JPS63265476A - レ−ザビ−ム位置検出装置 - Google Patents

レ−ザビ−ム位置検出装置

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JPS63265476A
JPS63265476A JP10078187A JP10078187A JPS63265476A JP S63265476 A JPS63265476 A JP S63265476A JP 10078187 A JP10078187 A JP 10078187A JP 10078187 A JP10078187 A JP 10078187A JP S63265476 A JPS63265476 A JP S63265476A
Authority
JP
Japan
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laser beam
position detection
light receiving
detection device
mirror
Prior art date
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Pending
Application number
JP10078187A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimiharu Yasui
公治 安井
Masaaki Tanaka
正明 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10078187A priority Critical patent/JPS63265476A/ja
Publication of JPS63265476A publication Critical patent/JPS63265476A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014Monitoring arrangements not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、レーザビーム伝送経路におけるレーザビー
ムの位Rを検出するレーザビーム位置検出装置に関する
ものである。
〔従来の技述〕
第9図(、)は例えば特開昭60−130935号公報
に示された従来めレーザビーム位置検出装置を示す断面
図、及び第9図(b)はレーザビーム入射側よりみた正
面図である。
図において、αυはレーザビーム伝送経路中に配設され
るレーザビーム反射ミラー、 +31Hレーザビ−ムセ
yf、 (41F1入射するレーザビーム、 +51H
レーザビーム(4)が反射ミラー圓により反射された反
射レーザビーム、 +61Hレーザビームの光路上に開
孔(7)ヲ有する開孔部材である。
開孔部材(6)の開孔(7)の周囲には、同一円周上に
適当な間隔をあけて0例えば4つのレーザビームセンサ
ー(3)が設けられている。
この開孔部材(6)は反射ミラーαυの入射側に配設さ
れ、開孔(7)は反射ミラーαυの中央部に対応してい
る。
次に動作について説明する。レーザ発振器(図示せず)
から発振され、伝送経路を進むレーザビーム(4)のう
ちの開孔(7)を通過するレーザビームは反射ミラーα
υにより反射されて角度を変え、レーザビーム(5)と
して出射される。一方、レーザビーム(4)のすそ野の
パワー、即ち開孔(7)の周囲のレーザビームはレーザ
ビームセンサー(3)に入射し、その出力を検出される
。レーザビーム(4)が開孔(7)の中心を通ると4つ
のレーザビームセンサー(3)の各々の出力はバランス
する。従ってこのセンサー(3)による出力のアンバラ
ンスを検出すれば、レーザビーム(4)の開孔(7)に
対する位置が検出できる。このようなレーザビーム位置
検出装置をレーザビーム伝送経路に複数個設置すれば、
レーザ発振器から所定の場所まで正確にレーザビームを
伝送することができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のレーザビーム位置検出装置は以上のように構成さ
れているため、レーザビームセンサー(3)を支持する
ための開孔部材(6)全必要としている。
また、開孔(7)の大きさは、レーザビーム(4)の形
状に大きな影響を与えず、かつレーザビームセンサー(
31になるべく大きなレーザパワーが入射するように選
択されるが1例えは典形的CO,レーザから発生される
シングルモードの正規分布状の強度分布を持つレーザビ
ームでは、ビーム位置検出装置通過により、2チ以上の
伝送パワーロスを招く。
さらに、一般にはレーザビーム伝送路には5枚程を用い
るた1湧嘱射ミラー(1) 度の反射ミラ   前面にレーザビーム位置検出装置を
設けると、全体としてlO−に近い伝送パワーロスを招
くことになる。また、不安定型共振器から発生されるリ
