CN101825560A - 一种检测保偏光纤的装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及测量保偏光纤状况的装置，属于光学测量、光纤传感技术领域。该装置包括：一个光源提供一束线偏振光，光束通过待测光纤后，通过一个起偏器将偏振态旋转一个角度后，进入一个光分束器分成两束光，一个光延迟器将其中一束光进行延迟，再合束到光合束器当中进行干涉，一个光探测器接收干涉光并转换成电信号，一套电路处理电信号获得光纤各个部位的状况。本发明可以高精度、方便、快捷地对保偏光纤的状况进行测定，有利于实现保偏光纤在传感等领域的应用。

Description

一种检测保偏光纤的装置

技术领域

本发明属于光学测量、光纤传感技术领域；特别涉及利用分布式偏振串扰检测技术检测保偏光纤，从而实现保偏光纤在传感技术领域的更好应用。

背景技术

保偏光纤是一种光信息传输和处理的重要媒介，同时也是作为光传感技术的重要器件，其在传感方面的一个典型应用，就是制作角度传感器(又称光纤陀螺)的核心部件--光纤环。

保偏光纤环是光纤角度传感器(又称光纤陀螺)的核心部件，它的缠绕质量好坏直接决定光纤陀螺的精度。目前，传统的光纤环检测方法，例如凭借消光比或光时域反射技术(OTDR)来评判保偏光纤环的优劣，不能完全和精确地反映出光纤环的缠绕质量，从而也就无法对提高光纤环质量提出准确的工艺改造数据，具有局限性。

光纤陀螺(Fiber Optic Gyro，FOG)的原理是基于Sagnac效应，也即当环形干涉仪旋转时，产生一个正比于旋转速率的相位差。一束光进入光纤环的闭合光路中，被分成两束在同一光路中沿闭合光路相向传播，当光路不发生旋转的时候，两束光会同时回到光的初始注入点，这种情况下，光路的特性称之为是具有互易性(光从两个方向入射的效果是相同的)。在光路发生转动的时候，与旋转同向传播的光会比反向传播的光所经历的路程要长(这个时候的光路被称之为具有非互易性)。从而产生了与转动角速度成正比的光程差。这个光程差可以通过干涉法测量来确定，这种光路中的相位变化可通过光电探测器将干涉光信号转变成电压信号输出来检测。由于输出信号与转动引起的相位差呈余弦函数关系，为了获得高灵敏度，需要调制来施加偏置，使之工作在一个响应斜率不为零的点。

光纤环是光纤陀螺的传感核心部件，它对光纤陀螺来说，既是提高精度的重要途径，同时也是主要影响精度的因素。光纤环在绕制过程中需采用特殊的缠绕方式、精密的绕制技术，来保证光纤环具有高质量的静态特性(低的偏振串音、低的插入损耗等)和高质量的瞬态特性(抗振动、抗冲击、不受环境温度和磁场的影响)。

光纤环在具体的应用中会受到由机械张力、振动、冲击和温度梯度等因素引起的环境干扰，当环境干扰对相向传播的两束光信号影响不同时，会产生附加相位漂移误差。这种瞬态效应会妨碍Sagnac相位差的精确检测。

为提高光纤陀螺的精度，必须减小和消除光纤环缺陷对重组光信号的影响，在光纤环绕制过程中或者完成后，及时发现光纤中的缺陷，并及时进行改善，可提高光纤环的缠绕质量。

光纤环的绕制工艺直接决定了光纤环的缠绕质量。例如，光纤环绕制不对称易产生热致非互易性相移；光纤环绕制技术不完善会导致光纤环插入损耗增大和保偏光纤环出现消偏性；光纤环绕制过程中的应力(缠绕的压应力、弯曲应力和扭曲应力等)会造成光纤环性能下降和应力产生的非互易性相移，等等。这些均作为光纤环路中的光路缺陷，对传输于光纤环中光波相位产生影响，从而降低光纤陀螺的整体精度。

