JPS63246147A - 規制ボリューム領域内における核磁化のスペクトル分布測定方法及びこの方法を実施する装置 - Google Patents
規制ボリューム領域内における核磁化のスペクトル分布測定方法及びこの方法を実施する装置Info
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- JPS63246147A JPS63246147A JP62242430A JP24243087A JPS63246147A JP S63246147 A JPS63246147 A JP S63246147A JP 62242430 A JP62242430 A JP 62242430A JP 24243087 A JP24243087 A JP 24243087A JP S63246147 A JPS63246147 A JP S63246147A
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- G01R33/4833—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy using spatially selective excitation of the volume of interest, e.g. selecting non-orthogonal or inclined slices
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は第１の高周波パルス及び同一時間間隔て互いに
連続する選択可能な３つの１８０°高周波パルスを具え
る少なくとも１つのシーケンスによって均一静磁場内で
検査区域を走査し、最終の１８０°パルス毎に規制ボリ
ューム領域内に生ずる各エコーをディジクルサンプル値
に変換し、その後フーリエ変換を行って規制ボリューム
領域内の核磁化のスペクトル分布を測定する方法及びこ
の方法を実施する装置に関するものである。
連続する選択可能な３つの１８０°高周波パルスを具え
る少なくとも１つのシーケンスによって均一静磁場内で
検査区域を走査し、最終の１８０°パルス毎に規制ボリ
ューム領域内に生ずる各エコーをディジクルサンプル値
に変換し、その後フーリエ変換を行って規制ボリューム
領域内の核磁化のスペクトル分布を測定する方法及びこ
の方法を実施する装置に関するものである。
この種方法は、ソサイエテイ オブ マグネチック レ
ゾナンス イン メディシン（第５回アニュアル ミー
ティング１９８６年８月１９〜２２日、モントリオール
第３巻、第９８１頁）の“ブック オブ アブストラク
ト”から既知である。
ゾナンス イン メディシン（第５回アニュアル ミー
ティング１９８６年８月１９〜２２日、モントリオール
第３巻、第９８１頁）の“ブック オブ アブストラク
ト”から既知である。
第１の高周波パルスによって全検査区域の磁化を好適に
は９０°でトリガする。次の１８０°高周波パルスを選
択する。即ちこの高周波パルス中勾配磁場を作用させて
通常勾配磁場の勾配に平行に延在する層中の磁化のみを
１８０°跳躍させ、且つ前の９０°高周波パルスにより
附勢された核磁化がこの層の外側で位相外れとなるよう
にする。従ってこの核磁化は後に発生するエコー信号に
対しては何等寄与しない。又、第２の１８０°高周波パ
ルスも選択する。しかし、この際の勾配磁場の勾配は前
の１８０°高周波パルス中有効となる勾配の方向に対し
直角に延在する。最後に、シーケンスの第３の１８０°
パルスを選択することによって、勾配磁場の勾配を前の
２つの１８０°パルス中の勾配に対して直角に延在させ
るようにする。
は９０°でトリガする。次の１８０°高周波パルスを選
択する。即ちこの高周波パルス中勾配磁場を作用させて
通常勾配磁場の勾配に平行に延在する層中の磁化のみを
１８０°跳躍させ、且つ前の９０°高周波パルスにより
附勢された核磁化がこの層の外側で位相外れとなるよう
にする。従ってこの核磁化は後に発生するエコー信号に
対しては何等寄与しない。又、第２の１８０°高周波パ
ルスも選択する。しかし、この際の勾配磁場の勾配は前
の１８０°高周波パルス中有効となる勾配の方向に対し
直角に延在する。最後に、シーケンスの第３の１８０°
パルスを選択することによって、勾配磁場の勾配を前の
２つの１８０°パルス中の勾配に対して直角に延在させ
るようにする。
このシーケンスによって３つの１８０°高周波パルス後
に発生するエコー信号を、規制ボリューム範囲内の核磁
化によってのみ測定する。このエコー信号をフーリエ変
換し、これにより得られたスペクトルは規制ボリューム
範囲内の、即ち理想的な場合の核磁化のスペクトル分布
に相当する。しかし実際には、このスペクトルは、時間
的に変動し且つ勾配磁場の切換え時に発生ずる渦電流に
より生ずる磁場によって偽のスペクトルとなる。スペク
トルラインの拡大により一層顕著となるこのの後のスペ
クトルの度合は、最後の１８０°高周波パルス及びエコ
ー信号間の時間間隔が短くなればなる程一層強くなる。
に発生するエコー信号を、規制ボリューム範囲内の核磁
化によってのみ測定する。このエコー信号をフーリエ変
換し、これにより得られたスペクトルは規制ボリューム
範囲内の、即ち理想的な場合の核磁化のスペクトル分布
に相当する。しかし実際には、このスペクトルは、時間
的に変動し且つ勾配磁場の切換え時に発生ずる渦電流に
より生ずる磁場によって偽のスペクトルとなる。スペク
トルラインの拡大により一層顕著となるこのの後のスペ
クトルの度合は、最後の１８０°高周波パルス及びエコ
ー信号間の時間間隔が短くなればなる程一層強くなる。
既知の方法では、この時間間隔が第１の高周波パルスの
次の１８０°高周波パルスからの時間間隔と全く等しい
カール−パーセルシーケンスを用いたが、３つの高周波
パルス間の時間間隔は上記時間間隔の２倍となる。従っ
て第１の高周波パルス及びエコー信号間の時間間隔は第
１の高周波パルス及び次の１８０°高周波パルス間の時
間間隔の６倍となる。これがため、エコー信号が発生す
るまで、励起領域の核磁化はすでに比較的強く減衰し、
従ってこのエコー信号の信号対雑音比は比較的不所望と
なる。この信号対雑音比は改善することができる。実際
上、第１の高周波パルス及び次の１８０°高周波パルス
間の時間間隔が減少するが、この場合エコー信号及び最
後の１８０°高周波パルス間の時間間隔も減少し、これ
によって、勾配磁場により発生する渦電流が夫々エコー
信号及びこれから導出したスペクトルに及ぼす影響が増
大するようになる。
次の１８０°高周波パルスからの時間間隔と全く等しい
