JPS6326660A - 光受容部材 - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
- G03G5/08242—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers at least one with varying composition
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、光(ここでは広義の光であって、紫外線、可
視光線、赤外線、X線、T線等を書味する。)のような
電磁波に対して怒受性のある光受容部材に関する。
視光線、赤外線、X線、T線等を書味する。)のような
電磁波に対して怒受性のある光受容部材に関する。
固体撮像装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する光
導電材料としては、高公度で、SN比〔光電流(Ip
) /暗電流(Id ) )が高く、照射する電磁波の
スペクトル特性に適合した吸収スペクトル特性を有する
こと、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有すること、
使用時において人体に対して無公害であること、更には
固体撮像装置においては、残像を所定時間内に容易に処
理することができること等の特性が要求される。殊に、
事務機としてオフィスで使用される電子写真装置内に組
込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使用
時における無公害性は重要な点である。
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する光
導電材料としては、高公度で、SN比〔光電流(Ip
) /暗電流(Id ) )が高く、照射する電磁波の
スペクトル特性に適合した吸収スペクトル特性を有する
こと、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有すること、
使用時において人体に対して無公害であること、更には
固体撮像装置においては、残像を所定時間内に容易に処
理することができること等の特性が要求される。殊に、
事務機としてオフィスで使用される電子写真装置内に組
込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使用
時における無公害性は重要な点である。
この様な点に立脚して最近注目されている光受容材料に
アモルファスシリコン(以後a−3i と表記す)があ
り、例えば、独国公開第2746967号公報、同第2
855718号公報には電子写真用像形成部材として、
独国公開第2933411号公輻には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
アモルファスシリコン(以後a−3i と表記す)があ
り、例えば、独国公開第2746967号公報、同第2
855718号公報には電子写真用像形成部材として、
独国公開第2933411号公輻には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
しかしながら、従来のa−5iで構成された光受容層を
存する光受容部材は、暗砥抗値、光感度、光応答性等の
電気的、光学的、光導電的特性、及び使用環境特性の点
、更には経時的安定性及び耐久性の点において、各々、
個々には特性の向上が計られているが、総合的な特性向
上を計る上で更に改良される余地が存するのが実情であ
る。
存する光受容部材は、暗砥抗値、光感度、光応答性等の
電気的、光学的、光導電的特性、及び使用環境特性の点
、更には経時的安定性及び耐久性の点において、各々、
個々には特性の向上が計られているが、総合的な特性向
上を計る上で更に改良される余地が存するのが実情であ
る。
例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合に、高光
怒度化、高暗抵抗化を同時に計ろうとすると従来におい
てはその使用時において残¥1電位が残る場合が度々観
測され、この種の光受容部材は長時間繰返し使用し続け
ると、繰返し使用による疲労の蓄積が起こって、残像が
生ずる所謂ゴースト現象を発する様になる等の不都合な
点が少なくなかった。
怒度化、高暗抵抗化を同時に計ろうとすると従来におい
てはその使用時において残¥1電位が残る場合が度々観
測され、この種の光受容部材は長時間繰返し使用し続け
ると、繰返し使用による疲労の蓄積が起こって、残像が
生ずる所謂ゴースト現象を発する様になる等の不都合な
点が少なくなかった。
又、a−3t材料で光受容層を構成する場合には、その
電気的、光導電的特性の改良を計るために、水素原子或
いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気伝
導型の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその他
の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として光
m電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含をの仕
方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や電気的耐圧性に問題が生ずる場合があった。
電気的、光導電的特性の改良を計るために、水素原子或
いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気伝
導型の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその他
の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として光
m電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含をの仕
方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や電気的耐圧性に問題が生ずる場合があった。
即ち、例えば、形成した光受容層中に光照射によって発
生したフォトキャリアの該層中での寿命が充分でないこ
とや、暗部における支持体側よりの電荷の注入の阻止が
充分でないこと、或いは、転写紙に転写された画像に俗
に「白ヌケ」と呼ばれる、局所的な放電破壊現象による
と思われる画像欠陥や、クリーニングにブレードを用い
るとその摺擦によると思われる、俗に「白スジ」と云わ
れている画像欠陥が生したりしていた。又、多湿雰囲気
中で使用したり、或いは多湿雰囲気中に長時間放置した
直後に使用すると俗に云う画像のボケが生ずる場合が少
なくなかった。
生したフォトキャリアの該層中での寿命が充分でないこ
とや、暗部における支持体側よりの電荷の注入の阻止が
充分でないこと、或いは、転写紙に転写された画像に俗
に「白ヌケ」と呼ばれる、局所的な放電破壊現象による
と思われる画像欠陥や、クリーニングにブレードを用い
るとその摺擦によると思われる、俗に「白スジ」と云わ
れている画像欠陥が生したりしていた。又、多湿雰囲気
中で使用したり、或いは多湿雰囲気中に長時間放置した
直後に使用すると俗に云う画像のボケが生ずる場合が少
なくなかった。
更には、層厚が十数μ以上になると層形成用の真空堆積
室より取り出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちになる。この現象は、殊に
支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されているド
ラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点に
於いて解決されるべき点がある。
室より取り出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちになる。この現象は、殊に
支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されているド
ラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点に
於いて解決されるべき点がある。
また更に、a−3iで構成された光受容層を有する光受
容部材は、全波長にわたり高い怒度を有しており、特に
長波長域における光感度が、セレン系感光体等に比べて
優れているという特徴を存している。しかし、近年、半
導体レーザ(770〜800μm)を光源とする電子写
真法を用いたレーザプリンタが実用化されており、この
種のプリンタにおける高速化を図るためには、a−3i
で構成された光受容層を有する光受容部材の長波長域に
おける増悪が必要となってきている。
容部材は、全波長にわたり高い怒度を有しており、特に
長波長域における光感度が、セレン系感光体等に比べて
優れているという特徴を存している。しかし、近年、半
導体レーザ(770〜800μm)を光源とする電子写
真法を用いたレーザプリンタが実用化されており、この
種のプリンタにおける高速化を図るためには、a−3i
で構成された光受容層を有する光受容部材の長波長域に
おける増悪が必要となってきている。
従ってa Si材料そのものの特性改良が計られる一
方で光受容部材を設計する際に、上記した様な問題の総
てが解決される様に工夫される必要がある。
方で光受容部材を設計する際に、上記した様な問題の総
てが解決される様に工夫される必要がある。
本発明は、上述のごときa−5iで構成された光受容層
を有する光受容部材における諸問題を解決することを目
的とするものである。
を有する光受容部材における諸問題を解決することを目
的とするものである。
すなわち、本発明の主たる目的は、電気的、光学的、光
導電的特性が使用環境に殆んど依存することなく実質的
に常時安定しており、耐光疲労に優れ、繰返し使用に際
しても劣化現象を起こさず耐久性、耐湿性に優れ、残留
電位が全く又は殆んど観測されない、a−3iで構成さ
れた光受容層を存する光受容部材を提供することにある
。
導電的特性が使用環境に殆んど依存することなく実質的
に常時安定しており、耐光疲労に優れ、繰返し使用に際
しても劣化現象を起こさず耐久性、耐湿性に優れ、残留
電位が全く又は殆んど観測されない、a−3iで構成さ
れた光受容層を存する光受容部材を提供することにある
。
本発明の別の目的は、全可視光域において光怒度が高く
、とくに半導体レーザとのマツチング性に優れ、且つ光
応答の速い、a−5iで構成された光受容層を有する光
受容部材を提供することにある。
、とくに半導体レーザとのマツチング性に優れ、且つ光
応答の速い、a−5iで構成された光受容層を有する光
受容部材を提供することにある。
本発明の更に別の目的は、電子写真用像形成部材として
適用させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の電
荷保持能力が充分あり、通常の電子写真法が極めて有効
に適用され得る優れた電子写真特性を有する、a−3i
で構成された光受容層を有する光受容部材を提供するこ
とにある。
適用させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の電
荷保持能力が充分あり、通常の電子写真法が極めて有効
に適用され得る優れた電子写真特性を有する、a−3i
で構成された光受容層を有する光受容部材を提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、長期の使用に於いて画像欠陥や画
像のボケが全くなく、濃度が高く、ハーフトーンが鮮明
に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得ることが容易
にできる電子写真用のa−3iで構成された光受容層を
有する光受容部材を提供することにある。
像のボケが全くなく、濃度が高く、ハーフトーンが鮮明
に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得ることが容易
にできる電子写真用のa−3iで構成された光受容層を
有する光受容部材を提供することにある。
本発明の更に他の目的は、高光感度性、高SN比特性及
び高電気的耐圧性を有する、a−3iで構成された光受
容層を有する光受容部材を提供することにある。
び高電気的耐圧性を有する、a−3iで構成された光受
容層を有する光受容部材を提供することにある。
本発明は上記の目的を達成するものであって、電子写真
用像形成部材や固体撮像装置、読取装置等に使用される
光受容部材としてのa−3iの製品成立性、通用性、応
用性等の事項を含めて総括的に鋭意研究を続けた結果、
シリコン原子を母体としゲルマニウム原子を含有する非
晶質材料、特にシリコン原子を母体とし、ゲルマニウム
原子(Ce )および水素原子(I])又はハロゲン原
子(X)の少なくともいずれか一方を含有するアモルフ
ァス材料、いわゆる水素化アモルファスシリコンゲルマ
ニウム、ハロゲン化アモルファスシリコンゲルマニウム
、あるいはハロゲン含有水素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム〔以下、「a−3iGe(H,X)Jと表記
する。〕で構成される光受容層を有する光受容部材の層
構成を以下に記載する様な特定の二層構成の下に設計さ
れて作成された光受容部材が、実用上著しく優れた特性
を示すばかりでなく、従来の光受容部材と比較してみて
もあらゆる点において凌駕しており、特に電子写真用の
光受容部材として著しく優れた特性を有しているという
事実を見い出したことに基づいて完成せしめたものであ
る。
用像形成部材や固体撮像装置、読取装置等に使用される
光受容部材としてのa−3iの製品成立性、通用性、応
用性等の事項を含めて総括的に鋭意研究を続けた結果、
シリコン原子を母体としゲルマニウム原子を含有する非
晶質材料、特にシリコン原子を母体とし、ゲルマニウム
原子(Ce )および水素原子(I])又はハロゲン原
子(X)の少なくともいずれか一方を含有するアモルフ
ァス材料、いわゆる水素化アモルファスシリコンゲルマ
ニウム、ハロゲン化アモルファスシリコンゲルマニウム
、あるいはハロゲン含有水素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム〔以下、「a−3iGe(H,X)Jと表記
する。〕で構成される光受容層を有する光受容部材の層
構成を以下に記載する様な特定の二層構成の下に設計さ
れて作成された光受容部材が、実用上著しく優れた特性
を示すばかりでなく、従来の光受容部材と比較してみて
もあらゆる点において凌駕しており、特に電子写真用の
光受容部材として著しく優れた特性を有しているという
事実を見い出したことに基づいて完成せしめたものであ
る。
即ち、本発明の光受容部材は支持体と、該支持体上に、
シリコン原子を母体とする非晶質材料で構成され光導電
性を有する第一の層と、シリコン原子を母体とし炭素原
子および伝4性を制御する物質を含有する非晶質材料で
構成される第二の層とを積層してなる光受容層とからな
り、前記光受容層が、ゲルマニウム原子を前記第一の層
の前記支持体と接する一部の層領域に不均一な分布状態
で含有していることを特徴とするものである。
シリコン原子を母体とする非晶質材料で構成され光導電
性を有する第一の層と、シリコン原子を母体とし炭素原
子および伝4性を制御する物質を含有する非晶質材料で
構成される第二の層とを積層してなる光受容層とからな
り、前記光受容層が、ゲルマニウム原子を前記第一の層
の前記支持体と接する一部の層領域に不均一な分布状態
で含有していることを特徴とするものである。
更に、本発明の光受容部材においては、前記第一の層に
、伝導性を制御する物質、酸素原子、及び窒素原子から
選ばれる少なくとも一種を、該層の全層領域中又は一部
の層jJ成域中含有せしめることができる。
、伝導性を制御する物質、酸素原子、及び窒素原子から
選ばれる少なくとも一種を、該層の全層領域中又は一部
の層jJ成域中含有せしめることができる。
そして、前記第一の層を構成するシリコン原子を母体と
する非晶質材料としては、特にシリコン原子を母体とし
、水素原子(+1)又はハロゲン原子(X)のいずれか
一方を少なくとも含有するアモルファス材料、いわゆる
水素化アモルファスシリコン、ハロゲン化アモルファス
シリコン、或い 〜はハロケン含有水素化アモルフ
ァスシリコン〔以下、ra−3i(H,X)Jと表記す
る。〕を用い、前記第二の層を構成するシリコン原子を
母体とし炭素原子を含有する非晶質材料としては、特に
シリコン原子を母体とし、炭素原子(C)と、水素原子
(H)又はハロゲン原子の少なくともいずれか一方とを
含有するアモルファス材料〔以下[a−3iCN1.
X)と表記する。〕を用いる。
する非晶質材料としては、特にシリコン原子を母体とし
、水素原子(+1)又はハロゲン原子(X)のいずれか
一方を少なくとも含有するアモルファス材料、いわゆる
水素化アモルファスシリコン、ハロゲン化アモルファス
シリコン、或い 〜はハロケン含有水素化アモルフ
ァスシリコン〔以下、ra−3i(H,X)Jと表記す
る。〕を用い、前記第二の層を構成するシリコン原子を
母体とし炭素原子を含有する非晶質材料としては、特に
シリコン原子を母体とし、炭素原子(C)と、水素原子
(H)又はハロゲン原子の少なくともいずれか一方とを
含有するアモルファス材料〔以下[a−3iCN1.