目前，进行光纤环绕制前，原料(保偏)光纤质量检测还仅仅限于检测损耗、消光比等总体性能指标，无法得到光纤性能精确的分布式情况。在光纤环绕制中，目前普遍采用多极对称绕法，这种绕制方法在一定程度上改善了光纤环瞬态特性。但这种绕制方法，操作复杂。在绕制中需要对一些光纤爬升、塌陷、交叉等缺陷及时发现纠正，否则会严重影响光纤环的性能。现在，在绕制过程中进行在线检测的方法不是很多，主要是视频监控、张力监控等手段。这些都是间接反映绕制质量，无法直接监控绕制过程对光纤性能的影响。在利用分布式传感手段检测光纤环方面，较传统的方法是利用BOTDR(布里渊时域反射计)检测光纤环应力情况，但该方法空间分辨率和传感灵敏度较低，难以实现在线精确监测光纤环质量。最后，在光纤环绕制完成后成品的热应力检测，现有方法也难以实现。因此，就需要有一种方法能够准确检测出光纤环的光纤所处的状况，包括绕制成光纤环后内部各个点的状况(如受压、扭曲等)，以及光纤环原料光纤在绕制前均匀与否状况。

此外，光纤传感在工业控制、建筑物健康检测方面也在逐步发挥重要作用，其中一个应用，就是将保偏光纤铺设在建筑物(如桥梁、水坝、楼宇等)上，当建筑物的被测量部位产生微小变形或者位移的时候，就会对保偏光纤产生压力或者扭曲，通过测量保偏光纤受到建筑物作用部位的状况，从而判断出建筑物的状况。目前建筑物的检测主要是通过人工实地测量的方法，比如现在大桥状况的监测方法之一，是用悬吊臂将人吊装到大桥下面进行实地测量。

发明内容

本发明的目的是为克服已有技术的不足，提出一种测量保偏光纤状况的装置；本装置通过分布式偏振串扰检测准确判断出保偏光纤所受到的压力、扭曲等状况所产生的位置和类型，进而可以判断整个被测光纤的状况，从而为利用所测量到的这些状况进行传感技术开发提供依据。

本发明提出一种测量保偏光纤的装置，其特征在于，该装置包括：

一发出线偏振光的宽频带光源，用于将输出的一束宽频带线偏振光作为输入光从待测保偏光纤的一端输入到待测保偏光纤中，并使该输入光的偏振方向与保偏光纤的一个偏振轴重合；

一个检偏器，用于接收从待测保偏光纤的另一端输出的输出光，并使该检偏器的检偏方向与保偏光纤的输出光的偏振轴方向成一度角α，90°＞α＞0°；

一个分束器，用于将通过检偏器的光分成两束；

一个可控光延迟器，用于将检偏器分成的两束光中的一束光做不同延迟度下的光延迟；

一个合束器，用来将所述分束器分束的两束光合到一起产生干涉光；

一个光探测器，用于接收所述干涉光信号，并转换成电信号；

一套电路系统，用来接收光探测器的电信号，并经过处理，获取不同延迟度对应该光纤不同位置的光的干涉可见度，作为该光纤的各对应位置的偏振串扰强度，来判断出该待测光纤各位置的状况。

本发明的主要特点及有益的效果：

本发明提出的方法是基于分布式偏振串扰测量技术，应用到保偏光纤检测中；由于分布式偏振串扰测试仪空间分辨率和测试灵敏度都比较高，而且测量长度长，在光纤传感技术领域有着重要意义，尤其是这种方法可以实现光纤陀螺用光纤环的缺陷检测，以及对其原料光纤质量检测，光纤环绕制中的在线检测，光纤环成品的分布式检测以及光纤环热应力情况检测；从而可以有效地、有针对性地调整工艺，有效提高光纤环绕制质量，减少绕制缺陷，保证光纤环绕制对称性。对于绕制工艺，比如张力控制、垫纸、涂胶、骨架材料选择等方面都可实现监控。另外，本发明采用的分布式偏振串扰测试方法的测试灵敏度也足以对光纤环固定用胶的选择和应力释放等工艺问题进行即时定量分析。

本发明除了针对光纤陀螺用的光纤环，还可用于对其他传感领域(如电场传感、建筑物检测)的光纤进行检测，对光纤环的检测应用主要是检测其内部缺陷，其他传感领域的应用则包括通过检测光纤的偏振串扰，判断光纤所受到的压力、扭曲等，从而以光纤作为传感媒介检测被测物体的受力情况或者变形情况。

