JPS63249017A - パルスエンコ−ダの光学系調整装置 - Google Patents

パルスエンコ−ダの光学系調整装置

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JPS63249017A
JPS63249017A JP8221487A JP8221487A JPS63249017A JP S63249017 A JPS63249017 A JP S63249017A JP 8221487 A JP8221487 A JP 8221487A JP 8221487 A JP8221487 A JP 8221487A JP S63249017 A JPS63249017 A JP S63249017A
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JP
Japan
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pulse encoder
optical system
section
slit
light emitting
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JP8221487A
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Yoshitaka Takekoshi
竹腰 吉孝
Kazunori Otobe
和紀 乙部
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Fanuc Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、パルスエンコーダの光学系調整装置に関する
〔従来の技術〕
NC工作機械等において移動物の精密位置検出のために
パルスエンコーダが用いられる。パルスエンコーダは、
発光源、受光量検出器、該発光源と該受光量検出器との
間に設けられた複数の固定スリット、および、等間隔で
並び、測定対象物の移動に応じて、該固定スリット上を
重なるようにして移動する複数のスリットからなる移動
スリットを有するものであり、上記固定スリット上を移
動スリットが横切ることにより、受光量検出器上に達す
る光量に周期的な変化が生じ、この周期的変化を計数す
ることにより、上記測定対象物の移動量を検出するよう
にしたものである。
ところで、このようなパルスエンコーダにおける前記固
定スリットおよび移動スリットは、該移動スリーットの
移動方向に垂直な方向に長く、該移動方向の幅は通常数
10um(例えば、20um)と極めて狭い。また、前
記発光源は通常は発光ダイオード(以下ではり、 E 
Dと称す)であるが、■、EDは一般にその強度分布に
関して方向性を有している上に、レンズの形状が一定で
ない等の原因により光軸の傾きに個体差を有している。
また、フォトダイオード等の受光量検出器表面も感度分
布を有している。このため、上記のようなパルスエンコ
ーダの光学系においては、前記スリットの幅方向、すな
わち前記移動スリットの移動方向における、前記固定ス
リットに対する、LEDおよび受光量検出器の位置の変
化により、該受光量検出器において検出される受光量が
変化し、該受光量検出器の出力レベルが変化する。した
がって、一般にパルスエンコーダの製作時には、前記ス
リットの幅方向、すなわち前記移動スリットの移動方向
における、前記固定スリットに対する、LEDおよび受
光量検出器の位置の微妙な調整が必要となる。
しかしながら、従来、この調整は、人間がパルスエンコ
ーダの出力波形をシンクロスコープ等で観測しながらマ
ニュアル操作で行っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述のように、従来は、スリットの幅方向、すなわち移
動スリットの移動方向における、固定スリットに対する
、LEDおよび受光量検出器の位置は、共に、マニュア
ル操作により調整していたため、大変手数も時間もかか
り、また調整の誤差にもばらつきがあるという問題点が
あった。
本発明は、上記の問題点に鑑み、なされたもので、パル
スエンコーダの光学系の位置調整が、マニュアル操作に
よらずとも、容易、且つ、高精度に行うことができるよ
うにすることを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本発明によるパルスエンコーダの光学系調整装