カール−パーセルシーケンスを用いたが、３つの高周波
パルス間の時間間隔は上記時間間隔の２倍となる。従っ
て第１の高周波パルス及びエコー信号間の時間間隔は第
１の高周波パルス及び次の１８０°高周波パルス間の時
間間隔の６倍となる。これがため、エコー信号が発生す
るまで、励起領域の核磁化はすでに比較的強く減衰し、
従ってこのエコー信号の信号対雑音比は比較的不所望と
なる。この信号対雑音比は改善することができる。実際
上、第１の高周波パルス及び次の１８０°高周波パルス
間の時間間隔が減少するが、この場合エコー信号及び最
後の１８０°高周波パルス間の時間間隔も減少し、これ
によって、勾配磁場により発生する渦電流が夫々エコー
信号及びこれから導出したスペクトルに及ぼす影響が増
大するようになる。
本発明の目的は、信号対雑音比を改善し、及び／又は渦
電流の影響を改善するようにした上述した種類の規制ボ
リューム領域内における核磁化のスペクトル分布を測定
する方法を提供せんとするにある。
電流の影響を改善するようにした上述した種類の規制ボ
リューム領域内における核磁化のスペクトル分布を測定
する方法を提供せんとするにある。
本発明方法は第１の高周波パルス及び同一時間間隔で互
いに連続する選択可能な３つの１８０°高周波パルスを
具える少なくとも１つのシーケンスによって均一静磁場
内で検査区域を走査し、最終の１８０°パルス毎に規制
ボリューム領域内に生ずる各エコーをディジタルサンプ
ル値に変換し、その後フーリエ変換を行って規制ボリュ
ーム領域内の核磁化のスペクトル分布を測定するに当た
り、連続する２つの１８０°高周波パルス間の時間間隔
を第１の高周波パルス及びこれに続く１８０°高周波パ
ルス間の時間間隔よりも狭くするようにしたことを特徴
とする。
いに連続する選択可能な３つの１８０°高周波パルスを
具える少なくとも１つのシーケンスによって均一静磁場
内で検査区域を走査し、最終の１８０°パルス毎に規制
ボリューム領域内に生ずる各エコーをディジタルサンプ
ル値に変換し、その後フーリエ変換を行って規制ボリュ
ーム領域内の核磁化のスペクトル分布を測定するに当た
り、連続する２つの１８０°高周波パルス間の時間間隔
を第１の高周波パルス及びこれに続く１８０°高周波パ
ルス間の時間間隔よりも狭くするようにしたことを特徴
とする。
本発明は、１８０°高周波パルス間の時間間隔がシーケ
ンスの第１ （選択しない）の高周波パルス及び次の選
択された１８０°パルス間の時間間隔よりも狭い場合、
即ち、３つの１８０°高周波パルスの相対時間間隔が等
しい場合にのみ、シーケンスによってもエコー信号を発
生すると云う認識を基として成したものである。第１の
高周波パルス及び次の１８０°パルス間の時間間隔と２
つの連続する高周波パルス間の時間間隔とを適宜選択し
て、第１の高周波パルス及びエコー信号間の時間間隔を
減少しくこれにより信号対雑音比を改善する）、及び／
又は３つの１８０°高周波パルスの最後のパルス及びエ
コー信号間の時間間隔を増大（これによりエコー信号に
及ぼす渦電流の影響を減少する）し得るようにする。
ンスの第１ （選択しない）の高周波パルス及び次の選
択された１８０°パルス間の時間間隔よりも狭い場合、
即ち、３つの１８０°高周波パルスの相対時間間隔が等
しい場合にのみ、シーケンスによってもエコー信号を発
生すると云う認識を基として成したものである。第１の
高周波パルス及び次の１８０°パルス間の時間間隔と２
つの連続する高周波パルス間の時間間隔とを適宜選択し
て、第１の高周波パルス及びエコー信号間の時間間隔を
減少しくこれにより信号対雑音比を改善する）、及び／
又は３つの１８０°高周波パルスの最後のパルス及びエ
コー信号間の時間間隔を増大（これによりエコー信号に
及ぼす渦電流の影響を減少する）し得るようにする。
本発明の他の例では前記シーケンスを数回実施し、第１
の高周波パルス及びこれに次ぐ１８０°高周波パルス間
の時間間隔をシーケンス毎に変化させるも全部のシーケ
ンスの高周波パルス間の時間間隔は一定に保持し、各エ
コー信号のサンプル値のシーケンスをフーリエ変換し、
これらエコー信号がシーケンス内で３つの１８０°高周
波パルスのうちの１つから等距離にあるようにする。こ
の他の例によれば、励起ボリューム領域に対して測定さ
れた核磁化のスペクトル分布に及ぼす渦電流の影響を更
に減少することができる。
の高周波パルス及びこれに次ぐ１８０°高周波パルス間
の時間間隔をシーケンス毎に変化させるも全部のシーケ
ンスの高周波パルス間の時間間隔は一定に保持し、各エ
コー信号のサンプル値のシーケンスをフーリエ変換し、
これらエコー信号がシーケンス内で３つの１８０°高周
波パルスのうちの１つから等距離にあるようにする。こ
の他の例によれば、励起ボリューム領域に対して測定さ
れた核磁化のスペクトル分布に及ぼす渦電流の影響を更
に減少することができる。
この他の例では単一エコー信号のサンプル値ではなく、
種々の異なるシーケンスのエコー信号から導出したサン
プル値をフーリエ変換し、このサンプル値は夫々３つの
１８０°高周波パルスの各々から同一時間間隔にあり、
従って３つの勾配磁場の各々に対し時間的に同一位置に
あるようにする。
種々の異なるシーケンスのエコー信号から導出したサン
プル値をフーリエ変換し、このサンプル値は夫々３つの
１８０°高周波パルスの各々から同一時間間隔にあり、
従って３つの勾配磁場の各々に対し時間的に同一位置に
あるようにする。
エコー信号のフーリエ変換により得た周波数スペクトル
は、渦電流の妨害影響が存在しない場合に得られる周波
数スペクトルに一致し、この際各スペクトル値には関連
するシーケンスの渦電流が核磁化に作用する時間に特に
依存するファクタを乗算する。従ってフーリエ変換を行
う場合にはこれら妨害影響を完全に除去することができ
る。その理由は、種々のシーケンスからのこれらサンプ
ル値が渦電流により同程度の妨害影響を受けているから
である。本発明においてもこの妨害影響を受ける。
は、渦電流の妨害影響が存在しない場合に得られる周波
数スペクトルに一致し、この際各スペクトル値には関連
するシーケンスの渦電流が核磁化に作用する時間に特に
依存するファクタを乗算する。従ってフーリエ変換を行
う場合にはこれら妨害影響を完全に除去することができ
る。その理由は、種々のシーケンスからのこれらサンプ
ル値が渦電流により同程度の妨害影響を受けているから
である。本発明においてもこの妨害影響を受ける。
上述した所と同様の方法はドイツ国特許願Ｐ３６０７３
４１．５号明細書にすでに記載されている。このドイツ
国特許願の明細書に示されているシーケンスにはスピン