X)と表記する。〕を用いる。
前記の伝導性を制御する物質としては、半導体分野に於
いていう、いわゆる不純物を挙げることができ、P型伝
導性を与える周期律表第■族に属する原子(以下第■族
原子と称す。)、又は、n型伝導性を与える周期律表第
■族に届する原子(以下第■族原子と称す。)を用いる
。具体的には、第m族原子としては、B(硼素)、A7
!(アルミニウム) 、Ga (ガリウム)、In(イ
ンジウム)、T1 (タリウム)等が挙げられるが、特
に好ましくは、B、Gaを用いる。また、第■族原子と
してはP(燐) 、As (砒素)、Sb(アンチモン
)、Bi (ビスマン)等が挙げられるが、特に好ま
しくは、P、Asを用いる。
いていう、いわゆる不純物を挙げることができ、P型伝
導性を与える周期律表第■族に属する原子(以下第■族
原子と称す。)、又は、n型伝導性を与える周期律表第
■族に届する原子(以下第■族原子と称す。)を用いる
。具体的には、第m族原子としては、B(硼素)、A7
!(アルミニウム) 、Ga (ガリウム)、In(イ
ンジウム)、T1 (タリウム)等が挙げられるが、特
に好ましくは、B、Gaを用いる。また、第■族原子と
してはP(燐) 、As (砒素)、Sb(アンチモン
)、Bi (ビスマン)等が挙げられるが、特に好ま
しくは、P、Asを用いる。
前記第一の層、および第二の層に必要に応じて含有せし
めるハロゲン原子(X)としては、具体的にはフッ素、
塩素、臭素、ヨウ素が挙げられるが、特に好ましいもの
はフッ素および塩素である。
めるハロゲン原子(X)としては、具体的にはフッ素、
塩素、臭素、ヨウ素が挙げられるが、特に好ましいもの
はフッ素および塩素である。
また、本発明の第一の層および第二の層に含有せしめる
水素原子(■()の量又はハロゲン原子(X)の量、又
は水素原子(H)とハロゲン原子(X)の量の和は、一
般的には0.01〜40 atomic%とするが、好
ましくは0.05〜30 atomic%、最適には0
.1〜25 atomic%とする。
水素原子(■()の量又はハロゲン原子(X)の量、又
は水素原子(H)とハロゲン原子(X)の量の和は、一
般的には0.01〜40 atomic%とするが、好
ましくは0.05〜30 atomic%、最適には0
.1〜25 atomic%とする。
以下、図面により本発明の光受容部材の具体的層構成に
ついて詳しく説明する。
ついて詳しく説明する。
第1〜4図は本発明の光受容部材の層構成を説明するた
めに模式的に示した図であり、各図において100は光
受容部材、101は支持体、102は第一の層、103
は第二の層、104は自由表面、105〜110は層領
域を表わす。
めに模式的に示した図であり、各図において100は光
受容部材、101は支持体、102は第一の層、103
は第二の層、104は自由表面、105〜110は層領
域を表わす。
叉惺述
本発明に用いる支持体101は、導電性でも電気絶縁性
であってもよく、導電性支持体としては、例えば、Ni
Cr 、ステンレス、 Alt、 Cr、 Mo。
であってもよく、導電性支持体としては、例えば、Ni
Cr 、ステンレス、 Alt、 Cr、 Mo。
Au、Nb、Ta、V、Ti 、pt、pb等の金属又
はこれ等の合金が挙げられ、電気絶縁性支持体としては
、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セ
ルロースアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル
、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の
合成樹脂のフィルム又はシート、ガラス、セラミックス
、紙等を使用する。これ等の電気絶縁性支持体は、好適
には少なくともその一方の表面を導電処理し、該導電処
理された表面側に光受容層を設けるのが望ましい。
はこれ等の合金が挙げられ、電気絶縁性支持体としては
、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セ
ルロースアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル
、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の
合成樹脂のフィルム又はシート、ガラス、セラミックス
、紙等を使用する。これ等の電気絶縁性支持体は、好適
には少なくともその一方の表面を導電処理し、該導電処
理された表面側に光受容層を設けるのが望ましい。
例えば、ガラスであれば、その表面に、NiCr 。
Af、Cr、Mo、Au、Ir、Nb、Ta、V。
Ti 、 PL 、 Pd 、 In2O
2、Snow 、 I T。
2、Snow 、 I T。
Nnz○、+5nOt)等から成る薄膜を設けることに
よって導電性を付与し、或いはポリエステルフィルム等
の合成樹脂フィルムであれば、NiCr。
よって導電性を付与し、或いはポリエステルフィルム等
の合成樹脂フィルムであれば、NiCr。
AI、Ag、Pb、Zn、Ni、Au、Cr、Mo。
Ir、Nb、Ta、V、Ti 、PL等の金属の薄膜を
真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表
面に設け、又は前記金属でその表面をラミネート処理し
て、その表面に導電性を付与する。支持体の形状として
は、円筒状、ベルト状、板状等任意の形状が使用可能で
あり、所望によって、その形状を決定するが、例えば、
電子写真用像形成部材として使用するのであれば連続高
速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状とするのが
望ましい。支持体の厚さは、所望通りの光受容部材を形
成しうる様に適宜決定するが、光受容部材として可撓性
が要求される場合には、支持体としての機能を充分発揮
しうる範囲内で可能な限り薄くすることができ、しかし
ながら、この様な場合、支持体の製造上及び取扱い上、
機械的強度等の点から、通常は、10μ以上とする。
真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表
面に設け、又は前記金属でその表面をラミネート処理し
て、その表面に導電性を付与する。支持体の形状として
は、円筒状、ベルト状、板状等任意の形状が使用可能で
あり、所望によって、その形状を決定するが、例えば、
電子写真用像形成部材として使用するのであれば連続高
速複写の場合には、無端ベルト状又は円筒状とするのが
望ましい。支持体の厚さは、所望通りの光受容部材を形
成しうる様に適宜決定するが、光受容部材として可撓性
が要求される場合には、支持体としての機能を充分発揮
しうる範囲内で可能な限り薄くすることができ、しかし
ながら、この様な場合、支持体の製造上及び取扱い上、
機械的強度等の点から、通常は、10μ以上とする。
第一の層
本発明の第一の層102は、前記支持体101上に設け
るものであって、第1図において示すごとく、該層は前
記支持体101と接した一部の層領域105と、該層領
域105上の他の層領域106とから成っている。そし
て該層領域105はゲルマニウム原子を不均一な分布状
態で含有するa −3i(H,X) 、即ちa−3id
e (H,X)で構成されており、層領域106はゲル
マニウム原子を含有しないa−5i(H,X)で構成さ
れている。
るものであって、第1図において示すごとく、該層は前
記支持体101と接した一部の層領域105と、該層領
域105上の他の層領域106とから成っている。そし
て該層領域105はゲルマニウム原子を不均一な分布状
態で含有するa −3i(H,X) 、即ちa−3id
e (H,X)で構成されており、層領域106はゲル
マニウム原子を含有しないa−5i(H,X)で構成さ
れている。
ここで不均一な分布状態とは、ゲルマニウム原子の分布
濃度が層領域105の支持体表面と平行な面方向には均
一であるが、層領域105の層厚方向には不均一である
ことをいうものである。
濃度が層領域105の支持体表面と平行な面方向には均
一であるが、層領域105の層厚方向には不均一である
ことをいうものである。
本発明の光受容部材において第一の層の支持体と接する
一部の層領域105にゲルマニウム原子を含有せしめる
目的は、長波長域における吸収スペクトル特性を向上せ
しめることにある。即ち、第一の層の支持体と接する一
部の層領域にゲルマニウム原子を含有せしめることによ
り、光感度が全可視光域に亘って高く、光応答性の速い
ものとなる。そして、このことは、半ぶ体レーザを光源
とした場合に特に顕著である。さらに、本発明の光受容
部材では支持体と接する一部の層領域105にゲルマニ
ウム原子を含有せしめることにより、半専体レーザ等の
長波長の光源を用いた場合、ゲルマニウム原子を含有し
ない層領域106では殆んど吸収し切れない該長波長域
の光を、ゲルマニウム原子を含有する層領域105にお
いて実質的に完全に吸収することができ、支持体表面か
らの反射光による干渉を防止することができる。
一部の層領域105にゲルマニウム原子を含有せしめる
目的は、長波長域における吸収スペクトル特性を向上せ
しめることにある。即ち、第一の層の支持体と接する一
部の層領域にゲルマニウム原子を含有せしめることによ
り、光感度が全可視光域に亘って高く、光応答性の速い
ものとなる。そして、このことは、半ぶ体レーザを光源
とした場合に特に顕著である。さらに、本発明の光受容
部材では支持体と接する一部の層領域105にゲルマニ
ウム原子を含有せしめることにより、半専体レーザ等の
長波長の光源を用いた場合、ゲルマニウム原子を含有し
ない層領域106では殆んど吸収し切れない該長波長域
の光を、ゲルマニウム原子を含有する層領域105にお
いて実質的に完全に吸収することができ、支持体表面か
らの反射光による干渉を防止することができる。
前記層領域105内においてはゲルマニウム原子は目的
とする特性をもたらしめるについて、種々の分布状態を
とりうる。例えば該層領域105におけるゲルマニウム
原子の分布状態を、ゲルマニウム原子の層厚方向の分布
濃度が支持体側より層領域106に向かって減少するよ
うにした場合には、層領域105と層領域106との親
和性が優れたものが得られ、さらに、層領域105の支
持体と接する側においてゲルマニウム原子の分布l;度
を充分に大きくすることにより、前述した支持体表面か
らの反射光による干渉がより効率的に防止されるように
なる。
とする特性をもたらしめるについて、種々の分布状態を
とりうる。例えば該層領域105におけるゲルマニウム
原子の分布状態を、ゲルマニウム原子の層厚方向の分布
濃度が支持体側より層領域106に向かって減少するよ
うにした場合には、層領域105と層領域106との親
和性が優れたものが得られ、さらに、層領域105の支
持体と接する側においてゲルマニウム原子の分布l;度
を充分に大きくすることにより、前述した支持体表面か
らの反射光による干渉がより効率的に防止されるように
なる。
以下、ゲルマニウム原子の層厚方向の分布濃度が支持体
側から層領域106との界面に向かって減少するように
ゲルマニウム原子を分布させる場合の典型的例を、第2
図ないし第10図によって説明する。各図において、横
軸はゲルマニウム原子の分布濃度Cを、縦軸は層領域1
05の層厚を示し、t、は支持体101と層領域105
との界面位置を、L7はN領域105と層領域106と
の界面位置を示す。
側から層領域106との界面に向かって減少するように
ゲルマニウム原子を分布させる場合の典型的例を、第2
図ないし第10図によって説明する。各図において、横
軸はゲルマニウム原子の分布濃度Cを、縦軸は層領域1
05の層厚を示し、t、は支持体101と層領域105
との界面位置を、L7はN領域105と層領域106と
の界面位置を示す。
第5図は、N ’nM域105に含有せしめるゲルマニ
ウム原子の層厚方向の分布状態の第1の典型例を示して
いる。該別では、界面位置L8より位置t1まではゲル
マニウム原子の分布濃度CがC1なる一定値をとり、位
置も、より界面位置LTまではゲルマニウム原子の分布
濃度Cが濃度C2から連続的に減少し、界面位置t、に
おいてはゲルマニウム原子の分布濃度Cが03となる。
ウム原子の層厚方向の分布状態の第1の典型例を示して
いる。該別では、界面位置L8より位置t1まではゲル
マニウム原子の分布濃度CがC1なる一定値をとり、位
置も、より界面位置LTまではゲルマニウム原子の分布
濃度Cが濃度C2から連続的に減少し、界面位置t、に
おいてはゲルマニウム原子の分布濃度Cが03となる。
第6図は、他の典型例の1つを示している。該別では、
ゲルマニウム原子の分布濃度Cは、界面位置t、から界
面位置1丁にいたるまで、濃度C4から連続的に減少し
、界面位置し7において濃度C1となる。
ゲルマニウム原子の分布濃度Cは、界面位置t、から界
面位置1丁にいたるまで、濃度C4から連続的に減少し
、界面位置し7において濃度C1となる。
第7図に示す例では、位置t、から位置t2まではゲル
マニウム原子の分布濃度Cが濃度C6なる一定値を保ち
、位置t2から位置t、にいたるまでは、ゲルマニウム
原子の分布濃度Cは4度C1から徐々に連続的に減少し
て位置tアにおいてはゲルマニウム原子の分布濃度Cは
実質的にゼロとなる。但し、ここで実質的にゼロとは、
検出限界量未満の場合をいう。
マニウム原子の分布濃度Cが濃度C6なる一定値を保ち
、位置t2から位置t、にいたるまでは、ゲルマニウム
原子の分布濃度Cは4度C1から徐々に連続的に減少し
て位置tアにおいてはゲルマニウム原子の分布濃度Cは
実質的にゼロとなる。但し、ここで実質的にゼロとは、
検出限界量未満の場合をいう。
第8図に示す例では、ゲルマニウム原子の分布41iC
は位置【、より位置t、にいたるまで、濃度C11から
連続的に徐々に減少し、位置り、においてはゲルマニウ
ム原子の分布濃度Cは実質的にゼロとなる。
は位置【、より位置t、にいたるまで、濃度C11から
連続的に徐々に減少し、位置り、においてはゲルマニウ
ム原子の分布濃度Cは実質的にゼロとなる。
第9図に示す例では、ゲルマニウム原子の分布濃度Cは
、位置t、より位置t、の間においては濃度C9の一定
値にあり、位置り、から位置t。
、位置t、より位置t、の間においては濃度C9の一定
値にあり、位置り、から位置t。
の間においては、濃度C,からl;度C7゜となるまで
、−次間数的に減少する。
、−次間数的に減少する。
第10図に示す例では、ゲルマニウム原子の分布濃度C
は、位置(、より位置し4にいたるまでは濃度C11の
一定値にあり、位置t4より位1 t yまでは濃度C
1□から濃度C11となるまで一次関数的に減少する。
は、位置(、より位置し4にいたるまでは濃度C11の
一定値にあり、位置t4より位1 t yまでは濃度C
1□から濃度C11となるまで一次関数的に減少する。
第11図に示す例においては、ゲルマニウム原子の分布
l;度Cは、位Ht、から位置り、にいたるまで、濃度
CI4から実質的にゼロとなるまで一次関数的に減少す
る。
l;度Cは、位Ht、から位置り、にいたるまで、濃度
CI4から実質的にゼロとなるまで一次関数的に減少す
る。
第12図に示す例では、ゲルマニウム原子の分布濃度C
は、位置t、から位置り、にいたるまでに度C1,から
濃度C0となるまで一次関数的に戚少し、位置t、から
位置t、までは濃度C16の一定値を保つ。
は、位置t、から位置り、にいたるまでに度C1,から
濃度C0となるまで一次関数的に戚少し、位置t、から
位置t、までは濃度C16の一定値を保つ。
R後に、第13図に示す例では、ゲルマニウム原子の分
布濃度Cは、位置む、において濃度CI’1であり、位
置【、から位置t6までは濃度Clffからはしめはゆ
っくり減少して、位置t、付近では嘗激に減少し、位置
t6では濃度CIl+となる。次に、位置【、から位置
(、までははしめのうちは急激に減少し、その後は緩や
かに徐々に減少し、位置t7においては濃度CI9とな
る。更に位置t。
布濃度Cは、位置む、において濃度CI’1であり、位
置【、から位置t6までは濃度Clffからはしめはゆ
っくり減少して、位置t、付近では嘗激に減少し、位置
t6では濃度CIl+となる。次に、位置【、から位置
(、までははしめのうちは急激に減少し、その後は緩や
かに徐々に減少し、位置t7においては濃度CI9とな
る。更に位置t。
と位置t、の間では穫めてゆっくりと徐りに截少し、位
置t8において濃度C2゜となる。また更に、位置t、
から位置1Tにいたるまでは、濃度C2゜から実質的に
ゼロとなるまで徐々に減少する。
置t8において濃度C2゜となる。また更に、位置t、
から位置1Tにいたるまでは、濃度C2゜から実質的に
ゼロとなるまで徐々に減少する。
本発明の第一の層の支持体と接する一部の層領域105
にゲルマニウム原子を含有せしめるについては、上述し
た例に限定されるものではないが、上述の第5図ないし
第13図に示す典型例の幾つかのように、支持体と接す
る側においてゲルマニウム原子の分布濃度の高い領域を
有し、ゲルマニウム原子を含有しない層領域106との
界面においてはゲルマニウム原子の分布濃度が支持体側
と比較して充分に低い領域を有するのが好ましく、特に
、支持体側の方にゲルマニウム原子を比較的高濃度で含
有する局在領域を有しているのが好ましい。こうした局
在領域は支持体と層領域105との界面位置から5μ以
内に設けるのが特に好ましいものである。また、こうし
た局在領域がない場合、ゲルマニウム原子の分布濃度の
最大値を示す位置が、支持体との界面位置より5μ以内
にあるようにするのが好ましい。
にゲルマニウム原子を含有せしめるについては、上述し
た例に限定されるものではないが、上述の第5図ないし
第13図に示す典型例の幾つかのように、支持体と接す
る側においてゲルマニウム原子の分布濃度の高い領域を
有し、ゲルマニウム原子を含有しない層領域106との
界面においてはゲルマニウム原子の分布濃度が支持体側
と比較して充分に低い領域を有するのが好ましく、特に
、支持体側の方にゲルマニウム原子を比較的高濃度で含
有する局在領域を有しているのが好ましい。こうした局
在領域は支持体と層領域105との界面位置から5μ以
内に設けるのが特に好ましいものである。また、こうし
た局在領域がない場合、ゲルマニウム原子の分布濃度の
最大値を示す位置が、支持体との界面位置より5μ以内
にあるようにするのが好ましい。
本発明において、第一の層の支持体と接する層領域に含
有せしめるゲルマニウム原子の含有量は、本発明の目的
を効果的に達成しうる様に所望に従って適宜決める必要
があり、通常は1〜9.5X10’atomic pp
mとするが、好ましくは100〜8×10S105at
o ppm、より好ましくは500〜7X10’ato
mic pp+*とする。
有せしめるゲルマニウム原子の含有量は、本発明の目的
を効果的に達成しうる様に所望に従って適宜決める必要
があり、通常は1〜9.5X10’atomic pp
mとするが、好ましくは100〜8×10S105at
o ppm、より好ましくは500〜7X10’ato
mic pp+*とする。
また、本発明において、ゲルマニウム原子を含有する層
領域と、ゲルマニウム原子を含有しないNII域との層
厚は、本発明の目的を効率的に達成するには重要な要因
の1つであって、光受容部材に所望の特性が与えられる
ように、光受容部材の設計の際には充分な注意を払う必
