JPS63285774A - Circuit for binarizing signal - Google Patents

Circuit for binarizing signal

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JPS63285774A
JPS63285774A JP12026687A JP12026687A JPS63285774A JP S63285774 A JPS63285774 A JP S63285774A JP 12026687 A JP12026687 A JP 12026687A JP 12026687 A JP12026687 A JP 12026687A JP S63285774 A JPS63285774 A JP S63285774A
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JP
Japan
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signal
clock
pulse
level
binarized
Prior art date
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Pending
Application number
JP12026687A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshiya Shinbayashi
新林 俊哉
Takashi Takeuchi
崇 竹内
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To always a obtain a proper error signal and to set a slicing level at the optimum level, by controlling the slicing level by detecting the difference in phase between binarized signals and clocks. CONSTITUTION:When a slicing level is shifted considerably and the binarized signals and clocks do not synchronize to each other in phase, the interval between the rising edge of pulse signals from an inverting interval limiting circuit 7 and the edge of the binarized signals varies and the variation of the difference in pulse width between the output signal of a D-FF circuit 6 and the binarized signals is detected by means of a differential amplifier 5. When the inverting interval of the binarized signals is an integral multiple of the cycle of the clocks and, at the same time, the binarized signals are synchronous to the clocks, the pulse width from the inverting interval limiting circuit 7 is set shorter than the permissible inverting interval of the binarized signals when the slicing level becomes the optimum level by the cycle of the clocks and the variation of the slicing level is detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光デイスク装置の再生ディジタル信号などに
適用して好適な信号2値化回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a signal binarization circuit suitable for application to reproduction digital signals of optical disk devices.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

光デイスク装置では、情報信号を記録する方法として、
第10図(A)に示すように、記録ピット101の長さ
を情報内容に応じて変化させるものが知られており、例
えば、コンパクトディスク装置で用いられている。再生
信号102は、第10図(B)に示すように、再生系の
帯域制限を受けた滑らかな波形となるので、これを適当
なスライスレベル103でスライスし、第10図(C)
に示すように、ピットの長さに対応した長さの2値化信
号104に変換しなければならない。スライスレベル1
03が正しい値に設定されてあれば、2値化信号104
は第10図(D)に示すチャネルクロック105の周期
Tのちょうど整数倍の長さとなるが、スライスレベルが
ずれて、例えば最適値より高いスライスレベル103h
となったような場合には、この結果得られる2値化信号
104hは、第10図(E)に示すように、レベル反転
間隔に誤差が生じてしまう。
In optical disk devices, as a method of recording information signals,
As shown in FIG. 10(A), a device in which the length of a recording pit 101 is changed depending on the information content is known, and is used, for example, in a compact disc device. As shown in FIG. 10(B), the reproduced signal 102 has a smooth waveform that has been subjected to the band limitation of the reproduction system, so it is sliced at an appropriate slice level 103 and the waveform shown in FIG. 10(C) is obtained.
As shown in FIG. 2, it is necessary to convert the signal into a binary signal 104 having a length corresponding to the length of the pit. slice level 1
If 03 is set to the correct value, the binary signal 104
has a length that is exactly an integral multiple of the period T of the channel clock 105 shown in FIG.
In such a case, the resulting binary signal 104h has an error in the level inversion interval, as shown in FIG. 10(E).

このような場合には、この2値イヒ信号104hのエツ
ジの位相とこれに対するクロック105h(第10図(
F))とに位相ずれE、が生ずるが、例えば、特開昭5
9−152512号公報に記載されるように、この位相
誤差Eφを検出してスライスレベル103hに負帰還制
御することにより、常に、最適なスライスレベル103
で再生信号を2値化することができる。
In such a case, the phase of the edge of this binary high/high signal 104h and the corresponding clock 105h (Fig.
A phase shift E occurs between F) and F).
As described in Japanese Patent No. 9-152512, by detecting this phase error Eφ and performing negative feedback control on the slice level 103h, the optimum slice level 103 is always maintained.
It is possible to binarize the reproduced signal.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、上記従来技術においては、第11図(A
)に示すように、スライスレベル103gの最適なスラ
イスレベル103からのずれが大きくなった場合、これ
によって得られる第11図(B)に示す2値化信号10
4gとこれに対するクロック105g (第11図(C
))との間に位相誤差が生じなくなることもあり、この
ような場合には、帰還ループがこの状態でクロックされ
てしまう。
However, in the above conventional technology, FIG.
), when the deviation of the slice level 103g from the optimal slice level 103 becomes large, the resulting binary signal 10 shown in FIG. 11(B)
4g and the corresponding clock 105g (Figure 11 (C
)), in which case the feedback loop would be clocked in this state.

即ち、第10図(A)に示す本来4Tの長さのピット1
01が、スライスレベル103gにより、誤ってちょう
ど2Tの長さのピットを検出したように制御されてしま
う。
That is, the pit 1, which originally had a length of 4T, shown in FIG. 10(A)
01 is erroneously controlled by the slice level 103g as if a pit with a length of exactly 2T was detected.

このように、位相誤差のみに基づいてスライスレベルを
制御する従来技術では、制御ループの安定点が複数存在
し、誤ったスライスレベルに引き込まれるという問題点
があった。
As described above, the conventional technology that controls the slice level based only on the phase error has a problem in that the control loop has a plurality of stable points and is drawn into an incorrect slice level.