エコー法による２つの高周波パルスのみ、又は励起エコ
ー信号を発生する３つの高周波パルスのみが含まれてい
る。しかしこのドイツ国特許願明細書に記載されている
ようにフーリエ変換に用いられるサンプル値は、シーケ
ンスの前の部分中にスイッチオン及びオフされる全部の
勾配磁場から時間的に同一の間隔とはなり得ず、従って
本発明の場合とは相違し、渦電流による残留妨害が保持
されるようになる。
４１．５号明細書にすでに記載されている。このドイツ
国特許願の明細書に示されているシーケンスにはスピン
エコー法による２つの高周波パルスのみ、又は励起エコ
ー信号を発生する３つの高周波パルスのみが含まれてい
る。しかしこのドイツ国特許願明細書に記載されている
ようにフーリエ変換に用いられるサンプル値は、シーケ
ンスの前の部分中にスイッチオン及びオフされる全部の
勾配磁場から時間的に同一の間隔とはなり得ず、従って
本発明の場合とは相違し、渦電流による残留妨害が保持
されるようになる。
又、本発明は、均一静磁場を発生する磁石と、この静磁
場に対し直角を成す高周波磁場を発生する高周波コイル
系と、このコイル系を給電する高周波発生器と、勾配磁
場を発生する手段と、前記高周波発生器及び勾配磁場発
生手段を制御する制御装置と、核磁気共鳴信号を処理す
るコンピュータとを具え、上述した方法を実施する装置
において、各シーケンスで第１の高周波パルスを発生さ
せ、次いで他の３つの１８０°高周波パルスを発生させ
るように前記制御装置を構成し、これら３つの１８０°
高周波パルスの各パルス中磁場の勾配を他の方向に向け
るように勾配磁場発生手段を切換え、エコー信号のサン
プル値にフーリエ変換を施すように前記コンピュータを
構成したことを特徴とする。
場に対し直角を成す高周波磁場を発生する高周波コイル
系と、このコイル系を給電する高周波発生器と、勾配磁
場を発生する手段と、前記高周波発生器及び勾配磁場発
生手段を制御する制御装置と、核磁気共鳴信号を処理す
るコンピュータとを具え、上述した方法を実施する装置
において、各シーケンスで第１の高周波パルスを発生さ
せ、次いで他の３つの１８０°高周波パルスを発生させ
るように前記制御装置を構成し、これら３つの１８０°
高周波パルスの各パルス中磁場の勾配を他の方向に向け
るように勾配磁場発生手段を切換え、エコー信号のサン
プル値にフーリエ変換を施すように前記コンピュータを
構成したことを特徴とする。
図面につき本発明を説明する。
第１図に線図的に示す核磁気共鳴検査装置は数１０分の
１テスラ〜数テスラの均一静磁場を発生する４個のコイ
ルｌを有する配置を具える。この磁場は所定の座標系の
Ｚ方向に延在する。Ｚ軸に同心的に配列されたコイル１
は球面２に沿って配設する。検査すべき患者２０はこれ
らコイルの内側に位置させる。
１テスラ〜数テスラの均一静磁場を発生する４個のコイ
ルｌを有する配置を具える。この磁場は所定の座標系の
Ｚ方向に延在する。Ｚ軸に同心的に配列されたコイル１
は球面２に沿って配設する。検査すべき患者２０はこれ
らコイルの内側に位置させる。
Ｘ軸方向に延在し、この方向に直線状に変化する磁場Ｇ
２を発生させるためには４個のコイル３をもこの球面２
に沿って配設するのが好適である。
２を発生させるためには４個のコイル３をもこの球面２
に沿って配設するのが好適である。
更に４個のコイル７を設けて勾配磁場Ｇ８を発生させ、
この勾配磁場もＸ軸方向に延在させる（即ち強度が一方
向に直線状に変化する磁場）が、その傾き（勾配）はＸ
軸方向に延在する。Ｘ軸方向に延在し且つｙ軸方向の傾
きを有する勾配磁場Ｇｙはコイル７と同一形状を有し、
コイル７に対し９０’ずれるように配列された４個のコ
イル５によって発生させる。第１図においてはこれらコ
イル５のうちの２個のコイルのみを示す。
この勾配磁場もＸ軸方向に延在させる（即ち強度が一方
向に直線状に変化する磁場）が、その傾き（勾配）はＸ
軸方向に延在する。Ｘ軸方向に延在し且つｙ軸方向の傾
きを有する勾配磁場Ｇｙはコイル７と同一形状を有し、
コイル７に対し９０’ずれるように配列された４個のコ
イル５によって発生させる。第１図においてはこれらコ
イル５のうちの２個のコイルのみを示す。
勾配磁場Ｇ、、Ｇｙ及びＧ８を発生させる３個のコイル
配列３，５及び７の各々を球面２に対し対象に配設する
ため、ｘｙｚデカルト座標系の座標原点をも構成する球
の中心の磁場強度を、コイル配列１の均一静磁場によっ
てのみ測定する。又、高周波コイル１１を座標系の面ｚ
＝Ｑに対称に配列し、これによりＸ軸方向に、即ち均一
静磁場の方向に対し直角に延在するほぼ均一な高周波磁
場を発生させるようにする。この高周波コイルには高周
波発生器によって変調された高周波電流を各高周波パル
ス中供給する。高周波コイル１１は３つの高周波パルス
の後に検査区域に発生したエコー信号を受信する。しか
し、この高周波コイル１１の代わりに他の高周波受信コ
イルを用いることもできる。
配列３，５及び７の各々を球面２に対し対象に配設する
ため、ｘｙｚデカルト座標系の座標原点をも構成する球
の中心の磁場強度を、コイル配列１の均一静磁場によっ
てのみ測定する。又、高周波コイル１１を座標系の面ｚ
＝Ｑに対称に配列し、これによりＸ軸方向に、即ち均一
静磁場の方向に対し直角に延在するほぼ均一な高周波磁
場を発生させるようにする。この高周波コイルには高周
波発生器によって変調された高周波電流を各高周波パル
ス中供給する。高周波コイル１１は３つの高周波パルス
の後に検査区域に発生したエコー信号を受信する。しか
し、この高周波コイル１１の代わりに他の高周波受信コ
イルを用いることもできる。
第２図はかかる磁気共鳴検査装置の簡単なブロック線図
を示す。この装置では、スイッチング装置１２を介して
高周波コイル１１を高周波発生器４に接続すると共に高
周波受信器６に接続する。
を示す。この装置では、スイッチング装置１２を介して
高周波コイル１１を高周波発生器４に接続すると共に高
周波受信器６に接続する。
高周波発生器４はその周波数がディジタル的に制御され
る高周波発振器４０を具え、これにより、コイル１によ
って発生された磁場強度で励起される原子核のラーマ−
周波数に等しい周波数で振動を発生する。既知のように
、ラーマ−周波数は関係式ｆ ＝ｃＢに従って計算でき
、ここにＢは静止均一磁場における磁気誘導であり、Ｃ
は磁気回転比であり、この比は例えば陽子に対して４２
．５６ＭＨｚ／Ｔである。発振器４０の出力側を混合段
４３の入力側に接続する。混合段４３はその入力側がデ
ィジタルメモリ４５に接続されているディジタル−アナ
ログ変換器４４から第２人力信号を受信する。従って包
絡線信号を表す一連のディジタルデータワードを制御装