置の基本的構成を示す図である。本図において、■は波
形解析部、2はコンピュータ、3はサーボアンプ、4は
光学系駆動部、そして5は光学系を調整すべきパルスエ
ンコーダである。本発明のパルスエンコーダの光学系調
整装置?f 100は、上記の波形解析部1、コンピュ
ータ2、サーボアンプ3、そして光学系駆動部4からな
る。
パルスエンコーダ5は、第1図には図示しないが、発光
部、発光部からの光を通過させる複数の固定スリット、
該固定スリットの各々を通過した光量を検出する複数の
受光量検出器、および等間隔で並び、測定対象量の変動
に対応して前記固定スリット上を移動することにより前
、足受光検出器の各々において検出される受光量に周期
的変化を与える移動スリットを有する移動スリット部か
らなる光学系の構成を有している。
波形解析部1はパルスエンコーダ5の出力波形の理想波
形とのずれに関する情報を検出する。光学系駆動部4は
、パルスエンコーダ5における前記発光部あるいは受光
量検出器を前記移動スリットの移動方向に移動させる。
サーボアンプ3は上記光学系駆動部に駆動電流を供給す
る。コンピュータ2は前記波形解析部1において検出し
た情報に基づいて演算を行い、上記サーボアンプ3に対
し前記発光部あるいは受光量検出器を移動させるための
位置修正指令を出力する。
〔作 用〕
波形解析部1は、パルスエンコーダ5の移動スリット部
を移動させたときのパルスエンコーダ5の出力波形から
、該出力波形の理想波形からのずれに関する情報を検出
する。コンピュータ2はこの情報から、パルスエンコー
ダ5の出力波形を理想の波形に近づけるために前記発光
部または受光!を検出器をどのように移動させるべきか
を演算して前記発光部または受光量検出器を移動させる
ための位置修正指令を出力する。サーボアンプ3は該位
置修正指令に応じた駆動電流を出力し、光学系駆動部4
は該駆動電流によって前記発光部または受光量検出器を
駆動し、移動させる。
ところで、先に、パルスエンコーダの光学系においては
、固定スリットに対する発光部および受光量ヰ★出器の
位置、特に移動スリットの移動方向の位Wの変化が共に
パルスエンコーダの出力レベルを変化させることを述べ
たが、本発明によるパルスエンコーダの光学系調整装N
 toOは、上記発光部あるいは受光量検出器の一方の
位置を適当な位置に固定した後、他方の位置を動かして
、パルスエンコーダの出力波形が理想的な波形になるよ
うに調整するために用いられる。
本発明のパルスエンコーダの光学系調整装置100によ
れば、従来のようにシンクロスコープによりパルスエン
コーダ5の出力波形を観察しながらマニュアル操作によ
って発光部や受光量検出器の位置を調整する必要がなく
、容易、且つ高精度に位置を調整することが可能となる
[実施例] 第4図は、上述のようなパルスエンコーダの光学系の構
成の例を示す図である。第4図において9は発光部、例
えば発光ダイオード(LED)、8は固定スリット部、
7は等間隔に並んで移動する多数の移動スリット70を
有する移動スリット部、そして、6は受光部であり、例
えばフォトダイオード等の受光素子からなるものである
第5A図においては、上記の固定スリット部8が4つの
同定スリット群81 、82 、83 、84を有して
いることが示され、また、第5B図においては、受光部
6が上記の4つの固定スリット群81 、82 。
83 、84の各々に対応して4つの受光素子A、B。
τ、Tを有していることが示されている。4つの受光素
子は、上記の移動スリット70の移動する方向に垂直な
方向に並ぶ1対の受光素子AおよびB、および、該1対
の受光素子に隣接して、同じく移動スリット70の移動
方向に垂直な方向に並ぶ、もう一対の受光素子丁および
τからなる。4つの同定スリット群81 、82 、8
3 、84は、それぞれを通過した光が、上記のように
配置された対応する受光素子A、B、τ、Tに受光され
るような位置にある。第4図および第5A図に示される
移動スリット70がこれらの図における左右方向に移動
すると、等間隔に並んだ移動スリット70の各々は、順
に前記固定スリット群81 、82 、83 、84の
それぞれのスリットの上を重なるように通過して、発光
源であるLED9からの光をさえぎって、各固定スリッ
ト群における光の通過量を周期的に変化させる。ここで
、第5A図の各スリットの幅および間隔は共に20μm
である。受光素子Bにおける受光量の周期的変化の位相
は、受光素子Aにおける受光量の周期的変化の位相より