うにした信号2値化回路を提供することにある。It is an object of the present invention to provide a signal binarization circuit that achieves this.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記目的を達成するために、本発明は、入力信号をスラ
イスして得られた2値化信号からクロックを生成する第
1の手段と、該2値化信号のエツジ毎に該クロックに同
期して、立上りかつ該クロックの周期の整数のパルス幅
のパルス信号を発生する第2の手段と、該パルス信号で
該2値化信号をラッチする第3の手段と、該第3の手段
の出力信号と該2値化信号との差信号を生成する第4の
手段とを設け、該差信号に応じてスライスレベルを制御
し、該2値化信号の反転間隔が許容範囲内にあって該ク
ロックの周期の整数倍となる最適レベルに設定する。
In order to achieve the above object, the present invention provides a first means for generating a clock from a binary signal obtained by slicing an input signal, and a first means for generating a clock from a binary signal obtained by slicing an input signal, and a first means for generating a clock from a binary signal obtained by slicing an input signal; a second means for generating a pulse signal having a rising edge and a pulse width of an integer of the period of the clock; a third means for latching the binarized signal with the pulse signal; and an output of the third means. a fourth means for generating a difference signal between the signal and the binarized signal, the slice level is controlled according to the difference signal, and the inversion interval of the binarized signal is within an allowable range. Set to the optimal level that is an integral multiple of the clock period.

〔作用〕[Effect]

入力信号のスライスレベルが最適レベルからずれて、該
スライスレベルで該入力信号をスライスして得られた2
値化信号がクロックと同期していないときには、前記第
2の手段から得られるパルス信号の立上りエツジと前記
2値化信号のエツジとの間隔が変動し、前記第3の手段
の出力信号と2値化信号とのパルス幅の差に変動が生ず
る。この差の変動が第4の手段によって検出され、これ
でスライスレベルを制御することにより、スライスレベ
ルは最適レベルに設定される。
If the slice level of the input signal deviates from the optimal level, the 2-bit signal obtained by slicing the input signal at the slice level
When the digitized signal is not synchronized with the clock, the interval between the rising edge of the pulse signal obtained from the second means and the edge of the binarized signal varies, and the output signal of the third means and the second Fluctuations occur in the difference in pulse width from the valued signal. The variation in this difference is detected by the fourth means, and by controlling the slice level with this, the slice level is set to the optimum level.

また、スライスレベルが最適レベルよりも太き(ずれ、
2値化信号の反転間隔がクロック周期の整数倍でかつ2
値化信号がクロックに同期した場合には、2値化信号と
クロックとの位相差を検出する上記の作用は利用するこ
とができないが、2値化信号の高レベル期間と低レベル
期間とで長さの大きな差が生ずることを利用する。
Also, the slice level is thicker than the optimal level (misalignment,
The inversion interval of the binarized signal is an integral multiple of the clock period and 2
When the digitized signal is synchronized with the clock, the above-mentioned effect of detecting the phase difference between the binarized signal and the clock cannot be used. Take advantage of the fact that there is a large difference in length.

すなわち、高レベル期間、低レベル期間のいずれか一方
が前記第2の手段からのパルス信号のパルス幅よりもク
ロック周期以上短くなると、2値化信号のこの短いレベ
ル期間の前縁エツジと該パルス信号の立上りエツジとの
位相関係に比べて長いレベル期間の前縁エツジと該パル
ス信号の立上リエッジの位相関係が大きくずれることに
なる。
That is, when either the high level period or the low level period becomes shorter than the pulse width of the pulse signal from the second means by more than a clock period, the leading edge of this short level period of the binarized signal and the pulse The phase relationship between the leading edge of the long level period and the rising edge of the pulse signal will be significantly different from the phase relationship with the rising edge of the signal.

このために、2値化信号と前記第3の手段の出力信号と
の間にパルス幅の差が生じ、これを第4の手段で検出す
ることにより、スライスレベルの変動を検出することが
できる。
For this reason, a difference in pulse width occurs between the binarized signal and the output signal of the third means, and by detecting this with the fourth means, fluctuations in the slice level can be detected. .

このために、前記第2の手段からのパルス信号のパルス
幅としては、スライスレベルが最適レベルとなるときの
2値化信号の許容される反転間隔よりもクロック周期分
短く設定すれば、スライスレベルが大きく変動し、かつ
2値化信号がクロックに同期しても、このスライスレベ
ルの変動を検出することができる。
For this reason, if the pulse width of the pulse signal from the second means is set shorter by a clock period than the allowable inversion interval of the binarized signal when the slice level becomes the optimum level, the slice level Even if there is a large fluctuation in the slice level and the binarized signal is synchronized with the clock, this fluctuation in the slice level can be detected.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の対象となる情報信号としては、−例として光デ
ィスクからの再生信号があるが、ここで、光ディスクお
よびその再生信号について説明する。
An example of the information signal to which the present invention is applied is a reproduced signal from an optical disc.Here, the optical disc and its reproduced signal will be explained.

第4図に示すように、光ディスク21はその中心に保持
用の穴24が開けられており、−周が16個のセクタに
分割されている。各セクタはアドレス情報が記録されて
いるプリフォーマット部2,2とデータが記録される記
録領域23とからなっている。かかる光ディスク21で
は、当初プリフォーマット部22にのみプリフォーマッ
ト信号が記録されており、記録領域23には信号が記録
されていないが、所望トラックのセクタを指定すること
により、プリフォーマット信号からこのセクタが検出さ
れ、その記録領域23に信号が記録される。
As shown in FIG. 4, the optical disc 21 has a holding hole 24 in its center, and its circumference is divided into 16 sectors. Each sector consists of preformat sections 2, 2 in which address information is recorded and a recording area 23 in which data is recorded. In such an optical disc 21, a preformat signal is initially recorded only in the preformat section 22, and no signal is recorded in the recording area 23, but by specifying a sector of a desired track, this sector can be read from the preformat signal. is detected, and a signal is recorded in the recording area 23.

