JPS63222288A - 螢光板モニタ - Google Patents

螢光板モニタ

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JPS63222288A
JPS63222288A JP62057177A JP5717787A JPS63222288A JP S63222288 A JPS63222288 A JP S63222288A JP 62057177 A JP62057177 A JP 62057177A JP 5717787 A JP5717787 A JP 5717787A JP S63222288 A JPS63222288 A JP S63222288A
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JP
Japan
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phosphor plate
fluorescent plate
scale
conductive
plate
Prior art date
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JP62057177A
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English (en)
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JPH0523718B2 (ja
Inventor
Tetsuya Nakanishi
哲也 中西
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02TCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
    • Y02T10/00Road transport of goods or passengers
    • Y02T10/60Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
    • Y02T10/62Hybrid vehicles

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野J この発明は、例えば荷電粒子装置などにおける荷電粒子
ビームモニタする螢光板モニタに胸するものであるっ 〔従来の技術J 物置に高速粒子を当てるとそこから光を発することは古
くから知られており、それを利用した螢光板モニタは荷
電粒子装置で広く用いられている。
13図は、一般に用いられている螢光板モニタの断面図
である。モニタは光を発する螢光板(1)、それを支え
る支持台(2)、支持棒(3)、それ等を駆動するf−
動機m(4J、大気中で観測するためののぞき窓(5)
で構成される。(6)はビームであり、その光路を示す
次に動作について説明する。螢光板(1)としては一般
にセラミックが用いられる。高速粒子群即ちビームが螢
光板(1)に当たると、当った位置から光が発生し、の
ぞき窓(5)で1測される。光の強度はビーム強度にほ
ぼ比例する九め、観測された光を適当に処理すれば、ビ
ーム断面の強度分布が分かる。ビームのエネルギーが高
い場合は、螢光板から出る放射線が強いため、直接のぞ
き窓(5)で観測することはできないが、その場合は、
テレビカメラを設置して遠隔でテレビ観測する。また、
エネルギーの高いビームの場合は、螢光板としてセラミ
ックの代わりにアルミ板が使われることもある。
観測が終われば、ビーム通過の邪魔にならないように、
移動機構(4)で螢光板(1)をビーム光! (6)よ
りはずす。
〔発明が解決しようとする問題点」 従来の螢光板モニタは以上の工うに構成されているので
、ビーム強度の最も5虫い部分が真空チェンバー中心に
対してどの位置にあるか、ビーム断面の径はいくらかな
どの情報を得ようとする時、螢光&(1)がアルミ板の
場合は、アルミ板上を場つけ、目盛をうつことができる
が、セラミック等のような硬い物質ではそれがでさず1
例えばペン等で目盛を簀くことも、真空度を悪くするた
め避けられていたので、ビームの径、位置などの正確な
情報が得られないという問題点があった。
また、セラミックのような絶縁物の場合、ビームがセラ
ミックを通過できない程低いエネルギーの時は、セラミ
ック上に電荷が蓄積され、放電を起こし、ビームの観測
に障害を来たすという問題点がめった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ビームの径を直接読み取ることができると共
に真空チェンバーの中心位置に対するビームの位置も測
定でさ、さらに螢光板上での放電も防止することができ
る螢光板モニタを得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段] この発明に係る螢光板モニタは螢光板上に、導電性の支
持部材と電気的に接続した導電性スケール部材を設置し
たものである。
[作用J この発明における導電性スケール部材に、ビームが当っ
ても螢光板とは瀧つ比色の光を発するか−ik 士M 
e M程度の低いエネルギー@域では光を発しないので
、螢光板上で目盛の役目をIIi比すことができる。さ
らに、螢光板上に蓄積されようとする電荷Fi導電性ス
ケール部材より導電性支持部材を通ってアースに流れる
ため、電荷の蓄積は生じず、螢光板上での放電は起きな
い。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一寅施例による螢光板モニタを示す断面
図である。図において、 (IJはセラミック製螢光板
、 (2L (3) n各々この螢光板(1)を支持す
る4電性の支持台及び支持棒である。(力は螢光板(1
)上に設置された導電性スケール部材で%導電性の支持
台(2)及び支持棒(3)と電気的に接続している。ス
グール部材(7)としてL例えば銅のスケールメツシュ
を用いる。
第2図(a) (b) #−i各々螢光板(1)と、そ
れを支える支持台(2)と、スケールメツシュ(7)の
部分の拡大平面図及び側面図を示し、螢光板(1)と、
スケールメツシュ(7)は、固定& (8)を使って支
