JPS63239608A - 薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法Info
- Publication number
- JPS63239608A JPS63239608A JP26518986A JP26518986A JPS63239608A JP S63239608 A JPS63239608 A JP S63239608A JP 26518986 A JP26518986 A JP 26518986A JP 26518986 A JP26518986 A JP 26518986A JP S63239608 A JPS63239608 A JP S63239608A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- conductor
- insulating layer
- planarized
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 title claims abstract description 160
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 29
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 25
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 150
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3109—Details
- G11B5/313—Disposition of layers
- G11B5/3143—Disposition of layers including additional layers for improving the electromagnetic transducing properties of the basic structure, e.g. for flux coupling, guiding or shielding
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜磁気ヘッドの導体コイルおよびその製造方
法に関し、特に高密度の記録再生を高感度に行うことの
できる薄膜磁気ヘッドの導体コイルおよびその製造方法
に関する。
法に関し、特に高密度の記録再生を高感度に行うことの
できる薄膜磁気ヘッドの導体コイルおよびその製造方法
に関する。
従来、この種の薄膜磁気ヘッドの導体コイルとしては、
例えば、特公昭57−16408号公報に開示された薄
膜磁気ヘッドの導体コイルが知られている。この薄膜磁
気ヘッドの導体コイルは、導体を一方向に平面螺旋状に
多数回巻きにパターニングしてなる第1段の平面化導体
層の上に導体を他方向に平面螺旋状に多数回巻きにパタ
ーニングしてなる第2段の平面化導体層を順次積層し、
各平面化導体層の内側端部と外側端部とを順次連続的に
接続して1本の連続した多層多巻導体コイルを形成する
ようにしたものである。
例えば、特公昭57−16408号公報に開示された薄
膜磁気ヘッドの導体コイルが知られている。この薄膜磁
気ヘッドの導体コイルは、導体を一方向に平面螺旋状に
多数回巻きにパターニングしてなる第1段の平面化導体
層の上に導体を他方向に平面螺旋状に多数回巻きにパタ
ーニングしてなる第2段の平面化導体層を順次積層し、
各平面化導体層の内側端部と外側端部とを順次連続的に
接続して1本の連続した多層多巻導体コイルを形成する
ようにしたものである。
しかし、この薄膜磁気ヘッドの導体コイルは、複数本の
導体を多層多巻にした導体コイルであるので、導体コイ
ルの実装密度が低く、導体コイルの巻数を多くしようと
すると構造的に厚くなり、感度を高めることが困難であ
った。
導体を多層多巻にした導体コイルであるので、導体コイ
ルの実装密度が低く、導体コイルの巻数を多くしようと
すると構造的に厚くなり、感度を高めることが困難であ
った。
このような多層多巻導体コイルの欠点を除去し導体コイ
ルの実装密度を上げるために、特開昭56−98711
号公報に開示されているような薄膜磁気ヘッドの導体コ
イルがすでに提案されている。この薄膜磁気ヘッドの導
体コイルは、導体を一方向に平面螺旋状に多数回巻きに
パターニングしてなる第1の平面化導体層の側部に絶縁
層を形成し、vA縁層で被覆された第1の平面化導体層
間の間隙に第2の平面化導体層を同一方向に平面螺旋状
に多数回巻きにパターニングして形成し、導体コイルの
実装密度を高めて高感度の薄膜磁気ヘッドが得られるよ
うにしたものである。
ルの実装密度を上げるために、特開昭56−98711
号公報に開示されているような薄膜磁気ヘッドの導体コ
イルがすでに提案されている。この薄膜磁気ヘッドの導
体コイルは、導体を一方向に平面螺旋状に多数回巻きに
