JPS63245010A - Multiplying circuit - Google Patents

Multiplying circuit

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JPS63245010A
JPS63245010A JP62078317A JP7831787A JPS63245010A JP S63245010 A JPS63245010 A JP S63245010A JP 62078317 A JP62078317 A JP 62078317A JP 7831787 A JP7831787 A JP 7831787A JP S63245010 A JPS63245010 A JP S63245010A
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JP
Japan
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clock
delay
circuit
phase
phase detection
Prior art date
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Application number
JP62078317A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahisa Yoshimi
吉見 昌久
Norio Murakami
典生 村上
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63245010A publication Critical patent/JPS63245010A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To generate a 2-multiple clock excellent in duty by selecting a delay clock extracted in response to the position of a delay clock phase-shifted by a phase of 1/2 period or over of an input clock in a phase detection delay circuit section. CONSTITUTION:A selector control signal corresponding to the extracted position of the phase detection delay clock having a phase exceeding the phase of the input clock CK detected at a phase detection section 6 at first by a 1/2 period of the clock in the extracted position of a phase detection delay circuit section 5 is outputted from the phase detection section 6 to a selector 7. Thus, A delay clock CKD3 is selected when the operating time of the inverter in, e.g., a delay circuit section 1 is faster in response to the selector control signal outputted from the phase detection section 6, then the delay clock CKD 3 is selected by the selector 7, and when the operation time of the inverter is slow, the delay clock CKD1 is selected. Thus, the clock CK2F having a double frequency is outputted to an output terminal 4 to generate a 2 multiple clock excellent in duty.

Description

【発明の詳細な説明】 (概要〕 遅延用ゲート回路を用いた遅延回路と排他的オア回路と
を用いて2倍の周波数のクロックを発注させる集積回路
の逓信回路において、遅延が入力クロックのA周期分位
相のずれた位置及び該位置から±n個離れた位置から遅
延クロックをそれぞれ出力する遅延回路部と2位相検出
用クロックをそれぞれ出力する位相検出用遅延回路部と
、入力クロックのA周期分以上の位相のずれが生じてい
る位相検出用クロックを検出する位相検出部と。
Detailed Description of the Invention (Summary) In a transmitting circuit of an integrated circuit that uses a delay circuit using a delay gate circuit and an exclusive OR circuit to order a clock of twice the frequency, the delay is A of the input clock. A delay circuit unit that outputs a delayed clock from a position whose phase is shifted by a period and a position ±n from the position, a phase detection delay circuit unit that outputs a two-phase detection clock, and an A period of the input clock. a phase detection unit that detects a phase detection clock with a phase shift of more than 1 minute;

上記遅延回路部の遅延クロックを選択するセレクタと、
該セレクタで選択された遅延クロックと元の入力クロッ
クとから2逓倍クロックを生成する排他的オア回路とを
設け、生成された2逓倍クロックのパルス幅が、上記位
相検出部を利用して所定の範囲内に納まるようにしたも
のである。
a selector for selecting a delay clock of the delay circuit section;
An exclusive OR circuit is provided that generates a doubled clock from the delayed clock selected by the selector and the original input clock, and the pulse width of the generated doubled clock is determined by using the phase detection section. It is designed to stay within the range.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、逓倍回路、特に大集積回路向けの逓倍回路に
関するものである。
The present invention relates to a multiplier circuit, particularly a multiplier circuit for large integrated circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

通信の分野では9入力クロックの周波数を2倍に上げて
2例えばCM I  (Code Mark Inve
rsion)符号回路に使用している。この場合、クロ
ックを遅延させるためにディレィ・ラインを用いる場合
もあるが、コスト小型化の観点からすると、この方法は
得策ではなく、製造容易な遅延素子となり得る9例えば
インバータ等を集積回路上に形成して実現することが要
求される。
In the field of communications, the frequency of the 9 input clock is doubled to create 2, for example CM I (Code Mark Inve
rsion) is used in the encoder circuit. In this case, a delay line may be used to delay the clock, but from the perspective of cost reduction, this method is not a good idea, and it is not advisable to use an easy-to-manufacture delay element9, such as an inverter, on the integrated circuit. It is required to form and realize.