第5図はこの光ディスク21から得られる1セクタ分の
再生信号を模式的に表わしたものであり、25は光ディ
スク21のプリフォーマット部22から再生されるプリ
フォーマット信号であり、プリフォーマット部22に予
め記録されている。26は光ディスク21の記録領域2
3からの再生信号であり、その先頭にセクタに信号が記
録されていることを示すフラグ26aがあり、その後に
一クロックを再生するためのVFO信号26bが、さら
ベルの幅(すなわち、反転間隔)が4′Tの等反転信号
である。
FIG. 5 schematically represents a reproduced signal for one sector obtained from this optical disc 21, and 25 is a preformat signal reproduced from the preformat section 22 of the optical disc 21. Recorded in advance. 26 is the recording area 2 of the optical disc 21
3, there is a flag 26a at the beginning indicating that a signal is recorded in the sector, and after that, a VFO signal 26b for reproducing one clock is further reproduced by the width of the bell (i.e., the inversion interval). ) is the equal inversion signal of 4'T.

次に、本発明の実施例を図面によって説明する。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明による信号2値化回路の一実施例を示す
ブロック図であって、■は比較回路、2は略中心検出回
路、3は減算回路、4はPLL(フェーズ・ロックド・
ループ)回路、5は差動増幅器、6はD−FF (Dフ
リップフロップ)回路、7は反転間隔制限回路、8は入
力端子、9はORゲート、10はVFO検出回路、11
はLPF(ローパスフィルタ)である。また、第2図お
よび第3図は第1図における各部の信号を示す波形図で
あって、第1図に対応する信号には同一符号をつけてい
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the signal binarization circuit according to the present invention, in which ■ is a comparison circuit, 2 is an approximately center detection circuit, 3 is a subtraction circuit, and 4 is a PLL (phase-locked circuit).
loop) circuit, 5 is a differential amplifier, 6 is a D-FF (D flip-flop) circuit, 7 is an inversion interval limiting circuit, 8 is an input terminal, 9 is an OR gate, 10 is a VFO detection circuit, 11
is an LPF (low pass filter). Further, FIGS. 2 and 3 are waveform diagrams showing signals of each part in FIG. 1, and signals corresponding to those in FIG. 1 are given the same symbols.

ここでは、まず、第5図におけるデータ26cのパルス
反転間隔が3T〜IITに制限されているものとする。
Here, first, it is assumed that the pulse inversion interval of the data 26c in FIG. 5 is limited to 3T to IIT.

なお、VFO信号26bは、上記のように、幅4Tの繰
り返し信号である。
Note that the VFO signal 26b is a repeating signal with a width of 4T, as described above.

初めに、スライスレベルが最適レベルよりも若干高くず
れている場合について、第2図を用いて説明する。
First, a case where the slice level deviates slightly higher than the optimum level will be explained using FIG. 2.

入力端子8からの入力信号Aは比較回路1で減算回路3
からのスライスレベル■と比較され、2値化信号Bとな
る。PLL回路4はこの2値化信号Bに同期しかつ周期
TのクロックCを生成出力する。2値化信号Bは、また
、VFO検出回路10に供給され、VFO信号26bが
検出されたときには“H” (高レベル)の、これが検
出されないときには“L” (低レベル)の検出信号■
が出力される。反転間隔制限回路7は2値化信号B、V
FO検出回路10の検出信号IおよびクロックCが供給
され、3T制限信号りと4T制限信号Eとを生成出力す
る。3T制限信号りは2値化信号Bの各エツジ後の最初
のクロックCの立上りエツジで立上がり、かつ幅が2T
の“H”の信号であり、4T制限信号Eは、検出信号I
が“L”のとき“L”であるが、これが“H″のときに
は、3T制限信号りと同期して立上がる幅3Tの“H”
の信号である。ORゲート9は、クロックC,3T制限
パルスD、4T制限パルスEの論理和である抜き取りク
ロックFを出力する。
Input signal A from input terminal 8 is sent to comparison circuit 1 and subtraction circuit 3
It is compared with the slice level ■ from , and becomes a binarized signal B. The PLL circuit 4 generates and outputs a clock C having a period T in synchronization with this binary signal B. The binary signal B is also supplied to the VFO detection circuit 10, and the detection signal ■ is "H" (high level) when the VFO signal 26b is detected, and "L" (low level) when it is not detected.
is output. The inversion interval limiting circuit 7 receives the binary signals B, V
The detection signal I and clock C of the FO detection circuit 10 are supplied, and a 3T limit signal and a 4T limit signal E are generated and output. The 3T limit signal rises at the first rising edge of clock C after each edge of binary signal B, and has a width of 2T.
The 4T limit signal E is the “H” signal of the detection signal I.
When it is “L”, it is “L”, but when it is “H”, it is “H” with a width of 3T rising in synchronization with the 3T limit signal.
This is the signal. The OR gate 9 outputs a sampling clock F which is the logical sum of the clock C, the 3T limit pulse D, and the 4T limit pulse E.

この抜き取りクロックFは2値化信号Bのエツジから2
周期分のクロックを抜き取った波形となっており、D−
FF回路6のCK端子に入力され、その立上りエツジで
2値化信号Bをラッチする。
This extracted clock F is 2 times from the edge of the binary signal B.
The waveform is obtained by removing the clock for a period of D-
It is input to the CK terminal of the FF circuit 6, and the binary signal B is latched at its rising edge.