要があり、ゲルマニウム原子を含有する層領域105の
層厚T。
領域と、ゲルマニウム原子を含有しないNII域との層
厚は、本発明の目的を効率的に達成するには重要な要因
の1つであって、光受容部材に所望の特性が与えられる
ように、光受容部材の設計の際には充分な注意を払う必
要があり、ゲルマニウム原子を含有する層領域105の
層厚T。
は、通常は3X10−’〜50μとするが、好ましくは
4X10−’〜40μ、特に好ましくは5X10−’〜
30μとする。又、ゲルマニウム原子を含有しない層領
域106の層厚(T)は、通常は0.5〜90μとする
が、好ましくは1〜80μ、より好ましくは2〜50μ
とする。さらに両層領域の層厚の和(TI’+T)は、
両層領域に要求される特性と、第一の層102全体に要
求される特性との相互的かつ有機的関連性に基づいて決
定する必要があり、通常は1〜lOOμであるが、好ま
しくは1〜80μ、より好ましくは2〜50μとする。
4X10−’〜40μ、特に好ましくは5X10−’〜
30μとする。又、ゲルマニウム原子を含有しない層領
域106の層厚(T)は、通常は0.5〜90μとする
が、好ましくは1〜80μ、より好ましくは2〜50μ
とする。さらに両層領域の層厚の和(TI’+T)は、
両層領域に要求される特性と、第一の層102全体に要
求される特性との相互的かつ有機的関連性に基づいて決
定する必要があり、通常は1〜lOOμであるが、好ま
しくは1〜80μ、より好ましくは2〜50μとする。
さらに、上記の層厚Tmと層厚Tの関係はT8/T≦1
なる関係式を満足するようにするのが好ましく、より好
ましくはT、/T≦0.9、最適にはTa/T≦0.8
なる関係式を満足するように、層厚TIlおよび層厚T
を決定する。
なる関係式を満足するようにするのが好ましく、より好
ましくはT、/T≦0.9、最適にはTa/T≦0.8
なる関係式を満足するように、層厚TIlおよび層厚T
を決定する。
さらにまた、ゲルマニウム原子を含有する層領域の層厚
T、は、該層領域におけるゲルマニウム原子の含有〒を
も考慮して決定する必要があり、例えばゲルマニウム原
子の含fffiがlXl0’aton+icρρm以上
の場合には、層厚T8はかなり薄くされることが好まし
く、通常は30μ以下とするが、より好ましくは25μ
以下、最適には20μ以下とする。
T、は、該層領域におけるゲルマニウム原子の含有〒を
も考慮して決定する必要があり、例えばゲルマニウム原
子の含fffiがlXl0’aton+icρρm以上
の場合には、層厚T8はかなり薄くされることが好まし
く、通常は30μ以下とするが、より好ましくは25μ
以下、最適には20μ以下とする。
本発明の第一の層には、高光感度化と高暗抵抗化、更に
は、支持体と第一の層あるいは第一の層と第二の層の密
着性の改良を目的として、酸素原子及び/又は窒素原子
を含有せしめることもできる。
は、支持体と第一の層あるいは第一の層と第二の層の密
着性の改良を目的として、酸素原子及び/又は窒素原子
を含有せしめることもできる。
第一の層に含有せしめる酸素原子及び/又は窒素原子は
、第一の層の全層領域に含有せしめてもよいし、あるい
は、第一の層の一部の層領域のみに含有せしめてもよい
。また、第一の層における酸素原子及び/又は窒素原子
の分布状態は、該原子の分布ンー度が第一の層の層厚方
向において、均一であっても、あるいは、先に第5図な
いし第13図を用いて説明したゲルマニウム原子の場合
と同様に不均一であってもよい。そして、いうまでもな
いが酸素原子及び/又は窒素原子の分布c二度は、いず
れの場合も支持体と平行な面方向においては常に均一で
あることが必要である。酸素原子及び/又は窒素原子を
全層領域に含有せしめるか、あるいは一部のN領域に含
有せしめるか、さらには均一な分布状態で含有せしめる
か、あるいは不均一な分布状態で含有せしめるかについ
ては、所望の目的、作用効果を効率的に達成するため適
宜選択する必要がある。
、第一の層の全層領域に含有せしめてもよいし、あるい
は、第一の層の一部の層領域のみに含有せしめてもよい
。また、第一の層における酸素原子及び/又は窒素原子
の分布状態は、該原子の分布ンー度が第一の層の層厚方
向において、均一であっても、あるいは、先に第5図な
いし第13図を用いて説明したゲルマニウム原子の場合
と同様に不均一であってもよい。そして、いうまでもな
いが酸素原子及び/又は窒素原子の分布c二度は、いず
れの場合も支持体と平行な面方向においては常に均一で
あることが必要である。酸素原子及び/又は窒素原子を
全層領域に含有せしめるか、あるいは一部のN領域に含
有せしめるか、さらには均一な分布状態で含有せしめる
か、あるいは不均一な分布状態で含有せしめるかについ
ては、所望の目的、作用効果を効率的に達成するため適
宜選択する必要がある。
即ち、第一の層の光感度と暗抵抗の向上を主たる目的と
する場合には、第1図に示すごとく、全JWeI域中に
含有せしめる。そしてこの場合の酸素原子及び/又は窒
素原子の含有量は、高光感度を維持するために、比較的
少量とする。
する場合には、第1図に示すごとく、全JWeI域中に
含有せしめる。そしてこの場合の酸素原子及び/又は窒
素原子の含有量は、高光感度を維持するために、比較的
少量とする。
また、第一の層と支持体の間の密着性の良化を図ること
を主たる目的とする場合には、第2図に示すごとく、第
一の層の支持体と接する一部の層領域105に酸素原子
及び/又は窒素原子を均一に含有せしめるか又は第一の
層の支持体側で酸素原子及び/又は窒素原子の分布濃度
が裔くなる様な不均一な分布状態で含有せしめる。そし
て第一の層と第二の層との間の密着性の良化を図ること
を主たる目的とする場合には、第3図に示すごとく、第
一の層の第二の層と接する一部の層領域107に酸素原
子及び/又は窒素原子を均一に含有せしめるか、あるい
は第一の層の第二の層側で酸素原子の分布濃度が高くな
る様な不均一な分布状態で含有せしめる。さらに同目的
を達成するために、後で述べるところの第二の層に酸素
原子及び/又は窒素原子を均一な分布状態で含有せしめ
ることも可能である。そして、密着性の良化を図ること
を目的とする場合には、いずれの場合も、密着性の強化
を確実とするためには酸素原子及び/又は窒素原子の含
f量を比較的多量にするのが好ましい。さらに不均一な
状態で第一の層に酸素原子及び/又は窒素原子を含有せ
しめるにあたっては、第5図〜13図に示した典型例を
基にして、これらを適宜変型して用いることができる。
を主たる目的とする場合には、第2図に示すごとく、第
一の層の支持体と接する一部の層領域105に酸素原子
及び/又は窒素原子を均一に含有せしめるか又は第一の
層の支持体側で酸素原子及び/又は窒素原子の分布濃度
が裔くなる様な不均一な分布状態で含有せしめる。そし
て第一の層と第二の層との間の密着性の良化を図ること
を主たる目的とする場合には、第3図に示すごとく、第
一の層の第二の層と接する一部の層領域107に酸素原
子及び/又は窒素原子を均一に含有せしめるか、あるい
は第一の層の第二の層側で酸素原子の分布濃度が高くな
る様な不均一な分布状態で含有せしめる。さらに同目的
を達成するために、後で述べるところの第二の層に酸素
原子及び/又は窒素原子を均一な分布状態で含有せしめ
ることも可能である。そして、密着性の良化を図ること
を目的とする場合には、いずれの場合も、密着性の強化
を確実とするためには酸素原子及び/又は窒素原子の含
f量を比較的多量にするのが好ましい。さらに不均一な
状態で第一の層に酸素原子及び/又は窒素原子を含有せ
しめるにあたっては、第5図〜13図に示した典型例を
基にして、これらを適宜変型して用いることができる。
すなわち、目的によっては、酸素原子及び/又は窒素原
子の層厚方向の分布濃度を、第二の層側から支持体側に
向かって減少するように分布せしめることもできる。
子の層厚方向の分布濃度を、第二の層側から支持体側に
向かって減少するように分布せしめることもできる。
さらに、本発明においては第一の層に含有せしめる酸素
原子及び/又は窒素原子は、上記のごとく支持体側の方
に比較的高濃度で含有せしめることにより、支持体と第
一の層の密着性を向上させることができるが、この場合
、酸素原子及び/又は窒素原子を高4度で含有せしめた
局在領域を存するようにすると、より一層密着性の向上
を図ることができる。この様な局在領域は第5図ないし
第13図に示す記号を用いて記載すれば、界面位置t、
より5μ以内に設けることが望ましい。そして、このよ
うな局在領域は、酸素原子及び/又は窒素原子を含有す
る一部の層領域105の全部としてもよく、又、一部の
層領域105の一部としてもよい。
原子及び/又は窒素原子は、上記のごとく支持体側の方
に比較的高濃度で含有せしめることにより、支持体と第
一の層の密着性を向上させることができるが、この場合
、酸素原子及び/又は窒素原子を高4度で含有せしめた
局在領域を存するようにすると、より一層密着性の向上
を図ることができる。この様な局在領域は第5図ないし
第13図に示す記号を用いて記載すれば、界面位置t、
より5μ以内に設けることが望ましい。そして、このよ
うな局在領域は、酸素原子及び/又は窒素原子を含有す
る一部の層領域105の全部としてもよく、又、一部の
層領域105の一部としてもよい。
以上、各々の目的を達成する場合ごとに記載したが、本
発明の光受容部材において、これらの目的の2つ以上を
同時に達成するためには、含有せしめる層領域および酸
素原子及び/又は窒素原子の分布状態を適宜組み合わせ
ればよい。例えば・支持体と第一の層との間の密着性の
良化を図る目的と、光感度と暗抵抗の向上の目的との両
方を達成するためには、第一の層の支持体側において比
較的高ン;度に酸素原子及び/又は窒素原子を分布させ
、第一の層の第二の層との界面側において比較的低71
度に酸素原子及び/又は窒素原子を分布させるか、ある
いは、第二の層との界面側において酸素原子及び/又は
窒素原子を積極的に含有しない様な分布状態を形成すれ
ばよい。
発明の光受容部材において、これらの目的の2つ以上を
同時に達成するためには、含有せしめる層領域および酸
素原子及び/又は窒素原子の分布状態を適宜組み合わせ
ればよい。例えば・支持体と第一の層との間の密着性の
良化を図る目的と、光感度と暗抵抗の向上の目的との両
方を達成するためには、第一の層の支持体側において比
較的高ン;度に酸素原子及び/又は窒素原子を分布させ
、第一の層の第二の層との界面側において比較的低71
度に酸素原子及び/又は窒素原子を分布させるか、ある
いは、第二の層との界面側において酸素原子及び/又は
窒素原子を積極的に含有しない様な分布状態を形成すれ
ばよい。
本発明において、第一の層に含有せしめる酸素原子及び
/又は窒素原子の含有量は、第一の層目体に要求される
特性、あるいは、支持体又は第二の層と接する一部の層
領域に含有せしめる場合においては隣接する層あるいは
支持体の特性との関係等、相互的、且つ有機的関連性を
考I=シて決定されるが、通常はI X 10−3〜5
0 aLomic%とするが、より好ましくは2 X
l O−’〜40 atomic%、最適には3XIO
−’〜30ato…IC%とする。また、 −酸素原
子及び/又は窒素原子を第一の層の全層領域に含有せし
めるか、あるいは、酸素原子及び/又は窒素原子を含有
する一部の層領域の第一の層に占める割合が充分に大き
い場合には、酸素原子及び/又は窒素原子の含有量の上
限は、前記の値より充分小さくすることが好ましい。例
えば酸素原子及び/又は窒素原子を含有する一部の層領
域のIi![が第一の層の層厚の5分の2以上となるよ
うな場合には、該一部の層領域中に含有せしめる酸素原
子及び/又は窒素原子の量の上限は、通常は30ato
…ic%以下とするが、より好ましくは20aLo++
+ic%以下、最適には10atomic%以下とする
。
/又は窒素原子の含有量は、第一の層目体に要求される
特性、あるいは、支持体又は第二の層と接する一部の層
領域に含有せしめる場合においては隣接する層あるいは
支持体の特性との関係等、相互的、且つ有機的関連性を
考I=シて決定されるが、通常はI X 10−3〜5
0 aLomic%とするが、より好ましくは2 X
l O−’〜40 atomic%、最適には3XIO
−’〜30ato…IC%とする。また、 −酸素原
子及び/又は窒素原子を第一の層の全層領域に含有せし
めるか、あるいは、酸素原子及び/又は窒素原子を含有
する一部の層領域の第一の層に占める割合が充分に大き
い場合には、酸素原子及び/又は窒素原子の含有量の上
限は、前記の値より充分小さくすることが好ましい。例
えば酸素原子及び/又は窒素原子を含有する一部の層領
域のIi![が第一の層の層厚の5分の2以上となるよ
うな場合には、該一部の層領域中に含有せしめる酸素原
子及び/又は窒素原子の量の上限は、通常は30ato
…ic%以下とするが、より好ましくは20aLo++
+ic%以下、最適には10atomic%以下とする
。
さらに、酸素原子及び/又は窒素原子を高濃度に含有す
る局在領域を形成する場合、酸素原子及び/又は窒素原
子の層厚方向の分布状態として、酸素原子及び/又は窒
素原子の分布濃度の最大値Cmaxが通常500ato
sic pp−以上、より好ましくは800atomi
c ppm以上、最適には1000atomicppm
以上となるような分布状態を形成するようにすることが
望ましい。
る局在領域を形成する場合、酸素原子及び/又は窒素原
子の層厚方向の分布状態として、酸素原子及び/又は窒
素原子の分布濃度の最大値Cmaxが通常500ato
sic pp−以上、より好ましくは800atomi
c ppm以上、最適には1000atomicppm
以上となるような分布状態を形成するようにすることが
望ましい。
本発明の第一の層には、該層の伝導型及び/又は伝導率
を制御すること、該層の支持体側に電荷注入阻止層を設
けること、第一の層と第二の層の電荷を移送性を高める
こと、あるいは第一の層と第二の層の接合部となって見
掛は上の暗抵抗の増大を図ること等を目的として、伝導
性を制御する物質、即ち、第■族原子又は第■族原子を
含有せしめることもある。
を制御すること、該層の支持体側に電荷注入阻止層を設
けること、第一の層と第二の層の電荷を移送性を高める
こと、あるいは第一の層と第二の層の接合部となって見
掛は上の暗抵抗の増大を図ること等を目的として、伝導
性を制御する物質、即ち、第■族原子又は第■族原子を
含有せしめることもある。
第一の層に含有せしめる第■族原子又は第■族原子は、
第一の層の全層領域に含有せしめてもよいし、あるいは
、第一の層の一部の層領域のみに含有せしめてもよい。
第一の層の全層領域に含有せしめてもよいし、あるいは
、第一の層の一部の層領域のみに含有せしめてもよい。
また、第一の層における第■族原子又は第V族原子の分
布状態は、該原子の分布濃度が第一の層のN厚方向にお
いて、均一であっても、あるいは、先に第5図ないし第
13図を用いて説明したゲルマニウム原子の場合と同様
に不均一であってもよい、そしていうまでもないが、第
■族原子又は第■族原子の分布濃度は、いずれの場合も
支持体と平行な面方向においては常に均一であることが
必要である。第■族原子又は第■族原子を全層領域に含
有せしめるかあるいは一部の層領域に含有せしめるか、
さらには、均一な分布状態で含有せしめるかあるいは不
均一な分布状態で含有せしめるかについては、所望の目
的、作用効果を効率的に達成するため適宜選択する必要
がある。
布状態は、該原子の分布濃度が第一の層のN厚方向にお
いて、均一であっても、あるいは、先に第5図ないし第
13図を用いて説明したゲルマニウム原子の場合と同様
に不均一であってもよい、そしていうまでもないが、第
■族原子又は第■族原子の分布濃度は、いずれの場合も
支持体と平行な面方向においては常に均一であることが
必要である。第■族原子又は第■族原子を全層領域に含
有せしめるかあるいは一部の層領域に含有せしめるか、
さらには、均一な分布状態で含有せしめるかあるいは不
均一な分布状態で含有せしめるかについては、所望の目
的、作用効果を効率的に達成するため適宜選択する必要
がある。
即ち、第一の層の伝導型又は/及び伝導率を制御するこ
とを主たる目的とする場合には、第1図に示すごとく、
全層領域中に含有せしめる。そしてこの場合、第■族原
子又は第V族原子の含fffiは比較的少量でよく、通
常はI X 10−’〜lXl0’atomic pp
mとするが、より好ましくは5XIO−”〜5 X 1
0 ” atomic ppmXFi通にはt x t
o−’〜2 X 10 ” atomic ppmと
する。更にこの場合、第一の層に含有せしめる伝導性を
制御する物質の伝導型は、第二の層に含有せしめるもの
の伝導型と同じであっても、あるいは異なっ・ていても
よい。
とを主たる目的とする場合には、第1図に示すごとく、
全層領域中に含有せしめる。そしてこの場合、第■族原
子又は第V族原子の含fffiは比較的少量でよく、通
常はI X 10−’〜lXl0’atomic pp
mとするが、より好ましくは5XIO−”〜5 X 1
0 ” atomic ppmXFi通にはt x t
o−’〜2 X 10 ” atomic ppmと
する。更にこの場合、第一の層に含有せしめる伝導性を
制御する物質の伝導型は、第二の層に含有せしめるもの
の伝導型と同じであっても、あるいは異なっ・ていても
よい。
また、第■族原子又は第■族原子を含有せしめて電荷注
入阻止層とすることを目的とする場合には、第2図に示
すごとく支持体と接する一部の層領域105に第m族原
子又は第■族原子を均−又は不均一な状態で含有せしめ
る。そして、この場合の含有量は比較的多量であって、
通常は30〜5 X l O’ atomic ppm
とするが、より好ましくは、50〜l X I Q ’
ato+nic ppm、最適にはlXl0”〜5 X
l O’ atomic ppmとする。さらに該目
的をより一層効率的に達成するためには、該一部の層領
域の層厚について、層領域105の層厚をtとし、第一
の層の層領域105以外の層領域の層厚をtoとした場
合、1/1+1゜≦0,4の関係式が成立することが望
ましく、より好ましくはt/1+10≦0.35、最適
にはt/仁士L0≦0.3の関係式が成立することが望
ましい。またさらに、層領域105の層厚は、通常は3
X I O−3〜10μとするが、より好ましくは4
X 10−’〜8μ、最適には5X10−’〜5μで
ある。
入阻止層とすることを目的とする場合には、第2図に示
すごとく支持体と接する一部の層領域105に第m族原
子又は第■族原子を均−又は不均一な状態で含有せしめ
る。そして、この場合の含有量は比較的多量であって、
通常は30〜5 X l O’ atomic ppm
とするが、より好ましくは、50〜l X I Q ’
ato+nic ppm、最適にはlXl0”〜5 X
l O’ atomic ppmとする。さらに該目
的をより一層効率的に達成するためには、該一部の層領
域の層厚について、層領域105の層厚をtとし、第一
の層の層領域105以外の層領域の層厚をtoとした場
合、1/1+1゜≦0,4の関係式が成立することが望
ましく、より好ましくはt/1+10≦0.35、最適
にはt/仁士L0≦0.3の関係式が成立することが望
ましい。またさらに、層領域105の層厚は、通常は3
X I O−3〜10μとするが、より好ましくは4