置１５の制御の下にメモリから読取る。
る高周波発振器４０を具え、これにより、コイル１によ
って発生された磁場強度で励起される原子核のラーマ−
周波数に等しい周波数で振動を発生する。既知のように
、ラーマ−周波数は関係式ｆ ＝ｃＢに従って計算でき
、ここにＢは静止均一磁場における磁気誘導であり、Ｃ
は磁気回転比であり、この比は例えば陽子に対して４２
．５６ＭＨｚ／Ｔである。発振器４０の出力側を混合段
４３の入力側に接続する。混合段４３はその入力側がデ
ィジタルメモリ４５に接続されているディジタル−アナ
ログ変換器４４から第２人力信号を受信する。従って包
絡線信号を表す一連のディジタルデータワードを制御装
置１５の制御の下にメモリから読取る。
混合段４３は包絡線信号によって変調された搬送波振動
が出力側に現われるように到来人力信号を処理する。混
合段４３の出力信号は制御装置１５によって制御される
スイッチ４６を介して高周波電力増幅器４７に印加され
、増幅器４７の出力側はスイッチング装置１２に接続す
る。このスイッチング装置もまた制御装置１５によって
制御する。
が出力側に現われるように到来人力信号を処理する。混
合段４３の出力信号は制御装置１５によって制御される
スイッチ４６を介して高周波電力増幅器４７に印加され
、増幅器４７の出力側はスイッチング装置１２に接続す
る。このスイッチング装置もまた制御装置１５によって
制御する。
受信器６は高周波増幅器６０を具え、この増幅器６０は
、これをスイッチング装置１２に接続すると共に高周波
コイル１１に誘起されたエコー信号を受信する。この際
、スイッチング装置１２は関連するスイッチング位置と
する必要がある。増幅器６０はミュートスイッチング入
力端子を具え、これは制御装置１５によって制御し、か
つこれを介して増幅器６０の利得を実質的に０となるよ
うに遮断可能とする。増幅器６０の出力側は２個の乗算
混合段６１及び６２の第１入力端子に接続し、これら乗
算混合段によってその人力信号の債に対応する出力信号
を供給し得るようにする。混合段６１及び６２の第２入
力端子は発振器４０の周波数を有する信号を受信し、両
入力端子の信号間には９０°の位相差を生せしめるよう
にする。この位相シフトは９０°移相器４８によって形
成し、移相器４８の出力側を混合段６２の入力側に接続
し、その入力端を混合段６１の入力端および発振器４０
の出力側に接続する。
、これをスイッチング装置１２に接続すると共に高周波
コイル１１に誘起されたエコー信号を受信する。この際
、スイッチング装置１２は関連するスイッチング位置と
する必要がある。増幅器６０はミュートスイッチング入
力端子を具え、これは制御装置１５によって制御し、か
つこれを介して増幅器６０の利得を実質的に０となるよ
うに遮断可能とする。増幅器６０の出力側は２個の乗算
混合段６１及び６２の第１入力端子に接続し、これら乗
算混合段によってその人力信号の債に対応する出力信号
を供給し得るようにする。混合段６１及び６２の第２入
力端子は発振器４０の周波数を有する信号を受信し、両
入力端子の信号間には９０°の位相差を生せしめるよう
にする。この位相シフトは９０°移相器４８によって形
成し、移相器４８の出力側を混合段６２の入力側に接続
し、その入力端を混合段６１の入力端および発振器４０
の出力側に接続する。
混合段６１及び６２の出力信号は、発振器４０によって
供給された周波数ならびに高周波を抑制し、かつ低周波
成分を通過する低域通過フィルタ６３及び６４を介して
各アナログ−ディジタル変換器６５及び６６に夫々印加
する。これら変換器は直交復調器を構成する回路６１〜
−一−６４のアナログ信号を、メモリ１４に供給される
ディジタルデータワードに変換する。アナログ−ディジ
タル変換器６５及び６６ならびにメモリ１４は、制御線
を介して制御装置１５によって閉塞・開放できるクロッ
クパルス発生器１６からそのクロックパルスを受信し、
従って高周波コイル１１によって供給されかつ低周波領
域に置換された信号は、制御装置１５によって規定され
る測定間隔でのみ一連のディジタルデータワードに変換
し、メモリ１４に蓄積し得るようにする。
供給された周波数ならびに高周波を抑制し、かつ低周波
成分を通過する低域通過フィルタ６３及び６４を介して
各アナログ−ディジタル変換器６５及び６６に夫々印加
する。これら変換器は直交復調器を構成する回路６１〜
−一−６４のアナログ信号を、メモリ１４に供給される
ディジタルデータワードに変換する。アナログ−ディジ
タル変換器６５及び６６ならびにメモリ１４は、制御線
を介して制御装置１５によって閉塞・開放できるクロッ
クパルス発生器１６からそのクロックパルスを受信し、
従って高周波コイル１１によって供給されかつ低周波領
域に置換された信号は、制御装置１５によって規定され
る測定間隔でのみ一連のディジタルデータワードに変換
し、メモリ１４に蓄積し得るようにする。
３個のコイル配列３．５及び７には電流発生器２３、２
５及び２７から夫々電流を供給し、この電流の時間的な
変化を制御装置１５によって制御し得るようにする。メ
モリ１４に記憶されたデータワード又はサンプル値をコ
ンピュータに供給し、これにより、個別にフーリエ変換
を行って核磁化のスペクトル分布を測定すると共にこれ
を適当な表示装置、例えばモニタ１８に供給する。
５及び２７から夫々電流を供給し、この電流の時間的な
変化を制御装置１５によって制御し得るようにする。メ
モリ１４に記憶されたデータワード又はサンプル値をコ
ンピュータに供給し、これにより、個別にフーリエ変換
を行って核磁化のスペクトル分布を測定すると共にこれ
を適当な表示装置、例えばモニタ１８に供給する。
第３図は第２図の回路により受信し、又は本発明方法の
実施回路により発生した種々の信号の時間的な変化を示
す。第３図の第１のラインａ１は、第１シーケンスにお
ける高周波発生器４の出力信号の時間変化を示すこの第
１シーケンスは第１高周波パルスＨＦＩを具え、これを
好適には９０°パルスとする。即ち核磁化を検査区域で
均一な静磁場の方向に対し９０°だけ跳躍させる。時間
間隔Ｔａに続き１８０°パルスＨＦ２が発生し、続いて
時間間隔Ｔｂ後に他の１８０°パルス１ｌＦ３が発生し
、次いで再び時間間隔Ｔｂ後第３の１８０°パルスが発
生する。
実施回路により発生した種々の信号の時間的な変化を示
す。第３図の第１のラインａ１は、第１シーケンスにお
ける高周波発生器４の出力信号の時間変化を示すこの第
１シーケンスは第１高周波パルスＨＦＩを具え、これを
好適には９０°パルスとする。即ち核磁化を検査区域で
均一な静磁場の方向に対し９０°だけ跳躍させる。時間
