JPS63238419A - Reflection type photoelectric sensor - Google Patents

Reflection type photoelectric sensor

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Publication number
JPS63238419A
JPS63238419A JP62072461A JP7246187A JPS63238419A JP S63238419 A JPS63238419 A JP S63238419A JP 62072461 A JP62072461 A JP 62072461A JP 7246187 A JP7246187 A JP 7246187A JP S63238419 A JPS63238419 A JP S63238419A
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JP
Japan
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light
case
photoelectric sensor
knob
lens
Prior art date
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Pending
Application number
JP62072461A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Kamiya
敦 紙谷
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Priority to JP62072461A priority Critical patent/JPS63238419A/en
Publication of JPS63238419A publication Critical patent/JPS63238419A/en
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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

PURPOSE:To easily adjust the converging position of projected beam, by providing a projected beam converging point position adjusting means moving a beam projecting optical system from the outside of a case. CONSTITUTION:This photoelectric sensor consists of the semiconductor laser 1, PSD 2, beam projecting lens 3 and beam receiving lens 4 received in a case consisting of a case main body 115 and a lid, and an adjustment knob 20 made freely rotatable is fitted to the main body 15. When the knob 20 is rotated, the distance between the laser 1 and the lens 3 is changed to make it possible to change the converging point position of projected beam alpha. At this time, since the knob part 201 of the knob 20 protrudes to the outside of the case and the knob 20 can be rotated from the outside of the case, the converging point position of the projected beam alpha can be easily adjusted from the outside of the case. Therefore, it is unnecessary to disassemble the main body 15 in order to adjust a position and positional adjustment can be performed with good accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、三角測距式光電スイッチなどに使用される
反射型光電センサに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a reflective photoelectric sensor used in triangulation type photoelectric switches and the like.

〔背景技術〕[Background technology]

最近、三角測距式光電スイッチなどに使用される反射型
光電センサが開発された。
Recently, a reflective photoelectric sensor used in triangulation type photoelectric switches and the like has been developed.

i5図に°みるように、反射型光電センサAは、ケース
15内に収納された半導体レーザ(発光素子)1、半導
体装置検出素子(検出手段、以下「PSDJという)2
、投光用レンズ(投光用光学系)3、受光用レンズ(受
光用光学系)4を備えている。投光用レンズ3は、半導
体レーザ1から発する光を、所定の位置に収束点を有す
る光ビームαにして、被検出物体Bに投光させるように
なっている。投光ビームαは、第6図にみるような断面
形状を有している。受光用レンズ4は、被検出物体Bで
拡散反射された投光ビームαの拡散反射光βをPSD2
の集光面に集光路せるようになっている。この反射型光
電センサAでは、被検出物体Bまでの距離に応じた位置
に集光させるようになっている。たとえば、被検出物体
BがXの位置にある時には、拡散反射光βをXの位置に
集光させ、被検出物体BがYの位置にある時には、拡散
反射光βをyの位置に集光させるようになっている。P
SD2は、集光位置に対応した検出信号を出力するよう
になっている。すなわち、被検出物体BがXの位置にあ
る時には、集光位置Xに対応した検出信号を出力し、被
検出物体BがYの位置にある時には、集光位置yに対応
した検出信号を出力するようになっている。したがって
、出方信号を判別することによって被検出物体Bの位置
を知ることができる。つまり、被検出物体Bまでの距離
の測定を行うセンサとして使用することができる。また
、被検出物体BがXの位置にある時のみXの位置に集光
され、その集光位置Xに対応した検出信号が出力される
ようになっているので、被検出物体BがXの位置に存在
するかしないがをみることができる。したがって、検出
領域内の被検出物体の有無をみるようなセンサとして使
用することもできる。
As shown in Figure i5, the reflective photoelectric sensor A includes a semiconductor laser (light emitting element) 1 and a semiconductor device detection element (detection means, hereinafter referred to as "PSDJ") 2 housed in a case 15.
, a light projecting lens (light projecting optical system) 3, and a light receiving lens (light receiving optical system) 4. The light projection lens 3 converts the light emitted from the semiconductor laser 1 into a light beam α having a convergence point at a predetermined position, and projects the light onto the object B to be detected. The projected beam α has a cross-sectional shape as shown in FIG. The light receiving lens 4 converts the diffusely reflected light β of the projected light beam α diffusely reflected by the detected object B into a PSD2.
The light collection path can be directed to the light collection surface of the This reflective photoelectric sensor A is designed to condense light at a position corresponding to the distance to the detected object B. For example, when detected object B is at position X, diffuse reflected light β is focused at position X, and when detected object B is at position Y, diffuse reflected light β is focused at position y. It is designed to allow P
The SD2 outputs a detection signal corresponding to the focal position. That is, when the detected object B is at position X, a detection signal corresponding to the condensed position It is supposed to be done. Therefore, the position of the detected object B can be known by determining the output signal. In other words, it can be used as a sensor for measuring the distance to the detected object B. In addition, since the light is focused at the position X only when the detected object B is at the position X, and the detection signal corresponding to the focused position X is output, the detected object B is at the position X. You can see whether it exists or not at the location. Therefore, it can also be used as a sensor for checking the presence or absence of an object to be detected within the detection area.