X 10−’〜8μ、最適には5X10−’〜5μで
ある。
さらに、第二の層と第二の層の間の工不ルギーレヘル的
整合性を向上せしめ、両層間での電荷の移送を高めるこ
とを目的とする場合には、第3図に示すごとく第二の層
と接する一部の層領域107に均−又は不均一な状態で
含有せしめる。不均一な状態で含有せしめるにあたって
は、前記ゲルマニウム原子の場合と同様に、第5図〜第
13図に示した典型例を凸にして、これらを適宜変型し
て用いることができる。すなわち、第石族原子又は第■
族原子の層厚方向の分布濃度を、第二の層側から支持体
側に向かって酸受するように分布せしめる。また、該目
的を達成せしめる場合には、第一の層に含有せしめる伝
導性を制御する物質の伝導型は、第二の層に含有せしめ
るものの伝導型と同じにしておく必要がある。そして、
この場合の効果は、第二の層の層厚が厚く、暗j氏抗が
高い場合にはより顕著なものとなる。さらにこの場合の
第■族原子又は第■族原子の含有量は比較的少量でよく
、通常はl X 10−’〜I X 10” atom
icppmとするが、より好ましくは5XIQ−”〜5
×10 ” atomic pps、最適には0.1〜
2X10”atomic I)l)nとする。
整合性を向上せしめ、両層間での電荷の移送を高めるこ
とを目的とする場合には、第3図に示すごとく第二の層
と接する一部の層領域107に均−又は不均一な状態で
含有せしめる。不均一な状態で含有せしめるにあたって
は、前記ゲルマニウム原子の場合と同様に、第5図〜第
13図に示した典型例を凸にして、これらを適宜変型し
て用いることができる。すなわち、第石族原子又は第■
族原子の層厚方向の分布濃度を、第二の層側から支持体
側に向かって酸受するように分布せしめる。また、該目
的を達成せしめる場合には、第一の層に含有せしめる伝
導性を制御する物質の伝導型は、第二の層に含有せしめ
るものの伝導型と同じにしておく必要がある。そして、
この場合の効果は、第二の層の層厚が厚く、暗j氏抗が
高い場合にはより顕著なものとなる。さらにこの場合の
第■族原子又は第■族原子の含有量は比較的少量でよく
、通常はl X 10−’〜I X 10” atom
icppmとするが、より好ましくは5XIQ−”〜5
×10 ” atomic pps、最適には0.1〜
2X10”atomic I)l)nとする。
更にまた、第一の層と第二の層の接合部を積極的に設け
ることにより、帯電処理時における見掛は上の暗抵抗の
増大を図ることを目的とする場合には、第3図のごとき
第二の層と接する一部の層領域107に、第二の層に含
有せしめる伝導性を制御する物質と異なる伝δ型のもの
を、均−又は不均一な分布状態で含有せしめる。不均一
な状態で含有せしめる場合について、第5図ないし第1
3図に示した典型例を基にして適宜変型して用いること
は、前述のとおりである。また該目的を達成せしめる場
合、第■族原子又は第■族原子の含有量は比較的少量で
あって、通常はlXl0−’〜1XIOコatomic
ρρmとするが、より好ましくは5X l O−”〜5
X 10” atomic ppm、、 最適には0
.1〜2 X 10 ” atomic ppmとする
。
ることにより、帯電処理時における見掛は上の暗抵抗の
増大を図ることを目的とする場合には、第3図のごとき
第二の層と接する一部の層領域107に、第二の層に含
有せしめる伝導性を制御する物質と異なる伝δ型のもの
を、均−又は不均一な分布状態で含有せしめる。不均一
な状態で含有せしめる場合について、第5図ないし第1
3図に示した典型例を基にして適宜変型して用いること
は、前述のとおりである。また該目的を達成せしめる場
合、第■族原子又は第■族原子の含有量は比較的少量で
あって、通常はlXl0−’〜1XIOコatomic
ρρmとするが、より好ましくは5X l O−”〜5
X 10” atomic ppm、、 最適には0
.1〜2 X 10 ” atomic ppmとする
。
以上、各々の目的を達成する場合について、各々記載し
たが、本発明の光受容部材において、これらの目的の2
つ以上を同時に達成するためには、含有せしめる一部の
層領域および第■族原子又は第■族原子の分布状態を適
宜組み合わせればよい。
たが、本発明の光受容部材において、これらの目的の2
つ以上を同時に達成するためには、含有せしめる一部の
層領域および第■族原子又は第■族原子の分布状態を適
宜組み合わせればよい。
例えば伝導型を制御する目的と、電荷注入阻止層を形成
する目的の両方を達成するためには、支持体側において
比較的高濃度に分布させ、第二の層との界面側において
は比較的低濃度に分布させるか、あるいは、第二の層と
の界面側においては、第m族原子又は第■族原子を積極
的に含有しない様な分布状態を形成すればよい。
する目的の両方を達成するためには、支持体側において
比較的高濃度に分布させ、第二の層との界面側において
は比較的低濃度に分布させるか、あるいは、第二の層と
の界面側においては、第m族原子又は第■族原子を積極
的に含有しない様な分布状態を形成すればよい。
本発明の第一の層には、以上の説明のごとく、ゲルマニ
ウム原子、第■族原子又は第■族原子、酸素原子及び/
又は窒素原子が含有せしめるものであるが、これらの各
々の原子は、本発明において目的とする所望の特性を効
率的に得るように、各原子の含有量および各原子の分布
状態を適宜選択して用いるものであって、各々の原子を
含有せしめる層領域は互いに異なっていてもよく、ある
いは異なっていてもよく、さらには互いに一部が重なり
合っていてもよい、以下、第4図によってその例を示す
が、該別は本発明をIII定するものではない。第4図
に示す例では、支持体側より、層領域108、層領域1
09、N領域110を形成するものであって、層領域1
0’8はゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族原子
および酸素原子を含有し、層領域109はゲルマニウム
原子および酸素原子を含有するが、第■族原子又は第V
族原子を含有しないものとし、さらに層領域110は、
これらのうちのいずれの原子も含有しないものとする。
ウム原子、第■族原子又は第■族原子、酸素原子及び/
又は窒素原子が含有せしめるものであるが、これらの各
々の原子は、本発明において目的とする所望の特性を効
率的に得るように、各原子の含有量および各原子の分布
状態を適宜選択して用いるものであって、各々の原子を
含有せしめる層領域は互いに異なっていてもよく、ある
いは異なっていてもよく、さらには互いに一部が重なり
合っていてもよい、以下、第4図によってその例を示す
が、該別は本発明をIII定するものではない。第4図
に示す例では、支持体側より、層領域108、層領域1
09、N領域110を形成するものであって、層領域1
0’8はゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族原子
および酸素原子を含有し、層領域109はゲルマニウム
原子および酸素原子を含有するが、第■族原子又は第V
族原子を含有しないものとし、さらに層領域110は、
これらのうちのいずれの原子も含有しないものとする。
そして、層領域108と層領域109とからなるN領域
において、ゲルマニウム原子は不均一に分布しているも
のである。
において、ゲルマニウム原子は不均一に分布しているも
のである。
第二■M
本発明の光受容部材の第二の層103は、a−3i C
(H、X )で構成され、該層の全層領域に伝導性を制
御する物質を均一な分布状態で含有しているものであっ
て、耐湿性、連続繰返し使用時11、電気的耐圧性、使
用環境特性、および耐久性等を向上させる目的で、第一
の層上に設けられる。そしてこの目的は、第二の層を構
成するアモルファス材料に炭素原子を構造的に導入せし
めろことにより達成できる。第二の層に炭素原子を構造
的に導入する場合、炭素原子の蚤の増力uに伴って、前
述の特性は向上するが、炭素原子の量が多すぎると層品
質が低下し、電気的および機織的特性も低下する。こう
したことから、炭素原子の含有量は通常は、I X 1
0−’〜90 atomic%とし、好ましくは1−9
0 atomic%、最適にはl O〜80 atom
ic%とする。
(H、X )で構成され、該層の全層領域に伝導性を制
御する物質を均一な分布状態で含有しているものであっ
て、耐湿性、連続繰返し使用時11、電気的耐圧性、使
用環境特性、および耐久性等を向上させる目的で、第一
の層上に設けられる。そしてこの目的は、第二の層を構
成するアモルファス材料に炭素原子を構造的に導入せし
めろことにより達成できる。第二の層に炭素原子を構造
的に導入する場合、炭素原子の蚤の増力uに伴って、前
述の特性は向上するが、炭素原子の量が多すぎると層品
質が低下し、電気的および機織的特性も低下する。こう
したことから、炭素原子の含有量は通常は、I X 1
0−’〜90 atomic%とし、好ましくは1−9
0 atomic%、最適にはl O〜80 atom
ic%とする。
さらシこ、連続繰返し使用特性および耐久性の向上のた
めには、第二の層の層厚を厚くすることが好ましいが、
層厚が厚くなると残留電位の発生原因となる。こうした
ことから、第二の層に伝導性を制j■する物質、即ち、
第■族原子又は第V族原子を含有せしめることにより、
前述の残留電位の発生を、防止するかあるいは実質的な
影響がない程度に抑止することができる。又、通常の場
合のこの捕の第二の層は、機械的耐久性には優れている
が、先端が鋭角なもので該層の表面をHffしたり、あ
るいは押圧したりすると、表面にいわゆる傷として残ら
ないにしても、帯電処理時には静電荷的痕跡傷となって
現われ、トナー転写画像の画像品質の低下をきたしてし
まう場合が多々ある。
めには、第二の層の層厚を厚くすることが好ましいが、
層厚が厚くなると残留電位の発生原因となる。こうした
ことから、第二の層に伝導性を制j■する物質、即ち、
第■族原子又は第V族原子を含有せしめることにより、
前述の残留電位の発生を、防止するかあるいは実質的な
影響がない程度に抑止することができる。又、通常の場
合のこの捕の第二の層は、機械的耐久性には優れている
が、先端が鋭角なもので該層の表面をHffしたり、あ
るいは押圧したりすると、表面にいわゆる傷として残ら
ないにしても、帯電処理時には静電荷的痕跡傷となって
現われ、トナー転写画像の画像品質の低下をきたしてし
まう場合が多々ある。
こうした場合にも、前述の第二の層に伝導性を制御する
物質を含有せしめることにより、これらの問題の発生を
未然に防止できる。したがって、第二の層に伝導性を制
御する物質である第■族原子又は第■族原子を含有せし
めることは、本発明の目的を達成しうる所望の特性を有
する第二の層を形成するについて不可欠である。そして
、第二の層に含有せしめる第■族原子又は第■族原子の
量は、通常1.0〜10 ’ atomic pp曙と
するが、好ましくはlO〜5 X 10 ’atomi
c ppm、 最適には10”〜5 X 10 ’ a
toa+icρpmとするのが望ましい。
物質を含有せしめることにより、これらの問題の発生を
未然に防止できる。したがって、第二の層に伝導性を制
御する物質である第■族原子又は第■族原子を含有せし
めることは、本発明の目的を達成しうる所望の特性を有
する第二の層を形成するについて不可欠である。そして
、第二の層に含有せしめる第■族原子又は第■族原子の
量は、通常1.0〜10 ’ atomic pp曙と
するが、好ましくはlO〜5 X 10 ’atomi
c ppm、 最適には10”〜5 X 10 ’ a
toa+icρpmとするのが望ましい。
第二の層103は、所望通りの特性が得られるように注
意深く形成する必要がある。即ち、シリコン原子、炭素
原子、水素原子及び/又はハロゲン原子、および第■族
原子又は第V族原子を構成原子とする物質は、各構成原
子の含有量やその他の作成条件によって、形態は結晶状
態から非晶質状態までをとり、電気的物性は導電性から
、半導電性、絶縁性までを、さらに光電的性質は光導電
的性質から非光導電的性質までを、各々示すため、目的
に応じた所望の特性を有する第二のNiO2を形成しう
るように、各構成原子の含有量や作成条件等を選ぶこと
が重要である。
意深く形成する必要がある。即ち、シリコン原子、炭素
原子、水素原子及び/又はハロゲン原子、および第■族
原子又は第V族原子を構成原子とする物質は、各構成原
子の含有量やその他の作成条件によって、形態は結晶状
態から非晶質状態までをとり、電気的物性は導電性から
、半導電性、絶縁性までを、さらに光電的性質は光導電
的性質から非光導電的性質までを、各々示すため、目的
に応じた所望の特性を有する第二のNiO2を形成しう
るように、各構成原子の含有量や作成条件等を選ぶこと
が重要である。
例えば、第二のJi103を電気的耐圧性の向上を主た
る目的として設ける場合には、第二の層103を構成す
る非晶質材料は、使用条件下において電気絶縁的挙動の
顕著なものとして形成する。又、第二の層103を連続
繰返し使用特性や使用環境特性の向上を主たる目的とし
て設ける場合には、第二の層103を構成する非晶質材
料は、前述の電気的絶縁性の度合はある程度緩和するが
、照射する光に対しである程度の感度を有するものとし
て形成する。
る目的として設ける場合には、第二の層103を構成す
る非晶質材料は、使用条件下において電気絶縁的挙動の
顕著なものとして形成する。又、第二の層103を連続
繰返し使用特性や使用環境特性の向上を主たる目的とし
て設ける場合には、第二の層103を構成する非晶質材
料は、前述の電気的絶縁性の度合はある程度緩和するが
、照射する光に対しである程度の感度を有するものとし
て形成する。
また、本発明の第二の層には、第一の層との密着性の良
化を目的として酸素原子及び/又は窒素原子を含有せし
めることができる。そして、第二の層における酸素原子
及び/又は窒素原子は均一な分布状態とする。
化を目的として酸素原子及び/又は窒素原子を含有せし
めることができる。そして、第二の層における酸素原子
及び/又は窒素原子は均一な分布状態とする。
また、本発明において、第二の層の層厚も本発明の目的
を効率的に達成するための重要な要因の1つであり、所
期の目的に応じて適宜決定されるものであるが、該層に
含有せしめる第■族原子、第■族原子、炭素原子、ハロ
ゲン原子、水素原子の量、あるいは第二の層に要求され
る特性に応じて相互的かつ有機的関連性の下に決定する
必要がある。更に、生産性や量産性をも加味した経済性
の点においても考慮する必要もある。こうしたことから
、第二の層の層厚は通常は3X10−’〜30μとする
が、より好ましくは4 X 10−’〜20μ、特に好
ましくは5X10−2〜10μとする。
を効率的に達成するための重要な要因の1つであり、所
期の目的に応じて適宜決定されるものであるが、該層に
含有せしめる第■族原子、第■族原子、炭素原子、ハロ
ゲン原子、水素原子の量、あるいは第二の層に要求され
る特性に応じて相互的かつ有機的関連性の下に決定する
必要がある。更に、生産性や量産性をも加味した経済性
の点においても考慮する必要もある。こうしたことから
、第二の層の層厚は通常は3X10−’〜30μとする
が、より好ましくは4 X 10−’〜20μ、特に好
ましくは5X10−2〜10μとする。
本発明の光受容部材は前記のごとき層構成としたことに
より、前記したアモルファスシリコンで構成された光受
容層を有する光受容部材の諸問題の総てを解決でき、極
めて優れた電気的、光学的、光導電的特性、電気的耐圧
性及び使用環境特性を示すものであって、また、全可視
光域において光感度が高く、特に長波長域における光感
度が高く、且つ、光応答性が優れているものであり、半
導体レーザとのマツチング性に優れている。さらに、電
子写真用像形成部材として適用した場合には、画像形成
への残留電位の影響が全くなく、その電気的特性が安定
しており高感度で、高SN比を有するものであって、耐
光疲労、繰返し使用特性に優れ、濃度が高く、ハーフト
ーンが鮮明に出て、且つ解像度の高い、高品質の画像を
安定して繰返し得ることができる。
より、前記したアモルファスシリコンで構成された光受
容層を有する光受容部材の諸問題の総てを解決でき、極
めて優れた電気的、光学的、光導電的特性、電気的耐圧
性及び使用環境特性を示すものであって、また、全可視
光域において光感度が高く、特に長波長域における光感
度が高く、且つ、光応答性が優れているものであり、半
導体レーザとのマツチング性に優れている。さらに、電
子写真用像形成部材として適用した場合には、画像形成
への残留電位の影響が全くなく、その電気的特性が安定
しており高感度で、高SN比を有するものであって、耐
光疲労、繰返し使用特性に優れ、濃度が高く、ハーフト
ーンが鮮明に出て、且つ解像度の高い、高品質の画像を
安定して繰返し得ることができる。
又、本発明の光受容部材は支持体上に形成される光受容
層が、層目体が強靭であって、かつ支持体との密着性に
著しく優れているため、高速で長時間連続的に繰返し使
用することができる。
層が、層目体が強靭であって、かつ支持体との密着性に
著しく優れているため、高速で長時間連続的に繰返し使
用することができる。
次に本発明の光受容層の形成方法について説明する。
本発明の光受容層を構成する非晶質材料はいずれもグロ
ー放電法、スパッタリング法、或いはイオンブレーティ
ング法等の放電現象を利用する真空堆積法によって行わ
れる。これ等の製造法は、製造条件、設備資本投下の負
荷程度、製造規模、作製される光受容部材に所望される
特性等の要因によって適宜選択されて採用されるが、所
望の特性を有する光受容部材を製造するに当たっての条
件の制御が比較的容易であり、シリコン原子と共に炭素
原子及び水素原子の導入を容易に行い得る等のことから
して、グロー放電法或いはスパッタリング法が好適であ
る。そして、グロー放電法とスパッタリング法とを同−
mH系内で併用して形成してもよい。
ー放電法、スパッタリング法、或いはイオンブレーティ
ング法等の放電現象を利用する真空堆積法によって行わ
れる。これ等の製造法は、製造条件、設備資本投下の負
荷程度、製造規模、作製される光受容部材に所望される
特性等の要因によって適宜選択されて採用されるが、所
望の特性を有する光受容部材を製造するに当たっての条
件の制御が比較的容易であり、シリコン原子と共に炭素
原子及び水素原子の導入を容易に行い得る等のことから
して、グロー放電法或いはスパッタリング法が好適であ
る。そして、グロー放電法とスパッタリング法とを同−
mH系内で併用して形成してもよい。
例えば、グロー放電法によって、a 5i(H。
X)で構成される層を形成するには、基本的にはシリコ
ン原子(Si )を供給し得るSi供給用の原料ガスと
共に、水素原子(トl)導入用の又は/及びハロゲン原
子(X’)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆
積室内に4人して、該堆積室内にグロー放電を生起させ
、予め所定位置に設置した所定の支持体表面上にa−3
i(H,X)がら成る層を形成する。
ン原子(Si )を供給し得るSi供給用の原料ガスと
共に、水素原子(トl)導入用の又は/及びハロゲン原
子(X’)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆
積室内に4人して、該堆積室内にグロー放電を生起させ
