JPS63289879A - 超半導体電界効果トランジスタ - Google Patents

超半導体電界効果トランジスタ

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Publication number
JPS63289879A
JPS63289879A JP62124915A JP12491587A JPS63289879A JP S63289879 A JPS63289879 A JP S63289879A JP 62124915 A JP62124915 A JP 62124915A JP 12491587 A JP12491587 A JP 12491587A JP S63289879 A JPS63289879 A JP S63289879A
Authority
JP
Japan
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gate
super
fet
film
electrode
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Pending
Application number
JP62124915A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Iwamatsu
誠一 岩松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/20Permanent superconducting devices
    • H10N60/205Permanent superconducting devices having three or more electrodes, e.g. transistor-like structures 
    • H10N60/207Field effect devices

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  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電界効果トランジスタ(FET:FiCld 
 Effcct  Transistor)の構成に関
する。
〔従来の技術〕
従来、電界効果トランジスタの代表例として、第3図に
示す如きMis  FETがある。すなわち、半導体で
あるSi基板110表面には、拡散層12、フィールド
絶縁膜13、ゲート絶縁1a14、ゲート電極15が形
成され、MIS型FETを構成して成る。この他、ゲー
ト電極を拡散層で形成した、いわゆるジャンクショアF
ETなルモのもある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上記従来技術によると、FETの動作速度が半
導体材料における電荷の移動度によって制限を受けると
云う問題点があった。
本発明は、かかる従来技術の問題点をなくし、電荷移動
度の極めて大なる超電導現象を用いてFETの動作速度
を速(するFET1成を提供する事を目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、本発明は、FETに関し
、絶縁基板表面、にはバリウム、イツトリウム、銅酸化
物等から成るセラミック系超ffi導体膜あるいは超半
導体膜を形成し、該膜に電界効果を及ぼすゲート電極と
、該グー) Th !Hをはさんでその両端にソース及
びドレイン電極を具備する手段をとる。
〔作用〕
バリウム、イツトリウム、銅酸化物等のセラミック系超
電導体は、超電導半導体すなわち超電導体の作用もあり
、電界により超電導現象を発生させたり、消去したする
ことができ、FET動作を構成できる作用がある。
〔実施例〕
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すNIF5型FETの断
面図である。すなわち、セラミック材としてのアルミナ
基板10表面にはスパッタ法又は分子線エピタキシャル
法等によりバリウム、イツトリウム、銅酸化物等から成
る超電導体膜2が形成され、該超電導体膜2の表面にゲ
ート絶縁膜3をはさむか、あるいは金屑を拡散するか等
した後、ゲート電極4を形成し、ゲート7となし、該ゲ
ート7をはさんで両端にソース5及びドレイ/が形成さ
れて成る。本発明はFETの構成をとればよく、例示し
たMis  FETの他にJ (Junction)F
ETsあるいはMES(MetalElρctrode
  Sem1conduction)FET等の構成を
とっても良い事は云うまでもない。
第2図は、本発明のFETの動作特性を示したもので、
ゲート電圧(VG)を加える事により、ソースとドレイ
ン間の電流(Ips)はエンハンスメント型の場合は実
線の如(、ディプレッジ。
ン型の場合は点線の如きスイッチ動作をさせることがで
きる。
〔発明の効果〕
本発明の如(、超電導体FETでは、キャリアの移′M
1度をほぼ無限大にすることができ、極めて高速なスイ
ッチ動作をするFET  (Field
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すFETの断面図を、第
2図はその動作特性を示す図。第3図は従来技術による
FETの一実施例を示す断面図である。 1・・・アルミナ基板 2・・・超電導体膜 3.14・・・ゲート絶縁膜 4.15・・・ゲート絶縁膜 Sl 16・・・ソース 6.17・・・ドレイ/ 7.18・・・ゲート 11・・・St基板 12・・・拡散層 13・・・フィールド絶縁膜 以  上 出願人 セイフーエブソン株式会社 代理人 弁理士 最 上  務 他1名と・パ゛゛・ 
:) \1・、ノ ケ一ト−L日(L/4)  CVott)第2図 箒30

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶縁基板表面には、バリウム、イットリウム、銅酸化物
    等のセラミック系超電導体膜あるいは超半導体膜が形成
    され、該膜には、電界効果を及ぼすゲート電極と、該ゲ
    ート電極をはさんでその両端にソース及びドレイン電極
    が具備された事を特徴とする超半導体電界効果トランジ
    スタ。
JP62124915A 1987-05-21 1987-05-21 超半導体電界効果トランジスタ Pending JPS63289879A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01207982A (ja) * 1988-01-15 1989-08-21 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 超伝導チヤネルを有する電界効果装置
TWI474406B (zh) * 2009-09-18 2015-02-21 Univ Yuan Ze 具金屬氧化物陶瓷材料之半導體場效電晶體(mosfet)及其製法

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