ところで、従来の反射型光電センサは、組み立て後にお
いて、投光ビームαの収束点が所定の位置で固定され、
収束点位置の調整ができなかった。したがって、センサ
から所定の距離能れた投光ビームαの断面の大きさは、
一定であった。そのため、所定の距離能れた位置にある
被検出物体Bが投光ビームαの断面より小さいものであ
れば検出できないと言う問題があった。そこで、このよ
うな場合には、投光ビームαの収束点位置が近くなるよ
うに半導体レーザ1に対する投光用レンズ3の位置を変
えて被検出物体B位置での投光ビームαの断面を小さく
する必要があった。
By the way, in conventional reflective photoelectric sensors, the convergence point of the projected beam α is fixed at a predetermined position after assembly.
The convergence point position could not be adjusted. Therefore, the size of the cross section of the projected beam α at a given distance from the sensor is:
It was constant. Therefore, there is a problem in that if the detected object B located within a predetermined distance is smaller than the cross section of the projected beam α, it cannot be detected. Therefore, in such a case, the cross section of the projected beam α at the position of the detected object B is changed by changing the position of the projection lens 3 relative to the semiconductor laser 1 so that the convergence point position of the projected beam α becomes closer. It needed to be smaller.

また、反射型光電センサは、被検出物体Bでの拡散反射
光を利用し、測距などを行っているわけであるが、被検
出物体Bが金属からなる場合、表面のわずかな凹凸、加
工傷、圧延方向等の影響で、第7図にみるように、拡散
反射光βに正反射成分の光が混じり、誤差(誤動作)の
原因になっていた。このような場合、被検出物体8表面
での投射面積を大きくして、拡散反射光に混じる正反射
成分の光を相殺するようにすれば、第8図にみるように
、拡散反射に近づけることができるので、誤差(誤動作
)を防ぐことができる。したがって、後者の場合には、
前者の場合と逆に、投光ビームαの収束点位置が遠くな
るように半導体レーザ1に対する投光用レンズ3の位置
を変えて被ネ★出物体B位置での投光ビームαの断面を
大きくする必要があった。
In addition, a reflective photoelectric sensor uses the diffusely reflected light from the detected object B to perform distance measurement, etc., but when the detected object B is made of metal, slight irregularities on the surface or processing Due to the effects of scratches, rolling direction, etc., as shown in FIG. 7, the specularly reflected light component was mixed with the diffusely reflected light β, causing errors (malfunctions). In such a case, by increasing the projection area on the surface of the object to be detected 8 and canceling out the light of the regular reflection component mixed with the diffuse reflection light, it is possible to get closer to the diffuse reflection as shown in Figure 8. Therefore, errors (malfunctions) can be prevented. Therefore, in the latter case,
Contrary to the former case, the position of the projection lens 3 with respect to the semiconductor laser 1 is changed so that the convergence point position of the projection beam α becomes distant, and the cross section of the projection beam α at the position of the projecting object B is changed. It needed to be bigger.