パターニングしてなる第1の平面化導体層の側部に絶縁
層を形成し、vA縁層で被覆された第1の平面化導体層
間の間隙に第2の平面化導体層を同一方向に平面螺旋状
に多数回巻きにパターニングして形成し、導体コイルの
実装密度を高めて高感度の薄膜磁気ヘッドが得られるよ
うにしたものである。
上述した従来の薄膜磁気ヘッドの導体コイルで導体コイ
ルの実装密度を高め、外来雑音の影響を受けにくくする
ために隣接する導体コイル間を通常のコイルのバイファ
イラ巻きと同様に近接して形成したものでは、導体コイ
ル間の静電容量が大きくなって共振周波数が低くなり、
高い記録周波数で高密度記録を行う場合には再生信号に
含まれる高調波成分を正しく再生できずに波形歪みを生
じるという問題点がある。
ルの実装密度を高め、外来雑音の影響を受けにくくする
ために隣接する導体コイル間を通常のコイルのバイファ
イラ巻きと同様に近接して形成したものでは、導体コイ
ル間の静電容量が大きくなって共振周波数が低くなり、
高い記録周波数で高密度記録を行う場合には再生信号に
含まれる高調波成分を正しく再生できずに波形歪みを生
じるという問題点がある。
本発明の目的は、上述の点に鑑み、導体コイルの実装密
度を高めるとともに、導体コイル間の静電容量を抑えて
共振周波数を高め再生波形に歪みが生じることなく外来
雑音の影響を受けにくい薄S磁気ヘッドの導体コイルを
提供することにある。
度を高めるとともに、導体コイル間の静電容量を抑えて
共振周波数を高め再生波形に歪みが生じることなく外来
雑音の影響を受けにくい薄S磁気ヘッドの導体コイルを
提供することにある。
また、本発明の他の目的は、上述した薄膜磁気ヘッドの
導体コイルを容易に製造することができる薄膜磁気ヘッ
ドの導体コイルの製造方法を提供することにある。
導体コイルを容易に製造することができる薄膜磁気ヘッ
ドの導体コイルの製造方法を提供することにある。
本発明の薄膜磁気ヘッドは、一方向に平面螺旋状に複数
回巻きにパターニングして形成された第1の平面化導体
層と、この第1の平面化導体層上に被覆された絶縁層と
、この絶縁層上の前記第1の平面化導体層の間隙に前記
第1の平面化導体層と同一方向に平面螺旋状に複数回巻
きにパターニングして形成された第2の平面化導体層と
を有するYli 15I!ff気ヘツドの導体コイルに
おいて、前記絶縁層が、前記第1の平面化導体層上に被
覆された第1の絶縁層と、この第1の絶縁層上に積層さ
れた非磁性金属膜層と、この非磁性金属1lIN上に積
層された第2の絶縁層とを含む静電シールド層でなるこ
とを特徴とする。
回巻きにパターニングして形成された第1の平面化導体
層と、この第1の平面化導体層上に被覆された絶縁層と
、この絶縁層上の前記第1の平面化導体層の間隙に前記
第1の平面化導体層と同一方向に平面螺旋状に複数回巻
きにパターニングして形成された第2の平面化導体層と
を有するYli 15I!ff気ヘツドの導体コイルに
おいて、前記絶縁層が、前記第1の平面化導体層上に被
覆された第1の絶縁層と、この第1の絶縁層上に積層さ
れた非磁性金属膜層と、この非磁性金属1lIN上に積
層された第2の絶縁層とを含む静電シールド層でなるこ
とを特徴とする。
また、本発明の薄膜磁気ヘッドの導体コイルの製造方法
は、一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニングし
て第1の平面化導体層を形成する工程と、前記第1の平
面化導体層上に絶縁層を被覆する工程と、前記絶縁層上
の前記第1の平面化導体層の間隙に前記第1の平面化導
体層と同一方向に平面螺旋状にパターニングして第2の
平面化導体層を形成する工程とを含む′gl膜磁気ヘッ
ドの導体コイルの製造方法において、前記第1の平面化
導体層上に絶縁層を被覆する工程が、前記第1の平面化
導体層上に第1の絶縁層を被覆する工程と、前記第1の
絶縁層上に非磁性金属膜層を積層する工程と、前記非磁
性金属llN上に第2の絶縁層を積層する工程とを含む
ことを特徴とする。
は、一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニングし
て第1の平面化導体層を形成する工程と、前記第1の平
面化導体層上に絶縁層を被覆する工程と、前記絶縁層上
の前記第1の平面化導体層の間隙に前記第1の平面化導
体層と同一方向に平面螺旋状にパターニングして第2の
平面化導体層を形成する工程とを含む′gl膜磁気ヘッ
ドの導体コイルの製造方法において、前記第1の平面化
導体層上に絶縁層を被覆する工程が、前記第1の平面化
導体層上に第1の絶縁層を被覆する工程と、前記第1の
絶縁層上に非磁性金属膜層を積層する工程と、前記非磁
性金属llN上に第2の絶縁層を積層する工程とを含む
ことを特徴とする。
〔作用)
本発明の薄膜磁気ヘッドでは、第1の平面化導体層と第
2の平面化導体層との間に設けられた絶Ii層が、第1
の絶縁層と非磁性金属膜層と第2の絶縁層とを含む静電
シールド層で形成され、第1の平面化導体層と第2の平
