JPS63250546A - 複屈折光学系における局在偏光結合の検出装置 - Google Patents
複屈折光学系における局在偏光結合の検出装置Info
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- JPS63250546A JPS63250546A JP63058149A JP5814988A JPS63250546A JP S63250546 A JPS63250546 A JP S63250546A JP 63058149 A JP63058149 A JP 63058149A JP 5814988 A JP5814988 A JP 5814988A JP S63250546 A JPS63250546 A JP S63250546A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/331—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by using interferometer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
８Ｑ’、Ｌ」
本発明は光学分野、より特定的には複屈折光学系におけ
る偏光結合の試験方法、及び集積光学系の素子のアセン
ブリングにおける該方法の適用に係る。
る偏光結合の試験方法、及び集積光学系の素子のアセン
ブリングにおける該方法の適用に係る。
集積光学系は主に光源と、光導素子、光ファイバー、光
接合部、光分；ｉｌ器、変調器等の系列から構成される
。これらの各種の素子の間の接続は注意して行わなけれ
ばならず、不要な結合を最小にするように注怠しなけれ
ばならない。
接合部、光分；ｉｌ器、変調器等の系列から構成される
。これらの各種の素子の間の接続は注意して行わなけれ
ばならず、不要な結合を最小にするように注怠しなけれ
ばならない。
え１炎１へ１吸
従来、例えば光フアイバージャイロメーターのような光
学系を分析すると、多数の特徴を測定することができる
。これらの特徴とは、例えば損失、故障や加えられる応
力による偏光回転等である。
学系を分析すると、多数の特徴を測定することができる
。これらの特徴とは、例えば損失、故障や加えられる応
力による偏光回転等である。
しかしながら、従来方法では系の故障箇所を確定したり
該故障を相互に独立して測定することはできない。
該故障を相互に独立して測定することはできない。
１１へｌ扛
本発明の目的は複屈折光学系の結合を位置決定及び測定
するために使用できる方法を提供することである。この
方法は非破壊測定及び現場での点検に使用することがで
き、アセンブリング中の結きを最小にすることができる
ので、特に光学系の素子のアセンブリングに適用するこ
とができる。
するために使用できる方法を提供することである。この
方法は非破壊測定及び現場での点検に使用することがで
き、アセンブリング中の結きを最小にすることができる
ので、特に光学系の素子のアセンブリングに適用するこ
とができる。
本発明の方法は、複屈折光学系の局在偏光結合の検出方
法であり、光学系の複屈折軸と整列しない（最大感度を
与えるように４５°に配置されている）偏光子、干渉分
析装置に連合する干渉計及び干渉計の光路の一方の長さ
を変化させるために使用される装置を存する測定装置に
より、これらの結合を測定及び位置決定し、光学系の複
屈折軸に沿って偏光した少なくとも１つの波速を放出し
、各局在偏光結合により、放出された一次波速から他方
の複屈折軸に沿って結合波連を生成し、該偏光子により
これらの２つの波速を共通（Ｑ光方向に沿って導き、局
在１扁光結合に関連する放出エネルギーの２分の１に係
る干渉を検出するように、干渉計の光路の長さを変化さ
せるために使用される装置を調整し、干渉計の光路差が
光学系で検出された偏光結合の位置を直接表し、分析装
置によりこの位置について測定された干渉縞間のコント
ラストがこの点に局在する結合の強度に直接相関するよ