ングモードを持つレーザビームでは、その強度分布はさ
らにすそ野の遠方にまで広がっており、 10%以上の
伝送パワーロスを招くなどの問題点がめった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、伝送によるパワーロスを低減できると共に、
正確にレーザビームの位置を検出できるレーザビーム位
置検出装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るレーザビーム位置検出装置はレーザビー
ムの伝送経路中に配設される反射ミラー上に設けられた
複数のレーザビーム透過部、これら透過部t?透過した
各レーザビームを各々受光する受光板、及び上記各受光
板上の温度を各々測る温度センサーを備え、上記温度セ
ンサーの出力を比較して上記レーザビームの位置を検出
するものである・。
〔作 用〕
この発明におけるレーザビーム位置検出装置は。
反射ミラーに設けられた複数のレーザビーム透過部より
レーザビームの一部をとり出し、各々受光板に吸収させ
て、各受光板の温度を測り、各々を比較してレーザビー
ムの位置ずれを検出する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は、この発明の一実施例によるレーザビーム位置
検出装置を示す断面図であり9図において(1)はレー
ザビームの伝送経路中に配設される反射ミラー、(21
は反射ミラー上に設けられた複数の貫通穴であり、レー
ザビーム透過部をなす。COはこれら透過−1i(21
t−透過した各レーザビームを各々受光する受光板であ
り1例えはレーザビーム吸収剤の塗布された金属板、 
+21)は受光根囲の温度を測定する温度センサーであ
り1例えばサーミスタ。
熱電対、@ハ受光板■の支えである。
次に動作について説明する。レーザビーム(4)はミラ
ー(1)により反射、伝送されるがその一部■がミラー
1))上の透過部(21を通過し、受光板■に吸収され
、その昌度を上昇させる。この温度上昇は温度センサー
(社)により検出されセンサー出力とされる。
さて、このセンサー出力検出によるビーム位置検出の動
作t−co、レーザビームへの実際の適用例をもとに説
明する。レーザビーム強度分布はレーザ加工に典形的に
用いられている軸対称正規分布(ガウシアンビーム)で
あり、レーザミラー上の穴は第2因に示すようにこのレ
ーザビームからみて同軸芯円上に上下、左右対称に4つ
の穴があけられている。
出力500WのCO2レーザを用いた場合に、各透過部
を通過してくるレーザ出力は約0.2Wであり。
従ってパワー損失は0.08と従来の1/’10以下と
なる、また、このレーザ出力により受光板は5°0の温
度上昇が確認された。
受光板は吸収体の塗布された金属板であるから100°
0以上の温度上昇にも耐えられ、したがって、 このセ
ンサーは数KW以上のレーザにも適用できることがわか
る。またこれに対応するサーミスタをセンサーに用いた
時のセンサー出力ti2Vであった。
次に、このセンサーの位置検出能力な見るためにレーザ
ビームを故意的に上下に動かし、上下センサーの出力変
化を観測した結果を第3図に示す。
横軸は軸ずれΔX (m)、即ち最初の位置からレーザ
ビームの中心を上下方向に動かした距離であり。
正方向が上側に設置されたセンサーに近づく方向を示す
。また縦軸はセンサー出力であり、レーザビームが上に
動いたことは上センサーの出力(曲線人)が下センサー
の出力(曲線B)より著しく大きくなることにより、ま
た逆についても2つのセンサー出力比較により検出でき
ることがわかる。
当然のことながら軸ずれ0の場合には両センサーの出力
は同一である。第4図は両センサーの差出刃金軸ずれに
対して示す曲線図である。レーザビームを左右への軸ず
れについても同様にして左右に設置されたセンサーによ
り検出できるため、結局レーザビームが初期設定の位置
から動いたかどうか、またその方向は各センサーの出力
バランスのくずれとして検出できることがわかる。たと
えば左右センサー出力は同一で上センサーと下センサー
出力に差がある場合にはレーザビームは上下にのみ動い
たと検出できる。
なお、上記実施例では透過部を通過したレーザビームを
直接、受光板に入射させるものを示したが、第5図に示
すように、レーザビーム出力が大きい場合にはレーザビ
ーム透過部(2)と受光板との間に部分透過ミラー■を
設置し、レーザビーム噛を減光させて受光板に入射させ
てもよい。
また、第6図に示すように、各センサー出力の表示灯6
υを反射ミラー(1)のホルダ四に直接取付け。
視認しやすくしてもよい、さらに、第7図に示すように
温度センサーを、受光部から支え@へといく熱の流れ上
に2つまたはそれ以上設置し、これら温度センサー(2
10)(21))の温度差を検出すれば支え■の基点の
温度上昇の影IIヲとり除くことができる。
この場合、センサーとしてサーミスタを各2コずつ用い
た場合にブリッジ回路による検出例を第8図に示す。
図において(81Lfiデイジタルパネルメータであり