面化導体層との間の線間容量を低減させる。
2の平面化導体層との間に設けられた絶Ii層が、第1
の絶縁層と非磁性金属膜層と第2の絶縁層とを含む静電
シールド層で形成され、第1の平面化導体層と第2の平
面化導体層との間の線間容量を低減させる。
また、本発明の薄膜磁気ヘッドの導体コイルの製造方法
では、第1の平面化導体層上に絶縁層を被覆する工程が
、第1の平面化導体層上に第1の絶縁層を被覆する工程
と、第1の絶縁層上に非磁性金属膜層を積層する工程と
、非磁性金属膜層上に第2の絶縁層を積層する工程とを
含む複数の工程からなり、この結果、第1の絶縁層と非
磁性金属膜層と第2の絶縁層とを含む静電シールド層が
絶縁層として形成される。
では、第1の平面化導体層上に絶縁層を被覆する工程が
、第1の平面化導体層上に第1の絶縁層を被覆する工程
と、第1の絶縁層上に非磁性金属膜層を積層する工程と
、非磁性金属膜層上に第2の絶縁層を積層する工程とを
含む複数の工程からなり、この結果、第1の絶縁層と非
磁性金属膜層と第2の絶縁層とを含む静電シールド層が
絶縁層として形成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図である。同図
に示す薄膜磁気ヘッドは、基板1上に絶縁層2が形成さ
れ、この絶縁N2上に下部コア3が形成されている。こ
の下部コア3は、上方に配設されている上部コア10と
ともに磁気コアを形成し、図の右側において下部コア3
および上部コア10が近接して磁気ギャップ13が形成
されている。
に示す薄膜磁気ヘッドは、基板1上に絶縁層2が形成さ
れ、この絶縁N2上に下部コア3が形成されている。こ
の下部コア3は、上方に配設されている上部コア10と
ともに磁気コアを形成し、図の右側において下部コア3
および上部コア10が近接して磁気ギャップ13が形成
されている。
また、下部コア3および上部コア10は、磁気ギャップ
13と反対側において接続点14で接続されている。
13と反対側において接続点14で接続されている。
下部コア3と上部コア10との間には薄膜磁気ヘッド用
の導体コイル15が配設され、この導体コイル15は第
2図に示すように接続部14を中心に下部コア3および
上部コア10からなる磁気コアに巻回されるように形成
されている。
の導体コイル15が配設され、この導体コイル15は第
2図に示すように接続部14を中心に下部コア3および
上部コア10からなる磁気コアに巻回されるように形成
されている。
下部コア3上には絶縁N4が形成され、この絶縁層4上
に第1の平面化導体層5が一方向に平面螺旋状に複数回
巻きにパターニングされて敵状に隆起されて形成されて
いる。隣接する隆起状の第1の平面化導体層5間の溝部
には、第2の平面化導体Ff9が同じく同一方向に平面
螺旋状に複数回巻きにパターニングされて形成されてい
る。
に第1の平面化導体層5が一方向に平面螺旋状に複数回
巻きにパターニングされて敵状に隆起されて形成されて
いる。隣接する隆起状の第1の平面化導体層5間の溝部
には、第2の平面化導体Ff9が同じく同一方向に平面
螺旋状に複数回巻きにパターニングされて形成されてい
る。
第1の平面化導体N5と第2の平面化導体層9との間に
は、第1の絶縁層1as非磁性金属膜層8および第2の
絶縁層7bを順次積層してなる静電シールド層16が形
成され、これにより第1の平面化導体層5と第2の平面
化導体層9との間が絶縁されるとともに静電シールドさ
れている。
は、第1の絶縁層1as非磁性金属膜層8および第2の
絶縁層7bを順次積層してなる静電シールド層16が形
成され、これにより第1の平面化導体層5と第2の平面
化導体層9との間が絶縁されるとともに静電シールドさ
れている。
非磁性金属膜層8は、例えばCu、Ti、Cr。
AI等で形成されていて、第4図に示すように非磁性金
属膜層8を形成している領域の一部には切れ口8aが設
けられている。この切れ目8aは、接続部14を中心と
して非磁性金属膜層8に渦電流が流れるのを防止して、
電磁変換効率の低下を防ぐために設けられている。非磁
性金属膜層8は、第1の平面化導体N5と第2の平面化
導体N9との間の静電シールドを行うことにより、第1
の平面化導体層5および第2の平面化導体N9間の線間
容量の影響を低減して共振周波数の高い導体コイル15
としている。
属膜層8を形成している領域の一部には切れ口8aが設
けられている。この切れ目8aは、接続部14を中心と
して非磁性金属膜層8に渦電流が流れるのを防止して、
電磁変換効率の低下を防ぐために設けられている。非磁
性金属膜層8は、第1の平面化導体N5と第2の平面化
導体N9との間の静電シールドを行うことにより、第1
の平面化導体層5および第2の平面化導体N9間の線間
容量の影響を低減して共振周波数の高い導体コイル15
としている。
静電シールド71116を挟んで第1の平面化導体層5
と第2の平面化導体層9とからなる導体コイル】5の上
には絶縁[11が形成され、この絶縁N11の上に上部