第5図、第6図(A)(B)は従来の逓倍回路構成とそ
のタイムチャートを示しており、第5図において、1−
1.1−2.・・・1−Nはインバータ。
5 and 6 (A) and (B) show the conventional multiplier circuit configuration and its time chart.
1.1-2. ...1-N is an inverter.

2は排他的オア回路、3は入力端子、4は出力端子を表
わしている。
2 represents an exclusive OR circuit, 3 represents an input terminal, and 4 represents an output terminal.

入力端子4に入力されたクロックGKは、偶数個のイン
バータ1−1ないし1−2Nの各伝搬遅延時間によって
第6図(A)(ii)図示の如く遅延される。該遅延ク
ロックCKDと元の入力クロックCKとが排他的オア回
路2で排他的オアがとられると、第6図(A)(ii)
図示の如く入力クロックCKの2倍の周波数のクロック
CK2Fが出力端子4へ出力される。
The clock GK input to the input terminal 4 is delayed by the propagation delay times of the even number of inverters 1-1 to 1-2N as shown in FIG. 6(A)(ii). When the delayed clock CKD and the original input clock CK are subjected to an exclusive OR in the exclusive OR circuit 2, the result shown in FIG. 6(A)(ii)
As shown in the figure, a clock CK2F having twice the frequency of the input clock CK is output to the output terminal 4.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

第5図に図示された様な従来の回路構成では。 In the conventional circuit configuration as shown in FIG.

インバータ1−1ないし1−2Nによる遅延時間がイン
バータ1個の標準動作時間を基に、入力クロックCKの
2周期分位相を遅延させるインバータの個数(インバー
タはその動作上偶数個が選ばれる)で構成されているが
集積回路上に製造された各インバータの伝搬遅延時間が
それぞれ規格値内にあっても製造された集積回路ごとに
インバータ1−1ないし1−2Nの伝搬遅延時間がばら
つく、従って得られた2逓倍クロンクCK2Fのデユー
ティにばらつきが生じ2次段のフリップ・フロップ回路
等を動作させるに必要なりロック幅規格等を満さない2
逓倍クロックCK2Fが生成される欠点があった。
The delay time caused by inverters 1-1 to 1-2N is the number of inverters that delay the phase of the input clock CK by two cycles (an even number of inverters is selected for its operation), based on the standard operating time of one inverter. Even if the propagation delay time of each inverter manufactured on an integrated circuit is within the standard value, the propagation delay time of inverters 1-1 to 1-2N varies depending on the manufactured integrated circuit. There are variations in the duty of the obtained double clock clock CK2F, which is necessary to operate the secondary stage flip-flop circuit, etc., and does not meet the lock width standards, etc.2
There was a drawback that the multiplied clock CK2F was generated.

第6図(B)はインバータ1−1ないし1−2Nの遅延
時間が、第6図(A)の標準遅延時間に比べ0.5倍速
いときの2逓倍クロックCK2Fのタイムチャートであ
り、1H”レベルのパルス幅が狭くなり1次段のフリッ
プ・フロップ回路等を動作させるに必要な′″H″側の
最小パルス幅以下となり、該フリップ・フロップ回路等
が動作しなくなる。
FIG. 6(B) is a time chart of the double clock CK2F when the delay time of inverters 1-1 to 1-2N is 0.5 times faster than the standard delay time of FIG. 6(A). The pulse width of the ``level'' becomes narrower and becomes less than the minimum pulse width on the ``H'' side necessary to operate the flip-flop circuit, etc. of the primary stage, and the flip-flop circuit etc. no longer operate.

また、逆にインバータ1−1ないし1−2Nの遅延時間
が第6図(A)の標準遅延時間に比べ遅いときにも、得
られた2逓倍クロックの″Lルベルのパルス幅が狭くな
り、やはり、フリップ・フロップ回路等が動作しな(な
る。
Conversely, even when the delay time of inverters 1-1 to 1-2N is slower than the standard delay time shown in FIG. 6(A), the pulse width of the obtained doubled clock becomes narrower, As expected, flip-flop circuits etc. do not operate.