、予め所定位置に設置した所定の支持体表面上にa−3
i(H,X)がら成る層を形成する。
必要に応じて層中に含有せしめるハロゲン原子(X)と
しては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げ
られ、殊にフッ素、塩素が好ましい。
しては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げ
られ、殊にフッ素、塩素が好ましい。
前記Si供給用の原料ガスとしては、S + Ha +
5izHi 、5isH* 、5inH+。等のガス状
態の又はガス化し得る水素化硅素(シラン類)が挙げら
れ、殊に、層作成作業のし易さ、Si供給効率の良さ等
の点でSiH4+ 5izHiが好ましい。
5izHi 、5isH* 、5inH+。等のガス状
態の又はガス化し得る水素化硅素(シラン類)が挙げら
れ、殊に、層作成作業のし易さ、Si供給効率の良さ等
の点でSiH4+ 5izHiが好ましい。
また、前記ハロゲン原子導入用の原料ガスとしては、多
くのハロゲン化合物が挙げられ、例えばハロゲンガス、
ハロゲン化物、ハロゲン間化合物、ハロゲンで置換され
たシラン誘導体等のガス状態の又はガス化し得るハロゲ
ン化合物が好ましい。
くのハロゲン化合物が挙げられ、例えばハロゲンガス、
ハロゲン化物、ハロゲン間化合物、ハロゲンで置換され
たシラン誘導体等のガス状態の又はガス化し得るハロゲ
ン化合物が好ましい。
更に又、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素とす
るガス状態の又はガス化し得るハロゲン原子を含む硅素
化合物も有効なものとして挙げることができる。具体的
には、ハロゲン化合物としては、フッ素、塩素、臭素、
ヨウ素のハロゲンガス、BrF、CIF、CIF、、B
rF5 、BrF、。
るガス状態の又はガス化し得るハロゲン原子を含む硅素
化合物も有効なものとして挙げることができる。具体的
には、ハロゲン化合物としては、フッ素、塩素、臭素、
ヨウ素のハロゲンガス、BrF、CIF、CIF、、B
rF5 、BrF、。
IF、、IFl、ICjl、IBr等のハロゲン間化合
物を挙げることができ、ハロゲン原子を含む硅素化合物
、所謂、ハロゲン原子で置換されたシラン誘導体として
は、S i F 41 S i2 Fい3 i CIt
4゜SiBr4等のハロゲン化硅素が好ましいものと
して挙げられる。
物を挙げることができ、ハロゲン原子を含む硅素化合物
、所謂、ハロゲン原子で置換されたシラン誘導体として
は、S i F 41 S i2 Fい3 i CIt
4゜SiBr4等のハロゲン化硅素が好ましいものと
して挙げられる。
この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を使用してグロ
ー放電法により形成する場合には、Siを供給し得る原
料ガスとしての水素化硅素ガスを使用しなくとも、所定
の支持体上にハロゲン原子を含むa Siから成る層
を形成する事ができる。
ー放電法により形成する場合には、Siを供給し得る原
料ガスとしての水素化硅素ガスを使用しなくとも、所定
の支持体上にハロゲン原子を含むa Siから成る層
を形成する事ができる。
グロー放電法を用いて、ハロゲン原子を含む層を形成す
る場合、基本的には、Si供給用の原料ガスであるハロ
ゲン化硅素ガスとAr 、 Hz、 )re等のガ
ス等を所定の混合比とガス流量になる様にして堆積室に
導入し、グロー放電を生起してこれ等のガスのプラズマ
雰囲気を形成することによって、所定の支持体上に層を
形成し得るものであるが、電気的あるいは光電的特性の
制御という点で極めて有効であるところの水素原子(旧
の含有量を制御するためには、これ等のガスに更に水素
原子供給用の原料ガスを混合することもできる。
る場合、基本的には、Si供給用の原料ガスであるハロ
ゲン化硅素ガスとAr 、 Hz、 )re等のガ
ス等を所定の混合比とガス流量になる様にして堆積室に
導入し、グロー放電を生起してこれ等のガスのプラズマ
雰囲気を形成することによって、所定の支持体上に層を
形成し得るものであるが、電気的あるいは光電的特性の
制御という点で極めて有効であるところの水素原子(旧
の含有量を制御するためには、これ等のガスに更に水素
原子供給用の原料ガスを混合することもできる。
該水素ガス供給用の原料ガスとしては、水素ガス、ある
いはSiH4,5izHa、5i)H@、SLH+o等
の水素化硅素のガスが用いられる。さらに、HF。
いはSiH4,5izHa、5i)H@、SLH+o等
の水素化硅素のガスが用いられる。さらに、HF。
HCl、HBr、HI等のハロゲン化物、5iHzFa
。
。
5iHz[z、5iHzCIl z、5iHCIl、
z+5iH2Brz。
z+5iH2Brz。
5iHBrs等のハロゲン置換水素化硅素等のガス状態
のあるいはガス化しつるものを用いた場合には、ハロゲ
ン原子(X)の導入と同時に水素原子(H)も4大され
るので有効である。
のあるいはガス化しつるものを用いた場合には、ハロゲ
ン原子(X)の導入と同時に水素原子(H)も4大され
るので有効である。
又、各ガスは単独種のみでなく所定の混合比で複数種混
合して使用してもよい。
合して使用してもよい。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa −5i(H,X)から成る層を形成するには
、例えばスパッタリング法の場合にはSlから成るター
ゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ雰囲気中
でスパッタリングし、イオンブレーティング法の場合に
は、多結晶シリコン又は単結晶シリコンを蒸発源として
蒸着ボートに収容し、このソリコン蒸発源を抵抗加熱法
、或いはエレクトロンビーム法(EB法)等によって加
熱茎発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラズマ雰囲気中を
通過させる事で行うことができる。
依ってa −5i(H,X)から成る層を形成するには
、例えばスパッタリング法の場合にはSlから成るター
ゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ雰囲気中
でスパッタリングし、イオンブレーティング法の場合に
は、多結晶シリコン又は単結晶シリコンを蒸発源として
蒸着ボートに収容し、このソリコン蒸発源を抵抗加熱法
、或いはエレクトロンビーム法(EB法)等によって加
熱茎発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラズマ雰囲気中を
通過させる事で行うことができる。
その際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合でも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るについては、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲ
ン原子を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して該
ガスのプラズマ雰囲気を形成してやればよい。
何れの場合でも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るについては、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲ
ン原子を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して該
ガスのプラズマ雰囲気を形成してやればよい。
又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば−〇、或いは前記したシラン類等のガス
をスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプラ
ズマ雰囲気を形成してやればよい。
料ガス、例えば−〇、或いは前記したシラン類等のガス
をスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプラ
ズマ雰囲気を形成してやればよい。
グロー放電法、スパッタリング法またはイオンブレーテ
ィング法等によって層を形成するにおいては、ハロゲン
原子導入用の原料ガスとして前記のハロゲン化合物或い
はハロゲンを含む硅素化合物が有効なものとして使用で
きるが、これ等の他に、)IF、HCj!、HBr 、
Hl等のハロゲン化合物、5iH2Fz 、5iH1l
z 、5iH2C12゜5iHCI13.5iH2Br
2,5iHB rff等のハロゲン置換水素化硅素、等
々のガス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構成要
素の1つとするハロゲン化物も有効な出発物質として挙
げる事ができる。
ィング法等によって層を形成するにおいては、ハロゲン
原子導入用の原料ガスとして前記のハロゲン化合物或い
はハロゲンを含む硅素化合物が有効なものとして使用で
きるが、これ等の他に、)IF、HCj!、HBr 、
Hl等のハロゲン化合物、5iH2Fz 、5iH1l
z 、5iH2C12゜5iHCI13.5iH2Br
2,5iHB rff等のハロゲン置換水素化硅素、等
々のガス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構成要
素の1つとするハロゲン化物も有効な出発物質として挙
げる事ができる。
これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、層形成の際に
層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或いは光電的
特性の制御に極めて有効な水素原子も導入しうるので、
好適なハロゲン原子導入用の原料として使用できる。
層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或いは光電的
特性の制御に極めて有効な水素原子も導入しうるので、
好適なハロゲン原子導入用の原料として使用できる。
水素原子を層中に構造的に導入するには、上記の他にH
l、或いは5iHa 、5itHb 、5i3Hs 。
l、或いは5iHa 、5itHb 、5i3Hs 。
S i 4H+。等の水素化硅素のガスをSiを供給す
る為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電を生
起させる事でも行うことができる。
る為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電を生
起させる事でも行うことができる。
例えば、反応スパックリング法の場合には、Siターゲ
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH2ガス
を必要に応じてHe、Ar等の不活性ガスも含めて堆積
室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記Si タ
ーゲットをスパッタリングすることによって、支持体上
にa−5i(H,X)から成る層を形成する。
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH2ガス
を必要に応じてHe、Ar等の不活性ガスも含めて堆積
室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記Si タ
ーゲットをスパッタリングすることによって、支持体上
にa−5i(H,X)から成る層を形成する。
本発明の光受容部材の光受容層中に含有せしめる水素原
子(トI)の景又はハロゲン原子(X)の量又は水素原
子とハロゲン原子の量の和(HlX)は通常の場合1〜
40atomic%、好適には5〜30atomic%
とするのが望ましい。
子(トI)の景又はハロゲン原子(X)の量又は水素原
子とハロゲン原子の量の和(HlX)は通常の場合1〜
40atomic%、好適には5〜30atomic%
とするのが望ましい。
光受容層中に含有せしめる水素原子(H)又は/及びハ
ロゲン原子(X)の量を制御するには、例えば支持体温
度又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲン原子(X
)を含有せしめる為に使用する出発物質の堆積装置系内
へ導入する量、放電々力等を制御してやればよい。
ロゲン原子(X)の量を制御するには、例えば支持体温
度又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲン原子(X
)を含有せしめる為に使用する出発物質の堆積装置系内
へ導入する量、放電々力等を制御してやればよい。
第一の層は前述のa−3i(H,X)に酸素原子及び/
又は窒素原子、ゲルマニウム原子および第■族原子又は
第■族原子を含有せしめたもので構成されるが、該層を
設けるには、グロー放7i法、スパッタリング法あるい
はイオンブレーティング法等によるa−3i(H,X)
の層の形成の際に、ゲルマニウム原子導入用の出発物質
、酸素原子及び/又は窒素原子4人用の出発物質および
第■族原子又は第V族原子導入用の出発物質を、前述し
たa−3i(H,X)形成用の出発物質と共に使用しモ
、形成する層中へのそれらの量を制御しながら含有せし
めてやることにより行われる。
又は窒素原子、ゲルマニウム原子および第■族原子又は
第■族原子を含有せしめたもので構成されるが、該層を
設けるには、グロー放7i法、スパッタリング法あるい
はイオンブレーティング法等によるa−3i(H,X)
の層の形成の際に、ゲルマニウム原子導入用の出発物質
、酸素原子及び/又は窒素原子4人用の出発物質および
第■族原子又は第V族原子導入用の出発物質を、前述し
たa−3i(H,X)形成用の出発物質と共に使用しモ
、形成する層中へのそれらの量を制御しながら含有せし
めてやることにより行われる。
例えば、グロー放電法によって、a 5iGe(H,
X)で構成される層を形成するには、基本的にはシリコ
ン原子(Si )を供給し得るSi供給用の原料ガスと
共に、ゲルマニウムH子(G e )を供給し得るGe
供給用の原料ガスと、水素原子(Fnn大人用又は/及
びハロゲン原子(x)m入用の原料ガスを、内部が減圧
にし得る堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー放電
を生起させ、予め所定位置に設置した所定の支持体表面
上にa−3iGe (H,X)から成る層を形成する。
X)で構成される層を形成するには、基本的にはシリコ
ン原子(Si )を供給し得るSi供給用の原料ガスと
共に、ゲルマニウムH子(G e )を供給し得るGe
供給用の原料ガスと、水素原子(Fnn大人用又は/及
びハロゲン原子(x)m入用の原料ガスを、内部が減圧
にし得る堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー放電
を生起させ、予め所定位置に設置した所定の支持体表面
上にa−3iGe (H,X)から成る層を形成する。
前記Ge供給用の原料ガスとしてはG e H4゜Ge
t Hb 、 Gez Hs 、 GetHlll+
ce、 Hll+ GQhII +a。
t Hb 、 Gez Hs 、 GetHlll+
ce、 Hll+ GQhII +a。
G(!、rH+b、Ge*H+s、GeqH2o等のガ
ス状態の又はガス化し得る水素化ゲルマニウムが挙げら
れ、特に、層作成作業時の取扱い易さ、Ge供給効率の
良さ等の点で、GeH−1GezHb、およびQ e
3 Hmが好ましい。
ス状態の又はガス化し得る水素化ゲルマニウムが挙げら
れ、特に、層作成作業時の取扱い易さ、Ge供給効率の
良さ等の点で、GeH−1GezHb、およびQ e
3 Hmが好ましい。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−3iGe (H,X)から成る層を形成する
には、例えばスパッタリング法の場合にはSiから成る
ターゲットとGeから成るターゲットとの二枚を、ある
いはSi とGeから成るターゲットを用い、これ等を
所定のガスプラズマ雰囲気中でスパッタリングし、イオ
ンブレーティング法の場合には、多結晶シリコン又は単
結晶シリコンと、多結晶ゲルマニウム又は単結晶ゲルマ
ニウムとを夫々蒸発源として蒸着ボートに収容し、この
シリコン蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロンビー
ム法(EB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所
定のガスプラズマ雰囲気中を通過させることで行うこと
ができる。
依ってa−3iGe (H,X)から成る層を形成する
には、例えばスパッタリング法の場合にはSiから成る
ターゲットとGeから成るターゲットとの二枚を、ある
いはSi とGeから成るターゲットを用い、これ等を
所定のガスプラズマ雰囲気中でスパッタリングし、イオ
ンブレーティング法の場合には、多結晶シリコン又は単
結晶シリコンと、多結晶ゲルマニウム又は単結晶ゲルマ
ニウムとを夫々蒸発源として蒸着ボートに収容し、この
シリコン蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロンビー
ム法(EB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所
定のガスプラズマ雰囲気中を通過させることで行うこと
ができる。
また、グロー放電法によって、酸素原子及び/又は窒素
原子を含有する層又は一部の層領域、あるいは第■族原
子又は第■族原子を含有する層又は一部の層領域を形成
するには、これらの層又は一部の層領域形成用の原料ガ
スとなる出発物質としては、a−3i(H,X)又はa
−3jGe(H,X)形成用の出発物質の中から所望に
従って選択したものに、酸素原子及び/又は窒素原子4
人用の出発物質あるいは第■族原子又は第■族原子専入
用の出発物質を加えたものを用いる。酸素原子及び/又
は窒素原子導入用の出発物質あるいは第m族原子又は第
■族原子導入用の出発物質としては、少なくとも酸素原
子及び/又は窒素原子あるいは第■族原子又は第■族原
子となるガス状の物質又はガス化し得る物質をガス化し
たものであれば何でも用いることができる。
原子を含有する層又は一部の層領域、あるいは第■族原
子又は第■族原子を含有する層又は一部の層領域を形成
するには、これらの層又は一部の層領域形成用の原料ガ
スとなる出発物質としては、a−3i(H,X)又はa
−3jGe(H,X)形成用の出発物質の中から所望に
従って選択したものに、酸素原子及び/又は窒素原子4
人用の出発物質あるいは第■族原子又は第■族原子専入
用の出発物質を加えたものを用いる。酸素原子及び/又
は窒素原子導入用の出発物質あるいは第m族原子又は第
■族原子導入用の出発物質としては、少なくとも酸素原
子及び/又は窒素原子あるいは第■族原子又は第■族原
子となるガス状の物質又はガス化し得る物質をガス化し
たものであれば何でも用いることができる。
酸素原子導入用の出発物質としては具体的には、例えば