間隔Ｔａに続き１８０°パルスＨＦ２が発生し、続いて
時間間隔Ｔｂ後に他の１８０°パルス１ｌＦ３が発生し
、次いで再び時間間隔Ｔｂ後第３の１８０°パルスが発
生する。
前述した既知の方法では時間間隔Ｔｂを時間間隔Ｔａの
２倍としている。従って１８０’パルスＨＦ２により形
成され、この高周波パルス後の瞬時Ｔａで発生する第１
のエコー信号を次の１８０°パルスＨＦ３により゛鏡像
処理”するため高周波パルス１ｌＦａ後の瞬時Ｔａで他
のエコー信号を発生し、次いで再びこのエコー信号を次
の１８０’パルスで鏡（ｉ 処理して第３のエコー信号
を発生させるようにしている。
２倍としている。従って１８０’パルスＨＦ２により形
成され、この高周波パルス後の瞬時Ｔａで発生する第１
のエコー信号を次の１８０°パルスＨＦ３により゛鏡像
処理”するため高周波パルス１ｌＦａ後の瞬時Ｔａで他
のエコー信号を発生し、次いで再びこのエコー信号を次
の１８０’パルスで鏡（ｉ 処理して第３のエコー信号
を発生させるようにしている。
この方法は第４の１８０°パルスにより繰返すことがで
き、場合によっては瞬時２Ｔａ毎に前のパルスにより他
の１８０°パルスを発生させるようにしている。これに
対し、本発明によれば夫々１８０°高周波パルスＨＦ２
及び［ＨＦ３並びにＨＦ３及びＨＦ４間の時間間隔Ｔｂ
を９０°高周波パルスＨＦＩ及び次の１８０゜パルスＨ
Ｆ２間の時間間隔Ｔａよりも短くする。
き、場合によっては瞬時２Ｔａ毎に前のパルスにより他
の１８０°パルスを発生させるようにしている。これに
対し、本発明によれば夫々１８０°高周波パルスＨＦ２
及び［ＨＦ３並びにＨＦ３及びＨＦ４間の時間間隔Ｔｂ
を９０°高周波パルスＨＦＩ及び次の１８０゜パルスＨ
Ｆ２間の時間間隔Ｔａよりも短くする。
本発明によるシーケンスの作動は次の示すように説明す
る。コイル配列により発生する静磁場の避けられない不
均一性のために、核磁化はこのパルスにより附勢される
領域で９０°高周波パルス後に位相外れとなる。これが
ためこの高周波パルス後検査区域に発生するいわゆるＦ
ＩＤ信号の核磁気共鳴信号の振幅は比較的急速に減少す
る。次の１８０°パルスＨＦ２によって既知のように位
相外れ状態を再同相状態に反転し、これにより他の高周
波パルスが後続しない場合には１８０°パルスＨＦ２後
の瞬時Ｔａでスピンエコー信号を発生する。しかし、こ
の再同相状態への反転はこの場合、発生しない。その理
由は１８０°高周波パルス１ｌＦ２後の時間間隔Ｔｂで
他の１８０°高周波パルスＨＦ３がすでに発生している
からである。この１８０°パルスＨＦ３によって、この
１８０°パルス後の時間間隔Ｔｂに第、３の１８０°高
周波パルス１ｌＦ４が発生するまで、前述した再同相状
態はすでに終了し、位相外れ状態を再び開始する。第３
の１８０°高周波パルスＨＦ４によって位相外れ状態を
終了し、再同相状態を開始する。１８０°高周波パルス
１ＩＦＢ後の位相外れ状態の時間間隔は高周波パルス１
ｌＦ２後の再同相状態の時間間隔と正確に一致するため
、これら２つの１８０°高周波パルスＨＦ２及びＨＦ３
の影響は第３の１８０°高周波パルスＨＦ４の発生瞬時
に除去されたことになり、従って核磁化は、Ｔ２の減衰
を無視する場合、第３の１８０°高周波パルス中及び第
２の１８０°高周波パルス中同−位置となる。これがた
め静磁場の不均一性により、９０°高周波パルスＨＦＩ
後に発生する位相外れ状態は第３の１８０°高周波パル
スＨＦ４からの時間間隔Ｔａで除去され、従ってこの瞬
時にスピンエコー信号Ｅ１が発生する（ラインｅ１参照
）。３つの１８０°パルスの各々で３個の磁場勾配コイ
ル配列３，５及び７のうちの１つのコイル配列をスイッ
チオン及びオフする。
る。コイル配列により発生する静磁場の避けられない不
均一性のために、核磁化はこのパルスにより附勢される
領域で９０°高周波パルス後に位相外れとなる。これが
ためこの高周波パルス後検査区域に発生するいわゆるＦ
ＩＤ信号の核磁気共鳴信号の振幅は比較的急速に減少す
る。次の１８０°パルスＨＦ２によって既知のように位
相外れ状態を再同相状態に反転し、これにより他の高周
波パルスが後続しない場合には１８０°パルスＨＦ２後
の瞬時Ｔａでスピンエコー信号を発生する。しかし、こ
の再同相状態への反転はこの場合、発生しない。その理
由は１８０°高周波パルス１ｌＦ２後の時間間隔Ｔｂで
他の１８０°高周波パルスＨＦ３がすでに発生している
からである。この１８０°パルスＨＦ３によって、この
１８０°パルス後の時間間隔Ｔｂに第、３の１８０°高
周波パルス１ｌＦ４が発生するまで、前述した再同相状
態はすでに終了し、位相外れ状態を再び開始する。第３
の１８０°高周波パルスＨＦ４によって位相外れ状態を
終了し、再同相状態を開始する。１８０°高周波パルス
１ＩＦＢ後の位相外れ状態の時間間隔は高周波パルス１
ｌＦ２後の再同相状態の時間間隔と正確に一致するため
、これら２つの１８０°高周波パルスＨＦ２及びＨＦ３
の影響は第３の１８０°高周波パルスＨＦ４の発生瞬時
に除去されたことになり、従って核磁化は、Ｔ２の減衰
を無視する場合、第３の１８０°高周波パルス中及び第
２の１８０°高周波パルス中同−位置となる。これがた
め静磁場の不均一性により、９０°高周波パルスＨＦＩ
後に発生する位相外れ状態は第３の１８０°高周波パル
スＨＦ４からの時間間隔Ｔａで除去され、従ってこの瞬
時にスピンエコー信号Ｅ１が発生する（ラインｅ１参照
）。３つの１８０°パルスの各々で３個の磁場勾配コイ
ル配列３，５及び７のうちの１つのコイル配列をスイッ
チオン及びオフする。
このスイッチオン及びオフの作動は夫々関連する高周波
パルスの前後で毎回性われるため、勾配磁場の時間変化
は関連する高周波パルスの時間変化に対し、対称となる
。ラインｂに示すように第１の１８０°高周波パルスＨ
Ｆ２中電流発生器２７をスイッチオンしてコイル配列７
によってＸ軸方向に延在する傾度を有する勾配磁場Ｇ８
を発生する。同様に第２の１８０°高周波パルス）ＨＦ
３によって勾配磁場Ｇ、を発生し、第３の１８０°高周
波パルスＨＦ４によって勾配磁場Ｇ２を発生する（ライ
ンＣ及びｄ参照）。
パルスの前後で毎回性われるため、勾配磁場の時間変化
は関連する高周波パルスの時間変化に対し、対称となる
。ラインｂに示すように第１の１８０°高周波パルスＨ
Ｆ２中電流発生器２７をスイッチオンしてコイル配列７
によってＸ軸方向に延在する傾度を有する勾配磁場Ｇ８
を発生する。同様に第２の１８０°高周波パルス）ＨＦ
３によって勾配磁場Ｇ、を発生し、第３の１８０°高周
波パルスＨＦ４によって勾配磁場Ｇ２を発生する（ライ
ンＣ及びｄ参照）。
これがため、９０°高周波パルス１１Ｆ１を非選択パル