そのため、各インバータ1−1ないし1−2Nの伝搬遅
延時間が製造上ばらついても、集積回路を不良とするこ
とがないように、常にデユーティの優れた2遍倍クロッ
クを発生させることのできる逓信回路が望まれている。
Therefore, even if the propagation delay time of each inverter 1-1 to 1-2N varies due to manufacturing, the transmitter can always generate a double clock with excellent duty so that the integrated circuit will not become defective. circuit is desired.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第1図は本発明に係る逓倍回路の原理構成図を示してお
り、1は遅延回路部、5は位相検出用遅延回路部、6は
位相検出部、7はセレクタを表わしている。符号2ない
し4は第5図めものに対応している。
FIG. 1 shows a basic configuration diagram of a multiplier circuit according to the present invention, in which 1 represents a delay circuit section, 5 a phase detection delay circuit section, 6 a phase detection section, and 7 a selector. Numbers 2 to 4 correspond to the figures in Figure 5.

遅延回路部1は集積回路で製造しやすいゲート回路・例
えばインバータで入力端子3に入力された入力クロック
CKを遅延させる回路であり、直列に接続されたインバ
ータの偶数個の位置から遅延クロックCKD1.CKD
2.CKD3がそれぞれ抽出される構成となっている。
The delay circuit section 1 is a gate circuit that is easy to manufacture using an integrated circuit, such as an inverter, and is a circuit that delays the input clock CK input to the input terminal 3. The delay circuit section 1 is a gate circuit that is easy to manufacture using an integrated circuit, for example, and is a circuit that delays the input clock CK input to the input terminal 3. C.K.D.
2. The configuration is such that each CKD3 is extracted.

遅延クロックCKD2は入力端子3に入力される入力ク
ロックのA周期分位相が理論上ずれているとされる偶数
個のインバータの位置から抽出され、遅延クロックCK
D1はその2つ前のインバータの位置から抽出され、ま
た遅延クロックCKD3はその2つ後のインバータの位
置からそれぞれ抽出されるようになっている。
The delayed clock CKD2 is extracted from the positions of an even number of inverters whose phases are theoretically shifted by A period of the input clock input to the input terminal 3, and the delayed clock CKD2 is
D1 is extracted from the position of the inverter two places before it, and delayed clock CKD3 is extracted from the position of the inverter two places after it.

位相検出用遅延回路部5は、遅延回路部1で遅延された
クロックを更に2個単位のインバータで遅延させたクロ
ックを得るための遅延回路であり。
The phase detection delay circuit section 5 is a delay circuit for obtaining a clock obtained by further delaying the clock delayed by the delay circuit section 1 using two inverters.

次に説明する位相検出部6で入力クロックCKの2周期
分以上の位相のずれている遅延クロックを検出するため
の位相検出用遅延クロックを発生させる回路である。
This circuit generates a delayed clock for phase detection for detecting a delayed clock whose phase is shifted by two cycles or more of the input clock CK in the phase detecting section 6, which will be described next.

位相検出部6は位相検出用遅延回路部5から出力された
位相検出用遅延クロックを基に入力クロックCKのA周
期分以上の位相のずれている遅延クロックを検出する検
出回路であり、該位相検出用遅延クロックの位相検出用
遅延回路部5内の抽出されている位置に応じて、遅延回
路部1から抽出された遅延クロックGKDI、CKD2
.CKD3のいずれかを選択させるセレクタ制御信号発
生回路となっている。
The phase detection section 6 is a detection circuit that detects a delayed clock whose phase is shifted by A period or more of the input clock CK based on the phase detection delay clock outputted from the phase detection delay circuit section 5, and the phase Delayed clocks GKDI, CKD2 extracted from the delay circuit section 1 according to the extracted position in the phase detection delay circuit section 5 of the detection delay clock
.. This is a selector control signal generation circuit that selects one of CKD3.