附图说明

图1为保偏光纤中某点处当受到外部扰动时发生偏振串扰示意图；

图2为本发明的检测原理示意图；

图3为本发明装置示意图1；

图4为本发明装置示意图2；

图5为采用本发明对1000m保偏光纤偏振串扰测量结果，在381m处原光纤存在-47dB高串扰点；

具体实施方式

本发明提出的装置结合附图及实施例详细说明如下：

本发明提出的一种检测保偏光纤的装置，其特征在于，该装置包括：

一发出线偏振光的宽频带光源，用于将输出的一束宽频带线偏振光作为输入光从待测保偏光纤的一端输入到待测保偏光纤中，并使该输入光的偏振方向与保偏光纤的一个偏振轴重合；

一个检偏器，用于接收从待测保偏光纤的另一端输出的输出光，并使该检偏器的检偏方向与保偏光纤的输出光的偏振轴方向成一度角α，90°＞α＞0°；

一个分束器，用于将通过检偏器的光分成两束；

一个可控光延迟器，用于将检偏器分成的两束光中的一束光做不同延迟度下的光延迟；

一个合束器，用来将所述分束器分束的两束光合到一起产生干涉光；

一个光探测器，用于接收所述干涉光信号，并转换成电信号；

一套电路系统，用来接收光探测器的电信号，并经过处理，获取不同延迟度对应该光纤不同位置的光的干涉可见度，作为该光纤的各对应位置的偏振串扰强度，来判断出该待测光纤各位置的状况。

上述装置的分光器和合束器可为一个具有四个端口的光耦合器，其第一端口和检偏器相连接，用来接收来自检偏器的光；且从该耦合器的第一(或第四)端口的输入光，会平分为功率相等的两束光分别从第二、第三端口输出；从第二(或第三)端口的输入光，会平分为功率相等的两束光分别从第一、第四端口输出；还可进一步包括一个第一反射镜和一个第二反射镜，第一反射镜连接到光耦合器的第二端口，用来接收来自耦合器的第二端口输出的光，并将该光反射回耦合器的第二端口；第二反射镜与耦合器的第三端口相连接，用来接收来自耦合器的第三端口输出的光，并将该光反射回耦合器的第三端口；所述可控光延迟器连接在耦合器第三端口和第二反射镜之间，用来将耦合器和第二反射镜之间的传输光进行相位延迟；所述光探测器的光输入端连接在耦合器的第四端口，用来接收来自耦合器的光，并转换成用来检测耦合器中光干涉情况的电信号。

所述宽频带线偏振光源可由一个宽带光源加一个起偏器组成。

该装置还可进一步包括在待测光纤前、后各加一个光隔离器，用来防止有后面光路产生的反射光回射到前面的光路中。

本装置的电路系统中用于判断出该待测光纤各位置的状况，包括光纤受外力压、或拉、或扭、或温度、或磁场、或内部缺陷产生应力的状况；还进一步包括光纤所受到的张力。

所述待测保偏光纤为应用于传感用途的光纤，或为光纤环(例如用于光纤陀螺的光纤环)。

所述α角可设为45度角。

本发明方法依据的原理为：

当保偏光纤中某点处受到外部扰动时会发生偏振串扰，串扰点处的该光纤可认为是三段保偏光纤的串接，如图1所示。前后两段光纤为未受干扰区域，具有相同的拍长L_bo，并且它们的双折射轴相互对齐；中间段光纤为受扰动光纤段，其拍长变为L_b，且其双折射x’、y’轴相对其它两段光纤的双折射x、y轴发生了θ角的旋转。拍长的变化反映了双折射系数B的变化，而θ角则反映了微扰双折射(即因为光纤缺陷或外界干扰产生的双折射)与保偏光纤固有双折射的偏振轴之间有一个夹角。由于双折射轴的旋转，根据偏振的矢量原理，两偏振模式会相互投影，则发生功率串扰。串扰点处的L_b和θ角的大小与外界干扰的大小、方向等因素有关。

经过琼斯矩阵推导可以求出经过该串扰点时从x模式到y模式和从y模式到x模式的功率串扰系数，即串扰强度h，可得

h＝h_x→y＝h_y→x＝|sinθcosθ(1-exp(-i2πl/L_b))|²＝sin²(2θ)·sin²(πl/L_b)

从式(1)也可见，在偏振串扰中，串扰强度h的大小是由受扰区长度l和与外部干扰有关的L_b和θ决定的。当光纤由于绕制缺陷产生相互挤压，或绕制张力过大发生拉伸时，就相当于外界扰动，通过偏振串扰测试可以有效测量出外界扰动，通过分布式的测量(即逐点连续地测量出不同延迟度下的干涉光的可见度)结果就可以反应出不同位置的光纤环的绕制质量，从而改进待测光纤环缠绕工艺或决定待测原料光纤的取舍。