スとする。その理由はこのパルス中勾配磁場が作用しな
いからである。又、１８０°高周波パルス１１Ｆ２．
ＨＦ３及びＨＦ４は層選択パルスとし、これらパルスに
より３つの直交する層における核磁化を励起すると共に
シーケンスの前の高周波パルスによりこれら層の外側で
励起された核磁化を位相外れ状態とする。従ってエコー
信号Ｅ１は３つの層の断面積で決まる規制ボリューム領
域における核磁化にのみほぼ依存する。このエコー信号
を既知のようにフーリエ変換することができ、これによ
り規制ボリューム領域で励起された核磁化のスペクトル
を得ることができる。
スとする。その理由はこのパルス中勾配磁場が作用しな
いからである。又、１８０°高周波パルス１１Ｆ２．
ＨＦ３及びＨＦ４は層選択パルスとし、これらパルスに
より３つの直交する層における核磁化を励起すると共に
シーケンスの前の高周波パルスによりこれら層の外側で
励起された核磁化を位相外れ状態とする。従ってエコー
信号Ｅ１は３つの層の断面積で決まる規制ボリューム領
域における核磁化にのみほぼ依存する。このエコー信号
を既知のようにフーリエ変換することができ、これによ
り規制ボリューム領域で励起された核磁化のスペクトル
を得ることができる。
前述したようにエコー信号Ｅ１の時間変化（従ってこれ
からフーリエ変換により計算されたスペクトルの変化）
は、勾配磁場Ｇ、、Ｇｙ及びＧ２のスイッチング時に発
生する渦電流によって生ずる時間的に変化し得る磁場に
よって偽のエコー信号となる。この渦電流の影響は、実
際上９０°高周波パルスＨＦＩ及び１８０°高周波パル
スＨＦ２間の時間間隔Ｔａを長くするようにして減少さ
せることができる。その理由は、この場合、第３の１８
０°高周波パルスＨＦ４からのエコー信号Ｅ１の時間間
隔がこれに応じて長くなり、従って渦電流がすでに著し
く減衰されているからである。しかしこの場合エコー信
号Ｅ１の振幅も避けられないＴ２の減衰のため減少する
。
からフーリエ変換により計算されたスペクトルの変化）
は、勾配磁場Ｇ、、Ｇｙ及びＧ２のスイッチング時に発
生する渦電流によって生ずる時間的に変化し得る磁場に
よって偽のエコー信号となる。この渦電流の影響は、実
際上９０°高周波パルスＨＦＩ及び１８０°高周波パル
スＨＦ２間の時間間隔Ｔａを長くするようにして減少さ
せることができる。その理由は、この場合、第３の１８
０°高周波パルスＨＦ４からのエコー信号Ｅ１の時間間
隔がこれに応じて長くなり、従って渦電流がすでに著し
く減衰されているからである。しかしこの場合エコー信
号Ｅ１の振幅も避けられないＴ２の減衰のため減少する
。
フーリエ変換により決まるスペクトルに及ぼす渦電流の
妨害影響を完全に除去するためには上述したシーケンス
を繰返す。この場合には９０°高周波パルスＨＦＩ及び
次の１８０°高周波パルスＨＦ２間の時間間隔を時間間
隔ｄｔだけ変化させるが１８０゜高周波パルスＨＦ２．
ＨＦ３及びＨＦ４の相対時間間隔及びこれらパルスに
対する勾配磁場Ｇ、 、 Ｇ、及びＧ２の時間的位置は
不変のままとする。従って勾配磁場の時間変化はこれ以
上水さないが、ラインａ２には高周波パルスＨＦＩ及び
ＨＦ２間で期間ｄｔだけ長くした時間間隔に対する時間
変化を示し、ラインａ３には期間ｄｔだけ短くした時間
間隔に対する時間変化を示す。高周波パルスＨＦ１及び
ＨＦ２間の時間間隔を夫々増大及び減少することにより
最後の１８０°高周波パルス１１Ｆ４及びエコー信号間
の時間間隔をもそれぞれ増大（ラインｅ２のエコー信号
Ｅ２参照）及び減少する。
妨害影響を完全に除去するためには上述したシーケンス
を繰返す。この場合には９０°高周波パルスＨＦＩ及び
次の１８０°高周波パルスＨＦ２間の時間間隔を時間間
隔ｄｔだけ変化させるが１８０゜高周波パルスＨＦ２．
ＨＦ３及びＨＦ４の相対時間間隔及びこれらパルスに
対する勾配磁場Ｇ、 、 Ｇ、及びＧ２の時間的位置は
不変のままとする。従って勾配磁場の時間変化はこれ以
上水さないが、ラインａ２には高周波パルスＨＦＩ及び
ＨＦ２間で期間ｄｔだけ長くした時間間隔に対する時間
変化を示し、ラインａ３には期間ｄｔだけ短くした時間
間隔に対する時間変化を示す。高周波パルスＨＦ１及び
ＨＦ２間の時間間隔を夫々増大及び減少することにより
最後の１８０°高周波パルス１１Ｆ４及びエコー信号間
の時間間隔をもそれぞれ増大（ラインｅ２のエコー信号
Ｅ２参照）及び減少する。
クロックパルス発生器１６は制御装置１５の制御信号に
より制御してエコー信号Ｅｌ−−−−Ｅ３の発生中のみ
パルスを発生させるようにする。次いで低域通過フィル
タ６３及び６４の出力信号（即ちエコー信号Ｅ１． Ｅ
２及びε３の実数部及び虚数部）をディジタルサンプル
値に変換し、メモ１月４に記憶する。
より制御してエコー信号Ｅｌ−−−−Ｅ３の発生中のみ
パルスを発生させるようにする。次いで低域通過フィル
タ６３及び６４の出力信号（即ちエコー信号Ｅ１． Ｅ
２及びε３の実数部及び虚数部）をディジタルサンプル
値に変換し、メモ１月４に記憶する。
コンピュータ１７を適切にプログラムして、１８０゜高
周波パルスから同一時間間隔で夫々発生する個別のシー
ケンスのサンプル値、例えば第３図にラインして相互接
続されたサンプル値をフーリエ変換し、その後これらエ
コー信号を第１の高周波パルスＨＦＩ及び次の１８０°
高周波パルス［ＩＦ２間の時間間隔にｔ目当する昇順又
は降順で順序付けする（従って第３図の例では、Ｅ３−
Ｅｌ−Ｅ２又はＥ２−Ｅｌ−８３）これがため単一エコ
ー信号のサンプル値のシーケンスがフーリエ変換されず
、種々の異なるエコー信号のサンプル値がフーリエ変換
されるようになり、これにより１シーケンス内の同一時
間間隔中央々渦電流の妨害影響が作用したことになる。
周波パルスから同一時間間隔で夫々発生する個別のシー
ケンスのサンプル値、例えば第３図にラインして相互接
続されたサンプル値をフーリエ変換し、その後これらエ
コー信号を第１の高周波パルスＨＦＩ及び次の１８０°
高周波パルス［ＩＦ２間の時間間隔にｔ目当する昇順又
は降順で順序付けする（従って第３図の例では、Ｅ３−
Ｅｌ−Ｅ２又はＥ２−Ｅｌ−８３）これがため単一エコ
ー信号のサンプル値のシーケンスがフーリエ変換されず
、種々の異なるエコー信号のサンプル値がフーリエ変換
されるようになり、これにより１シーケンス内の同一時
間間隔中央々渦電流の妨害影響が作用したことになる。
これがため、渦電流が存在しない場合、かかるフーリエ
変換により得られた周波数スペクトルは時間間隔ｄｔで
サンプルされた各エコー信号のフーリエ変換により得ら
れた周波数スペクトルに相当する。
変換により得られた周波数スペクトルは時間間隔ｄｔで