コア10が形成され、この上部コアlOの上に保護層1
2が形成されている。
と第2の平面化導体層9とからなる導体コイル】5の上
には絶縁[11が形成され、この絶縁N11の上に上部
コア10が形成され、この上部コアlOの上に保護層1
2が形成されている。
導体コイル15および静電シールド層16は、磁気コア
の接続部14を中心に反対側にも形成され、これにより
導体コイル15が磁気コアを巻回するように形成されて
いる。
の接続部14を中心に反対側にも形成され、これにより
導体コイル15が磁気コアを巻回するように形成されて
いる。
なお、静電シールド層16の非磁性金属膜N8の両端部
は、非磁性金属膜層8が上部コア10に接触しないよう
に第1の絶縁層7aおよび第2の絶縁層7bに比べて若
干短く形成されている。
は、非磁性金属膜層8が上部コア10に接触しないよう
に第1の絶縁層7aおよび第2の絶縁層7bに比べて若
干短く形成されている。
第2図は、第1図の薄膜磁気ヘッドの要部平面図であり
、第1図はこの第2図において矢印A−A′に沿った断
面図である。第2図に示すように、第1の平面化導体層
5および第2の平面化導体層9は、下部コア3および上
部コア10との接続部14を中心に螺旋状に形成されて
いる。第1の平面化導体層5の外端部は外部導出端子5
aとなっており、内端部5bはセンタタップとなる外部
導出端子18に接続されている。また、第2の平面化導
体層9の外端部9aは外部接続端子18に接続され、内
端部9bは外部接続端子17に接続されている。
、第1図はこの第2図において矢印A−A′に沿った断
面図である。第2図に示すように、第1の平面化導体層
5および第2の平面化導体層9は、下部コア3および上
部コア10との接続部14を中心に螺旋状に形成されて
いる。第1の平面化導体層5の外端部は外部導出端子5
aとなっており、内端部5bはセンタタップとなる外部
導出端子18に接続されている。また、第2の平面化導
体層9の外端部9aは外部接続端子18に接続され、内
端部9bは外部接続端子17に接続されている。
したがって、両平面化導体層5および9が内端部5bと
外端部9aとで共通に接続されているので、外部導出端
子5aと外部導出端子17との間で見て導体コイル15
の巻回数が多くなっている。また、外部導出端子5aお
よび17と外部導出端子18との間で見て、導体コイル
15はバイファイラ巻きとなっている。
外端部9aとで共通に接続されているので、外部導出端
子5aと外部導出端子17との間で見て導体コイル15
の巻回数が多くなっている。また、外部導出端子5aお
よび17と外部導出端子18との間で見て、導体コイル
15はバイファイラ巻きとなっている。
このように第1の平面化導体N5と第2の平面化導体層
9とは、2層構造でなく同一平面に形成されているので
、導体コイル15は薄い構造に形成されている。
9とは、2層構造でなく同一平面に形成されているので
、導体コイル15は薄い構造に形成されている。
なお、第1の平面化導体N5と第2の平面化導体層9と
がバイファイラ構造を採ることにより、外部誘導雑音に
対して強< S/N比の良好な導体コイル15が得られ
ることになる。
がバイファイラ構造を採ることにより、外部誘導雑音に
対して強< S/N比の良好な導体コイル15が得られ
ることになる。
第3図(a)〜(1)は、第1図および第2図に示す薄
膜磁気ヘッドの導体コイル部分の順次の製造工程を示す
断面図である。以下、この図に従って製造方法について
説明する。
膜磁気ヘッドの導体コイル部分の順次の製造工程を示す
断面図である。以下、この図に従って製造方法について
説明する。
まず、第3図(alに示すように、基板1上の絶縁層2
上に下部コア3を形成した後、この下部コア3上に絶縁
層4を形成する。
上に下部コア3を形成した後、この下部コア3上に絶縁
層4を形成する。
次に、第3図(b)に示すように、絶縁層4上に第1の
平面化導体層5を一面に形成する。
平面化導体層5を一面に形成する。
続いて、第3図(C)に示すように、第1の平面化導体
層5上にレジストN6を形成し、選択的に露光して一方
向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニングする。なお
、この場合、レジスト層6の下にTi層をあらかじめ形
成しておいてもよい。
層5上にレジストN6を形成し、選択的に露光して一方
向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニングする。なお
、この場合、レジスト層6の下にTi層をあらかじめ形
成しておいてもよい。
レジストN6のパターニングした部分以外を除去した後
に、第3図+d+に示すように、例えば反応性イオンエ
ツチングやウェットエツチング等によりエツチングを施
してレジストN6が残されていない部分の第1の平面化
導体層5を除去し、第1の平面化導体層5を第2図に示
すような一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニン
グした敵状に隆起させて形成する。
に、第3図+d+に示すように、例えば反応性イオンエ
ツチングやウェットエツチング等によりエツチングを施
してレジストN6が残されていない部分の第1の平面化
導体層5を除去し、第1の平面化導体層5を第2図に示
すような一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニン
グした敵状に隆起させて形成する。
次に、隆起した第1の平面化導体層5上に残っているレ
ジスト層6を、第3図telに示すように除去する。
ジスト層6を、第3図telに示すように除去する。
レジストN6を除去した後、第3図(C1に示すように
、第1の平面化導体層5の上刃)ら例えばアルミナまた
は二酸化シリコン(Sing)等のスパッタリングや蒸
着等を行い、絶縁層4および第1の平面化導体層5上に
第1の絶縁Jii 7 aを形成する。
、第1の平面化導体層5の上刃)ら例えばアルミナまた
は二酸化シリコン(Sing)等のスパッタリングや蒸
着等を行い、絶縁層4および第1の平面化導体層5上に
第1の絶縁Jii 7 aを形成する。
次に、第3図(荀のように、第1の絶縁層7a上にCu
、Ti層 Cr、A1等からなる非磁性金属膜層8を形
成し、さらにこの非磁性金属膜層8上に第2の絶縁層7
bを第1の絶縁層7aと同様に第3図(川に示すように
形成し、これにより静電シールド層16を形成する。
、Ti層 Cr、A1等からなる非磁性金属膜層8を形
成し、さらにこの非磁性金属膜層8上に第2の絶縁層7
bを第1の絶縁層7aと同様に第3図(川に示すように
形成し、これにより静電シールド層16を形成する。
続いて、第3図(11に示すように、静電シールド層1
6上に第2の平面化導体N9を形成して、第1の平面化
導体層5間にできた溝部を第2の平面化導体層9で埋め
る。
6上に第2の平面化導体N9を形成して、第1の平面化
導体層5間にできた溝部を第2の平面化導体層9で埋め
る。
次に、第3図0)に示すように、静電シールド層16上
に形成された第2の平面化導体層9を溝部の部分のみを
残して、隆起した第1の平面化導体層5の上に形成され
た第1の絶縁層7a、非磁性金属膜層8および第2の絶
縁層7bからなる静電シールド層16の上面の位置まで
所定の形状のレジストマスクを用いてイオンビームエツ
チングし、この上面より上の第2の平面化導体層9を除
去する。
に形成された第2の平面化導体層9を溝部の部分のみを
残して、隆起した第1の平面化導体層5の上に形成され
た第1の絶縁層7a、非磁性金属膜層8および第2の絶
縁層7bからなる静電シールド層16の上面の位置まで
所定の形状のレジストマスクを用いてイオンビームエツ
チングし、この上面より上の第2の平面化導体層9を除
去する。
これにより、第1の平面化導体層5の間に静電シールド
層16を介して第2の平面化導体層9が第1の平面化導
体N5と同一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニ
ングされて形成され、第1の平面化導体層5と第2の平
面化導体N9とを第2図に示すように内端部5bと外端
部9aとで接続することにより導体コイル15が形成さ
れる。
層16を介して第2の平面化導体層9が第1の平面化導
体N5と同一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニ
ングされて形成され、第1の平面化導体層5と第2の平
面化導体N9とを第2図に示すように内端部5bと外端
部9aとで接続することにより導体コイル15が形成さ
れる。
このように形成された導体コイル15の上には、第3図
(ト))に示すように絶縁層11を形成し、この絶縁層
11の上にさらに上部コア10を形成する。
(ト))に示すように絶縁層11を形成し、この絶縁層
11の上にさらに上部コア10を形成する。
そして、最後に保護層12を被覆することにより、第1
図に示すような薄膜磁気ヘッドが得られる。
図に示すような薄膜磁気ヘッドが得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の薄膜磁気へラドの導体コ
イルによれば、第1の平面化導体層と第2の平面化導体
層との間に第1の絶縁層、非磁性金属膜層および第2の
絶縁層からなる静電シールド層を形成しているので、両
平面化導体層間が非磁性金属膜層により静電シールドさ
れることにより導体コイル間の静電容量が低下して共振
周波数が高くなり、再生波形に歪みが生じずに高調波成
分を正しく再生できるという効果がある。
イルによれば、第1の平面化導体層と第2の平面化導体
層との間に第1の絶縁層、非磁性金属膜層および第2の
絶縁層からなる静電シールド層を形成しているので、両
平面化導体層間が非磁性金属膜層により静電シールドさ
れることにより導体コイル間の静電容量が低下して共振
周波数が高くなり、再生波形に歪みが生じずに高調波成
分を正しく再生できるという効果がある。