この出力信号 hyN差動増幅器5の子端子に入力され
る。また、この差動増幅器5の一端子には2値化信号B
が直接入力される。差動増幅器5からは両極性のパルス
である差信号Hが出力される。この差信号Hの正極部分
はスライスレベル誤差に応じて幅が変化し、スライスレ
ベル■が最適レベル■oよりも高いときには、次の幅が
Ehだけ広(なる。従って、この差信号Hの直流成分を
LPFllによって取り出すと、この直流成分がスライ
スレベル■と最適レベル■。との差を表わすスライスレ
ベル誤差信号HDとなる。
This output signal is input to the child terminal of the hyN differential amplifier 5. Further, one terminal of this differential amplifier 5 is connected to a binary signal B.
is input directly. The differential amplifier 5 outputs a difference signal H, which is a bipolar pulse. The width of the positive part of this difference signal H changes according to the slice level error, and when the slice level ■ is higher than the optimal level ■ o, the next width becomes wider by Eh (therefore, the DC When the component is extracted by the LPFll, this DC component becomes a slice level error signal HD representing the difference between the slice level (2) and the optimum level (2).

一方、入力信号Aは略中心検出回路2にも供給され、こ
の入力信号Aのほぼ中心レベルを表わす信号が出力され
る。この信号は減算回路3でLPFilからのスライス
レベル誤差信号H,が減算され、スライスレベル■が設
定される。
On the other hand, the input signal A is also supplied to a substantially center detection circuit 2, and a signal representing the substantially center level of the input signal A is output. The slice level error signal H from LPFil is subtracted from this signal by the subtracting circuit 3, and the slice level ■ is set.

第2図では、データ26C(第5図)の部分を示してお
り、このときには、VFO検出回路10からの検出信号
Iは“L”であり、4T制限パルスEも“L”である。
FIG. 2 shows a portion of data 26C (FIG. 5), and at this time, the detection signal I from the VFO detection circuit 10 is "L" and the 4T limit pulse E is also "L".

したがって、ORゲート9からはクロックCと3T制限
パルスDとの合成パルスが出力信号Fとして得られる。
Therefore, a composite pulse of the clock C and the 3T limited pulse D is obtained as the output signal F from the OR gate 9.

また、第2図では、2値化信号BとクロックCとの間に
T/2の位相差が生じた場合を示しており、2値化信号
Bの立上りエツジがクロックCの立下りエツジに一致し
ていると、2値化信号Bの次の立下りエツジがクロック
Cの立上りエツジに一致し、さらに2値化信号Bの次の
立上りエツジはクロックCの立下りエツジと一致してい
る。
Furthermore, FIG. 2 shows a case where a phase difference of T/2 occurs between the binarized signal B and the clock C, and the rising edge of the binarized signal B is the falling edge of the clock C. If they match, the next falling edge of binarized signal B matches the rising edge of clock C, and furthermore, the next rising edge of binarized signal B matches the falling edge of clock C. .

このような場合、3T制限パルスDの1つおきの立上り
エツジは2値化信号Bの立上りエツジよりもT/2だけ
遅れ、他の1つおきの立上りエツジは2値化信号Bの立
下りエツジよりもTだけ遅れる。3T制限パルスDのH
”の時間幅は2Tであるから、その立下りエツジはクロ
ックCの立上りエツジに一致し、かつ3T制限パルスD
の立下りエツジから次の立上りエツジまでの期間(すな
わち、“L”の期間)はTの整数倍である。したがって
、いま、nを1以上の整数とすると、ORゲート9の出
力信号Fは3T制限パルスDの立下りエツジがクロック
CによってT/2だけ遅らされて“L”期間がT/2の
奇数倍となったパルスの長さく2n+1)T/2の“L
”期間にn個のクロックCが等間隔で挿入された信号と
なる。
In such a case, every other rising edge of the 3T limited pulse D lags the rising edge of the binary signal B by T/2, and the other every other rising edge lags the falling edge of the binary signal B. T is behind Edge. 3T limit pulse D H
” has a time width of 2T, its falling edge coincides with the rising edge of clock C, and the 3T limit pulse D
The period from the falling edge to the next rising edge (ie, the "L" period) is an integer multiple of T. Therefore, if n is an integer greater than or equal to 1, the output signal F of the OR gate 9 is such that the falling edge of the 3T limit pulse D is delayed by T/2 by the clock C, and the "L" period is T/2. The length of the odd-numbered pulse is 2n+1)T/2.
``This is a signal in which n clocks C are inserted at equal intervals during the period.

そこで、D−FF回路6において、このORゲート9の
出力信号Fの立上りエツジで2値化信号Bをラッチする
と、このD−FF回路6からは、反転間隔がTの整数倍
の信号Gが得られる。この信号Gは立上りエツジが2値
化信号Bの立上りエツジよりもT/2遅れているから、
差動増幅器5で信号Gから2値化信号Bを減算すると、
2値化信号Bの立上りエツジで立下がり、T/2幅の負
極性の部分と、2値化信号Bの立下りエツジで立上がり
、Tの幅の正極性の部分とを有する差信号Hが得られる
。したがって、LPFIIからはこれら正極性の部分と
負極性の部分の時間幅の差に対応するレベルのスライス
レベル誤差信号HIllが得られる。
Therefore, when the D-FF circuit 6 latches the binary signal B at the rising edge of the output signal F of the OR gate 9, the D-FF circuit 6 outputs a signal G whose inversion interval is an integral multiple of T. can get. Since the rising edge of this signal G lags behind the rising edge of the binary signal B by T/2,
When the binary signal B is subtracted from the signal G by the differential amplifier 5,
A difference signal H falls at the rising edge of the binary signal B and has a negative polarity portion with a width of T/2, and a difference signal H rises at the falling edge of the binary signal B and has a positive polarity portion with a width of T. can get. Therefore, a slice level error signal HIll having a level corresponding to the difference in time width between the positive polarity portion and the negative polarity portion is obtained from LPFII.