持台(2)にネジ(9)止めされる。支持台(2)と、
真空チェンバー中心の位置関係は正確に分るため、スケ
ールメツシュ(7)が容易に精度□良く支持台(2)に
取り付けられるように、%2図に示すように支持台(2
)には案内枠(lO)が取りつけられている。
またスケールメツシュ(7)は電気的に支持台(2)及
び支持棒(3)を通して真空チェンバーにつながり、ア
ースに流れるように固定板(8)、ネジ(9)1案内枠
(10)、支持台(2)、支持棒等の支持部材は#11
!性のものが用いられている。
次に動作について説明する。ビーム(6)がスケールメ
ツシュ(力を通して螢光板(1)に当たると、螢光板(
1)の部分は光り、スケールメツシュ(7)の部分ハ光
うない。従って、スケールメツシュの部分は黒く見え、
スケールメツシュの間隔が分っていればビームの径、ビ
ームの最も強い部分が、真空チェンバーの中心からどの
くらい離れているか知ることができる。また、スケール
メツシュが光るほどエネルギーの高いビームでも、光の
色が異なるため、先と同じ効果が期待できる。また、ビ
ームが螢光板を通過できない程エネルギーが低くても、
螢光板上に蓄積されようとする電荷は、スケールメツシ
ュ(7)を通して真空チェンバーに流れるなめ、蓄積さ
れず、螢光板上での放電は起きない。
なお、上記実施例ではスケールメツシュ(7)として銅
を用いたが、他の金属でもよく、導電性を示すものであ
ればよい。また、スケールメツシュ(7)を角型のもの
としたが、スケールとして使用できるものであれば型は
何でもよく、さらにメツシュの太さも等間隔で変えられ
れば読み取りが非常に楽となる。
また、螢光板としてセラミックを用いたが、これも他の
材料の螢光板であってもよい。
〔発明の効果j 以上のように、この発明によれば、螢光板上に導電性の
支持部材と電気的に接続し六環電性スケール部材を投置
して螢光板モニタを構成したので、ビームの径や位置を
読みとることができ、さらに、螢光板上での放電も防ぐ
ことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による螢光板モニタを示す
断面図、第2図(a) (b)は各々この発明の一実施
例による螢光板モニタの主要部を拡大して示す乎面図及
び側面図、並びに第3図は従来の螢光板モニタを示す断
面図である。 (1)・・・螢光板、(2)・・・支持台、(3)・・
・支持棒、(6)・・・ビーム、(7)・・・スケール
部材、(8)・・・固定板、(10)・・・案内枠 なお、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ビームの光路中に設置され、上記ビームの照射に
    より発光する螢光板、この螢光板上に設置された導電性
    スケール部材、並びに上記螢光板及び上記スケール部材
    を支持し、上記スケール部材と電気的に接続された導電
    性支持部材を備えた螢光板モニタ。
  2. (2)螢光板はセラミックよりなる特許請求の範囲第1
    項記載の螢光板モニタ。
  3. (3)導電性スケール部材は金属メッシュである特許請
    求の範囲第1項又は第2項記載の螢光板モニタ。
JP62057177A 1987-03-11 1987-03-11 螢光板モニタ Granted JPS63222288A (ja)

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JP62057177A JPS63222288A (ja) 1987-03-11 1987-03-11 螢光板モニタ

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JP62057177A JPS63222288A (ja) 1987-03-11 1987-03-11 螢光板モニタ

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JPS63222288A true JPS63222288A (ja) 1988-09-16
JPH0523718B2 JPH0523718B2 (ja) 1993-04-05

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ID=13048244

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JP62057177A Granted JPS63222288A (ja) 1987-03-11 1987-03-11 螢光板モニタ

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JP (1) JPS63222288A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02109244A (ja) * 1988-10-17 1990-04-20 Sony Corp イオンビーム装置
JPH02239561A (ja) * 1989-03-10 1990-09-21 Sumitomo Heavy Ind Ltd 荷電粒子ビームモニタ
JP2008027614A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Fujitsu Ltd 荷電粒子の入射角モニタ素子

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02109244A (ja) * 1988-10-17 1990-04-20 Sony Corp イオンビーム装置
JPH02239561A (ja) * 1989-03-10 1990-09-21 Sumitomo Heavy Ind Ltd 荷電粒子ビームモニタ
JP2008027614A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Fujitsu Ltd 荷電粒子の入射角モニタ素子

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JPH0523718B2 (ja) 1993-04-05

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