチにおける損失が少ないため光ファイバの測定で
きる距離を長くすることができる。光スイッチの1の状
態の時間幅Sは光パルスが反射されて受光器にもどって
くるまでに光パルスのすそ野が広がることを考慮して光
パルス幅Wよりやや大きめに決定するのがふつうである
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の光ファイバの片端測定方法
は方向性結合器のかわりに光スイッチを用いたため光フ
ァイバの測定できる距離を長くすることができるととも
に入射端からより近い破断点までの距離を測定できる等
工業上顕著な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光ファイバの片端測定力−法を示すブ
ロック図、第2図は本発明の光ファイバの片端測定方法
における出射光パルスと光スイッチと反射光パルスと受
光素子の電気レベルを示すタイミングチャート、第3図
は従来の光ファイバの片端測定方法を示すブロック図、
第4図及び第5図は従来の光ファイバの片端測定方法に
おける出射光パルスと反射光パルスと受光素子の電気レ
ベルを示すタイミングチャートである。 1〜光フアイバ、 2〜測定装置、 3〜入射端、 4
〜光源、 5〜受光器、 6〜光スイツチ、 7〜遠端
、 8〜反射手段、 9〜破断点。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光ファイバの遠端または長手方向に分布する複数の地点
    に反射手段を設け、前記光ファイバの入射端側に設けら
    れた測定装置内の光源から光パルスを出射し、前記反射
    手段にて反射させた反射光パルスを前記測定装置内の受
    光器にて測定する光ファイバの片端測定方法において、
    光スイッチを用いて、出射光パルス通過時には光源と被
    測定光ファイバを接続し、反射光パルス通過時には受光
    器と光ファイバとを接続することを特徴とする光ファイ
    バの片端測定方法。
JP12737287A 1987-05-25 1987-05-25 光ファイバの片端測定方法 Pending JPS63292033A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0432053U (ja) * 1990-07-10 1992-03-16

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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