以上のように、投光ビームαの収束点位置を調整する(
収束点位置を可変とする)ことができれば、より多くの
方面で使用することができ、かつ、検出精度を向上させ
ることができる。
As described above, adjust the convergence point position of the projected beam α (
If the convergence point position can be made variable, it can be used in more areas and the detection accuracy can be improved.

しかしながら、従来の反射型光電センサは、投光ビーム
αの収束点位置を調整するために行わなければならない
半導体レーザ1に対する投光用レンズ3の位置調整が組
み立て後にはできず、位置調整するにはいちいち分解し
なければならなかった。そのため、非常に手間がかかっ
ていた。しかも、分解状態での調整は難しく、分解状態
でせっかく調整できたとしても、組み立てるとその調整
が狂っていたというようなことがあった。したがって、
精度の良い調整ができなかった。
However, in conventional reflective photoelectric sensors, the position of the light emitting lens 3 relative to the semiconductor laser 1 cannot be adjusted after assembly, which is necessary to adjust the position of the convergence point of the emitted light beam α. had to be disassembled one by one. Therefore, it was very time consuming. Moreover, it was difficult to make adjustments when the device was disassembled, and even if it was possible to make adjustments in the disassembled state, there were cases where the adjustments were incorrect when reassembled. therefore,
Accurate adjustments could not be made.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

以上の事情に鑑みて、この発明は、投光ビームの収束点
位置を容易に調整することができる反射型光電センサを
提供することを目的としている。
In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a reflective photoelectric sensor that can easily adjust the position of the convergence point of a projected beam.

〔発明の開示〕[Disclosure of the invention]

前記目的を達成するため、この発明は、発光素子と、光
の検出手段と、前記発光素子から発する光を所定の位置
に収束点を有する光ビームにして被検出物体に投光させ
る投光用光学系と、前記被検出物体で拡散反射された前
記投光ビームの拡散反射光を前記検出手段に集光させる
受光用光学系とを備え、これらがケース内に収納された
反射型光電センサにおいて、前記投光ビームの収束点位
置を可変とするようにケース外から前記投光用光学系を
移動させる投光ビーム収束点位置調整手段が設けられて
いることを特徴とする反射型光電センサをその要旨とし
ている。
To achieve the above object, the present invention includes a light emitting element, a light detecting means, and a light projecting device for converting the light emitted from the light emitting element into a light beam having a convergence point at a predetermined position and projecting the light onto an object to be detected. A reflective photoelectric sensor comprising an optical system and a light-receiving optical system for condensing diffusely reflected light of the projected light beam diffusely reflected by the detected object onto the detecting means, and these are housed in a case. , a reflective photoelectric sensor is provided with a projection beam convergence point position adjusting means for moving the projection optical system from outside the case so as to make the projection beam convergence point position variable. This is the summary.

以下に、この発明を、その一実施例をあられす図面を参
照しながら詳しく説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図はこの発明にかかる反射型光電センサの一実施例
の要部を断面してあられしていて、第2図はその実施例
の要部を分解した状態で斜めから見てあられしており、
第3図はその実施例の全体を分解した状態であられして
いる。
FIG. 1 shows a cross-sectional view of a main part of an embodiment of a reflective photoelectric sensor according to the present invention, and FIG. 2 shows a cross-sectional view of the main part of the embodiment in an exploded state. Ori,
FIG. 3 shows the entire embodiment in an exploded state.