本发明的测量原理，如图2所示：光源出射的白光通过起偏后进入保偏光纤21，由于在高双折射保偏光纤中只能传HE₁₁ ^xHE₁₁ ^Y两种偏振模式，通过使入射偏振方向和保偏光纤(光纤环)的一个特征轴相同，则只有一种偏振模式Iy被激发，如图中A点的情况，且在理想情况下只有该偏振模式在光纤中传播。当光纤中一点由于外界扰动发生偏振串扰时，Iy则分为两部分Iby、Ibx，一部分光能将串扰到正交的偏振态(X方向)上去，形成另一种偏振模式Ix(如图中B点的情况)，由于双折射效应或偏振模色散(PMD)，两偏振模式以不同的速度沿光纤传播，从光纤出射时，Iy和Ix之间将产生光程差Δz＝ΔnZ，其中Δn为保偏光纤双折射率，Z为串扰点至光纤出射端的距离；在光纤出射端(如图中C点，在与光纤两偏振轴成45°角进行检偏，将两偏振模式等比例投影至同一偏振态。由于采用低相干(SLD)光源(即宽带光源，或称白光光源)。相干长度L_c较小，一般在几十微米，ΔnZ远大于L_c时，两列波不发生干涉，当利用迈克尔逊干涉原理补偿ΔnZ时，两列波发生干涉现象，利用光延迟方法改变迈克尔逊干涉的一臂的光程来实现对保偏光纤的逐点进行分布式干涉扫描，求得串扰点位置B，根据干涉条纹可见度，可得串扰点的串扰强度。

本发明所提出的一个装置的一个实施例如图3所示，该装置包括：

一个发出的线偏振光的宽带光源101(这个线偏振光也可以通过在光源后面加入一个起偏器1011来实现)，在该光源的输出端接入待测保偏光纤102(可在待测保偏光纤的两端各加入一个光隔离器1021、1022，以防止后面的系统中有反射光回射到光路中引起测量误差)使光源输出的线偏振光的偏振方向和待测保偏光纤102的一个偏振轴相一致；待测保偏光纤102的输出端和一个检偏器103相连接，检偏器103的偏振轴和待测保偏光纤102的其中一个偏振轴成一度角α，90°＞α＞0°((本实施例设为45度角)；检偏器103的输出端和一个分束器104(本实施例中使用的是一个具有四个端口的第一耦合器，其中一个端口弃用)的第一端口相连接，并在分束器的2、3端口产生光输出；一个合束器1044(实施例中使用的是一个具有四端口的第二耦合器，其中一个端口弃用)的第二端口与第一耦合器104的第二端口相连接，第二耦合器1041的第三端口与第一耦合器104的第三端口相连接，用来接收来自第一耦合器104的输出光；一个可控光延迟线107连接在第一耦合器104的第三端口和第二耦合器1041的第三端口之间，用来对通过的光进行光延迟；一个光电探测器108的光信号输入端和第二耦合器1041的第一端口相连，用来将从第二耦合器1041第三端口的光信号转换成电信号；一套电路系统的电输入端和光电探测器108的电信号输出端相连，用来将电信号进行放大并处理；该套电路系统由控制电路110、放大电路109和计算机组成，其中，放大电路用来将电信号进行放大，控制电路用来处理来自放大电路的电信号，并显示在计算机屏幕111上；控制电路110还通过电路来控制光延迟线107。

上述实施例的工作过程是：测量光进入待测光纤前，通过起偏器被调整到与待测保偏光纤相吻合的偏振态(偏振方向和保偏光纤的一个偏振轴相一致)，测量光通过待测光纤后，再通过第一耦合器104分成两束，一束直接进入第二耦合器1044，另外一束通过一个可控延迟线107后再进入第二耦合器1044，两束光在第二耦合器1044中产生干涉后，由第二耦合器1044输出进入光探测器转成电信号，经放大器109对电信号放大后进入控制电路110，经处理后的结果(串扰强度和光纤长度位置之间的关系曲线图及数值)显示在屏幕111上。可控延迟线由控制电路控制调整光的相位，使得耦合器1044中的干涉点对应光纤不同长度部位，从而在显示屏上获得整个光纤长度上各个点的干涉情况。干涉光的可见度，作为该待测光纤的各对应位置的偏振串扰强度。