さらに、バイファイラ構造をとることにより外部誘導雑
音に対して強くなるとともに、はぼ同一平面上に導体コ
イルを形成しているために構造的に薄く形成されるとい
う効果がある。
音に対して強くなるとともに、はぼ同一平面上に導体コ
イルを形成しているために構造的に薄く形成されるとい
う効果がある。
また、本発明の薄膜磁気ヘッドの導体コイルの製造方法
によれば、第1の平面化導体層と第2の平面化導体層と
の間を静電シールドするために増加する工程数も多くな
く、比較的簡単な工程の増加のみで容易に第1の平面化
導体層および第2の平面化導体層間の静電シールドが行
われた薄膜磁気ヘッドの導体コイルが得られるという効
果がある。
によれば、第1の平面化導体層と第2の平面化導体層と
の間を静電シールドするために増加する工程数も多くな
く、比較的簡単な工程の増加のみで容易に第1の平面化
導体層および第2の平面化導体層間の静電シールドが行
われた薄膜磁気ヘッドの導体コイルが得られるという効
果がある。
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図、第2図は、
本実施例の薄膜磁気ヘッドの導体コイルの要部平面図、 第3図fa)〜fi+は、本実施例の薄膜磁気ヘッドの
導体コイルの順次の製造工程を示す断面図、第4図は、
第1図中に示した非磁性金属IIIMの形成領域を説明
するための図である。 図において、 3・・・下部コア、 4・・・絶縁層、 5・・・第1の平面化導体層、 6・・・レジスト層、 7a・・第1の絶縁層、 7b・・第2の絶縁層、 8・・・非磁性金属膜層、 9・・・第2の平面化導体層、 10・・・上部コア、 11・・・絶縁層、 15・・・導体コイル、 16・・・静電シールド層である。
本実施例の薄膜磁気ヘッドの導体コイルの要部平面図、 第3図fa)〜fi+は、本実施例の薄膜磁気ヘッドの
導体コイルの順次の製造工程を示す断面図、第4図は、
第1図中に示した非磁性金属IIIMの形成領域を説明
するための図である。 図において、 3・・・下部コア、 4・・・絶縁層、 5・・・第1の平面化導体層、 6・・・レジスト層、 7a・・第1の絶縁層、 7b・・第2の絶縁層、 8・・・非磁性金属膜層、 9・・・第2の平面化導体層、 10・・・上部コア、 11・・・絶縁層、 15・・・導体コイル、 16・・・静電シールド層である。
Claims (2)
- (1)一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニング
して形成された第1の平面化導体層と、この第1の平面
化導体層上に被覆された絶縁層と、この絶縁層上の前記
第1の平面化導体層の間隙に前記第1の平面化導体層と
同一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニングして
形成された第2の平面化導体層とを有する薄膜磁気ヘッ
ドの導体コイルにおいて、 前記絶縁層が、前記第1の平面化導体層上に被覆された
第1の絶縁層と、この第1の絶縁層上に積層された非磁
性金属膜層と、この非磁性金属膜層上に積層された第2
の絶縁層とを含む静電シールド層でなることを特徴とす
る薄膜磁気ヘッドの導体コイル。 - (2)一方向に平面螺旋状に複数回巻きにパターニング
して第1の平面化導体層を形成する工程と、前記第1の
平面化導体層上に絶縁層を被覆する工程と、前記絶縁層
上の前記第1の平面化導体層の間隙に前記第1の平面化
導体層と同一方向に平面螺旋状にパターニングして第2
の平面化導体層を形成する工程とを含む薄膜磁気ヘッド
の導体コイルの製造方法において、 前記第1の平面化導体層上に絶縁層を被覆する工程が、
前記第1の平面化導体層上に第1の絶縁層を被覆する工
程と、前記第1の絶縁層上に非磁性金属膜層を積層する
工程と、前記非磁性金属膜層上に第2の絶縁層を積層す
る工程とを含むことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの導体
コイルの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26518986A JPS63239608A (ja) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | 薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26518986A JPS63239608A (ja) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | 薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63239608A true JPS63239608A (ja) | 1988-10-05 |
Family
ID=17413794