例えは左右のセンサーの出力■□、■、の差をとること
によシ左右のずれを、上下のセンサーの出力■、。
■、の差をとることにより上下のずれが検出できる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によればレーザビームの伝送経路
中に配設される反射ミラー上に複数のレーザビーム透過
部を設け、これら透過部を透過する各レーザビームを受
光板で受光して、各受光板上の温度を温度センサーで各
々測り、各センサー出力を比較してレーザビームの位置
を検出するようにしたので、レーザビームの伝送ロスを
招かず。
また大出力レーザに用いることができ、従ってこのレー
ザビーム位置検出装置をレーザ加工機の伝送路に用いれ
ば、正確なレーザビーム伝送を行うことができ、高精度
なレーザ加工が高効率で実現できるという効果がめる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるレーザビーム位置検
出装置を示す断面口、第2図はこの発明の一実施例に係
る反射ミラーを示す正面図、第3因はこの発明の一実施
例に係る温度センサーの軸ずれに対する出力変化を示す
曲線図、第4図はこの発明の一実施例に係る上下温度セ
ンサーの差出力を軸ずれに対して示す曲線図、第5図、
第6図及び第7図は各々この発明の他の実施例によるレ
ーザビーム位置検出装置を示す断面図、第8図はこの発
明の他の実施例に係る温度センサーの構成を示す回路図
、並びに第9図(、Xb)は各々従来のレーザビーム位
置検出装置を示す断面図及び正面図である。 tll・・・反射ミラー、(2)・・・レーザビーム透
過fR,,(41゜(51,f4G−v−ザビーA、(
2Im−・・受光板、 c!1)、(2to)、(2n
)・・・温度センサー、31)・・・部分透過ミラー。 なお1図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザビームの伝送経路中に配設される反射ミラ
    ー上に設けられた複数のレーザビーム透過部、これら透
    過部を透過した各レーザビームを各々受光する受光板、
    及び上記各受光板上の温度を各々測る温度センサーを備
    え、上記温度センサーの出力を比較して上記レーザビー
    ムの位置を検出するレーザビーム位置検出装置。
  2. (2)レーザビーム透過部は、反射ミラーに設けられた
    貫通穴である特許請求の範囲第1項記載のレーザビーム
    位置検出装置。
  3. (3)レーザビーム透過部と受光板との間に部分透過ミ
    ラーが設置された特許請求の範囲第1項又は第2項記載
    のレーザビーム位置検出装置。
  4. (4)各受光板は各々少なくとも2ヶ所に温度センサー
    を設置し、各温度センサーの差出力を測定してセンサー
    出力とし位置検出を行う特許請求の範囲第1項ないし第
    3項記載のいずれかに記載のレーザビーム位置検出装置
JP10078187A 1987-04-23 1987-04-23 レ−ザビ−ム位置検出装置 Pending JPS63265476A (ja)

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JP10078187A JPS63265476A (ja) 1987-04-23 1987-04-23 レ−ザビ−ム位置検出装置

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JP10078187A JPS63265476A (ja) 1987-04-23 1987-04-23 レ−ザビ−ム位置検出装置

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JPS63265476A true JPS63265476A (ja) 1988-11-01

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ID=14283004

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JP10078187A Pending JPS63265476A (ja) 1987-04-23 1987-04-23 レ−ザビ−ム位置検出装置

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JP (1) JPS63265476A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011007936A (ja) * 2009-06-24 2011-01-13 Hitachi Ltd 表示装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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