酸素(0□)、オゾン(03) 、−酸化窒素(No)
、二酸化窒素(NO2)、−二酸化窒素(N z○)、
三二酸化窒素(N20! ) 、四二酸化窒素CNtO
4) 、三二酸化窒素(N205)、二酸化窒素(NO
:l ) 、シリコン原子(Si )と酸素原子(0)
と水素原子(F[)とを構成原子とする、例えば、ジシ
ロキサン(HsSiO3iHi )、トリシロキサン(
HzSiO3iHz○5iHs)等の低級シロキサン等
を挙げることができる。
酸素(0□)、オゾン(03) 、−酸化窒素(No)
、二酸化窒素(NO2)、−二酸化窒素(N z○)、
三二酸化窒素(N20! ) 、四二酸化窒素CNtO
4) 、三二酸化窒素(N205)、二酸化窒素(NO
:l ) 、シリコン原子(Si )と酸素原子(0)
と水素原子(F[)とを構成原子とする、例えば、ジシ
ロキサン(HsSiO3iHi )、トリシロキサン(
HzSiO3iHz○5iHs)等の低級シロキサン等
を挙げることができる。
窒素原子を含有する層または層領域を形成する際に使用
する窒素原子(N)導入用の原料ガスとして有効に使用
される出発物質は、Nを構成原子とするか或いはNとH
とを構成原子とする例えば窒素(N2)、アンモニア(
NH3) 、ヒドラジン(14z N N Hz) 、
アジ化水素(HNi、7ジ化アンモニウム(NH4N3
)等のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化物及びアジ
化物等の窒素化合物を挙げることができる。この他に、
窒素原子(N)の導入に加えて、ハロゲン原子(X)の
導入も行えるという点から、三弗化窒素(F3N)、四
弗化窒素(F、N、)等のハロゲン化窒素化合物を挙げ
ることができる。
する窒素原子(N)導入用の原料ガスとして有効に使用
される出発物質は、Nを構成原子とするか或いはNとH
とを構成原子とする例えば窒素(N2)、アンモニア(
NH3) 、ヒドラジン(14z N N Hz) 、
アジ化水素(HNi、7ジ化アンモニウム(NH4N3
)等のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化物及びアジ
化物等の窒素化合物を挙げることができる。この他に、
窒素原子(N)の導入に加えて、ハロゲン原子(X)の
導入も行えるという点から、三弗化窒素(F3N)、四
弗化窒素(F、N、)等のハロゲン化窒素化合物を挙げ
ることができる。
第■族原子導入用の出発物質として具体的には硼素原子
界入用としては、BzH6,Ba1l+a。
界入用としては、BzH6,Ba1l+a。
BiI3.Bit(+1.8all+。、BaH+□、
B、H,。
B、H,。
等の水素化硼素、BFI BCly、BBr3のハロ
ゲン化硼素等が挙げられる。この他、A1Cll5−G
aCf、、Ga(CH3)z 、1ncj!i 、Tl
C1z等も挙げることができる。
ゲン化硼素等が挙げられる。この他、A1Cll5−G
aCf、、Ga(CH3)z 、1ncj!i 、Tl
C1z等も挙げることができる。
第■族原子導入用の出発物質として、具体的には燐原子
導入用としては、PH3,P2)[、等の水素化燐、I
”Hat、PF3 、PFS 、P、C1,。
導入用としては、PH3,P2)[、等の水素化燐、I
”Hat、PF3 、PFS 、P、C1,。
P Cll、 P Brx+ P Br5. P
I 3等のハロゲン化燐が挙げられる。この他、As
ll3 、 AsF y 。
I 3等のハロゲン化燐が挙げられる。この他、As
ll3 、 AsF y 。
AsC1x 、AsBr3.AsFj、5bHz 、5
bFt 。
bFt 。
SbF5 .5bCffl 、5bC65、BiI3
.BiCn、。
.BiCn、。
B i B r*等も第■族原子4人用の出発物質の有
効なものとして挙げることができる。
効なものとして挙げることができる。
例えば酸素原子を含有する層又は層領域を形成するには
、シリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガスと、
酸素原子(0)を構成原子とする原料ガスと、必要に応
じて水素原子(H)又は及びハロゲン原子(X)を構成
原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して使用す
るか、又は、シリコン原子(Si )を構成原子とする
原料ガスと、酸素原子(○)及び水素原子(H)を構成
原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合
するか、或いは、シリコン原子(Si)を構成原子とす
る原料ガスと、シリコン原子(Si ) 、酸素原子(
0)及び水素原子(H)の3つの構成原子とする原料ガ
スとを混合して使用することができる。
、シリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガスと、
酸素原子(0)を構成原子とする原料ガスと、必要に応
じて水素原子(H)又は及びハロゲン原子(X)を構成
原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して使用す
るか、又は、シリコン原子(Si )を構成原子とする
原料ガスと、酸素原子(○)及び水素原子(H)を構成
原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合
するか、或いは、シリコン原子(Si)を構成原子とす
る原料ガスと、シリコン原子(Si ) 、酸素原子(
0)及び水素原子(H)の3つの構成原子とする原料ガ
スとを混合して使用することができる。
又、別には、シリコン原子(Si )と水素原子(H)
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子(○)を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
とを構成原子とする原料ガスに酸素原子(○)を構成原
子とする原料ガスを混合して使用してもよい。
スパッタリング法によって、酸素原子を含有する層を形
成するには、単結晶又は多結晶のSlつニーバー又はS
i Otウェーハー、又はSiとSiO□が混合され
て含有されているウェーハーをターゲットとして、これ
等を種々のガス雰囲気中でスパッタリングすることによ
って行えばよい。
成するには、単結晶又は多結晶のSlつニーバー又はS
i Otウェーハー、又はSiとSiO□が混合され
て含有されているウェーハーをターゲットとして、これ
等を種々のガス雰囲気中でスパッタリングすることによ
って行えばよい。
例えば、St ウェーハーをターゲットとして使用すれ
ば、酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スで稀釈して、スパック−用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Si ウェーハ
ーをスパッタリングすればよい。
ば、酸素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スで稀釈して、スパック−用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Si ウェーハ
ーをスパッタリングすればよい。
又、別には、SiとSingとは別々のターゲットとし
て、又はSiと5iOzの混合した一枚のターゲットを
使用することによって、スパッター用のガスとしての稀
釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(H)又は
/及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有するガ
ス雰囲気中でスパッタリングすることによって成される
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガスとして使
用できる。
て、又はSiと5iOzの混合した一枚のターゲットを
使用することによって、スパッター用のガスとしての稀
釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(H)又は
/及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有するガ
ス雰囲気中でスパッタリングすることによって成される
。酸素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロー
放電の例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、スパッタリングの場合にも有効なガスとして使
用できる。
スパッターリング法によって、窒素原子を含有する層ま
たは層領域を形成するには、単結晶又は多結晶のSi
ウェーハー又はsi、N、ウェーハー、又はSi とS
i3Nmが混合されて含有されているウェーハーをター
ゲットとして、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッタ
リングすることによって行えばよい。
たは層領域を形成するには、単結晶又は多結晶のSi
ウェーハー又はsi、N、ウェーハー、又はSi とS
i3Nmが混合されて含有されているウェーハーをター
ゲットとして、これ等を種々のガス雰囲気中でスパッタ
リングすることによって行えばよい。
例えば、Si ウェーハーをターゲットとして使用すれ
ば、窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を4大する為の原料ガスを、必要に応して稀釈ガ
スで稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Si ウェーハ
ーをスパック−リングすればよい。
ば、窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲ
ン原子を4大する為の原料ガスを、必要に応して稀釈ガ
スで稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Si ウェーハ
ーをスパック−リングすればよい。
又、別には、Si と5iaN4とは別々のターゲット
として、又はSi とS i 3 N aの混合した一
枚のターゲットを使用することによって、スパッター用
のガスとしての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水
素原子(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子
として含有するガス雰囲気中でスパッタリングすること
によって形成できる。窒素原子導入用の原料ガスとして
は、先述したグロー放電の例で示した原料ガスの中の窒
素原子4入用の原料ガスが、スパッタリングの場合にも
を効なガスとして使用できる。
として、又はSi とS i 3 N aの混合した一
枚のターゲットを使用することによって、スパッター用
のガスとしての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水
素原子(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子
として含有するガス雰囲気中でスパッタリングすること
によって形成できる。窒素原子導入用の原料ガスとして
は、先述したグロー放電の例で示した原料ガスの中の窒
素原子4入用の原料ガスが、スパッタリングの場合にも
を効なガスとして使用できる。
第■族原子又は第■族原子および炭素原子あるいは必要
に応じて酸素原子及び/又は窒素原子を含有するシリコ
ンを母体とするアモルファス材料、即ちa−3iCM(
H,X) (但し、Mは第■族原子又は第■族原子を
表わす。)で構成される第二の層103をグロー放電法
、スパッタリング法あるいはイオンブレーティング法に
よって形成するには、前述のa−3i(H,X)で構成
される層の形成用の出発物質から、炭素原子(C)供給
用の原料ガスとなる出発物質および第■族原子又は第■
族原子供給用の原料ガスとなる出発物質あるいは必要に
応して酸素原子及び/又は窒素原子供給用の原料ガスと
なる出発物質を加え、形成する層中へそれらの量を制御
しながら含有せしめてやることにより行う。
に応じて酸素原子及び/又は窒素原子を含有するシリコ
ンを母体とするアモルファス材料、即ちa−3iCM(
H,X) (但し、Mは第■族原子又は第■族原子を
表わす。)で構成される第二の層103をグロー放電法
、スパッタリング法あるいはイオンブレーティング法に
よって形成するには、前述のa−3i(H,X)で構成
される層の形成用の出発物質から、炭素原子(C)供給
用の原料ガスとなる出発物質および第■族原子又は第■
族原子供給用の原料ガスとなる出発物質あるいは必要に
応して酸素原子及び/又は窒素原子供給用の原料ガスと
なる出発物質を加え、形成する層中へそれらの量を制御
しながら含有せしめてやることにより行う。
例えば、グロー放電法によって第二の層を形成するには
、a−3iCM (H,X)形成用の原料ガスを、必要
に応して稀釈ガスと所定量の混合比で混合して、支持体
101の設置しである真空堆積用の堆積室に導入し、導
入されたガスをグロー放電を生起させることでガスプラ
ズマ化して前記支持体上に既に形成されである第一の層
上にa−3iCM (H,X)を堆積させればよい。
、a−3iCM (H,X)形成用の原料ガスを、必要
に応して稀釈ガスと所定量の混合比で混合して、支持体
101の設置しである真空堆積用の堆積室に導入し、導
入されたガスをグロー放電を生起させることでガスプラ
ズマ化して前記支持体上に既に形成されである第一の層
上にa−3iCM (H,X)を堆積させればよい。
a−3iCM(H,X)形成用の原料ガスとしては、S
i 、 C,H及び/又はハロゲン原子、及び第■族
原子又は第V族原子の中の少なくとも一つを構成原子と
するガス状の物質又はガス化し得る物質をガス化したも
のであれば、いずれのものであってもよい。
i 、 C,H及び/又はハロゲン原子、及び第■族
原子又は第V族原子の中の少なくとも一つを構成原子と
するガス状の物質又はガス化し得る物質をガス化したも
のであれば、いずれのものであってもよい。
Si 、 C,H及び/又はハロゲン原子、第■族原子
又は第■族原子の中の1つとしてSiを構成原子とする
原料ガスを使用する場合は、例えばSiを構成原子とす
る原料ガスと、Cを構成原子とする原料ガスと、H及び
/又はハロゲン原子を++!a成原子とする原料ガスと
第■族原子又は第■族原子を構成原子とする原料ガスを
所望の混合比で混合して使用するか、又は、Siを構成
原子とする原料ガスと、C及びH及び/又はハロゲン原
子を構成原子とする原料ガスと、第■族原子又は第■族
原子を構成原子とする原料ガスとを、これも又所望の混
合比で混合するか、或いは、Siを構成原子とする原料
ガスと、Si、C及び■(及び/又はハロゲン原子の3
つを構成原子とする原料ガスと第■族原子又は第■族原
子を構成原子とする原11ガスとを混合して使用するこ
とができる。
又は第■族原子の中の1つとしてSiを構成原子とする
原料ガスを使用する場合は、例えばSiを構成原子とす
る原料ガスと、Cを構成原子とする原料ガスと、H及び
/又はハロゲン原子を++!a成原子とする原料ガスと
第■族原子又は第■族原子を構成原子とする原料ガスを
所望の混合比で混合して使用するか、又は、Siを構成
原子とする原料ガスと、C及びH及び/又はハロゲン原
子を構成原子とする原料ガスと、第■族原子又は第■族
原子を構成原子とする原料ガスとを、これも又所望の混
合比で混合するか、或いは、Siを構成原子とする原料
ガスと、Si、C及び■(及び/又はハロゲン原子の3
つを構成原子とする原料ガスと第■族原子又は第■族原
子を構成原子とする原11ガスとを混合して使用するこ
とができる。
又、別には、Si とH及び/又はハロゲン原子とを構
成原子とする原料ガスにCを構成原子とする原料ガスと
第■族原子又は第■族原子を構成原子とする原料ガスと
を混合して使用してもよい。
成原子とする原料ガスにCを構成原子とする原料ガスと
第■族原子又は第■族原子を構成原子とする原料ガスと
を混合して使用してもよい。
5ilk給用、C供給用、および水素原子(ト1)又は
ハロゲン原子(X)供給用の原料ガスとじて有効に使用
されるのは、Si と11とを構成原子とする5t)I
n+ 5Nz)(*、 5tile、 5iaH+e
”Jノシ−yン(Si l1ane)類等の水素化硅
素ガス、CとHとを構成原子とする、例えば炭素数1〜
4の飽和炭化水素、炭素数2〜4のエチレン系炭化水素
、炭素数2〜3のアセチレン系炭化水素等が挙げられる
。
ハロゲン原子(X)供給用の原料ガスとじて有効に使用
されるのは、Si と11とを構成原子とする5t)I
n+ 5Nz)(*、 5tile、 5iaH+e
”Jノシ−yン(Si l1ane)類等の水素化硅
素ガス、CとHとを構成原子とする、例えば炭素数1〜
4の飽和炭化水素、炭素数2〜4のエチレン系炭化水素
、炭素数2〜3のアセチレン系炭化水素等が挙げられる
。
具体的には、飽和炭化水素としては、メタン(CH,)
、エタン(CzHi)、プロパン(C,Il、)、n−
ブタン(n C4HIe)、ペンタン(C5I(,2
)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(Ct H
、、)、プロピレン(C、H、)、ブテン−1(C,H
,)、ブテン−2(C,)(、)、イソブチレン(C,
H,)、ペンテン(CsH+o)−アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C,H,)、メチルアセチレ
ン(C3ト1.)、ブチン(C,tl、)等が挙げられ
る。
、エタン(CzHi)、プロパン(C,Il、)、n−
ブタン(n C4HIe)、ペンタン(C5I(,2
)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(Ct H
、、)、プロピレン(C、H、)、ブテン−1(C,H
,)、ブテン−2(C,)(、)、イソブチレン(C,
H,)、ペンテン(CsH+o)−アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C,H,)、メチルアセチレ
ン(C3ト1.)、ブチン(C,tl、)等が挙げられ
る。
Si とCとトIとを構成原子とする原料ガスとしては
、5i(CI(z)1.5i(CzH*)−等のケイ化
アルキルを挙げることができる。これ等の原料ガスの他
、11導入用の原ネ4ガスとしては勿論NZ も使用で
きる。
、5i(CI(z)1.5i(CzH*)−等のケイ化
アルキルを挙げることができる。これ等の原料ガスの他
、11導入用の原ネ4ガスとしては勿論NZ も使用で
きる。
第■族原子又は第■族原子、および酸素原子4人用の出
発物質としては、前述の第一の層形成用に用いたものを
用いることができる。
発物質としては、前述の第一の層形成用に用いたものを
用いることができる。
スパッタリング法によってa−5iCM(Il、X)で
構成される第二の層を形成するには、単結晶又は多結晶
のSiウェーハー又はC(グラファイト)ウェーハー、