本发明在上述装置的基础上提出的另一个实施例装置，其组成结构如图4所示，包括：

一个发出的线偏振光的宽带光源101(这个线偏振光也可以通过在光源后面加入一个起偏器1011来实现)，在该光源的输出端接入待测保偏光纤102(可在待测保偏光纤的两端各加入一个光隔离器1021、1022，以防止后面系统中有反射光回射到前面的光路中引起测量误差)，使光源输出的线偏振光的偏振方向和待测保偏光纤102的一个偏振轴相一致；待测保偏光纤102的输出端和一个检偏器103相连接，检偏器103的偏振轴和待测保偏光纤102的其中一个偏振轴成45度角；检偏器103的输出端和一个具有四个端口的耦合器104的第一端口相连接，并在耦合器的2、3端口产生光输出；一个第一反射镜105与耦合器第二端口相连接，用来将来自第二端口的光反射回耦合器；一个第二反射镜106与耦合器第三端口相连接，用来将第三端口的光反射回耦合器；一个可控光延迟线107连接在第二反射镜106和耦合器104的第三端口之间，用来对通过的光进行光延迟；一个光电探测器108的光信号输入端和耦合器104的第四端口相连，用来将从耦合器第四端口的光信号转换成电信号；一套电路系统的电输入端和光电探测器108的电信号输出端相连，用来将电信号进行放大并处理；该套电路系统由控制电路110、放大电路109和计算机组成，其中，放大电路用来将电信号进行放大，控制电路用来处理来自放大电路的电信号，并显示在计算机屏幕111上；控制电路110还通过电路来控制光延迟线107。

本实施例的工作过程是：测量光进入待测光纤前，通过起偏器被调整到与保偏光纤相吻合的偏振态(偏振方向和保偏光纤的一个偏振轴相一致)，测量光通过待测光先后，再通过耦合器分成两束，一束直接由反射镜反射回耦合器，另外一束通过一个可控延迟线后再被反射镜反射回来重新穿过延迟线后进入耦合器，两束光在耦合器中产生干涉后，进入光探测器转成电信号，电信号放大后进入控制电路，经运算处理显示在屏幕上。可控延迟线由运算电路控制调整光的相位，使得耦合器中的干涉点对应光纤不同长度部位，从而在显示屏上获得整个光纤长度上各个点的干涉情况。干涉光的可见度，作为该待测光纤的各对应位置的偏振串扰强度。

上述两种实施例所述起偏器和检偏器属于同一种元件，只是因其用途不同而产生名称上的差别。

本发明装置实现对光纤的检测的工作流程如下：

本发明对待测保偏光纤的检测是将整个光纤连续地进行应力点检测(即通过改变经过光纤后两束光中其中一束光的延迟度对光纤实现分布式扫描)；具体说明如下：

假设在光纤的光入射点有一个应力点，从而该处产生了双折射效应，有两个相互垂直的偏振光信号产生，当该处光信号传输到光纤的末端出来时，快轴和慢轴之间产生的相位差设为T₀，假设在光纤的靠近末端的位置有一个应力点，该处光信号传输到出来的时候的快轴和慢轴之间产生的相位差设为T₁；那么，在光纤的初始端和末端之间的应力所产生的快轴和慢轴之间的光程差则T₀＞T＞T₁；将光延迟线对其中一束参与干涉的光在T₀～T₁进行连续延迟，来获得每个应力点的干涉光可见度和对应的延迟量，即为分布式扫描。

根据获得的偏振串扰点位置及偏振串扰强度判定光纤的状况是通过干涉可见度的高低来判定串扰强度，干涉可见度越高，则说明应力点造成的双折射越高，在保偏光纤的另外一个偏振分量越大，因此光纤所受的应力也就越大。

根据延迟量换算应力位置的原理：当光纤上某一处产生了一个应力点，则会在光纤的快轴上产生一个光信号的分量；这个信号在沿着光纤向前传输过程中，会比原来慢轴上的那个信号传输速度快，在传输一段距离后，两个光信号之间就产生了光程差，而且是传输越远，两者的光程差越大。如果想让这两个光信号(在该应力点上产生的快轴上的光信号和原来的慢轴上的光信号)产生干涉，就需要对快轴上的信号进行光延迟；而且光程差越大(也就是说应力点处的光信号走得距离越长)，需要的延迟量越大；因此，就可以通过延迟量来判定应力点的位置。