これらの図にみるように、この反射型光電センサは、三
角測距式光電スイッチに使用される反射型光電センサで
あって、ケース本体15と蓋18からなるケース内に収
納された半導体レーザ(発光素子)1、PSD (検出
手段)2、投光用レンズ(投光用光学系)3、受光用レ
ンズ(受光用光学系)4を備えている。
As shown in these figures, this reflective photoelectric sensor is a reflective photoelectric sensor used in a triangular distance measuring photoelectric switch, and includes a semiconductor laser ( A light emitting element) 1, a PSD (detection means) 2, a light projecting lens (light projecting optical system) 3, and a light receiving lens (light receiving optical system) 4 are provided.

゛半導体レーザlは、光学ブロック本体εに形成された
光学筒61内に挿入され、この?、?j61の後部に装
着されている。光学筒61には、後述する調整つまみ2
0のガイド穴611が貫通されている。投光用レンズ3
は、投光用レンズ固定筒5に装着されている。この投光
用レンズ固定筒5も、光学筒61内に挿入され、その前
部に配置されている。したがって、投光用レンズ3は、
半導体レーザ1の光学軸方向前方に位置している。そし
て、半導体レーザ1から発する光を所定の位置に収束点
を有する光ビームにして被検出物体に投光させるように
なっている。投光用レンズ固定筒5は、光学筒61の内
面をガイドとして半導体レーザ1の光学軸方向にスライ
ド可能になっている。投光用レンズ固定筒5の外周面に
は、半導体レーザ1の光学軸方向に直交するt551が
形成されている。光学筒61の後端は、ねじ8で光学筒
61に固定されたプレート7で塞がれている。プレート
7からは、半導体レーザ1の端子のみが突出している。
゛The semiconductor laser l is inserted into the optical tube 61 formed in the optical block body ε, and this ? ,? It is attached to the rear of J61. The optical barrel 61 has an adjustment knob 2 which will be described later.
0 guide hole 611 is penetrated. Light projection lens 3
is attached to the light projecting lens fixing tube 5. This light projecting lens fixing tube 5 is also inserted into the optical tube 61 and arranged at the front thereof. Therefore, the projection lens 3 is
It is located in front of the semiconductor laser 1 in the optical axis direction. The light emitted from the semiconductor laser 1 is turned into a light beam having a convergence point at a predetermined position and projected onto the object to be detected. The light projection lens fixed tube 5 is slidable in the optical axis direction of the semiconductor laser 1 using the inner surface of the optical tube 61 as a guide. A t551 is formed on the outer circumferential surface of the light projecting lens fixed cylinder 5, which is perpendicular to the optical axis direction of the semiconductor laser 1. The rear end of the optical tube 61 is closed with a plate 7 fixed to the optical tube 61 with screws 8. Only the terminals of the semiconductor laser 1 protrude from the plate 7.

受光用レンズ4は、受光用レンズ固定枠10の前部に固
定されている。PSD2は、PSD取付枠9に固定され
ている。PSD取付枠9は、受光用レンズ固定枠10の
後部にピン11およびねじ12によって固定されている
。したがって、受光用レンズ4は、PSD2の光学軸方
向前方に位置している。そして、被検出物体からの拡散
反射光をPSD2の集光面に集光させるようになってい
る。
The light receiving lens 4 is fixed to the front part of the light receiving lens fixing frame 10. The PSD 2 is fixed to a PSD mounting frame 9. The PSD mounting frame 9 is fixed to the rear part of the light receiving lens fixing frame 10 with pins 11 and screws 12. Therefore, the light receiving lens 4 is located in front of the PSD 2 in the optical axis direction. Then, the diffusely reflected light from the object to be detected is condensed onto the condensing surface of the PSD 2.