、測定量の増加に対して90°遅れるように、゛固定ス
リット群82の各スリットは固定スリット群81の対応
工 する各スリットよりスリット幅の□、つまり10μmだ
け移動スリット部7の移動方向にずれた位置にある。そ
して、固定スリット群83および84は受光素子τおよ
び■によって受光されるように位置しており、上記固定
スリット群81および82より移動スリット70の移動
方向に約1〜2龍離れて位置しているが、受光素子−入
−における受光量の周期的変化の位相は受光素子Aにお
ける位相より、測定量の増加に対して1806遅れ、受
光素子丁における受光量の周期的変化の位相は受光素子
Bにおける受光量の周期的変化の位相より、測定量の増
加に対して180 ”遅れるように配置されている。
第6図は、上に述べたパルスエンコーダの出力波形を、
測定量が増加する場合について示す図である。(1)〜
(4)は前述の第5B図の受光素子A、B、τ、Tの出
力レベルを示すものである。
前述のように、各受光索子A、B、τ、Tの出力は、そ
の位相が90″ずつずれた正弦波形状を有している。各
波形のピークは、該受光素子に対応する固定スリット群
の各スリ゛ットが移動スリット70のうちの対応する1
つに完全に重ったときに対応し、各波形の谷の部分は、
逆に、該受光素子に対応する固定スリット群の各スリッ
トが移動スリット70のスリットとスリットとの間の部
分に完全に重なったときに対応する。
上記のような受光素子A、B、τ、Tのアナログ出力か
ら、測定対象物の移動量に対応するタイミング情報を取
り出すために、第6図(5)に示すように、受光素子A
の出力と受光素子τの出力との差(第6図ではA−τで
示す)を求め、この値を零レベルと比較することにより
、第6図(7)に示されるようなデユーティ比lの周期
的なディび受光素子■の出力からも同様にして第6図(
6)に示すようになり−B信号の形成゛を経て第6図(
8)に示すようなデユーティ比1の周期的なデ上述の説
明は、パルスエンコーダの移動スリット部7の移動スリ
ット70を一定速度で移動させた場合を前提としており
、第6図の横軸は時間としている。もちろん、横軸を測
定対象物の位置と考□えれば、前記移動スリット部7の
移動スリット70の移動速度に無関係に一般に成立する
ところで、第7図はLEDあるいは受光素子の位置のず
れによるパルスエンコーダ出力への影響の1例を示すも
のである。本図′においては、受光素子Aの出力レベル
が受光素子τの出力レベルより低いために前述のA−τ
Φ値が正となる時間が、負となる時間より長くなり、こ
の値を零レベルと比較することにより得られるディジタ
ルパルスある時間と″0ルベルにある時間との比)が1
より大きくなっている。すなわち、この場合、パルスエ
ンコーダのディジタルパルスの出力の10″レベルの継
続時間が短くなっている。パルスエンの(7)および(
8))は、それぞれの立上りおよび立下りを、読取り側
に備えるクロックパルスに同期して読取られるものであ
るが、測定対象物の移動が高速で行われる場合、パルス
エンコーダの出力パルスD −およびD −の周期は、
読取り側のクロックパルスの周期にかなり近づく。この
ためパルスエンコーダ出力のデユーティ比の1からのず
れが大きくなると、読取り側において続落しが発生する
という問題がある。
第2図および第3図に示される本発明によるパルスエン
コーダの光学系調整装置の実施例は、第4図、第5A図
、および第5B図に示されるようなパルスエンコーダの
光学系において発光部9あるいは受光部6の位置、特に
移動スリット部7の移動方向の位置を調整するためのも
のである。第2図は本発明によるパルスエンコーダの光
学系調整装置の実施例の構成図であり、第3図は第2図
の波形解析部1の構成例を示す図である。
第2図において、1は波形解析部、2はコンピュータ、
3はサーボアンプ、6は受光部、7は移動スリット部、
8は固定スリット部、9は発光部、10は上記移動スリ
ット部7の回転駆動軸、11は上記移動スリット部7を
駆動する駆動モータ、42は上記受光部6が取付けられ
ていて、回転する回転板、41は該回転板42を駆動す
るサーボモータである。第2図における受光部6、固定
スリット部8、および発光部9の構成および配置は第4
図に示されるとおりであり、固定スリット部8および発
光部9は固定されている。移動スリット部7は駆動モー
タ11および回転駆動軸10によって回転する回転スリ
ット板となっており、第5A図に示したような移動スリ
ット70はこの回転スリット板に円周状に設けられてお