うに操作する。
法であり、光学系の複屈折軸と整列しない（最大感度を
与えるように４５°に配置されている）偏光子、干渉分
析装置に連合する干渉計及び干渉計の光路の一方の長さ
を変化させるために使用される装置を存する測定装置に
より、これらの結合を測定及び位置決定し、光学系の複
屈折軸に沿って偏光した少なくとも１つの波速を放出し
、各局在偏光結合により、放出された一次波速から他方
の複屈折軸に沿って結合波連を生成し、該偏光子により
これらの２つの波速を共通（Ｑ光方向に沿って導き、局
在１扁光結合に関連する放出エネルギーの２分の１に係
る干渉を検出するように、干渉計の光路の長さを変化さ
せるために使用される装置を調整し、干渉計の光路差が
光学系で検出された偏光結合の位置を直接表し、分析装
置によりこの位置について測定された干渉縞間のコント
ラストがこの点に局在する結合の強度に直接相関するよ
うに操作する。
本発明の他の特徴は添付図面に関する以下の説明から明
らかになろう。
らかになろう。
ＬＬＬ制匠
複屈折光学系に誘導される結合は機械的応力、例えば結
合器又は分路型の全ファイバー素子の構造の変化、ある
いは例えば２本の光ファイバーの接続用スプライスにお
ける軸の整列不備、あるいはニオブ酸リチウム上の光フ
ァイバー及び光素子の間のインターフェースにより生じ
得る。本発明の検出方法は、光路の体系的及び実質的検
査によりこれらの欠陥を検出及び測定するために使用さ
れ得る。この方法は特に光学系素子間の移行部で複屈折
軸を整列させるために、複屈折光学系の素子のアセンブ
リングに特に適用することができる。
合器又は分路型の全ファイバー素子の構造の変化、ある
いは例えば２本の光ファイバーの接続用スプライスにお
ける軸の整列不備、あるいはニオブ酸リチウム上の光フ
ァイバー及び光素子の間のインターフェースにより生じ
得る。本発明の検出方法は、光路の体系的及び実質的検
査によりこれらの欠陥を検出及び測定するために使用さ
れ得る。この方法は特に光学系素子間の移行部で複屈折
軸を整列させるために、複屈折光学系の素子のアセンブ
リングに特に適用することができる。
一般に、光源からの波速（波の列）が複屈折軸の一方、
例えば低速軸に沿って伝播されるように光学系と結合し
た超発光ダイオード（ＳＬＤ）のような光源に組み合わ
せて使用される例えば複屈折単一モード光ファイバーの
ような複屈折光学系では、ファイバーの特定箇所に特別
の応力又は欠陥があると光の一部は他方の軸、即ち上記
例の高速軸に沿って進む。この欠陥から、２つの複屈折
軸に依存して異なる速度で２つの波速が光路に沿って伝
ｔ１される。光学系の出口から一定の距離があると、波
速はもはや重ならない。第１図はこの効果を示している
。波速は横座ｆＷ ｘ ｏに伝播され、横座標×。
例えば低速軸に沿って伝播されるように光学系と結合し
た超発光ダイオード（ＳＬＤ）のような光源に組み合わ
せて使用される例えば複屈折単一モード光ファイバーの
ような複屈折光学系では、ファイバーの特定箇所に特別
の応力又は欠陥があると光の一部は他方の軸、即ち上記
例の高速軸に沿って進む。この欠陥から、２つの複屈折
軸に依存して異なる速度で２つの波速が光路に沿って伝
ｔ１される。光学系の出口から一定の距離があると、波
速はもはや重ならない。第１図はこの効果を示している
。波速は横座ｆＷ ｘ ｏに伝播され、横座標×。
で結きされ、−次（低速）連が横座標×２に達すると結
合（高速）連が先行し、横座標Ｘ’２に達する。
合（高速）連が先行し、横座標Ｘ’２に達する。
本発明の試験方法で使用される測定装置は、光が異なる
長さの２つの光路をたどり、相互間のずれにより波速を
少なくとも部分的に時間的及び空間的に一致させて干渉
を形成するように、光学系の出口で偏光子に続く干渉計
を適用する。干渉縞間のコントラスト及び光路差は後述
するように欠陥による結合のレベル及び光学系における
この欠陥の位置に直接結び付けられる。これが本発明の
試験方法で使用される効果である。
長さの２つの光路をたどり、相互間のずれにより波速を