光学ブロック本体6の前面には、投光ビームを通過させ
るための窓62と拡散反射光を通過させるための窓63
が形成されている。これら窓62.63は、投光ビーム
および拡散反射光の透過可能なガラスフィルタ13.1
4で塞がれている。
On the front surface of the optical block body 6, there are a window 62 for passing the projected beam and a window 63 for passing the diffusely reflected light.
is formed. These windows 62.63 are glass filters 13.1 through which the projected beam and the diffusely reflected light can pass.
It is blocked by 4.

光学ブロック本体6は、その後部をケース本体15内に
臨ませるようにしてケース本体15にねじ16によって
固定されている。光学ブロック本体6とケース本体15
との間は、パツキン17でシールされている。ケース本
体15には、開口部が形成されている。この開口部は、
ねじ19によってケース本体15に固定された蓋18で
塞がれている。
The optical block main body 6 is fixed to the case main body 15 with screws 16 so that its rear part faces into the case main body 15. Optical block body 6 and case body 15
The space between them is sealed with a seal 17. The case body 15 has an opening formed therein. This opening is
It is closed with a lid 18 fixed to the case body 15 with screws 19.

ケース本体15には、回転自在になった調整つまみ20
が取り付けられている。この調整つまみ20は、つまみ
部201とガイド部202と偏心軸203とを備えてい
る。つまみ部201は、ケース本体15 (ケース)外
に出されている。ガイド部202は、光学筒61に形成
されたガイド穴611に隙間なく挿入されている。これ
により、この調整つまみ20は、ガイド穴611をガイ
ドとして回転するようになっている。偏心軸部203は
、ガイド部202に対し、すなわち、回転軸に対し偏心
していて、投光用レンズ固定筒5に形成された溝51に
嵌め込まれている。
The case body 15 has a rotatable adjustment knob 20.
is installed. The adjustment knob 20 includes a knob portion 201, a guide portion 202, and an eccentric shaft 203. The knob portion 201 is exposed outside the case body 15 (case). The guide portion 202 is inserted into a guide hole 611 formed in the optical tube 61 without any gap. This allows the adjustment knob 20 to rotate using the guide hole 611 as a guide. The eccentric shaft portion 203 is eccentric with respect to the guide portion 202, that is, with respect to the rotation axis, and is fitted into a groove 51 formed in the light projecting lens fixing cylinder 5.