り、回転スリット板の回転によって移動スリット70が
移動するようになっている。回転板42に取付けられて
いる受光部6は、コンピュータ2からの位置修正指令に
応じてサーボアンプ3を介して駆動されるサーボモータ
41によって、移動スリット70の移動方向に移動可能
であって、この方向でのコンピュータ2の制御による位
置の修正が可能となっている。
第2図および第3図に示される本発明の実施例において
は、先に第7図とその説明において述べた問題点に着目
して、第6図の(7)および(8)で示されるパルスエ
ンコーダの出力D −およびD −のデユーティ比を1
としたものを、前述の第1図の波形解析部lにおける理
想波形としている。
第3図は第2図の波形解析部1の構成例を示す図である
。第3図において、18は比較器、12はインバータ、
13および14はアンド回路、15はクロック発生回路
、■6および17はカウンタである。比較器11は、第
6図(1)および(3)に示した受光素子Aおよびτか
らのアナログ出力から第6図(7)に示したディジタル
信号アンド回路13、および、カウンタ16からなるを
検出するためのものであり、アンド回路14およびカウ
ンタ17からなる構成は信号D −の“1”レベルの継
続時間Toをヰ★出するためのものである。
なお、比較器18は通常のパルスエンコーダの出力回路
に含まれるものであるので、第6図の(7)または(8
)の出力D =またはD −をそれぞれ第3図の比較器
18の出力側の0点に印加することもできる。
第3図の波形解析部lからの出力T11およびT +−
はコンピュータ2に入力され、ここで1Tu−Tt  
Iの値が所定の限度以下であるかどうかが比較され、所
定の限度を超えているときは、コンピュータ2はサーボ
アンプ3に対し、T、−T、の値に応じた位置修正指令
を出力する。ここで第2図のパルスエンコーダの移動ス
リット部7、スナわち回転スリット板は、上記のT9お
よびTLの検出中は駆動モータ11によって一定速度で
回転される。コンピュータ2においてITM  Tt 
 lが所定の限度以下であることが確認されると、これ
で受光部6の取付は位置の調整は終了し、回転板42は
その位置で固定されサーボモータ41、および、駆動モ
ータ11は取りはずされる。
上述のパルスエンコーダの光学系調整装置における位1
iJl整の精度は1μmのオーダであって、受光部6や
発光部9の取付は位置の精度としては十分なものである
また、第2図に示される構成においては、発光部9の位
置は予め別の手段で(例えばマニュアル操作で)固定し
た上で、受光部6の位置を上記のパルスエンコーダの光
学系調整装置により調整するものである。先に述べたよ
うに、パルスエンコーダの光学系においては、スリット
を通過する光の量は、発光部9の位置にも、受光部6の
位置にも影響されるが、微調整に関しては、取付けの最
終段階で発光部9または受光部6の一方で行えばよい。
ところで、第2図において、発光部9と受光量検出器6
の位置を逆転して、先に受光部6を固定し、発光部9を
回転板42に取付けて発光部9の位置を移動させること
により微調整を行うこともできる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、パルスエンコーダ夕゛の光学系の微調
整を、マニュアル操作によらずに、容易、且つ高精度に
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるパルスエンコーダの光学系調整装
置の基本的構成を示す図、 第2図はパルスエンコーダの光学系調整装置の実施例の
構成図、 第3図は第2図の波形解析部の構成例を示す図、第4図
はパルスエンコーダの光学系の構成図、第5A図は移動
スリットおよび固定スリットの配置図、 第5B図は受光部6の構成図、 第6図はパルスエンコーダの出力波形を示す図、第7図
は調整前の状態のパルスエンコーダの出力波形の1例を
示す図である。 (符号の説明) l・・・波形解析部、   2・・・コンピュータ、3
・・・サーボアンプ、 4・・・光学系駆動部、5・・
・パルスエンコーダ、 6・・・受光部、     7・・・移動スリット部、
8・・・固定スリット部、9・・・発光部、10・・・
回転駆動軸、 11・・・駆動モータ、12・・・イン
バータ、 13.14・・・アンド回路、15・・・ク
ロック発生器、 16 、17・・・カウンタ、  18・・・比較器、
70・・・移動スリット、 81 、82 、83 、84・・・固定スリットの群