少なくとも部分的に時間的及び空間的に一致させて干渉
を形成するように、光学系の出口で偏光子に続く干渉計
を適用する。干渉縞間のコントラスト及び光路差は後述
するように欠陥による結合のレベル及び光学系における
この欠陥の位置に直接結び付けられる。これが本発明の
試験方法で使用される効果である。
この方法は光路、例えばファイバーに沿って可変であり
、局在結合を形成する物理的パラメーターを特徴付ける
ためにも使用することができ、このパラメーターはファ
イバーに加えられる圧力であり得る。
、局在結合を形成する物理的パラメーターを特徴付ける
ためにも使用することができ、このパラメーターはファ
イバーに加えられる圧力であり得る。
第２Ｉ２Ｉに示す装置は光Ｂ１を含んでいる。この光源
は有利には広いスペクトルで光を供給する超発光ダイオ
ード（ＳＬＤ）であり、短い長さく約４０１Ｊｍ）でコ
ヒーレントであり、即ちレーザーにより与えられる光よ
りは遥かにインコヒーレントであ・るが、白色光よりは
ややコヒーレントである。この光源は複屈折光学系２、
例えば光フアイバージャイロメーターに光を供給する。
は有利には広いスペクトルで光を供給する超発光ダイオ
ード（ＳＬＤ）であり、短い長さく約４０１Ｊｍ）でコ
ヒーレントであり、即ちレーザーにより与えられる光よ
りは遥かにインコヒーレントであ・るが、白色光よりは
ややコヒーレントである。この光源は複屈折光学系２、
例えば光フアイバージャイロメーターに光を供給する。
測定装置は主に光学系の複屈折軸に対して４５°に配置
された偏光子Ｐである。この偏光子に続き、光学系の２
つの複屈折軸に沿って伝播される波の間に干渉を形成す
るために使用される干渉計が配置されている。図中、干
渉計は半反射ストリップＬ及び２つのミラーＭ１及びＭ
２を有する旧ｃｈｅｌｓｏｎ型干渉計である。これらの
２つのミラー夫々８．及びＭ２はストリップＬにより反
射及び透過された光を受は取る。該干渉計は更に、２つ
のミラー旧及びＭ２により反射され、夫々分離器Ｓによ
り透過及び反射された光を同時に受は取る検出器りを有
している。検出器りの後には、検出された干渉縞Ｃ間の
コントラストを測定する検出器により受は取られた輻射
を分析するための装置４を備える。装置は更に、ミラー
Ｍ２を変位させるための装置３を備えている。Ｈ°２は
Ｈ２の第２の位置である。
された偏光子Ｐである。この偏光子に続き、光学系の２
つの複屈折軸に沿って伝播される波の間に干渉を形成す
るために使用される干渉計が配置されている。図中、干
渉計は半反射ストリップＬ及び２つのミラーＭ１及びＭ
２を有する旧ｃｈｅｌｓｏｎ型干渉計である。これらの
２つのミラー夫々８．及びＭ２はストリップＬにより反
射及び透過された光を受は取る。該干渉計は更に、２つ
のミラー旧及びＭ２により反射され、夫々分離器Ｓによ
り透過及び反射された光を同時に受は取る検出器りを有
している。検出器りの後には、検出された干渉縞Ｃ間の
コントラストを測定する検出器により受は取られた輻射
を分析するための装置４を備える。装置は更に、ミラー
Ｍ２を変位させるための装置３を備えている。Ｈ°２は
Ｈ２の第２の位置である。
偏光子は効率を最大にするために複屈折軸に対して約４
５°の角度で光学系の出口に配置されている。この偏光
子は同一偏光に沿って波速（夫々一次及び結合波連）を
配置する。偏光子の出口において波速は伝播速度が異な
るために空間的には重なっていない。干渉計を光路に配
置し、干渉計において可動ミラーＭ２を変位させ、形成
された干渉を分析する。
５°の角度で光学系の出口に配置されている。この偏光
子は同一偏光に沿って波速（夫々一次及び結合波連）を
配置する。偏光子の出口において波速は伝播速度が異な
るために空間的には重なっていない。干渉計を光路に配
置し、干渉計において可動ミラーＭ２を変位させ、形成
された干渉を分析する。
第３図は干渉計ミラーＭ２の変位×による波速の形状を
示している。
示している。
横座標ｘ０では干渉計の２つの光路Ｔ１及びＴ２は等し