このスライスレベル誤差信号HI)は2値化信号Bとク
ロックCとの位相差に応じたものであり、2値化信号B
とクロックCとが位相同期しているときには、差信号H
の正、負極性部分の時間幅は等しくなってスライスレベ
ル誤差信号Hoは零となる。また、スライスレベル■が
最適レベル■。
This slice level error signal HI) corresponds to the phase difference between the binarized signal B and the clock C, and is
and clock C are in phase synchronization, the difference signal H
The time widths of the positive and negative polarity portions become equal, and the slice level error signal Ho becomes zero. Also, the slice level ■ is the optimal level ■.

よりも低いときには、差信号Hの負極性部分の時間幅が
正極性部分の時間幅よりも長(なり、スライスレベル誤
差信号HDは負となる。したがって、略中心検出回路2
の出力信号をスライスレベル誤差信号H,で減算するこ
とにより、スライスレベル■は最適レベルv0に設定さ
れる。
When the time width of the negative polarity portion of the difference signal H is longer than the time width of the positive polarity portion, the slice level error signal HD becomes negative.Therefore, the approximately center detection circuit 2
By subtracting the output signal of , by the slice level error signal H, the slice level ■ is set to the optimum level v0.

次に、スライスレベルVが最適レベル■。から大きくず
れた場合について、VFO信号の部分も含めて第3図を
用いて説明する。
Next, the slice level V is the optimal level ■. The case where there is a large deviation from the VFO signal will be explained using FIG. 3, including the VFO signal part.

この場合には、先に説明したように、2値化信号Bとク
ロックCとが°同期する場合もあるが、■FO信号26
bをスライスレベル■の大きなずれの検出に用いるので
ある。このVFO信号26bでは、VFO検出回路10
の出力信号■は“H”となる。したがって、反転間隔制
限回路7からは、3T制限パルスDとともに、4T制限
パルスEt+出力される。
In this case, as explained earlier, the binarized signal B and the clock C may be synchronized, but the FO signal 26
b is used to detect a large deviation in the slice level ■. In this VFO signal 26b, the VFO detection circuit 10
The output signal ■ becomes "H". Therefore, the inversion interval limiting circuit 7 outputs the 4T limiting pulse Et+ together with the 3T limiting pulse D.

4T制限パルスEは、2値化信号Bの各エツジの後のク
ロックCの立上りエツジで立上がり、3T幅の“H”の
信号である。但し、4T制限パルスEの立下りエツジが
2値化信号Bの立下りエツジを越えた場合には、4T制
限パルスEの次の立上りエツジは、その直前の立下りエ
ツジ後のクロックCの立上りエツジに一致する。したが
って、3T制限パルスDの“H”期間は4T制限パルス
Eの“H″期間内に含まれる。このために、ORゲート
9からの抜き取りクロックFは、VFO信号26bの期
間では、4T制限パルスEとクロックCとの合成信号と
なる。
The 4T limit pulse E rises at the rising edge of the clock C after each edge of the binarized signal B, and is a 3T wide "H" signal. However, if the falling edge of the 4T limit pulse E exceeds the falling edge of the binarized signal B, the next rising edge of the 4T limit pulse E will be the rising edge of the clock C after the previous falling edge. Matches Edge. Therefore, the "H" period of the 3T limit pulse D is included within the "H" period of the 4T limit pulse E. Therefore, the clock F extracted from the OR gate 9 becomes a composite signal of the 4T limit pulse E and the clock C during the period of the VFO signal 26b.

スライスレベル■が最適レベルv0よりも充分高くなる
と、2値化信号Bの“L”期間は“H”期間よりも長く
なる。2値化信号BはクロックCと位相同期しているか
ら、ここでは、VFO信号26bにおいて、2値化信号
Bの“H”の期間は3T、“L”の期間は5Tとする(
すなわち、VFO信号26bの周期は8Tである)。
When the slice level ■ becomes sufficiently higher than the optimum level v0, the "L" period of the binary signal B becomes longer than the "H" period. Since the binarized signal B is phase-synchronized with the clock C, here, in the VFO signal 26b, the "H" period of the binarized signal B is assumed to be 3T, and the "L" period is assumed to be 5T (
That is, the period of the VFO signal 26b is 8T).

このような2値化信号Bに対して、4T制限パルスEは
、この2値化信号Bの立上りエツジ後の最初のクロック
Cの立上りエツジで立上がるが、4T制限パルスEの次
の立下りエツジが2値化信号Bの立下りエツジよりもT
/2  (=、3T−(3T+T/2))だけ遅れるた
めに、4T制限パルスEのこの立下りエツジにつづく立
上りエツジは2値化信号Bの立下りエツジよりも3T/
2だけ遅れる。つまり、4T制限パルスEの1つおきの
立上りエツジは2値化信号Bの立上りエツジよりもT/
2だけ遅れるが、他の1つおきの立上りエツジは2値化
信号Bの立下りエツジよりも372Tだけ遅れる。また
、4T制限パルスEの立下りエツジから立上りエツジま
での間隔はTとなる。
For such a binary signal B, the 4T limit pulse E rises at the first rising edge of the clock C after the rising edge of the binary signal B, but at the next falling edge of the 4T limit pulse E. The edge is T than the falling edge of the binary signal B.
/2 (=, 3T-(3T+T/2)), the rising edge of the 4T limit pulse E following this falling edge is 3T/
Late by 2. In other words, every other rising edge of the 4T limit pulse E is T/
However, every other rising edge lags behind the falling edge of the binary signal B by 372T. Further, the interval from the falling edge to the rising edge of the 4T limit pulse E is T.