第1図および第4図にみるように、調整つまみ20、投
光用レンズ固定枠5が実線で示す状態であり、半導体レ
ーザlと投光用レンズ3との間の距離が11  になっ
ているとする。この状態から、調整つまみ20を90°
回転させると、偏心軸部203が回転軸を中心として回
動し、二点鎖線で示す位置にくる。この偏心軸部203
の動きに伴い、投光用レンズ固定筒5は光学筒61をガ
イドとしてスライドさせられ、二点鎖線で示す位置に移
動させられる。したがって、投光用レンズ固定筒5に固
定された投光用レンズ3も移動させられ、半導体レーザ
1と投光用レンズ3との間の距離は12となる。このよ
うに、調整つまみ20を回転させることにより、半導体
レーザ1と投光用レンズ3との間の距離を変えることが
できるようになっている。投光ビームの収束点位置は、
半導体レーザ1と投光用レンズ3との間の距離で決まる
ので、その距離が変わると、投光ビームの収束点位置も
変わる。つまり、この反射型光電センサは、調整つまみ
20を回転させることにより、投光用レンズ3を移動さ
せ、半導体レーザ1と投光用レンズ3との間の距離を変
えて、投光ビームの収束点位置を変えることができるよ
うになっているのである。しかも、調整っまみ2oのつ
まみ部201がケース外に出ていて、ケース外から調整
っまみ20を回転させることができるため、ケース外か
ら容易に投光ビームの収束点位置の調整ができるように
なっているのである。すなわち、調整つまみ20および
投光用レンズ固定筒5は、投光ビームの収束点位置を可
変とするように投光用レンズ2をケース外から移動させ
る投光ビーム収束点位置調整手段となっている。
As shown in FIGS. 1 and 4, the adjustment knob 20 and the projection lens fixing frame 5 are in the state shown by the solid line, and the distance between the semiconductor laser l and the projection lens 3 is 11 degrees. Suppose there is. From this state, turn the adjustment knob 20 to 90°.
When rotated, the eccentric shaft portion 203 rotates around the rotation axis and comes to the position shown by the two-dot chain line. This eccentric shaft portion 203
With this movement, the projection lens fixing barrel 5 is slid using the optical barrel 61 as a guide, and is moved to the position shown by the two-dot chain line. Therefore, the light projecting lens 3 fixed to the light projecting lens fixing tube 5 is also moved, and the distance between the semiconductor laser 1 and the light projecting lens 3 becomes 12. In this way, by rotating the adjustment knob 20, the distance between the semiconductor laser 1 and the projection lens 3 can be changed. The convergence point position of the projected beam is
Since it is determined by the distance between the semiconductor laser 1 and the projection lens 3, if the distance changes, the position of the convergence point of the projection beam also changes. In other words, this reflective photoelectric sensor moves the light emitting lens 3 by rotating the adjustment knob 20, changing the distance between the semiconductor laser 1 and the light emitting lens 3, and converging the light beam. This allows you to change the point position. Moreover, the knob 201 of the adjustment knob 2o is exposed outside the case, and the adjustment knob 20 can be rotated from outside the case, so the position of the convergence point of the emitted light beam can be easily adjusted from outside the case. It has become. That is, the adjustment knob 20 and the projection lens fixing tube 5 serve as a projection beam convergence point position adjusting means for moving the projection lens 2 from outside the case so as to make the projection beam convergence point position variable. There is.

以上のように、この反射型光電センサは、ケース外から
容易に投光ビームの収束点位置の調整ができるようにな
っているため、位置調整するために分解する必要がなく
、しかも、精度の良い調整ができる。
As described above, this reflective photoelectric sensor allows the position of the convergence point of the emitted light beam to be easily adjusted from outside the case, so there is no need to disassemble it for position adjustment. I can make good adjustments.

なお、この反射型光電センサの動作原理は従来と同じよ
うになっている。
The operating principle of this reflective photoelectric sensor is the same as the conventional one.

この発明にかかる反射型光電センサは前記実施例に限定
されない。発光素子は、半導体レーザ以外のものを用い
てもよい。検出手段もPSD以外のものを用いてもよい
。投光用光学系および受光用光学系もレンズ以外のもの
を用いてもよい。投光ビーム収束点位置調整手段が、調
整つまみにピニオンギヤが形成され、投光用レンズ固定
筒に前記ピニオンギヤと噛み合うラックが発光素子の光
学軸方向に沿って形成された構造であってもよい〔発明
の効果〕 以上にみてきたように、この発明にかかる反射型光電セ
ンサは、発光素子と、光の検出手段と、前記発光素子か
ら発する光を所定の位置に収束点を有する光ビームにし
て被検出物体に投光させる投光用光学系と、前記被検出
物体で拡散反射された前記投光ビームの拡散反射−光を
前記検出手段に集光させる受光用光学系とを備え、これ
らがケーλ内に収納された反射型光電センサにおいて、
前記投光ビームの収束点位置を可変とするようにケース
外から前記投光用光学系を移動させる投光ビーム収束点
位置調整手段が設けられていることを特徴としている。
The reflective photoelectric sensor according to the present invention is not limited to the above embodiments. The light emitting element may be other than a semiconductor laser. The detection means may also be other than PSD. The light projecting optical system and the light receiving optical system may also use systems other than lenses. The projection beam convergence point position adjusting means may have a structure in which a pinion gear is formed on the adjustment knob, and a rack that meshes with the pinion gear is formed on the projection lens fixing tube along the optical axis direction of the light emitting element. [Effects of the Invention] As seen above, the reflective photoelectric sensor according to the present invention includes a light emitting element, a light detecting means, and converts the light emitted from the light emitting element into a light beam having a convergence point at a predetermined position. A light projecting optical system for projecting light onto the detected object, and a light receiving optical system for converging the diffusely reflected light of the projected light beam diffusely reflected by the detected object onto the detecting means. In the reflective photoelectric sensor housed in the cable λ,
The device is characterized in that a projected beam convergence point position adjusting means is provided for moving the light projecting optical system from outside the case so as to vary the convergence point position of the projected light beam.