く、干渉は透過された全光エネルギーに関連し、一次及
び結合波連は空間的及び時間的に一致している。
く、干渉は透過された全光エネルギーに関連し、一次及
び結合波連は空間的及び時間的に一致している。
２つの対称な横座標Ｘ、及び×°１では光路の一方を伝
播された一次波連が他方の光路を伝播される結合波連と
干渉しており、形成された干渉はエネルギーの２分の１
に関連する。光路差は２（ｘ、−ｘｏ）である。
播された一次波連が他方の光路を伝播される結合波連と
干渉しており、形成された干渉はエネルギーの２分の１
に関連する。光路差は２（ｘ、−ｘｏ）である。
複屈折媒体の２つの屈折率を旧及びｎ２としよう。
結合点と偏光子Ｐの前に４５°に配置された光学系の出
口との間の距岨をｌとするなら、干渉計の光路差と距疏
ｌとは、関係式： ％式％） 干渉計の光路の長さの差は一次波連及び結合波連の間の
ずれ、即ち結合点から複屈折光学媒体内を通る光路に関
連する。従って、結合Ｚの位置は干渉計ミラーＨ２の変
位位置に直接関連する。干渉縞のコントラストは２つの
波の間の振幅比に関連し、従ってミラーＭ２の変位に関
連する横座標Ｚに導入される結合に関連する。容易に測
定することができる１０−３のコントラストは一６０ｄ
Ｂの非常に低レベルの結合（光学出力１０−’）に対応
する。
口との間の距岨をｌとするなら、干渉計の光路差と距疏
ｌとは、関係式： ％式％） 干渉計の光路の長さの差は一次波連及び結合波連の間の
ずれ、即ち結合点から複屈折光学媒体内を通る光路に関
連する。従って、結合Ｚの位置は干渉計ミラーＨ２の変
位位置に直接関連する。干渉縞のコントラストは２つの
波の間の振幅比に関連し、従ってミラーＭ２の変位に関
連する横座標Ｚに導入される結合に関連する。容易に測
定することができる１０−３のコントラストは一６０ｄ
Ｂの非常に低レベルの結合（光学出力１０−’）に対応
する。
光源として広スペク１〜ル超発光ダイオード、゛複屈折
媒体として偏光維持単一モードファイバーを使用して得
られる空間的分解能は典型的には５〜１０ｃｎ＋である
。ニオブ酸リチウムＬｉＮｂ０１基板を使用する集積光
導波路の場合、この系により与えられる空間分解能は０
．５１である。
媒体として偏光維持単一モードファイバーを使用して得
られる空間的分解能は典型的には５〜１０ｃｎ＋である
。ニオブ酸リチウムＬｉＮｂ０１基板を使用する集積光
導波路の場合、この系により与えられる空間分解能は０
．５１である。
第４図は光源を光ファイバーと整列させるための方法を
示している。超発光ダイオードＳＬＤは出力側からの光
を放出する。この光は１扁光維持光ファイバーＦ、０４
に伝播されるべきである。このＳＬＤからの光は２本の
軸Ｋ及びｙに沿ってずη光され、光ファイバーＦ、０、
の複屈折軸はＸ及びＹである。第２図に関して説明した
型の測定装置１０は、この光源及びファイバーを含み且
つ他の素子も含み得るこの光学系からの光を受は取る。
示している。超発光ダイオードＳＬＤは出力側からの光
を放出する。この光は１扁光維持光ファイバーＦ、０４
に伝播されるべきである。このＳＬＤからの光は２本の
軸Ｋ及びｙに沿ってずη光され、光ファイバーＦ、０、
の複屈折軸はＸ及びＹである。第２図に関して説明した
型の測定装置１０は、この光源及びファイバーを含み且
つ他の素子も含み得るこの光学系からの光を受は取る。
光源の出力側に関連するミラーＨ２を変位させるために
、分析装置は結合に依存して干渉を検出する。軸Ｘ及び
ｙがファイバーの軸Ｘ及びＹと一致しないなら、偏光結
合は干渉縞の間のコントラストと同様に高い。逆にこれ
らの軸が一致する場合、偏光結合は干渉縞の間のコント
ラストと同様に相殺される。ファイバーの端部を光源の
出力側で長手方向軸について回転させることにより、形
成される干渉縞の変化を観察し、光源の出力側の長平方
向軸に関するファイバーの最良位置を決定することが可
能である。その後、接着を実施することができる。
、分析装置は結合に依存して干渉を検出する。軸Ｘ及び
ｙがファイバーの軸Ｘ及びＹと一致しないなら、偏光結