したがって、ORゲート9からの抜き取りクロックFは
、4T制限パルスEの立下りエツジ側かT/またけ伸延
されたものに相当する。
Therefore, the extracted clock F from the OR gate 9 corresponds to the 4T limit pulse E extended by T/straddling the falling edge side.

D−FF回路6において、かかる抜き取りクロックFで
2値化信号Bをラッチすると、その出力信号Gは立上り
エツジが2値化信号Bの立上りエツジよりT/2だけ遅
れ、立下りエツジが2値化信号Bの立下りエツジよりも
3T/2だけ遅れた信号となる。したがって、この信号
Gから2値化信号Bを減算すると、T/2幅の負極性部
分と3T/2幅の正極性部分とが交互に配列された差信
号Hが得られる。したがって、LPF 11からは正の
スライスレベル誤差信号Haが得られる。これにより、
スライスレベルVが低められていく。
In the D-FF circuit 6, when the binary signal B is latched by the sampling clock F, the rising edge of the output signal G is delayed by T/2 from the rising edge of the binary signal B, and the falling edge is a binary signal. The signal is delayed by 3T/2 from the falling edge of the conversion signal B. Therefore, by subtracting the binarized signal B from this signal G, a difference signal H is obtained in which negative polarity portions having a width of T/2 and positive polarity portions having a width of 3T/2 are alternately arranged. Therefore, a positive slice level error signal Ha is obtained from the LPF 11. This results in
The slice level V is lowered.

すると、2値化信号BとクロックCとの位相がずれてき
て、第2図に示した動作が行なわれてスライスレベルV
はさらに低められる。
Then, the phases of the binarized signal B and the clock C become shifted, and the operation shown in FIG. 2 is performed, and the slice level V
is further reduced.

スライスレベルVが最適レベルv0に等しいときには、
VFO信号26bの′H″ IIL”期間はともに4T
となり、差信号Hの負極性部分と正極性部分との期間が
等しくなってスライスレベル誤差信号H,は零となる。
When slice level V is equal to optimal level v0,
The 'H'' and IIL'' periods of the VFO signal 26b are both 4T.
Therefore, the periods of the negative polarity portion and the positive polarity portion of the difference signal H become equal, and the slice level error signal H becomes zero.

また、スライスレベル■が最上レベル■。よりも低いと
きには、VFO信号26bからの2値化信号Bは“H”
期間が“L”期間よりも長くなり、スライスレベル誤差
信号Heは負となる。したがって、いずれにしても、ス
ライスレベル■は最適ルベルv0に設定されるようにな
る。
Also, the slice level ■ is the highest level ■. , the binary signal B from the VFO signal 26b is “H”
The period becomes longer than the "L" period, and the slice level error signal He becomes negative. Therefore, in any case, the slice level ■ is set to the optimum level v0.

このようにして、スライスレベルVが最適ルベルv0よ
りも充分大きくずれ、2値化信号BがクロックCに位相
同期しても4T期間毎に“H”。
In this way, even if the slice level V deviates sufficiently from the optimum level v0 and the binarized signal B is phase synchronized with the clock C, it becomes "H" every 4T period.

“L”と繰り返すべきVFO信号26bを用いることに
より、スライスレベル■のず糺が検出され、最適レベル
へと移行される。これにともなって、VFO信号26b
からの2値化信号Bは“11”。
By using the VFO signal 26b which should be repeated as "L", the slice level 2 is detected and shifted to the optimum level. Along with this, the VFO signal 26b
The binary signal B from is "11".

“L”期間が4Tとなり、これにともなって、データ2
6cも3T以上となる。このようにして、反転間隔が3
T以上に制限される。
“L” period becomes 4T, and along with this, data 2
6c is also 3T or more. In this way, the reversal interval is 3
Limited to T or more.

第6図は第1図における略中心検出回路2の一興体例を
示す回路図である。同図において、入力端子102から
第1図の入力端子8に入力される人力信号Aが入力され
る。この入力信号Aは、抵抗2a、2C,2f、コンデ
ンサ2d、及びトランジスタ2b、2eからなる正の包
路線検出回路により、第7図に示すように、入力信号A
の正の包路線102pが検出される。また、この入力信
号Aは、負の抵抗2g、  2i、  21.コンデン
サ2j、及びトランジスタ2h、2kからなる負の包路
線検出回路により、第7図に示すように、入力信号Aの
負の包絡線102nが検出される。これら正、負包絡線
信号は分圧抵抗2mで分圧され、入力信号Aの略中心レ
ベルが出力端子102Sに出力される。
FIG. 6 is a circuit diagram showing an example of the approximate center detection circuit 2 in FIG. 1. In the figure, a human power signal A, which is input to the input terminal 8 of FIG. 1, is input from an input terminal 102. As shown in FIG.
A positive envelope line 102p of is detected. Moreover, this input signal A is connected to negative resistors 2g, 2i, 21. As shown in FIG. 7, a negative envelope 102n of the input signal A is detected by a negative envelope detection circuit including a capacitor 2j and transistors 2h and 2k. These positive and negative envelope signals are divided by a voltage dividing resistor 2m, and approximately the center level of the input signal A is outputted to the output terminal 102S.