そのため、投光ビームの収束点位置を容易に調整するこ
とができる。
Therefore, the position of the convergence point of the projected beam can be easily adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明にかかる反射型光電センサの一実施例
の要部をあられす断面図、第2図はその実施例の要部を
あられす分解斜視図、第3図はその実施例の全体をあら
れす分解斜視図、第4図はその実施例の要部の動作説明
図、第5図は反射型光電センサの動作原理をあられす模
式的説明図、第6図は投光ビームの断面をあられす説明
図、第7図は投光ビームの収束点位置の調整がなされて
いない時のビームの反射状態をあらゎす模式的説明図、
第8図は投光ビームの収束点位置の調整がなされている
時のビームの反射状態をあられす模式的説明図である。 1・・・半導体レーザ(発光素子)  2・・・PSD
 (検出手段)  3・・・投光用レンズ(投光用光学
系)4・・・受光用レンズ(受光用光学系)  5・・
・投光用レンズ固定筒 15・・・ケース本体 18・
・・蓋20・・・調整つまみ B・・・被検出物体 α
・・・投光ビーム β・・・拡散反射光 代理人 弁理士  松 本 武 彦 第1図 第4図 第5図
FIG. 1 is a cross-sectional view of the main parts of an embodiment of a reflective photoelectric sensor according to the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of the main parts of the embodiment, and FIG. 3 is an exploded perspective view of the main parts of the embodiment. Fig. 4 is an explanatory diagram of the operation of the main parts of the embodiment, Fig. 5 is a schematic explanatory diagram showing the operating principle of the reflective photoelectric sensor, and Fig. 6 is an exploded perspective view of the projecting beam. 7 is a schematic explanatory diagram showing the reflected state of the beam when the position of the convergence point of the projected beam is not adjusted.
FIG. 8 is a schematic explanatory diagram showing the reflected state of the beam when the position of the convergence point of the projected beam is adjusted. 1... Semiconductor laser (light emitting element) 2... PSD
(Detection means) 3... Lens for light emission (optical system for light emission) 4... Lens for light reception (optical system for light reception) 5...
・Lens fixing tube for light projection 15...Case body 18・
...Lid 20...Adjustment knob B...Detected object α
...Light beam β...Diffuse reflected light Agent Patent attorney Takehiko Matsumoto Figure 1 Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)発光素子と、光の検出手段と、前記発光素子から
発する光を所定の位置に収束点を有する光ビームにして
被検出物体に投光させる投光用光学系と、前記被検出物
体で拡散反射された前記投光ビームの拡散反射光を前記
検出手段に集光させる受光用光学系とを備え、これらが
ケース内に収納された反射型光電センサにおいて、前記
投光ビームの収束点位置を可変とするようにケース外か
ら前記投光用光学系を移動させる投光ビーム収束点位置
調整手段が設けられていることを特徴とする反射型光電
センサ。
(1) A light emitting element, a light detecting means, a light projection optical system that converts the light emitted from the light emitting element into a light beam having a convergence point at a predetermined position, and projects the light onto an object to be detected, and the object to be detected. a light-receiving optical system that focuses diffusely reflected light of the projected light beam on the detection means, and these are housed in a case. A reflective photoelectric sensor characterized in that a projection beam convergence point position adjusting means is provided for moving the projection optical system from outside the case so as to make the position variable.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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