JPS63289879A - 超半導体電界効果トランジスタ - Google Patents
超半導体電界効果トランジスタInfo
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- JPS63289879A JPS63289879A JP62124915A JP12491587A JPS63289879A JP S63289879 A JPS63289879 A JP S63289879A JP 62124915 A JP62124915 A JP 62124915A JP 12491587 A JP12491587 A JP 12491587A JP S63289879 A JPS63289879 A JP S63289879A
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- fet
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- Pending
Links
- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 8
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 7
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 4
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 101150114751 SEM1 gene Proteins 0.000 description 1
- 244000171726 Scotch broom Species 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/20—Permanent superconducting devices
- H10N60/205—Permanent superconducting devices having three or more electrodes, e.g. transistor-like structures
- H10N60/207—Field effect devices
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電界効果トランジスタ(FET:FiCld
Effcct Transistor)の構成に関
する。
Effcct Transistor)の構成に関
する。
従来、電界効果トランジスタの代表例として、第3図に
示す如きMis FETがある。すなわち、半導体で
あるSi基板110表面には、拡散層12、フィールド
絶縁膜13、ゲート絶縁1a14、ゲート電極15が形
成され、MIS型FETを構成して成る。この他、ゲー
ト電極を拡散層で形成した、いわゆるジャンクショアF
ETなルモのもある。
示す如きMis FETがある。すなわち、半導体で
あるSi基板110表面には、拡散層12、フィールド
絶縁膜13、ゲート絶縁1a14、ゲート電極15が形
成され、MIS型FETを構成して成る。この他、ゲー
ト電極を拡散層で形成した、いわゆるジャンクショアF
ETなルモのもある。
しかし、上記従来技術によると、FETの動作速度が半
導体材料における電荷の移動度によって制限を受けると
云う問題点があった。
導体材料における電荷の移動度によって制限を受けると
云う問題点があった。
本発明は、かかる従来技術の問題点をなくし、電荷移動
度の極めて大なる超電導現象を用いてFETの動作速度
を速(するFET1成を提供する事を目的とする。
度の極めて大なる超電導現象を用いてFETの動作速度
を速(するFET1成を提供する事を目的とする。
上記問題点を解決するために、本発明は、FETに関し
、絶縁基板表面、にはバリウム、イツトリウム、銅酸化
物等から成るセラミック系超ffi導体膜あるいは超半
導体膜を形成し、該膜に電界効果を及ぼすゲート電極と
、該グー) Th !Hをはさんでその両端にソース及
びドレイン電極を具備する手段をとる。
、絶縁基板表面、にはバリウム、イツトリウム、銅酸化
物等から成るセラミック系超ffi導体膜あるいは超半
導体膜を形成し、該膜に電界効果を及ぼすゲート電極と
、該グー) Th !Hをはさんでその両端にソース及
びドレイン電極を具備する手段をとる。
バリウム、イツトリウム、銅酸化物等のセラミック系超
電導体は、超電導半導体すなわち超電導体の作用もあり
、電界により超電導現象を発生させたり、消去したする
ことができ、FET動作を構成できる作用がある。
電導体は、超電導半導体すなわち超電導体の作用もあり
、電界により超電導現象を発生させたり、消去したする
ことができ、FET動作を構成できる作用がある。
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すNIF5型FETの断
面図である。すなわち、セラミック材としてのアルミナ
基板10表面にはスパッタ法又は分子線エピタキシャル
法等によりバリウム、イツトリウム、銅酸化物等から成
る超電導体膜2が形成され、該超電導体膜2の表面にゲ
ート絶縁膜3をはさむか、あるいは金屑を拡散するか等
した後、ゲート電極4を形成し、ゲート7となし、該ゲ
ート7をはさんで両端にソース5及びドレイ/が形成さ
れて成る。本発明はFETの構成をとればよく、例示し
たMis FETの他にJ (Junction)F
ETsあるいはMES(MetalElρctrode
Sem1conduction)FET等の構成を
