JPS63235826A - 残響測定法 - Google Patents

残響測定法

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JPS63235826A
JPS63235826A JP6895387A JP6895387A JPS63235826A JP S63235826 A JPS63235826 A JP S63235826A JP 6895387 A JP6895387 A JP 6895387A JP 6895387 A JP6895387 A JP 6895387A JP S63235826 A JPS63235826 A JP S63235826A
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JP
Japan
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response
reverberation
square
wave form
time
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Application number
JP6895387A
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English (en)
Inventor
Takayoshi Hirata
平田 能睦
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  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、インパルス音を用いた残響測定法に関するも
のである。
インパルスを用いた残響測定法として音響分野で広く知
られているのは、M、R,シュレーダによるインパルス
積分法(U、S、特許3352378 、 (1967
年〕)である。この方法は理論上、多数回雑音を断続し
て得られる残響波形の平均波形が1回のインパルス応答
で得られるというものであるが、外部雑音が加わった場
合、真の残響波形とは大きく異なってしまうということ
と、表示される減衰波形のどこまでが真の波形とみなせ
るか、その判別ができないという欠点があった。そこで
本発明の目的は、上記のインパルス積分法による残響測
定において、雑音の影響を抑圧し、且つ、真の波形と雑
音とを判別できるようにする方法を提供することにある
今、インパルス音を加えたときの室の真の応答を5(t
)、雑音をN(t)とすると、測定される応答はR(t
)= S (t)+ N(t)          (
11と表わされる。インパルス積分法によれば、集合平
均的残響波形Q(t)は次式で与えられる。
Q(t)= J”tR2(t) dt、       
 (2)ここで、tは時間(変数)でTはS (t)が
十分に減衰した時刻(定数)を表わす。
従って、雑音がある場合、信号成分が雑音成分に比べて
十分小さくなった時刻11以後では、Q(t)= 、1
tI′N2(t) di       (3)となシ、
信号成分が十分減衰しても見かけの応答はあまり減衰し
ないことになる。そこで本発明の原理に従って、直流成
分を M=Q(tl)/(T−t、 )       (4)
とし、補正波形を B (t) =昭tl−M           (5
)として、B(t)の積分によって集合平均的残響波形
Q’(t)を求めると、時刻t1以後においてはQ’(
リー、Jt N2(t)−M )  dt      
   (6)となる。
(3)式のQ(t)はN2(t)>Oなので、積分区間
が広いほど大きくなるが、(6)式の鎗t)は被積分関
数が平均値0を中心とした正負の値を示すので、積分区
間が広くなっても一様増加せず、またQ (t)そのも
のが正負の値をとるので、このことによって雑音成分と
信号成分の判別が可能となる。
以上から明らかなように、本発明によればインパルス積
分法における雑音成分の抑圧と判別が簡単に行なえるこ
とになる。
次に、図面を用いて本発明の詳細な説明する0図1は本
発明の実施例に係わる残響測定器のブロック図である。
マイクロホンによって電気信号に変換された応答は、帯
域フィルタを経て、不用な周波数成分を除かれた後、A
D変換器によってデジタル信号に変換される。デジタル
信号処理部においては、応答の二乗波形を求めた後、残
響波形が十分に減衰した時点以後(推定されるその室の
残響時間のおよそV3以後)の平均値を求め、前記二乗
波形からその平均値で与えられる直流分を除いて、(2
)式で示される積分値を求め、その対数値(負の場合は
0又は絶対値)が出力される。
応答の二乗波形は、測定時刻を異ならせた同一の応答(
雑音成分は異なる)を掛は合せる、同期乗算法(特願昭
56−078151)  によって求めたものであって
もよい。
図1では、応答の二乗波形はデジタル信号処理によって
得ているが、AD変換する前にアナログ回路で得てもよ
い。
残響時間の算出は、通常行なわれているように残響波形
の傾斜(雑音領域を含めず)から求めることができる。
以上、本残響測定法を用いれば、従来のインパルス積分
法で問題となっていた雑音の抑圧と判別が比較的簡単に
行なうことができるので、音響画定において最も基本的
な物理量であるところの残響時間の測定が精度よくしか
も簡便に行なえることになり、その実用的な価値は大き
いものと言うことができる。
【図面の簡単な説明】
図1は本発明に基づく残響測定器のシステム・ブロック
図である。図において、出力部ではプリンタ、ブラウン
管などで集合平均的残響波形や計算で出された残響時間
等が表示される。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定音場にインパルス音を加えて得られる応答の
    二乗波形を求めること、前記応答が充分に減衰した時刻
    以後の前記応答の二乗波形の平均値を求めること、前記
    平均値で与えられる直流分を前記応答の二乗波形から差
    し引いた補正波形を求めること、前記補正波形の積分を
    行ない出力せしめること、を少なくとも含んで成る残響
    測定法。 2、前記応答の二乗波形は同期乗算法によって求めたも
    のである特許請求の範囲第1項記載の残響測定法。 3、前記応答が充分に減衰した時刻は、前記応答の二乗
    波形の振幅がその最大値より百分の一以下に減衰した時
    点に定められたものである特許請求の範囲第1項および
    第2項記載の残響測定法。 4、前記応答の二乗波形は任意周期で標本化された離散
    的値によって与えられたものである特許請求の範囲第1
    項、第2項および第3項記載の残響測定法。 5、前記インパルス音は帯域通過フィルタによってその
    周波数成分を帯域制限されたものである特許請求の範囲
    第1項ないし第4項記載の残響測定法。 6、前記応答は帯域通過フィルタによってその周波数成
    分を帯域制限されたものである特許請求の範囲第1項な
    いし第4項記載の残響測定法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0566172A (ja) * 1991-06-25 1993-03-19 Hitachi Ltd 音響式の漏洩検出方法及び漏洩検出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0566172A (ja) * 1991-06-25 1993-03-19 Hitachi Ltd 音響式の漏洩検出方法及び漏洩検出装置

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