サンプルされた各エコー信号のフーリエ変換により得ら
れた周波数スペクトルに相当する。
各エコー信号の他の瞬時例えば一点鎖線Ｌ１で相互接続
された瞬時に夫々発生するサンプル値をフーリエ変換す
る必要がある場合には、理想的な場合、同一の周波数ス
ペクトルを得る必要がある。
された瞬時に夫々発生するサンプル値をフーリエ変換す
る必要がある場合には、理想的な場合、同一の周波数ス
ペクトルを得る必要がある。
しかし、測定値の記録及び処理中避けられない誤差のた
め偏移が生ずるが、これは、各々が高周波パルスから同
一時間間隔にあるサンプル値のみを有するサンプル値の
数個のシーケンスをフーリエ変換し、且つかくして得ら
れ、互いに僅かだけ偏移する周波数スペクトルを互いに
加算することに。より減少させることができる。
め偏移が生ずるが、これは、各々が高周波パルスから同
一時間間隔にあるサンプル値のみを有するサンプル値の
数個のシーケンスをフーリエ変換し、且つかくして得ら
れ、互いに僅かだけ偏移する周波数スペクトルを互いに
加算することに。より減少させることができる。
第３図に示す例において３つの保持点に対してのみフー
リエ変換を行う場合には極めて粗いスペクトル精細度が
得られる。この精細度を改善する゛ためには極めて多数
の保持点、従って極めて多数のシーケンスが必要となる
。
リエ変換を行う場合には極めて粗いスペクトル精細度が
得られる。この精細度を改善する゛ためには極めて多数
の保持点、従って極めて多数のシーケンスが必要となる
。
第１図は本発明方法を実施する医療用核磁気共鳴検査装
置を示す平面図、 第２図は第１図の装置の操作回路部の構成を示すブロッ
ク図、 第３図は本発明方法において用いる種々の信号の時間変
化を示す説明図である。 １、 ３． ５． ７・・・コイル ２・・・球面 ４・・・高周波発生器 ６・・・高周波受信機 １１・・・高周波コイル １２・・・スイッチング装
置１４・・・メモリ１５・・・制御装置 １６・・・クロツクパルス発生器 １７・・・コンピュータ １８・・・モニタ ２０・・・患者２３、２５
．２７・・・電流発生器 ４０・・・発振器 ４３・・・混合段４４・・
・ディジタル−アナログ変換器４５・・・ディジタルメ
モリ ４６・・・スイッチ ４７・・・高周波電力増幅器 ４８・・・９０°移相器 ６０・・・高周波増幅器 ６１．６２・・・混合段 ６３、６４・・・低域通過フィルタ ６５、６６・・・アナログ−ディジタル変換器Ｆｉｔ）
、２
置を示す平面図、 第２図は第１図の装置の操作回路部の構成を示すブロッ
ク図、 第３図は本発明方法において用いる種々の信号の時間変
化を示す説明図である。 １、 ３． ５． ７・・・コイル ２・・・球面 ４・・・高周波発生器 ６・・・高周波受信機 １１・・・高周波コイル １２・・・スイッチング装
置１４・・・メモリ１５・・・制御装置 １６・・・クロツクパルス発生器 １７・・・コンピュータ １８・・・モニタ ２０・・・患者２３、２５
．２７・・・電流発生器 ４０・・・発振器 ４３・・・混合段４４・・
・ディジタル−アナログ変換器４５・・・ディジタルメ
モリ ４６・・・スイッチ ４７・・・高周波電力増幅器 ４８・・・９０°移相器 ６０・・・高周波増幅器 ６１．６２・・・混合段 ６３、６４・・・低域通過フィルタ ６５、６６・・・アナログ−ディジタル変換器Ｆｉｔ）
、２
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、第１の高周波パルス及び同一時間間隔で互いに連続
する選択可能な３つの１８０°高周波パルスを具える少
なくとも１つのシーケンスによって均一静磁場内で検査
区域を走査し、最終の１８０°パルス毎に規制ボリュー
ム領域内に生ずる各エコーをディジタルサンプル値に変
換し、その後フーリエ変換を行って規制ボリューム領域
内の核磁化のスペクトル分布を測定するに当たり、連続
する２つの１８０°高周波パルス間の時間間隔（Ｔｂ）
を第１の高周波パルス及びこれに続く１８０°高周波パ
ルス間の時間間隔（Ｔａ）よりも狭くするようにしたこ
とを特徴とする規制ボリューム領域内における核磁化の
スペクトル分布測定方法。 ２、前記シーケンスを数回実施し、第１の高周波パルス
（ＨＦ１）及びこれに次ぐ１８０°高周波パルス（ＨＦ
２）間の時間間隔をシーケンス毎に変化させるも全部の
シーケンスの高周波パルス（ＨＦ２−ＨＦ３−ＨＦ４）
間の時間間隔は一定に保持し、各エコー信号（Ｅ１、Ｅ
２、Ｅ３）のサンプル値のシーケンスをフーリエ変換し
、これらエコー信号がシーケンス内で３つの１８０°周
波パルスのうちの１つから等距離（直線Ｌ又はＬ１）に
あるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の規制ボリューム領域内における核磁化のスペクト
ル分布測定方法。 ３、サンプル値の数個のシーケンスをフーリエ変換し、
１つのシーケンスのサンプル値は夫々各シーケンスの３
つの１８０°高周波パルスのうちの１パルスから同一の
時間間隔を有し、これから生ずるスペクトル分布を互い
に加算するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第２項記載の規制ボリューム領域内における核磁化のス
ペクトル分布測定方法。 ４、均一静磁場を発生する磁石と、この静磁場に対し直
角を成す高周波磁場を発生する高周波コイル系と、この
コイル系を給電する高周波発生器と、勾配磁場を発生す
る手段と、前記高周波発生器及び勾配磁場発生手段を制
御する制御装置と、核磁気共鳴信号を処理するコンピュ
ータとを具え、特許請求の範囲第１項に記載の方法を実
施する装置において、各シーケンスで第１の高周波パル
スを発生させ、次いで他の３つの１８０°高周波パルス
を発生させるように前記制御装置を構成し、これら３つ
の１８０°高周波パルスの各パルス中磁場の勾配を他の
方向に向けるように勾配磁場発生手段を切換え、エコー
信号のサンプル値にフーリエ変換を施すように前記コン
ピュータを構成したことを特徴とする規制ボリューム領
域内における核磁化のスペクトル分布測定装置。 ５、第１の高周波パルス及びこれに次ぐ１８０°高周波
パルス間の時間間隔をシーケンス毎に変化させるように
制御装置を構成し、且つ各々が１８０°高周波パルスの
うちの１パルスから同一の時間間隔を有する順次の連続
シーケンスからエコー信号のサンプル値をフーリエ変換
するようにコンピュータを構成したことを特徴とする特
許請求の範囲第４項記載の規制ボリューム領域内におけ