〔作用〕[Effect]

入力端子3に入力された入力クロックCKは。 The input clock CK input to input terminal 3 is.

遅延回路部lで遅延され、遅延クロックCKD 1ない
しCKD2がセレクタ7に入力される。このとき集積回
路製造上入力クロックCKのA周期分位相の遅延された
クロックが遅延回路部1の遅延クロ7りCKD2を中心
に正規分布しているものと考えてよい。
The delayed clocks CKD1 to CKD2 are delayed by the delay circuit l and input to the selector 7. At this time, it may be considered that the clocks whose phase is delayed by A period of the input clock CK are normally distributed around the delay clock CKD2 of the delay circuit section 1 due to the manufacturing of the integrated circuit.

一方2位相検出用遅延回路部5からは遅延クロックCK
D3を更に遅延させた位相検出用遅延クロックが図示の
如く発生されており、これらの位相検出用遅延クロック
のいずれかの中に入力クロックCKのA周期分の位相を
超えた遅延クロックが発生している0位相検出用遅延回
路部5で発生されたこれらの位相検出用遅延クロンクハ
1位相検出部6で入力クロックCKのA周期分の位相を
最初に超えたく図示左端のクロックから順に調べて最初
に超えた)位相を有する位相検出用遅延クロックが検出
される。該位相検出部6で検出された入力クロックCK
の2周期分の位相を最初に超えた位相を有する位相検出
用遅延クロックの位相検出用遅延回路部5での抽出位置
に対応したセレクタ制御信号が、該位相検出部6からセ
レクタ7へ出力される。これによりセレクタ7は位相検
出部6から出力されるセレクタ制御信号に応じて。
On the other hand, the delay clock CK is output from the two-phase detection delay circuit section 5.
Delayed clocks for phase detection that further delay D3 are generated as shown in the figure, and if any of these delayed clocks for phase detection generates a delayed clock that exceeds the phase of A cycle of input clock CK. These phase detection delay clocks generated in the 0 phase detection delay circuit section 5 are examined in order from the leftmost clock in the figure in order to first exceed the phase of A period of the input clock CK in the 1 phase detection section 6. A phase detection delay clock having a phase (exceeding) is detected. Input clock CK detected by the phase detection section 6
A selector control signal corresponding to the extraction position in the phase detection delay circuit section 5 of the phase detection delay clock having a phase that first exceeds the phase of two cycles of is outputted from the phase detection section 6 to the selector 7. Ru. Thereby, the selector 7 responds to the selector control signal output from the phase detection section 6.

例えば遅延回路部lを構成するインバータの動作時間が
速いときには遅延クロックCKD3が選択され、また逆
に遅延回路部lを構成するインバータの動作時間が遅い
ときには遅延クロックCKD1が選択される。
For example, when the operating time of the inverter forming the delay circuit section l is fast, the delayed clock CKD3 is selected, and conversely, when the operating time of the inverter forming the delay circuit section l is slow, the delayed clock CKD1 is selected.

この様に遅延回路部1内のインバータの実動作時間に応
じて選択された遅延クロックCKD LないしCKD3
の中の1遅延クロフクが1元の入力クロックCKと排他
的オア回路2で排他的オアがとられ、出力端子4に周波
数が2倍のクロックCK2Fが出力され、デエーテイの
優れた2逓倍クロックが生成される。
In this way, the delay clocks CKD L to CKD3 are selected according to the actual operating time of the inverter in the delay circuit section 1.
The one-delayed clock in the clock is exclusive-ORed with the original input clock CK in the exclusive-OR circuit 2, and the clock CK2F with twice the frequency is output to the output terminal 4. generated.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第2図は本発明に係る逓倍回路の一実施例回路構成、第
3図、第4図はそのタイムチャートを示している。
FIG. 2 shows the circuit configuration of an embodiment of the multiplier circuit according to the present invention, and FIGS. 3 and 4 show their time charts.