又はSi とCが混合されて含有されているウェーハー
をターゲットとして、これ等を所望のガス雰囲気中でス
パッタリングすることによって行う。
構成される第二の層を形成するには、単結晶又は多結晶
のSiウェーハー又はC(グラファイト)ウェーハー、
又はSi とCが混合されて含有されているウェーハー
をターゲットとして、これ等を所望のガス雰囲気中でス
パッタリングすることによって行う。
例えばSi ウェーハーをターゲットとして使用する場
合には、炭素原子、第■族原子又は第■族原子、および
水素原子又は/及びハロゲン原子を4大するための原f
4ガスを、必要に応してAr、He等の稀釈ガスで稀釈
して、スパッタ用の堆積室内に導入し、これ等のガスの
ガスプラズマを形成してSt ウェーハーをスパッタリ
ングすればよい。
合には、炭素原子、第■族原子又は第■族原子、および
水素原子又は/及びハロゲン原子を4大するための原f
4ガスを、必要に応してAr、He等の稀釈ガスで稀釈
して、スパッタ用の堆積室内に導入し、これ等のガスの
ガスプラズマを形成してSt ウェーハーをスパッタリ
ングすればよい。
又、Si とCとは別々のターゲットとするか、あるい
はSi とCの混合した1枚のターゲットとして使用す
る場合には、スパッタ用のガスとして第m族原子又は第
■族原子、および水素原子又は/及びハロゲン原子恵入
用の原料ガスを、必要に応して稀釈ガスでf希釈して、
スパッタ用の堆積室内に導入し、ガスプラズマを形成し
てスパッタリングすればよい。該スパッタリング法に用
いる各原子の導入用の原料ガスとしては、前述のグロー
放電法に用いる原料ガスがそのまま使用できる。
はSi とCの混合した1枚のターゲットとして使用す
る場合には、スパッタ用のガスとして第m族原子又は第
■族原子、および水素原子又は/及びハロゲン原子恵入
用の原料ガスを、必要に応して稀釈ガスでf希釈して、
スパッタ用の堆積室内に導入し、ガスプラズマを形成し
てスパッタリングすればよい。該スパッタリング法に用
いる各原子の導入用の原料ガスとしては、前述のグロー
放電法に用いる原料ガスがそのまま使用できる。
以上記述したように本発明の光受容部材の光受容層の第
一の層および第二の層は、グロー放電法、スパッタリン
グ法等を用いて形成するが、第一の層および第二の層に
含有せしめるゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族
原子、窒素原子あるいはさらに酸素原子、炭素原子、あ
るいは水素原子及び/又はハロゲン原子の各々の含有量
の制御は、堆積室内へ流入する、各々の原子供給用出発
物質のガス流量あるいは各々の原子供給用出発物質間の
ガス流量比を制御することにより行われる。
一の層および第二の層は、グロー放電法、スパッタリン
グ法等を用いて形成するが、第一の層および第二の層に
含有せしめるゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族
原子、窒素原子あるいはさらに酸素原子、炭素原子、あ
るいは水素原子及び/又はハロゲン原子の各々の含有量
の制御は、堆積室内へ流入する、各々の原子供給用出発
物質のガス流量あるいは各々の原子供給用出発物質間の
ガス流量比を制御することにより行われる。
また、第一の層および第二の層形成時の支持体温度、堆
積室内のガス圧、放電パワー等の条件は、所望の特性を
有する光受容部材を得るためには重要な要因であり、形
成する層のa能に考IQをはらって適宜選択されるもの
である。さらに、これらの層形成条件は、第一の層およ
び第二の層に含有せしめる上記の各原子の種類及び量に
よっても異なることもあることから、含有せしめる原子
の種類あるいはその量等にも考慮をはらって決定する必
要もある。
積室内のガス圧、放電パワー等の条件は、所望の特性を
有する光受容部材を得るためには重要な要因であり、形
成する層のa能に考IQをはらって適宜選択されるもの
である。さらに、これらの層形成条件は、第一の層およ
び第二の層に含有せしめる上記の各原子の種類及び量に
よっても異なることもあることから、含有せしめる原子
の種類あるいはその量等にも考慮をはらって決定する必
要もある。
具体的には、a−3i(H,X)からなる層を形成する
場合、あるいは第■族原子又は第■族原子、窒素原子、
酸素原子、炭素原子等を含有せしめたa−3i(H,X
)からなる層を形成する場合には、支持体温度は、通常
50〜350℃とするが、特に好ましくは50〜250
’Cとする。堆積室内のガス圧は、通常0.01〜I
Torrとするが、特に好ましくは0.1〜0.5
T orrとする。また、放電パワーは0.005〜5
0 W / cjとするのが通常であるが、より好まし
くは00ol〜30W/cI11、特に好ましくは0.
01〜20W/cotとする。
場合、あるいは第■族原子又は第■族原子、窒素原子、
酸素原子、炭素原子等を含有せしめたa−3i(H,X
)からなる層を形成する場合には、支持体温度は、通常
50〜350℃とするが、特に好ましくは50〜250
’Cとする。堆積室内のガス圧は、通常0.01〜I
Torrとするが、特に好ましくは0.1〜0.5
T orrとする。また、放電パワーは0.005〜5
0 W / cjとするのが通常であるが、より好まし
くは00ol〜30W/cI11、特に好ましくは0.
01〜20W/cotとする。
また、a−3ide(H,X)からなる層を形成する場
合、あるいは第■族原子又は第■族原子、酸素原子、窒
素原子等を含有せしめたa−3iGe(H,X)からな
る層を形成する場合については、支持体温度は、通常5
0〜350℃とするが、より好ましくは50〜300℃
、特に好ましくは100〜300℃とする。そし゛て、
堆積室内のガス圧は、通常0、01 = 5 Torr
とするが、好ましくは、0.001〜3Torrとし、
特に好ましくは0.1〜I Torrとする。また、放
電パワーは0.005〜50W/Cl11とするのが通
常であるが、好ましくは0.O1〜30W/c+Jとし
、特に好ましくは0.01〜20W/ cIlとする。
合、あるいは第■族原子又は第■族原子、酸素原子、窒
素原子等を含有せしめたa−3iGe(H,X)からな
る層を形成する場合については、支持体温度は、通常5
0〜350℃とするが、より好ましくは50〜300℃
、特に好ましくは100〜300℃とする。そし゛て、
堆積室内のガス圧は、通常0、01 = 5 Torr
とするが、好ましくは、0.001〜3Torrとし、
特に好ましくは0.1〜I Torrとする。また、放
電パワーは0.005〜50W/Cl11とするのが通
常であるが、好ましくは0.O1〜30W/c+Jとし
、特に好ましくは0.01〜20W/ cIlとする。
しかし、これらの、層形成を行うについての支持体温度
、放電パワー、堆積室内のガス圧の具体的条件は、通常
には個々に独立しては容易には沈め難いものである。し
たがって、所望の特性の非晶質材料層を形成すべく、相
互的且つ有機的関連性に基づいて、層形成の至適条件を
沈めるのが望ましい。
、放電パワー、堆積室内のガス圧の具体的条件は、通常
には個々に独立しては容易には沈め難いものである。し
たがって、所望の特性の非晶質材料層を形成すべく、相
互的且つ有機的関連性に基づいて、層形成の至適条件を
沈めるのが望ましい。
ところで、本発明において第一の層中又は第二の層中に
含有せしめるゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族
原子、窒素原子、酸素原子、炭素原子の分布状態を均一
とするためには、第一の5又は第二の層を形成するに際
して、前記の諸条件を一定に保つことが必要である。
含有せしめるゲルマニウム原子、第■族原子又は第■族
原子、窒素原子、酸素原子、炭素原子の分布状態を均一
とするためには、第一の5又は第二の層を形成するに際
して、前記の諸条件を一定に保つことが必要である。
また、本発明において、第一の層の形成の際に、該層中
に含有せしめるゲルマニウム原子、窒素原子、酸素原子
あるいは第■族原子又は第■族原子の分布濃度を層厚方
向に変化させて所望の層厚方向の分布状態を有する第一
の層を形成するには、グロー放電法を用いる場合であれ
ば、ゲルマニウム原子導入用、酸素源子扉入用、窒素原
子恵入用および第■族原子又は第■族原子感入用の出発
物質のガスの堆積室内に導入する際のガス流量を、所望
の変化率に従って適宜変化させ、その他の条件を一定に
保ちつつ形成する。そして、ガス流計を変化させるには
、具体的には、例えば手動あるいは外部駆動モータ等の
通常用いられている何らかの方法により、ガス流路系の
途中に設けられた所定のニードルバルブの開口を漸次変
化させるj2作を行えばよい。このとき、2tffiの
変化率は線型である必要はなく、例えばマイコン等を用
いて、あらかじめ設計された変化率曲線に従ってitを
制御し、所望の含有率曲線を得ることもできる。
に含有せしめるゲルマニウム原子、窒素原子、酸素原子
あるいは第■族原子又は第■族原子の分布濃度を層厚方
向に変化させて所望の層厚方向の分布状態を有する第一
の層を形成するには、グロー放電法を用いる場合であれ
ば、ゲルマニウム原子導入用、酸素源子扉入用、窒素原
子恵入用および第■族原子又は第■族原子感入用の出発
物質のガスの堆積室内に導入する際のガス流量を、所望
の変化率に従って適宜変化させ、その他の条件を一定に
保ちつつ形成する。そして、ガス流計を変化させるには
、具体的には、例えば手動あるいは外部駆動モータ等の
通常用いられている何らかの方法により、ガス流路系の
途中に設けられた所定のニードルバルブの開口を漸次変
化させるj2作を行えばよい。このとき、2tffiの
変化率は線型である必要はなく、例えばマイコン等を用
いて、あらかじめ設計された変化率曲線に従ってitを
制御し、所望の含有率曲線を得ることもできる。
また、第一の層をスパンタリング法を用いて形成する場
合、ゲルマニウム原子、窒素原子、酸素原子あるいは第
■族原子又は第■族原子の層厚方向の分布濃度を層厚方
向で変化させて所望の層厚方向の分布状態を形成するに
は、グロー放電法を用いた場合と同様に、ゲルマニウム
原子導入用、窒素原子導入用、酸素原子導入用、あるい
は第■族原子又は第■族原子導入用の出発物質をガス状
態で使用し、該ガスを堆積室内へ導入する際のガス流量
を所望の変化率に従って変化させる。
合、ゲルマニウム原子、窒素原子、酸素原子あるいは第
■族原子又は第■族原子の層厚方向の分布濃度を層厚方
向で変化させて所望の層厚方向の分布状態を形成するに
は、グロー放電法を用いた場合と同様に、ゲルマニウム
原子導入用、窒素原子導入用、酸素原子導入用、あるい
は第■族原子又は第■族原子導入用の出発物質をガス状
態で使用し、該ガスを堆積室内へ導入する際のガス流量
を所望の変化率に従って変化させる。
以下、本発明を実施例1乃至34に従って、より詳細に
説明するが、本発明はこれ等によって限定されるもので
はない。
説明するが、本発明はこれ等によって限定されるもので
はない。
各実施例においては、第一の層および第二の層をグロー
放電法を用いて形成した。第14図はグロー放電法によ
る本発明の光受容部材の装造装置である。
放電法を用いて形成した。第14図はグロー放電法によ
る本発明の光受容部材の装造装置である。
図中の202,203.204,205..206のガ
スボンベには、本発明の夫々の層を形成するための原料
ガスが密封されており、その1例として、たとえば、2
02はHeで稀釈された5iHaガス(純度99.99
9%、以下S i H、/ Heと略す)ボンベ、20
3はHeで稀釈されたPH,ガス(純度99.999%
、以下PHz/Heと略す、)ボンベ、204はHeで
稀釈されたB 、 )[、ガス(純度99.999%、
以下B z Ha/ Heと略す。)ボンベ、205は
Cz H4ガス(純度99.999%)ボンベ、206
はHeで稀釈されたG e Haガス(純度99.99
9%、以下GeHa/Heと略す。)ボンベである。
スボンベには、本発明の夫々の層を形成するための原料
ガスが密封されており、その1例として、たとえば、2
02はHeで稀釈された5iHaガス(純度99.99
9%、以下S i H、/ Heと略す)ボンベ、20
3はHeで稀釈されたPH,ガス(純度99.999%
、以下PHz/Heと略す、)ボンベ、204はHeで
稀釈されたB 、 )[、ガス(純度99.999%、
以下B z Ha/ Heと略す。)ボンベ、205は
Cz H4ガス(純度99.999%)ボンベ、206
はHeで稀釈されたG e Haガス(純度99.99
9%、以下GeHa/Heと略す。)ボンベである。
形成される層中にハロゲン原子を導入する場合には、S
iH4ガスに代えて、例えば、SiF+ガススを用いる
様にボンベを代えればよい。
iH4ガスに代えて、例えば、SiF+ガススを用いる
様にボンベを代えればよい。
これらのガスを反応室201に流入させるにはガスボン
ベ202〜206のバルブ222〜226、リークバル
ブ235が閉しられていることを確認し又、流入バルブ
212〜216.流入バルブ217〜221、補助バル
ブ232,233が開かれていることをhM L”lし
て、先ずメインバルブ234を開いて反応室201、ガ
ス配管内を排気する。次に真空計236の読みが約5
x l O−”r’orrになった時点で、補助バルブ
232,233、流出バルブ217〜221を閉しる。
ベ202〜206のバルブ222〜226、リークバル
ブ235が閉しられていることを確認し又、流入バルブ
212〜216.流入バルブ217〜221、補助バル
ブ232,233が開かれていることをhM L”lし
て、先ずメインバルブ234を開いて反応室201、ガ
ス配管内を排気する。次に真空計236の読みが約5
x l O−”r’orrになった時点で、補助バルブ
232,233、流出バルブ217〜221を閉しる。
基体シリンダー237上に第一の層102を形成する場
合の1例をあげる。ガスボンベ202より5it(、/
Heガス、ガスボンベ206よりGeH4/Heガスの
夫々をバルブ222,2j2を開いて出口圧ゲージ22
7.231の圧を1kg/cJに調整し、流入バルブ2
12.216を徐々に開けて、マスフロコントローラ2
07.211内に流入させる。引き続いて流出パルプ2
17,221、補助バルブ232.233を徐々に開い
てガスを反応室201内に流入させる。このときのS
i Ha/Heガス流量、GeHa/Heガス流量の比
が所望の値になるように流出パルプ217,221を調
整し、又、反応室201内の圧力が所望の値になるよう
に真空計236の読みを見ながらメインバルブ234の
開口を調整する。そして基体シリンダー237の温度が
加熱ヒーター238により50〜400℃の範囲の温度
に設定されていることを確認された後、電源240を所
望の電力に設定して反応室201内にグロー放電を生起
せしめるとともに、マイクロコンピュータ−(図示せず
)を用いて、あらかしめ設計された変化率線に従って、
GeH4/Heガス流量とSiH4/)ieガス流里の
比を制御しながら、基体シリンダー23τ上に先ず、ゲ
ルマニウム原子を含有する第一の層を形成する。
合の1例をあげる。ガスボンベ202より5it(、/
Heガス、ガスボンベ206よりGeH4/Heガスの
夫々をバルブ222,2j2を開いて出口圧ゲージ22
7.231の圧を1kg/cJに調整し、流入バルブ2
12.216を徐々に開けて、マスフロコントローラ2
07.211内に流入させる。引き続いて流出パルプ2
17,221、補助バルブ232.233を徐々に開い
てガスを反応室201内に流入させる。このときのS
i Ha/Heガス流量、GeHa/Heガス流量の比
が所望の値になるように流出パルプ217,221を調
整し、又、反応室201内の圧力が所望の値になるよう
に真空計236の読みを見ながらメインバルブ234の
開口を調整する。そして基体シリンダー237の温度が
加熱ヒーター238により50〜400℃の範囲の温度
に設定されていることを確認された後、電源240を所
望の電力に設定して反応室201内にグロー放電を生起
せしめるとともに、マイクロコンピュータ−(図示せず
)を用いて、あらかしめ設計された変化率線に従って、
GeH4/Heガス流量とSiH4/)ieガス流里の
比を制御しながら、基体シリンダー23τ上に先ず、ゲ
ルマニウム原子を含有する第一の層を形成する。
第一の層中にハロゲン原子を含有せしめる場合には、上
記のガスに例えばS r F 4 / l(eガスを更
に付加して反応室に送り込めばよい。
記のガスに例えばS r F 4 / l(eガスを更
に付加して反応室に送り込めばよい。
上記の様なt、を作によって、基体ンリンダー237上
に形成された第一の層上に第二の層を形成するには、第
一の層の形成の際と同様なバルブt=作によって、例え
ば、S i jl aガス、Czll、ガス、PH。
に形成された第一の層上に第二の層を形成するには、第
一の層の形成の際と同様なバルブt=作によって、例え
ば、S i jl aガス、Czll、ガス、PH。
ガスの夫々を、必要に応してHe等の稀釈ガスで稀釈し
て、所望の流量比で反応室201中に流し、所望の条件
に従って、グロー放電を生起させることによって成され
る。
て、所望の流量比で反応室201中に流し、所望の条件
に従って、グロー放電を生起させることによって成され
る。
夫々の層を形成する際に必要なガスの流出バルブ以外の
流出バルブは全て閉じることは言うまでもなく、又夫々
の層を形成する際、前層の形成に使用したガスが反応室
201内、流出パルプ217〜221から反応室201
内に至るガス配管内に残留することを避けるために、必
要に応して流出パルプ217〜221を閉じ補助バルブ
232゜233を開いてメインバルブ234を全開して
系内を一旦高真空に排気する艮作を行う。
流出バルブは全て閉じることは言うまでもなく、又夫々
の層を形成する際、前層の形成に使用したガスが反応室
201内、流出パルプ217〜221から反応室201
内に至るガス配管内に残留することを避けるために、必
要に応して流出パルプ217〜221を閉じ補助バルブ
232゜233を開いてメインバルブ234を全開して
系内を一旦高真空に排気する艮作を行う。
又、第二の層の層形成を行っている間は層形成の均一化
を図るため基体シリンダー237は、モータ239によ
って所望される速度で一定に回転させる。
を図るため基体シリンダー237は、モータ239によ
って所望される速度で一定に回転させる。
ス1■達上
第14図に示した製造装置を用いて、第1表に示す層形
成条件に従って、通常の方法で洗浄したドラム状アルミ
ニウム基体上に層形成を行った。
成条件に従って、通常の方法で洗浄したドラム状アルミ
ニウム基体上に層形成を行った。
この際、Ge Ha/ S i Haのガス流星比の変
化は、予め設計した第15図に示す流■比変化線に従っ
て、マイクロコンピュータ−制御により、自vJ的に調
整した。
化は、予め設計した第15図に示す流■比変化線に従っ
て、マイクロコンピュータ−制御により、自vJ的に調
整した。
こうして得られた電子写真用のドラム状光受容部材を、
実験用に改造したキャノン製高速複写機に設置し、キャ
ノン製テストチャートを原稿として、画像形成プロセス
条件(光源はタングステンランプを使用)を適宜選択し
、複写テストを行ったところ、解像力に優れた高品質の
画像を得ることができた。