る核磁化のスペクトル分布測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19863632738 DE3632738A1 (de) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | Verfahren zum bestimmen der spektralen verteilung der kernmagnetisierung in einem begrenzten volumenbereich |
| DE3632738.7 | 1986-09-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63246147A true JPS63246147A (ja) | 1988-10-13 |
Family
ID=6310419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62242430A Pending JPS63246147A (ja) | 1986-09-26 | 1987-09-26 | 規制ボリューム領域内における核磁化のスペクトル分布測定方法及びこの方法を実施する装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4823084A (ja) |
| EP (1) | EP0261743B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63246147A (ja) |
| DE (2) | DE3632738A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63305851A (ja) * | 1987-06-01 | 1988-12-13 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | Ｎｍｒ分光応答信号を収集する方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4881032A (en) * | 1988-10-21 | 1989-11-14 | General Electric Company | Method of, and apparatus for, NMR spectroscopic metabolite imaging and quantification |
| US4978919A (en) * | 1989-04-27 | 1990-12-18 | Picker International, Inc. | Measurement and calibration of eddy currents for magnetic resonance imagers |
| DE4027252A1 (de) * | 1990-08-29 | 1992-03-05 | Philips Patentverwaltung | Verfahren fuer die zweidimensionale kernresonanzspektroskopie |
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Family Cites Families (5)
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| DE3209263A1 (de) * | 1982-03-13 | 1983-09-22 | Bruker Medizintechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten | Verfahren zum messen der magnetischen kernresonanz |
| DE3414635A1 (de) * | 1984-04-18 | 1985-10-24 | Bruker Medizintechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten | Verfahren zum anregen einer probe fuer die nmr-tomographie |
| DE3607341A1 (de) * | 1986-03-06 | 1987-09-10 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zum bestimmen der spektralen verteilung der kernmagnetisierung in einem begrenzten volumenbereich |
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-
1987
- 1987-09-22 DE DE8787201826T patent/DE3779537D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-22 US US07/099,886 patent/US4823084A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-09-22 EP EP87201826A patent/EP0261743B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-09-26 JP JP62242430A patent/JPS63246147A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63305851A (ja) * | 1987-06-01 | 1988-12-13 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | Ｎｍｒ分光応答信号を収集する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0261743A3 (en) | 1990-01-24 |
| DE3779537D1 (de) | 1992-07-09 |
| EP0261743A2 (de) | 1988-03-30 |
| DE3632738A1 (de) | 1988-03-31 |
| US4823084A (en) | 1989-04-18 |
| EP0261743B1 (de) | 1992-06-03 |
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