第2図において、符号1,2.5.7は第1図のものに
対応し、3.4は第5図のものに対応している。符号8
ないし12はフリップ・フロップ回路、13はデコーダ
回路、14は時定数回路を表わしている。
In FIG. 2, numerals 1, 2, 5, and 7 correspond to those in FIG. 1, and 3.4 corresponds to those in FIG. code 8
1 to 12 are flip-flop circuits, 13 is a decoder circuit, and 14 is a time constant circuit.

遅延回路部lには、入力端子3に入力される入カフロッ
クCKの周期T、に対し理論上Aの位相分遅延するイン
バータの偶数個の位置すから抽出された遅延クロックC
KDb、該遅延クロックCKDbより2個前のインバー
タの位置aから抽出された遅延クロックCKDa、及び
遅延クロックCKDbより2個後のインバータの位置C
から抽出された遅延クロックCKDcが出力され、セレ
クタに各遅延クロックCKDa、CKDb、CKDcが
入力されるようになっている。そして遅延回路部lを構
成する各インバータの動作時間が標準のT、であるとし
たとき、すなわちインバータ1個の標準遅延時間をT、
とじたとき、遅延クロックCKDbが入力クロックCK
の周期ToのAの位相分遅延するように、インバータの
数NはN−(To /4)x1/Ts となる整数でかつ偶数の位置すか′ら、上記遅延クロッ
クCKDbが出力されるように構成されている。
The delay circuit section l has a delay clock C extracted from an even number of inverters that is theoretically delayed by a phase A with respect to the period T of the input clock CK input to the input terminal 3.
KDb, a delayed clock CKDa extracted from the position a of the inverter two places before the delayed clock CKDb, and a position C of the inverter two places after the delayed clock CKDb.
The delayed clock CKDc extracted from the clock CKDc is output, and each of the delayed clocks CKDa, CKDb, and CKDc is input to the selector. Assuming that the operating time of each inverter constituting the delay circuit section l is the standard T, that is, the standard delay time of one inverter is T,
When closed, the delay clock CKDb is the input clock CK.
The number of inverters N is an integer equal to N-(To /4) x 1/Ts, and the delayed clock CKDb is output from an even numbered position so that the delay clock CKDb is delayed by the phase of A of the period To. It is configured.

位相検出用遅延回路部5は、入力クロックCKの周期T
0の1以上の位相分遅延する位相検出用遅延クロックを
得るべく、遅延回路部1の次段にN+2個の遅延用イン
バータが用意されている。
The phase detection delay circuit section 5 has a period T of the input clock CK.
In order to obtain a phase detection delay clock that is delayed by one or more phases of 0, N+2 delay inverters are provided at the next stage of the delay circuit section 1.

第2図はN−6の例が示されており、該位相検出用遅延
回路部5内のインバータの偶数個の位置C2d、e、r
、gから位相検出用遅延クロックがそれぞれ抽出され、
対応して設けられているフリップ・フロップ回路8ない
し12にそれぞれ入力されるようになっている。これら
のフリップ・フロップ回路8ないし12と位相検出用遅
延回路部5とによって、入力クロックCKのAの周期の
位相分を超える位相検出用遅延クロックが検出されるよ
うになっている。
FIG. 2 shows an example of N-6, and even number of inverter positions C2d, e, r in the phase detection delay circuit section 5 are shown.
, g, the phase detection delay clocks are extracted, respectively.
The signals are input to correspondingly provided flip-flop circuits 8 to 12, respectively. These flip-flop circuits 8 to 12 and the phase detection delay circuit section 5 detect a phase detection delay clock that exceeds the phase of the period A of the input clock CK.

デコーダ回路13は上記フリップ・フロップ回路8ない
し12から出力される信号の組合せに応じて、セレクタ
7に入力されている遅延回路部1からの遅延クロックC
KDa、CKDb、CKDCのどの遅延クロックを選択
するかのセレクタ制御信号lを出力する。
The decoder circuit 13 outputs the delayed clock C from the delay circuit unit 1 input to the selector 7 according to the combination of signals output from the flip-flop circuits 8 to 12.
It outputs a selector control signal l for selecting which delayed clock among KDa, CKDb, and CKDC.