第8図は第1図における反転間隔制限回路7の一具体例
を示すブロック図である。゛同図において、入力端子1
04には2値化信号Bが、入力端子112にはVFO検
出回路10(第1図)の出力信号■が、入力端子109
にはクロックCが夫々供給される。D−FF回路?a、
7b、7c、7dは縦続接続され、2値化信号Bは初段
のD−FF7aのD入力となり、クロックCは各D−F
F7a〜7dのクロック人力ckとなる。
FIG. 8 is a block diagram showing a specific example of the inversion interval limiting circuit 7 in FIG. 1.゛In the same figure, input terminal 1
04 is the binary signal B, the input terminal 112 is the output signal ■ of the VFO detection circuit 10 (Fig. 1), and the input terminal 109 is
are supplied with a clock C, respectively. D-FF circuit? a,
7b, 7c, and 7d are connected in series, the binary signal B becomes the D input of the first stage D-FF 7a, and the clock C is connected to each D-FF.
The clock is manually clocked for F7a to 7d.

そこで、2値化信号Bが“H”となると、順次供給され
るクロックCの立上りエツジ毎に順次D−FF7a、7
b、7c、7dの順でそれらのQ出力が“H”となり、
2値化信号Bが“L”となると、同様にしてクロックC
の立上りエツジ毎に順次D−FF7a、7b、7c、7
dの順でそれらのQ出力が“L”となる。したがって、
D−FF回路?a、7cのQ出力が供給されるEx−O
Rゲート7eからは2値化信号Bの各エツジ後の最初の
クロックCの立上りエツジで立上がり、かつ2f幅の3
T制限パルスDが得られ、Ex−ORゲート7fからは
、2(!比信号Bの各エツジ後の最初のクロックCの立
上りエツジで立上がり、かつ3f幅の4T制限パルスE
が得られる。この4T制限パルスEは、VFO検出回路
10の出力信号Iが“H″のとき、ANDゲート7gを
介して出力される。
Therefore, when the binary signal B becomes "H", the D-FFs 7a, 7
Their Q outputs become “H” in the order of b, 7c, and 7d,
When the binary signal B becomes “L”, the clock C
D-FF7a, 7b, 7c, 7 sequentially at each rising edge of
Their Q outputs become "L" in the order of d. therefore,
D-FF circuit? Ex-O to which the Q outputs of a and 7c are supplied
The signal from the R gate 7e rises at the first rising edge of the clock C after each edge of the binarized signal B and has a width of 2f.
A T-limited pulse D is obtained, and from the Ex-OR gate 7f, a 4T-limited pulse E which rises at the first rising edge of the clock C after each edge of the 2(! ratio signal B and is 3f wide) is obtained.
is obtained. This 4T limit pulse E is outputted via the AND gate 7g when the output signal I of the VFO detection circuit 10 is "H".

第9図は第1図におけるVFO検出回路10の一興体例
を示すブロック図である。同図において、先ず、フラグ
検出器10aが入力信号Aのフラグ信号25a (第5
図)を検出し、その信号をトリガにしてモノマルチ回路
10bが検出信号Iを所定の時間、反転間隔制限回路7
に出力する。
FIG. 9 is a block diagram showing an example of the VFO detection circuit 10 in FIG. 1. In the figure, first, the flag detector 10a detects the flag signal 25a (fifth
) is detected, and using the signal as a trigger, the mono multi-circuit 10b receives the detection signal I for a predetermined period of time, and the inversion interval limiting circuit 7
Output to.

なお、以上の説明において、スライスレベルが大きくず
れ、かつ2値化信号がクロックに同期しているのをVF
O信号の期間で検出するようにしたが、データの期間に
おいても、最短の3Tの反転間隔の期間で同様に検出さ
れる。しかし、データの期間では、反転期間が3T〜1
1Tの間で変化し得るものであり、スライスレベルが大
きくずれても、反転期間が3Tよりも短くなるのは不定
期間である。このことから、反転間隔が一定の■FO信
号の期間で上記の状態を検出することの意味があるので
ある。
In the above explanation, when the slice level is largely shifted and the binarized signal is synchronized with the clock, it is referred to as VF.
Although the detection is performed during the period of the O signal, it is similarly detected during the period of the shortest inversion interval of 3T during the data period. However, in the data period, the inversion period is 3T to 1
It can change between 1T, and even if the slice level deviates significantly, the inversion period will be shorter than 3T for an irregular period of time. From this, there is a meaning in detecting the above state during the period of the FO signal whose inversion interval is constant.