とっても良い事は云うまでもない。
面図である。すなわち、セラミック材としてのアルミナ
基板10表面にはスパッタ法又は分子線エピタキシャル
法等によりバリウム、イツトリウム、銅酸化物等から成
る超電導体膜2が形成され、該超電導体膜2の表面にゲ
ート絶縁膜3をはさむか、あるいは金屑を拡散するか等
した後、ゲート電極4を形成し、ゲート7となし、該ゲ
ート7をはさんで両端にソース5及びドレイ/が形成さ
れて成る。本発明はFETの構成をとればよく、例示し
たMis FETの他にJ (Junction)F
ETsあるいはMES(MetalElρctrode
Sem1conduction)FET等の構成を
とっても良い事は云うまでもない。
第2図は、本発明のFETの動作特性を示したもので、
ゲート電圧(VG)を加える事により、ソースとドレイ
ン間の電流(Ips)はエンハンスメント型の場合は実
線の如(、ディプレッジ。
ゲート電圧(VG)を加える事により、ソースとドレイ
ン間の電流(Ips)はエンハンスメント型の場合は実
線の如(、ディプレッジ。
ン型の場合は点線の如きスイッチ動作をさせることがで
きる。
きる。
本発明の如(、超電導体FETでは、キャリアの移′M
1度をほぼ無限大にすることができ、極めて高速なスイ
ッチ動作をするFET (Field
1度をほぼ無限大にすることができ、極めて高速なスイ
ッチ動作をするFET (Field
第1図は本発明の一実施例を示すFETの断面図を、第
2図はその動作特性を示す図。第3図は従来技術による
FETの一実施例を示す断面図である。 1・・・アルミナ基板 2・・・超電導体膜 3.14・・・ゲート絶縁膜 4.15・・・ゲート絶縁膜 Sl 16・・・ソース 6.17・・・ドレイ/ 7.18・・・ゲート 11・・・St基板 12・・・拡散層 13・・・フィールド絶縁膜 以 上 出願人 セイフーエブソン株式会社 代理人 弁理士 最 上 務 他1名と・パ゛゛・
:) \1・、ノ ケ一ト−L日(L/4) CVott)第2図 箒30
2図はその動作特性を示す図。第3図は従来技術による
FETの一実施例を示す断面図である。 1・・・アルミナ基板 2・・・超電導体膜 3.14・・・ゲート絶縁膜 4.15・・・ゲート絶縁膜 Sl 16・・・ソース 6.17・・・ドレイ/ 7.18・・・ゲート 11・・・St基板 12・・・拡散層 13・・・フィールド絶縁膜 以 上 出願人 セイフーエブソン株式会社 代理人 弁理士 最 上 務 他1名と・パ゛゛・
:) \1・、ノ ケ一ト−L日(L/4) CVott)第2図 箒30
Claims (1)
- 絶縁基板表面には、バリウム、イットリウム、銅酸化物
等のセラミック系超電導体膜あるいは超半導体膜が形成
され、該膜には、電界効果を及ぼすゲート電極と、該ゲ
ート電極をはさんでその両端にソース及びドレイン電極
が具備された事を特徴とする超半導体電界効果トランジ
スタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62124915A JPS63289879A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 超半導体電界効果トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62124915A JPS63289879A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 超半導体電界効果トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63289879A true JPS63289879A (ja) | 1988-11-28 |
Family
ID=14897273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62124915A Pending JPS63289879A (ja) | 1987-05-21 | 1987-05-21 | 超半導体電界効果トランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63289879A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01207982A (ja) * | 1988-01-15 | 1989-08-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 超伝導チヤネルを有する電界効果装置 |
TWI474406B (zh) * | 2009-09-18 | 2015-02-21 | Univ Yuan Ze | 具金屬氧化物陶瓷材料之半導體場效電晶體(mosfet)及其製法 |
-
1987
- 1987-05-21 JP JP62124915A patent/JPS63289879A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01207982A (ja) * | 1988-01-15 | 1989-08-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 超伝導チヤネルを有する電界効果装置 |
TWI474406B (zh) * | 2009-09-18 | 2015-02-21 | Univ Yuan Ze | 具金屬氧化物陶瓷材料之半導體場效電晶體(mosfet)及其製法 |
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