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26518986A Pending JPS63239608A (ja) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | 薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63239608A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6191918B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil planar structure |
| US6801407B2 (en) * | 2002-02-08 | 2004-10-05 | Headway Technologies, Incorporated | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
-
1986
- 1986-11-07 JP JP26518986A patent/JPS63239608A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6191918B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil planar structure |
| US6338939B1 (en) | 1998-10-23 | 2002-01-15 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil fabrication process |
| US6801407B2 (en) * | 2002-02-08 | 2004-10-05 | Headway Technologies, Incorporated | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4684438A (en) | Process for producing a coil for a magnetic recording head | |
| JP3000579B2 (ja) | チップコイルの製造方法 | |
| JPH0413212A (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
| JPS62173607A (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
| JPH05250636A (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
| JP2004235709A (ja) | 分布定数型フィルタ素子 | |
| JPS60157711A (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
| JPH06124843A (ja) | 高周波用薄膜トランス | |
| JPS63239608A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの導体コイルおよびその製造方法 | |
| JPH0917634A (ja) | 積層型インダクタ | |
| JPH0581615A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 | |
| JP2005116647A (ja) | コモンモードチョークコイル及びその製造方法並びにコモンモードチョークコイルアレイ | |
| JPH0594603A (ja) | 垂直磁気ヘツド | |
| JPH0237513A (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
| JPH0346488Y2 (ja) | ||
| JPS63117307A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの導体コイルの製造方法 | |
| JP4192604B2 (ja) | コイル部品 | |
| JPH04344311A (ja) | 薄膜磁気回路基板及びそれを用いた磁気ヘッド | |
| JPH0555062A (ja) | チヨークコイルとその製造方法 | |
| JPS62165718A (ja) | 薄膜磁気ヘツド | |
| JPH01166309A (ja) | 薄膜磁気ヘッド | |
| JP2522318B2 (ja) | 変圧器 | |
| JPH05225514A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JPH05299282A (ja) | 薄膜磁気素子の製造方法 | |
| JPH01307008A (ja) | 薄膜磁気ヘツド |