また時定数回路14はデコーダ回路13から出力される
セレクタ制御信号lが変化することによりて・排他的オ
ア回路2から出力される2逓倍クロックCK2Fのジッ
タを抑圧するために設けられたものである。
Further, the time constant circuit 14 is provided to suppress jitter of the doubled clock CK2F output from the exclusive OR circuit 2 due to a change in the selector control signal l output from the decoder circuit 13. .

入力端子3に入力された周波数fの入力クロックCKは
、遅延回路部1内の直列に接続されたインバータを伝搬
されてゆく、このとき偶数個のインバータの位置a、b
、Cからそれぞれ抽出された遅延クロックCKDa、C
KDb、CKDcがセレクタ7に入力される。
The input clock CK of frequency f input to the input terminal 3 is propagated through the series-connected inverters in the delay circuit section 1. At this time, the even number of inverters are at positions a and b.
, C respectively extracted delayed clocks CKDa, C
KDb and CKDc are input to the selector 7.

遅延回路部1を構成する各インバータが標準の動作時間
で作動するとき、上記遅延クロックCKDbの遅延時間
は、第3図図示の如く入力クロックCKの周期T、の約
Aの位相分となっている。
When each inverter constituting the delay circuit section 1 operates at a standard operating time, the delay time of the delay clock CKDb is about a phase of the period T of the input clock CK, as shown in FIG. There is.

またこのとき2位相検出用遅延回路部5内の位置eから
抽出されている位相検出用遅延クロックの遅延時間は、
入力クロックのCKの周期T、のAの位相分を超えてお
り、フリップ・フロップ回路lOから第3図図示の如<
@H”の信号が出力される。同様にフリップ・フロップ
回路11.12からも“H”の信号が出力されるが、フ
リップ・フロップ回路8.9から′L“の信号が出力さ
れる。これらの各フリップ・フロップ回路8ないし12
の組合せのデータがデコーダ回路13でデコードされ9
時定数回路14を介して遅延回路部1からの遅延クロッ
クCKDbを選択するセレクタ制御信号五をセレクタ7
へ向けて出力する。
Further, at this time, the delay time of the phase detection delay clock extracted from the position e in the two-phase detection delay circuit section 5 is:
The period T of the input clock CK exceeds the phase A of the input clock CK, and as shown in FIG.
A signal of "@H" is output.Similarly, a signal of "H" is output from the flip-flop circuits 11.12, but a signal of 'L' is output from the flip-flop circuit 8.9. Each of these flip-flop circuits 8 to 12
The data of the combinations are decoded by the decoder circuit 13 and 9
The selector control signal 5 for selecting the delayed clock CKDb from the delay circuit unit 1 is sent to the selector 7 via the time constant circuit 14.
Output towards.

セレクタ7で選択された遅延クロックCKDbは、排他
的オア回路2で入力クロックCKと排他的オアがとられ
、第3図図示の如くデユーティのよい2逓倍クロックC
K2Fが出力端子4へ出力される。
The delayed clock CKDb selected by the selector 7 is exclusive-ORed with the input clock CK by the exclusive-OR circuit 2, and is converted into a double clock C with a good duty as shown in FIG.
K2F is output to output terminal 4.

なお2時定数回路14は位相検出用として動作  ゛す
るフリップ・フロップ回路8ないし12のデータが、一
定時間以上変化しないときに限りセレクト制御信号を更
新し、排他的オア回路2から生成される2逓倍クロック
CK2Fのジッタを抑制するように動作する。
Note that the second time constant circuit 14 operates for phase detection and updates the select control signal only when the data of the flip-flop circuits 8 to 12 that operate for phase detection does not change for a certain period of time or more, and updates the select control signal 2 generated from the exclusive OR circuit 2. It operates to suppress jitter of the multiplied clock CK2F.

第4図のタイムチャートは遅延回路部1の遅延時間が最
小のときのものを示している。
The time chart in FIG. 4 shows the time when the delay time of the delay circuit section 1 is the minimum.