本发明在电路系统运算处理上，采用延迟线控制和光电探测器信号采集同步进行，延迟线延迟到某一点，电路系统记录一个对应的光强信号，随着延迟线连续地向后延迟，电路系统也不断地记录各个点的光强信号；这些光强信号以及对应的延迟点被电路系统记录下来后，以延迟数据为横坐标，以光强信号为纵坐标绘制成图，由于延迟数据代表了光纤长度，就形成了沿着光纤分布式偏振串扰扫描关系图。

本发明装置的部件的具体实施方式及效果分别说明如下：

本发明装置的各组成部件均可采用本领域常规的元器件组装而成，例如可采用白光光源(即宽带光源)，保偏光纤、起偏器、检偏器、耦合器、可控光延迟器、反射镜、光探测器、放大器均为常规产品，电路系统的控制电路采用常规技术实现，计算机采用普通PC机即可，预先设置在其中的控制流程可由本领域的编程人员根据工作流程编制而成。

在本装置中的可控光延迟器，使用了美国通用光电公司(General Photonics Corp.)电控可变延迟线MDL-101作为检测用延迟部件，该部件可以直接读出延迟量，并具有可以和计算机或其他常规控制电路系统相连接的信号输出端口。

如图5所示，将长度为1000m保偏光纤进行分布式偏振串扰检测，从显示屏扫描的图形中可见该保偏光纤的偏振串扰平均值为-71dB，而在381m处出现一高串扰点达-47dB。这样就有效的检测出缺陷点位置以及缺陷程度。

Claims (10)

1.一种检测保偏光纤的装置，其特征在于，该装置包括：

一个发出线偏振光的宽频带光源，用于将输出的一束宽频带线偏振光作为输入光从待测保偏光纤的一端输入到待测保偏光纤中，并使该输入光的偏振方向与保偏光纤的一个偏振轴重合；

一个检偏器，用于接收从待测保偏光纤的另一端输出的输出光，并使该检偏器的检偏方向与保偏光纤的输出光的偏振轴方向成一度角α，90°＞α＞0°；

一个分束器，用于将通过检偏器的光分成两束；

一个可控光延迟线，用于将检偏器分成的两束光中的一束光做不同延迟度下的光延迟；

一个合束器，用来将所述分束器分束的两束光合到一起产生干涉光；

一个光探测器，用于接收所述干涉光信号，并转换成电信号；

一套电路系统，用来接收光探测器的电信号，并经过处理，获取不同延迟度对应该光纤不同位置的光的干涉可见度，作为该光纤的各对应位置的偏振串扰强度，来判断出该待测光纤各位置的状况。

2.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述分束器和合束器为一个具有四个端口的光耦合器，其第一端口和检偏器相连接，用来接收来自检偏器的光；且从该耦合器的第一(或第四)端口的输入光，会平分为功率相等的两束光分别从第二、第三端口输出；从第二(或第三)端口的输入光，会平分为功率相等的两束光分别从第一、第四端口输出；还进一步包括一个第一反射镜和一个第二反射镜，第一反射镜连接到光耦合器的第二端口，用来接收来自耦合器的第二端口输出的光，并将该光反射回耦合器的第二端口；第二反射镜与耦合器的第三端口相连接，用来接收来自耦合器的第三端口输出的光，并将该光反射回耦合器的第三端口；所述可控光延迟器连接在耦合器第三端口和第二反射镜之间，用来将耦合器和第二反射镜之间的传输光进行相位延迟；所述光探测器的光输入端连接在耦合器的第四端口，用来接收来自耦合器的光，并转换成用来检测耦合器中光干涉情况的电信号。

3.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述发出线偏振光的宽频带光源由一个宽带光源及一个起偏器组成。

4.如权利要求1、2或3所述装置，其特征在于，该装置还进一步包括在待测光纤前、后各加一个光隔离器，用来防止有后面光路产生的反射光回射到前面的光路中。

5.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述电路系统中用于判断出该待测光纤各位置的状况，包括光纤受外力压、或拉、或扭、或温度、或磁场、或内部缺陷产生应力的状况。

6.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述电路系统中用于判断出该待测光纤各位置的状况，进一步包括光纤所受到的张力。

7.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述待测保偏光纤为应用于传感用途的光纤。

8.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述待测保偏光纤为光纤环。

9.如权利要求8所述装置，其特征在于，所述光纤环为用于光纤陀螺的光纤环。

10.如权利要求1所述装置，其特征在于，所述α角为45度角。

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