合は干渉縞の間のコントラストと同様に高い。逆にこれ
らの軸が一致する場合、偏光結合は干渉縞の間のコント
ラストと同様に相殺される。ファイバーの端部を光源の
出力側で長手方向軸について回転させることにより、形
成される干渉縞の変化を観察し、光源の出力側の長平方
向軸に関するファイバーの最良位置を決定することが可
能である。その後、接着を実施することができる。
同様に、第５図は同一方法による２本の偏光維持光ファ
イバーの整列を示しており、ＳＬＤ光源は第２のファイ
バーＦＯ□に接続されるべき第１のファイバーＦＯ，の
端部に光を送る。第２のファイバーから放出された輻射
は、上述のような種類の測定装置１０により受は取られ
る。２本のファイバーが光学系の横座標Ｚで結合してい
るゾーンに関連するミラーＭ２の位置Ｘで、測定装置に
干渉縞が観察される。Ｘ、及びＹｌがファイバーＦＯ２
の複屈折軸であるなら、一方のファイバーがその長平方
向軸について回転し且つ他方が固定されている時に干渉
縞間のコントラドストの変化を観察することにより、軸
Ｘ、とＸ２及びＹｌとＹ２が夫々一致する位置を決定す
ることが可能である。次にこれらの２本のファイバーを
この位置で相互に接着し、接続による偏光結合を最小に
する。
イバーの整列を示しており、ＳＬＤ光源は第２のファイ
バーＦＯ□に接続されるべき第１のファイバーＦＯ，の
端部に光を送る。第２のファイバーから放出された輻射
は、上述のような種類の測定装置１０により受は取られ
る。２本のファイバーが光学系の横座標Ｚで結合してい
るゾーンに関連するミラーＭ２の位置Ｘで、測定装置に
干渉縞が観察される。Ｘ、及びＹｌがファイバーＦＯ２
の複屈折軸であるなら、一方のファイバーがその長平方
向軸について回転し且つ他方が固定されている時に干渉
縞間のコントラドストの変化を観察することにより、軸
Ｘ、とＸ２及びＹｌとＹ２が夫々一致する位置を決定す
ることが可能である。次にこれらの２本のファイバーを
この位置で相互に接着し、接続による偏光結合を最小に
する。
第６１２１はニオブ酸リチウム上の光素子と光ファイバ
ーとの間の接続の一例を示している。ＳＬＤ光源は光分
離器Ｓの入力側に向かって光線を発生する。分離器の出
力のひとつは偏光結合が最小になるように光ファイバー
Ｆ、Ｏ，に接続されているべきである。このために、前
の例と同様にファイバーの出力に測定装置が配置されて
おり、このファイバーからの輻射を分析する。接続の局
在に対応するファイバーＭ２の位置Ｘでは、分析装置に
よる干渉縞の観察を使用して、偏光結合が最小に減少さ
れるファイバーの位置を検出することができる。
ーとの間の接続の一例を示している。ＳＬＤ光源は光分
離器Ｓの入力側に向かって光線を発生する。分離器の出
力のひとつは偏光結合が最小になるように光ファイバー
Ｆ、Ｏ，に接続されているべきである。このために、前
の例と同様にファイバーの出力に測定装置が配置されて
おり、このファイバーからの輻射を分析する。接続の局
在に対応するファイバーＭ２の位置Ｘでは、分析装置に
よる干渉縞の観察を使用して、偏光結合が最小に減少さ
れるファイバーの位置を検出することができる。
同様に接合部Ｙを光ファイバーに接続する際にもこの方
法を適用することができる。
法を適用することができる。
組み立て中の点検のために使用され得るこの非破壊測定
は局在偏光結合のあらゆる検出、及び局在偏光結合を検
出すべき全光路の体系的及び実質的点検に適合可能であ
る。
は局在偏光結合のあらゆる検出、及び局在偏光結合を検
出すべき全光路の体系的及び実質的点検に適合可能であ
る。
第１図は結合の場合に光路に沿って伝播される波速を示
し、第２図は本発明の検出方法で使用さｈる１目光結き
測定装置の概略図、第３図は説明図、第４図は光源をフ
ァイバーと整列させるための方法を示し、第５図は２本
のファイバーを整列するための方法を示し、第６図は光
分離器の現場での試験を示す。 １・・・・・・光源、２・・・・・・光学系、１０・・
・・・・測定装置、Ｃ・・・・・・干渉縞、Ｄ・・・・