このとき9位相検出用遅延回路部5内の位置gから抽出
されている位相検出用遅延クロックの遅延時間は、入力
クロ、りCKの周期T、のAの位相分を超えており、フ
リップ・フロップ回路12から第4図図示の如く“H”
の信号が出力される。
At this time, the delay time of the phase detection delay clock extracted from the position g in the 9 phase detection delay circuit section 5 exceeds the phase A of the period T of the input clock CK, and the flip “H” from the flop circuit 12 as shown in FIG.
signal is output.

他のフリップ・フロップ回路8ないし11はすべて@L
″の信号を出力する。これらの各フリップ・フロップ回
路8ないし12の組合せのデータがデコーダ回路13で
デコードされ2時定数回路14を介して遅延回路部1か
らの遅延クロックCKDcを選択するセレクト制御信号
iをセレクタへ向けて出力する。
All other flip-flop circuits 8 to 11 are @L
The data of the combinations of these flip-flop circuits 8 to 12 are decoded by the decoder circuit 13 and sent through the time constant circuit 14 to select the delayed clock CKDc from the delay circuit section 1. Output signal i to the selector.

セレクタ7で選択された遅延クロックCKDcは、排他
的オア回路2で入力クロックCKと排他的オアがとられ
、第4図図示の如くデエーティのよい2逓倍クロックC
K2Fが出力端子4へ出力される。
The delayed clock CKDc selected by the selector 7 is subjected to an exclusive OR operation with the input clock CK in the exclusive OR circuit 2, and is converted into a double clock C with a good ratio as shown in FIG.
K2F is output to output terminal 4.

なお遅延回路部1の遅延時間が標準の遅延時間よりも遅
いときには、セレクタ7は遅延クロ7りCKDaを選択
するように制御され、該遅延クロックCKDaと元の入
力クロックCKとの排他的オアがとられ、デエーティの
よい2逓倍クロックGK2Fが出力端子4へ出力される
ことは言うまでもない。
Note that when the delay time of the delay circuit section 1 is slower than the standard delay time, the selector 7 is controlled to select the delayed clock CKDa, and the exclusive OR of the delayed clock CKDa and the original input clock CK is determined. Needless to say, the doubled clock GK2F with a good duty factor is output to the output terminal 4.

遅延回路部1及び位相検出用遅延回路部5の遅延素子と
して入出力反転回路のインバータを2個単位で取扱って
いるが、該2個単位のインバータに換え、入出力が同一
信号となるバッファを遅延素子として用いることができ
る。このときは入出力が同一信号であるので、インバー
タのときと異なり、任意の位置から遅延クロック、位相
検出用遅延クロックを抽出することができる。
Inverters of the input/output inversion circuit are handled in units of two as delay elements of the delay circuit section 1 and the phase detection delay circuit section 5, but instead of the inverters in units of two, a buffer whose input and output are the same signal can be used. It can be used as a delay element. In this case, since the input and output are the same signal, unlike the case of an inverter, the delayed clock and phase detection delay clock can be extracted from any position.

〔発明の効果] 以上説明した如く2本発明によれば、デエーティの良い
2遍倍クロックを発生させることができ。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, it is possible to generate a double clock with good deity.