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、発光部(9)、該発光部(9)からの光を通過させ
    る複数の固定スリット(81、82、83、84)該固
    定スリット(81、82、83、84)の各々を透過し
    た光の量を検出する複数の受光量検出器(A、B、@A
    @、@B@)、等間隔で並び、測定対象量の変動に対応
    して前記固定スリット(81、82、83、84)上を
    移動することにより、前記受光量検出器(A、B、@A
    @、@B@)の各々において検出される受光量に周期的
    変化を与える移動スリット(70)を有する移動スリッ
    ト部(7)とからなるパルスエンコーダ(5)の光学系
    調整装置であって、 パルスエンコーダの出力波形の理想波形とのずれに関す
    る情報を検出する波形解析部(1)、前記パルスエンコ
    ーダ(5)の発光部(9)または受光量検出器(A、B
    、@A@、@B@)を前記移動スリット(70)の移動
    方向に移動させる光学系駆動部(4)、該光学系駆動部
    (4)に対して駆動電流を供給するサーボアンプ(3)
    、および、前記波形解析部(1)にて検出した情報に基
    づいて演算を行い、該サーボアンプ(3)に対して前記
    発光部(9)または受光量検出器(A、B、@A@、@
    B@)、を移動させるための位置修正指令を出力するコ
    ンピュータ(2)を備えてなり、前記パルスエンコーダ
    の出力波形と理想波形との差が所定の限度以下となるよ
    うに前記発光部(9)あるいは前記受光量検出器(A、
    B、@A@、@B@)の位置を調整することを特徴とす
    るパルスエンコーダの光学系調整装置。 2、前記光学系駆動部(4)は、前記サーボアンプ(3
    )からの駆動電流によって駆動されるサーボモータ(4
    1)および、該サーボモータ(41)によって回転する
    回転板(42)からなり、前記受光量検出器(A、B、
    @A@、@B@)は、該回転板(42)と共に回転する
    ように取付けられている特許請求の範囲第1項記載のパ
    ルスエンコーダの光学系調整装置。 3、前記光学系駆動部(4)は、前記サーボアンプ(3
    )からの駆動電流によって駆動されるサーボモータ(4
    1)および、該サーボモータ(41)によって回転する
    回転板(42)からなり、前記発光部(9)は、該回転
    板(42)と共に回転するように取付けられている特許
    請求の範囲第1項記載のパルスエンコーダの光学系調整
    装置。 4、前記複数の受光量検出器(A、B、@A@、@B@
    )は前記移動スリット(70)の移動方向に並んで隣接
    する2つの群を形成し、各群は前記移動スリット(70
    )の移動方向に垂直な方向に並ぶ各群において同数の受
    光量検出器からなり、該2つの群を構成する受光量検出
    器同士は互いに1対1に対応し、対応する受光量検出器
    における受光量の周期的変化の位相差は180°であり
    、前記波形解析部(1)は、前記パルスエンコーダの出
    力波形のデューティ比を求めるための情報を検出するも
    のであり、前記コンピュータ(2)は前記波形解析部(
    1)からの情報に基づきデューティ比を求め該デューテ
    ィ比と1との差が所定の限度以下になるように前記位置
    修正指令を出力する特許請求の範囲第1項から3項のい
    ずれか1項記載のパルスエンコーダの光学系調整装置。 5、前記波形解析部(1)は、前記パルスエンコーダ出
    力波形の1周期の間における高レベル状態の継続時間、
    および低レベル状態の継続時間を検出するものである特
    許請求の範囲第4項記載のパルスエンコーダの光学系調
    整装置。
JP8221487A 1987-04-04 1987-04-04 パルスエンコ−ダの光学系調整装置 Pending JPS63249017A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630152A (zh) * 2013-11-05 2014-03-12 江苏大学 用于多极数开关磁阻电机驱动系统遮光码盘的设计方法

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