・・検出器、Ｌ・・・・・・ストリップ、Ｍ、 、Ｍ、
・・・・・・ミラー、Ｐ・・・・・・偏光子、Ｓ・・・
・・・分離器、ＴＩ、Ｔ２・・・・・・光路。 代現人弁ｉ主 船 山 武 ＦＩＧ、５ ＩＧＪ 手続補正店 昭和６３年４月２λ日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿
（Ｊｌ、事例の表示 昭和６３年特許願第５
８１４９号２、発明の名称 複屈折光学系における偏光
結合の検出方法及び光学系素子の７センブリングにお４
）る該ｈＦ１．の適用３、補正をする者 手作との関係 特許出願人
し、第２図は本発明の検出方法で使用さｈる１目光結き
測定装置の概略図、第３図は説明図、第４図は光源をフ
ァイバーと整列させるための方法を示し、第５図は２本
のファイバーを整列するための方法を示し、第６図は光
分離器の現場での試験を示す。 １・・・・・・光源、２・・・・・・光学系、１０・・
・・・・測定装置、Ｃ・・・・・・干渉縞、Ｄ・・・・
・・検出器、Ｌ・・・・・・ストリップ、Ｍ、 、Ｍ、
・・・・・・ミラー、Ｐ・・・・・・偏光子、Ｓ・・・
・・・分離器、ＴＩ、Ｔ２・・・・・・光路。 代現人弁ｉ主 船 山 武 ＦＩＧ、５ ＩＧＪ 手続補正店 昭和６３年４月２λ日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿
（Ｊｌ、事例の表示 昭和６３年特許願第５
８１４９号２、発明の名称 複屈折光学系における偏光
結合の検出方法及び光学系素子の７センブリングにお４
）る該ｈＦ１．の適用３、補正をする者 手作との関係 特許出願人
Claims (8)
- （１）複屈折光学系における局在偏光結合の検出方法で
あって、光学系の複屈折軸と整列しない（最大感度を与
えるべく４５°に配置されている）偏光子と、干渉分析
装置に連合する干渉計と、干渉計中の光路の１つの長さ
を変化させるために使用される装置とを有する測定装置
により、これらの偏光結合を測定及び位置決定し、光学
系の複屈折軸に沿って偏光した少なくとも１つの波連を
放出し、各局在偏光結合により、放出された一次波連か
ら他の複屈折軸に沿って結合波連を生成し、該偏光子に
よりこれら２つの波連を共通の偏光方向に沿って導き、
局在偏光結合に関連する放出エネルギーの２分の１に係
る干渉を検出するように、干渉計の光路の長さを変化さ
せるために使用される装置を調整し、干渉計の光路差が
光学系で検出される偏光結合の位置を直接表し、さらに
分析装置によりこの位置について測定される干渉縞間の
コントラストがこの点に局在する結合の強さに直接相関
するように操作する方法。 - （２）偏光子が光学系の複屈折軸に対して４５°に配置
された軸を有している請求項１に記載の検出方法。 - （３）ミラーの１つが光路の長さを変えるように光軸に
沿って可動であるようなＭｉｃｈｅｌｓｏｎ型の干渉計
を使用し、２つの光路が等しい位置からのミラーの変位
量ｄ＝（ｘ＿１−ｘ）が、複屈折光学系での結合点及び
偏光子の間に当る夫々一次及び結合波連の光路差の２分
の１に等しい請求項１に記載の方法。 - （４）分析装置において干渉縞間のコントラストが、一
次波連と局在偏光結合による結合波連との間の振幅比を
与える請求項１に記載の方法。 - （５）複屈折光学系の素子のアセンブリングにおける請
求項１に記載の方法の適用であって、複屈折光学系の２
素子のアセンブリングを最適化するために、接合位置に
関連する光路の長さの差により干渉計に形成される干渉
を最小にすることにより、２素子の相対配向を調整し、
こうして２素子の複屈折軸を整列させる適用。 - （６）超発光ダイオードの発光側に対する偏光維持光フ
ァイバーの配向における請求項５に記載の適用。 - （７）２本の偏光維持光ファイバーの接続における請求
項５に記載の適用。 - （８）偏光結合を最小にするために複屈折光学系に配置
される素子の試験における請求項５に記載の適用。
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