遅延素子のバラツキによる動作不良となるべき集積回路
を救済することができる。また2逓倍信号のパルス幅の
ばらつきを遅延用ゲート回路の2個分に抑えることがで
きる。
An integrated circuit that would otherwise malfunction due to variations in delay elements can be repaired. Furthermore, variations in the pulse width of the doubled signal can be suppressed to the width of two delay gate circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る逓倍回路の原理構成図。 第2図は本発明に係る逓信回路の一実施例回路構成、第
3図、第4図はそのタイムチャート、第5図は従来の回
路構成、第6図はそのタイムチャートを示している。 図中、1は遅延回路部、2は排他的オア回路。 5は位相検出用遅延回路部、6は位相検出部、7はセレ
クタ、8ないし12はフリップ・フロップ回路、13は
デコーダ回路、14は時定数回路を表わしている。
FIG. 1 is a diagram showing the principle configuration of a multiplier circuit according to the present invention. FIG. 2 shows the circuit configuration of an embodiment of the transmitting circuit according to the present invention, FIGS. 3 and 4 show its time chart, FIG. 5 shows the conventional circuit structure, and FIG. 6 shows its time chart. In the figure, 1 is a delay circuit section, and 2 is an exclusive OR circuit. 5 is a delay circuit for phase detection, 6 is a phase detector, 7 is a selector, 8 to 12 are flip-flop circuits, 13 is a decoder circuit, and 14 is a time constant circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 遅延用ゲート回路を直列接続し、その動作時間を利用し
て入力クロックを遅延させ、この遅延された遅延クロッ
クと元の入力クロックとから2倍の周波数のクロックを
生成する集積回路の逓倍回路において、 上記遅延用ゲート回路が標準動作時間で動作するものと
したとき、遅延クロックの位相が入力クロックの1/4
位相遅れとなる遅延用ゲート回路の位置、及びこの位置
から±n個分のゲート回路の位置から遅延クロックをそ
れぞれ出力する遅延回路部(1)と、 該遅延回路部(1)に直列に遅延用ゲートをn個単位で
接続され、各接続位置で位相検出用クロックをそれぞれ
出力する位相検出用遅延回路部(5)と、 該位相検出用遅延回路部(5)から出力される位相検出
用クロックの位相の遅れが、入力クロックの1/2位相
を超える位相検出用クロックを検出する位相検出部(6
)と、 該位相検出部(6)によって検出された位相検出用クロ
ックの位相検出用遅延回路部(5)の抽出位置に応じて
、上記遅延回路部(1)の遅延クロックを選択するセレ
クタ(7)と、 該セレクタ(7)で選択された遅延クロックと元の入力
クロックとから2倍の周波数のクロックを生成する排他
的オア回路(2) とを備え、定められた閾値内に生成された2逓倍クロッ
クのパルス幅のばらつきを納めるようにしたことを特徴
とする逓倍回路。
[Claims] Delay gate circuits are connected in series, an input clock is delayed using the operating time, and a clock with twice the frequency is generated from the delayed delay clock and the original input clock. In the multiplier circuit of an integrated circuit, when the delay gate circuit is assumed to operate in the standard operating time, the phase of the delay clock is 1/4 of the input clock.
A delay circuit unit (1) that outputs delayed clocks from the position of a delay gate circuit that causes a phase lag and the position of ±n gate circuits from this position, and a delay circuit unit (1) that outputs delayed clocks from the position of the delay gate circuit that causes a phase lag, and a delay circuit unit (1) that outputs delayed clocks from the position of the delay gate circuit that causes a phase lag, and the position of the gate circuit that is ±n from this position, and a delay circuit unit (1) that outputs delayed clocks from the position of the delay gate circuit that is phase delayed A phase detection delay circuit section (5) in which n gates are connected in units of n and outputs a phase detection clock at each connection position, and a phase detection delay circuit section (5) that outputs a phase detection clock at each connection position; A phase detection unit (6) detects a phase detection clock whose phase delay exceeds 1/2 phase of the input clock.
), and a selector () that selects the delayed clock of the delay circuit section (1) according to the extraction position of the phase detection delay circuit section (5) of the phase detection clock detected by the phase detection section (6). 7), and an exclusive OR circuit (2) that generates a clock with twice the frequency from the delayed clock selected by the selector (7) and the original input clock, so that the clock is generated within a predetermined threshold. A multiplication circuit characterized in that it accommodates variations in pulse width of a double multiplication clock.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5786715A (en) * 1996-06-21 1998-07-28 Sun Microsystems, Inc. Programmable digital frequency multiplier
US6731708B1 (en) 1997-12-17 2004-05-04 Nec Corporation Clock signal control device
JP2013232275A (en) * 2008-10-02 2013-11-14 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Optimization of sram performance over extended voltage or process range using self-timed calibration of local clock generator

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