以上、本発明の実施例を、反転間隔が3T〜11Tの範
囲で変化し、かつ4Tの一定反転間隔のVFO信号を有
する信号について説明したが、本発明はこれにVFO信
号がデータ部内にあってもよい。また、第1図のD−F
F6の出力の反転間隔を制限する方法も、上記のように
クロックを抜き取る方法のみに限らず、これ以外の方法
でもよいことはいうまでもない。
The embodiments of the present invention have been described above with respect to a signal having a VFO signal whose inversion interval changes in the range of 3T to 11T and a constant inversion interval of 4T. It's okay. Also, D-F in Figure 1
It goes without saying that the method of limiting the inversion interval of the output of F6 is not limited to the method of extracting the clock as described above, but other methods may also be used.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、スライスレベル
が大きくずれて2値化信号とクロックとが位相同期して
いる場合でも、これを検出できないような場合にでも1
.常に正しい誤差信号が得られ、スライスレベルを最虐
、レベルに正確に制御することができる。
As explained above, according to the present invention, even when the slice level is largely shifted and the binarized signal and the clock are phase-synchronized, even when this cannot be detected.
.. A correct error signal can always be obtained, and the slice level can be accurately controlled to the lowest level.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による信号2値化回路の一実施例を示す
ブロック図、第2図および第3図は夫々スライスレベル
の異なる変動量に対する第1図の各部の信号を示す波形
図、第4図は光ディスクの平面図、第5図は第4図の1
セクタ分の再生信号を示す模式図、第6図は第1図にお
ける略中心検出回路の一具体例を示す回路図、第7図は
その動作説明図、第8図は第1図における反転間隔制限
回路の一具体例を示すブロック図、第9図は第1図にお
けるVFO検出回路の一具体例を示すプロツク図、第1
0図および第11図は夫々従来の信号2値化回路の動作
を示す信号波形図である。 1・・−−−−一比較回路、2−・・−・略中心検出回
路、3−−・減算回路、4−・−−−−−P L L回
路、5−−−−−一・−差動増幅器、6・−・−%[)
フリップフロップ、7・−・−・−反転間隔制限回路、
a−−一−−・−入力端子、9−・・−・ORゲート、
10−−−−−−−V F O検出回路、11−・・−
LPF。 代理人 弁理士  武 顕次部(外1名)第1図 第2図 く   の  (J  O−LLI  L  Q  工
第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図 第11図
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a signal binarization circuit according to the present invention, and FIGS. 2 and 3 are waveform diagrams showing signals in each part of FIG. 1 for different amounts of variation in the slice level, respectively. Figure 4 is a plan view of the optical disc, and Figure 5 is 1 of Figure 4.
FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific example of the approximate center detection circuit in FIG. 1, FIG. 7 is an explanatory diagram of its operation, and FIG. 8 is an inversion interval in FIG. 1. 9 is a block diagram showing a specific example of the limiting circuit; FIG. 9 is a block diagram showing a specific example of the VFO detection circuit in FIG.
0 and 11 are signal waveform diagrams showing the operation of a conventional signal binarization circuit, respectively. 1.-----Comparison circuit, 2---Approximate center detection circuit, 3--.Subtraction circuit, 4-----P L L circuit, 5------1. -Differential amplifier, 6・-・-%[)
Flip-flop, 7.----inversion interval limiting circuit,
a--1--input terminal, 9--OR gate,
10--------V FO detection circuit, 11-...-
L.P.F. Agent Patent Attorney Takeshi Kenjibe (1 other person) Figure 1 Figure 2 Kuno (J O-LLIL Q Engineering Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Figure 10) Figure 11

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、入力信号をスライスして2値化信号を得るようにし
た信号2値化回路において、該2値化信号からクロック
を生成する第1の手段と、該2値化信号のエッジ毎に該
クロックに同期して立上りかつ該クロックの周期の整数
倍のパルス幅を有するパルス信号を発生する第2の手段
と、該パルス信号で該2値化信号をラッチする第3の手
段と、該第3の手段の出力信号と該2値化信号との差信
号を生成する第4の手段とを設け、該差信号に応じて前
記入力信号のスライスレベルを制御し、前記2値化信号
の反転間隔が許容範囲内での該クロックの周期の整数倍
とする最適レベルに設定するように構成したことを特徴
とする信号2値化回路。 2、特許請求の範囲第1項において、前記2値化信号は
、前記スライスレベルが前記最適レベルとなるときに反
転間隔が一定となる等デューティ比区間を有し、前記第
2の手段が発生する前記パルス信号は、前記スライスレ
ベルが前記最適レベルの前記予め設定された範囲内の最
短反転間隔よりも前記クロックの周期分短いパルス幅の
第1のパルス信号と同じく該等デューティ比区間での反
転間隔よりも前記クロックの周期分短いパルス幅の第2
のパルス信号とであつて、前記第3の手段のラッチ信号
は、該等デューティ比区間以外で該第1のパルス信号と
し、該等デューティ比区間で該第2のパルス信号とする
ことを特徴とする信号2値化回路。
[Claims] 1. In a signal binarization circuit configured to obtain a binarized signal by slicing an input signal, a first means for generating a clock from the binarized signal; a second means for generating a pulse signal that rises in synchronization with the clock for each edge of the signal and has a pulse width that is an integral multiple of the period of the clock; and a third means that latches the binarized signal with the pulse signal. and a fourth means for generating a difference signal between the output signal of the third means and the binarized signal, controlling the slice level of the input signal according to the difference signal, and controlling the slice level of the input signal according to the difference signal. A signal binarization circuit characterized in that the inversion interval of the binarized signal is set to an optimum level that is an integral multiple of the period of the clock within a permissible range. 2. In claim 1, the binarized signal has an equal duty ratio section in which an inversion interval is constant when the slice level reaches the optimum level, and the second means generates The pulse signal has the same duty ratio interval as the first pulse signal whose pulse width is shorter than the shortest inversion interval within the preset range of the optimal level by the period of the clock. The second pulse width is shorter than the inversion interval by the period of the clock.
, wherein the latch signal of the third means is the first pulse signal outside the equal duty ratio interval and the second pulse signal during the equal duty ratio interval. Signal binarization circuit.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993007614A1 (en) * 1991-09-30 1993-04-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Data reproducing apparatus
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