実験用に改造したキャノン製高速複写機に設置し、キャ
ノン製テストチャートを原稿として、画像形成プロセス
条件(光源はタングステンランプを使用)を適宜選択し
、複写テストを行ったところ、解像力に優れた高品質の
画像を得ることができた。
ス11ルニ10
各実施例において、層形成条件を各々第2〜10表に示
す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用の
ドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テスト
を行ったところ、解像力に優れた高品質の画像を得るこ
とができた。
す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用の
ドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テスト
を行ったところ、解像力に優れた高品質の画像を得るこ
とができた。
なお、各実施例におけるGeHn/5iHaのガス流量
比及びBzHi/5iHiガス流冊比は、下記のA表に
示す流量比変化図に従って制御した。
比及びBzHi/5iHiガス流冊比は、下記のA表に
示す流量比変化図に従って制御した。
A表
第4表に於ける、第二の層の形成の際に、その層厚を第
11表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手順と略々同様の条件で各光受容部tオ(試料階1
101〜1107)を作成し、各々に実施例1と同様の
画像形成プロセスを適用して評価を行ったところ、第1
1表に示す結果を得た。
11表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手順と略々同様の条件で各光受容部tオ(試料階1
101〜1107)を作成し、各々に実施例1と同様の
画像形成プロセスを適用して評価を行ったところ、第1
1表に示す結果を得た。
尖施五土主
第4表に於ける、第二の層の形成の際にガス流量比Ct
H4/ S i Haの値を第12表に示す値とした
以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光受
容部材(試料m1201〜1207)を作成し、実施例
1と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間調の
再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
H4/ S i Haの値を第12表に示す値とした
以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光受
容部材(試料m1201〜1207)を作成し、実施例
1と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間調の
再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
又、繰返し連続使用による耐久性試験に於いても、初期
の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を得る
ことができ、耐久性にも優れていることが実証された。
の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を得る
ことができ、耐久性にも優れていることが実証された。
1隻糎上主二主度
各実施例において、層形成条件を各々第13〜20表に
示す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用
のドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テス
トを行ったところ、解像力に優れた高品質の画像を得る
ことができた。
示す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用
のドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テス
トを行ったところ、解像力に優れた高品質の画像を得る
ことができた。
なお、各実施例におけるGeH4/5il14ガス流量
比及びB!HA/5iHsガス流量比及び02/S i
Haガス211比は、下記の8表に示す流量変化図に
従って制御した。
比及びB!HA/5iHsガス流量比及び02/S i
Haガス211比は、下記の8表に示す流量変化図に
従って制御した。
尖施拠主よ
第13表に於ける第二の層の形成の際に、その層厚を第
21表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手1頭と略々同様の条件で各光受容部材(試料嵩2
101〜2107)を作成し、各々に実施例1と同様の
画像形成プロセスを適用して評価を行ったところ第21
表に示す結果を得た。
21表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手1頭と略々同様の条件で各光受容部材(試料嵩2
101〜2107)を作成し、各々に実施例1と同様の
画像形成プロセスを適用して評価を行ったところ第21
表に示す結果を得た。
去籐勇主主
第13表に於ける第二の層の形成の際にガス流量比Ct
H−/ S i H−の値を第22表に示す値とした
以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光受
容部材(試料光2201〜2207)を作成し、実施例
工と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間調の
再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
H−/ S i H−の値を第22表に示す値とした
以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光受
容部材(試料光2201〜2207)を作成し、実施例
工と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間調の
再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
又、繰返し連続使用による耐久性試験に於いても、初期
の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を得る
ことができ、耐久性にも優れていることが実証された。
の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を得る
ことができ、耐久性にも優れていることが実証された。
尖施五1ま二ュ上
各実施例において、層形成条件を各々第23〜31表に
示す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用
のドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テス
トを行ったところ、解像力に価れた高品質の画像を得る
ことができた。
示す条件とした以外は実施例1と同様にして電子写真用
のドラム状光受容部材を得、実施例1と同様の複写テス
トを行ったところ、解像力に価れた高品質の画像を得る
ことができた。
なお、各実施例におけるGeHa/5iHaガス流量比
、B 2 Hh/ S i H4流量比、及びNHs/
5iH−ガス流量比は下記0表に示す流量変化図に従っ
て制御した。
、B 2 Hh/ S i H4流量比、及びNHs/
5iH−ガス流量比は下記0表に示す流量変化図に従っ
て制御した。
第23表に於ける第二の層の形成の際に、その層厚を第
32表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手順と略々同様の条件で各光受容部材(試料光32
01〜3207)を作成し、各々に実施例1と同様の画
像形成プロセスを適用して評価を行ったところ第32表
に示す結果を得た。
32表に示す如く種々変化させた以外は、実施例1と同
様の手順と略々同様の条件で各光受容部材(試料光32
01〜3207)を作成し、各々に実施例1と同様の画
像形成プロセスを適用して評価を行ったところ第32表
に示す結果を得た。
ス&
第23表に於ける第二の層の形成の際にガス流量比Cx
Ha / S i Haの値を第33表に示す値とし
た以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光
受容部材(試料113301〜3307)を作成し、実
施例1と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間
調の再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
Ha / S i Haの値を第33表に示す値とし
た以外は、実施例1と同様の手順と略同様の条件で各光
受容部材(試料113301〜3307)を作成し、実
施例1と同様の評価を行ったところ、各々に於いて中間
調の再現性が良く、高品質の画像を得ることができた。
又、繰返し連続使用による耐久性81(験に於いても、
初期の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を
得ることができ、耐久性にも優れていることが実証され
た。
初期の画像品質に較べても同等遜色のない品質の画像を
得ることができ、耐久性にも優れていることが実証され
た。
失施炎主↓
実施例1〜33に於いて、光源をタングステンランプの
代わりに810nmのGaAs系半専体レーザ(10m
W)を用いて静電像の形成を行うと共に反転現像を施す
以外は、各実施例と同様の画像形成プロセスを適用して
、トナー転写画像の画質評価を行ったところ、解像力に
優れ、諧調再現性の良い鮮明な高品質の画像を得ること
ができた。
代わりに810nmのGaAs系半専体レーザ(10m
W)を用いて静電像の形成を行うと共に反転現像を施す
以外は、各実施例と同様の画像形成プロセスを適用して
、トナー転写画像の画質評価を行ったところ、解像力に
優れ、諧調再現性の良い鮮明な高品質の画像を得ること
ができた。
[発明の効果の概略]
本発明の光受容部材はa−5i(H,X)で+M成した
光受容層を有するものであって、該光受容部材の層構成
を前述のごとき特定のものとしたことにより、a−5i
で構成した従来の光受容部付における諸問題を全て解決
することができたものである。即ち、本発明の光受容部
材は特に優れた耐湿性、連続繰返し使用特性、電気的耐
圧性、使用環境特性及び耐久性等を有するものであり、
また、光感度及び暗抵抗性が向上し、特に長波長域にお
いて光感度が高く、且つ、光応答の速く、半導体レーザ
とのマツチング性にすぐれている。さらに本発明の光受
容部材を電子写真用像形成部材として適用させた場合に
は、残留電位の影客が全くなく、その電気的特性が安定
しており、それを用いて得られた画像は、濃度が高く、
ハーフトーンが鮮明に出る等、すぐれた極めて秀でたも
のとなる。
光受容層を有するものであって、該光受容部材の層構成
を前述のごとき特定のものとしたことにより、a−5i
で構成した従来の光受容部付における諸問題を全て解決
することができたものである。即ち、本発明の光受容部
材は特に優れた耐湿性、連続繰返し使用特性、電気的耐
圧性、使用環境特性及び耐久性等を有するものであり、
また、光感度及び暗抵抗性が向上し、特に長波長域にお
いて光感度が高く、且つ、光応答の速く、半導体レーザ
とのマツチング性にすぐれている。さらに本発明の光受
容部材を電子写真用像形成部材として適用させた場合に
は、残留電位の影客が全くなく、その電気的特性が安定
しており、それを用いて得られた画像は、濃度が高く、
ハーフトーンが鮮明に出る等、すぐれた極めて秀でたも
のとなる。
また、本発明の光受容部材は支持体上に形成される光受
容層は、層自体が強靭であって、高速で長時間連続的に
繰返し使用することができる。
容層は、層自体が強靭であって、高速で長時間連続的に
繰返し使用することができる。
第1〜4図は本発明の光受容部材の層構造を模式的に示
した図であり、第5〜13図は本発明の光受容部材の第
一の層におけるゲルマニウム原子、酸素原子及び/又は
窒素原子および第■族原子又は第■族原子の層厚方向の
分布濃度を示す図であり、縦軸は層厚りを示し、横軸は
分布濃度Cを表わす、さらに第14図は本発明の光受容
部材を製造するための装置の一例で、グロー放電法を用
いた製造装置の模式的説明図であり、第15〜23図は
、本発明の層形成時におけるガス2ttMt比の変化状
態を示す図である。 100・・・光受容部材、101・・・支持体、102
・・・第一の層、103・・・第二の層、104・・・
自由表面、105〜110・・・層領域、201・・・
反応室、202〜206・・・ガスボンベ、207〜2
11・・・マスフロコントローラ、212〜216・・
・流入バルブ、217〜221・・・流出バルブ、22
2〜22(・・・バルブ、227〜231・・・圧力調
整器、232゜233・・・補助バルブ、234・・・
メインバルブ、23;・・・リークバルブ、236・・
・真空計、237・・・基本シリンター、238・・・
加熱ヒーター、239・・・モーター、240・・・高
周波11源。
した図であり、第5〜13図は本発明の光受容部材の第
一の層におけるゲルマニウム原子、酸素原子及び/又は
窒素原子および第■族原子又は第■族原子の層厚方向の
分布濃度を示す図であり、縦軸は層厚りを示し、横軸は
分布濃度Cを表わす、さらに第14図は本発明の光受容
部材を製造するための装置の一例で、グロー放電法を用
いた製造装置の模式的説明図であり、第15〜23図は
、本発明の層形成時におけるガス2ttMt比の変化状
態を示す図である。 100・・・光受容部材、101・・・支持体、102
・・・第一の層、103・・・第二の層、104・・・
自由表面、105〜110・・・層領域、201・・・
反応室、202〜206・・・ガスボンベ、207〜2
11・・・マスフロコントローラ、212〜216・・
・流入バルブ、217〜221・・・流出バルブ、22
2〜22(・・・バルブ、227〜231・・・圧力調
整器、232゜233・・・補助バルブ、234・・・
メインバルブ、23;・・・リークバルブ、236・・
・真空計、237・・・基本シリンター、238・・・
加熱ヒーター、239・・・モーター、240・・・高
周波11源。
Claims (4)
- (1)支持体と、該支持体上に、シリコン原子を母体と
する非晶質材料で構成され光導電性を有する第一の層と
、シリコン原子を母体とし炭素原子および伝導性を制御
する物質を含有する非晶質材料で構成される第二の層と
を積層してなる光受容層とからなり、前記光受容層が、
ゲルマニウム原子を前記第一の層の前記支持体と接する
一部の層領域中に不均一な分布状態で含有していること
を特徴とする光受容部材。 - (2)前記第一の層が、伝導性を制御する物質を該層の
全層領域中あるいは一部の層領域中に含有している特許
請求の範囲第(1)項に記載された光受容部材。 - (3)前記第一の層が、酸素原子及び/又は窒素原子を
該層の全層領域中あるいは一部の層領域中に含有してい
る特許請求の範囲第(1)項または第(2)項に記載さ
れた光受容部材。 - (4)前記第二の層が、酸素原子及び/又は窒素原子を
含有している特許請求の範囲第(1)項、第(2)項ま
たは第(3)項のいずれかに記載された光受容部材。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2369186 | 1986-02-07 | ||
JP61-23691 | 1986-02-07 | ||
JP61-27902 | 1986-02-13 | ||
JP61-33923 | 1986-02-20 | ||
JP61-37357 | 1986-02-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6326660A true JPS6326660A (ja) | 1988-02-04 |
Family
ID=12117450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2465687A Pending JPS6326660A (ja) | 1986-02-07 | 1987-02-06 | 光受容部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6326660A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02247076A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Fujitsu Ltd | レーザはんだ付け装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58187945A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
JPS58187943A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Canon Inc | 光導電部材 |
JPS59185346A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-20 | Toshiba Corp | 光導電部材 |
JPS6050540A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 電子写真感光体 |
JPS6059367A (ja) * | 1983-08-19 | 1985-04-05 | ゼロツクス コーポレーシヨン | 調整した無定形ケイ素を含む電子写真装置 |
JPS6059360A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-05 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
JPS6060652A (ja) * | 1983-09-14 | 1985-04-08 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
JPS60263948A (ja) * | 1984-06-13 | 1985-12-27 | Canon Inc | 電子写真用光受容部材 |
JPS6126050A (ja) * | 1984-07-17 | 1986-02-05 | Canon Inc | 光受容部材 |
-
1987
- 1987-02-06 JP JP2465687A patent/JPS6326660A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58187945A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
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