JPH0523718B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0523718B2 JPH0523718B2 JP62057177A JP5717787A JPH0523718B2 JP H0523718 B2 JPH0523718 B2 JP H0523718B2 JP 62057177 A JP62057177 A JP 62057177A JP 5717787 A JP5717787 A JP 5717787A JP H0523718 B2 JPH0523718 B2 JP H0523718B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescent plate
- scale
- conductive
- plate
- fluorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
- Y02T10/60—Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
- Y02T10/62—Hybrid vehicles
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば荷電粒子装置などにおける
荷電粒子ビームモニタする螢光板モニタに関する
ものである。
荷電粒子ビームモニタする螢光板モニタに関する
ものである。
物質に高速粒子を当てるとそこから光を発する
ことは古くから知られており、それを利用した螢
光板モニタは荷電粒子装置で広く用いられてい
る。第3図は、一般に用いられている螢光板モニ
タの断面図である。モニタは光を発する螢光板
1、それを支える支持台2、支持棒3、それ等を
駆動する移動機構4、大気中で観測するためのの
ぞき窓5で構成される。6はビームであり、その
光路を示す。
ことは古くから知られており、それを利用した螢
光板モニタは荷電粒子装置で広く用いられてい
る。第3図は、一般に用いられている螢光板モニ
タの断面図である。モニタは光を発する螢光板
1、それを支える支持台2、支持棒3、それ等を
駆動する移動機構4、大気中で観測するためのの
ぞき窓5で構成される。6はビームであり、その
光路を示す。
次に動作について説明する。螢光板1としては
一般にセラミツクが用いられる。高速粒子群即ち
ビームが螢光板1に当たると、当つた位置から光
が発生し、のぞき窓5で観測される。光の強度は
ビーム強度にほぼ比例するため、観測された光を
適当に処理すれば、ビーム断面の強度分布が分か
る。ビームのエネルギーが高い場合は、螢光板か
ら出る放射線が強いため、直接のぞき窓5で観測
することはできないが、その場合は、テレビカメ
ラを設置して遠隔でテレビを観測する。また、エ
ネルギーの高いビームの場合は、螢光板としてセ
ラミツクの代わりにアルミ板が使われることもあ
る。観測が終われば、ビーム通過の邪魔にならな
いように、移動機構4で螢光板1をビーム光路6
よりはずす。
一般にセラミツクが用いられる。高速粒子群即ち
ビームが螢光板1に当たると、当つた位置から光
が発生し、のぞき窓5で観測される。光の強度は
ビーム強度にほぼ比例するため、観測された光を
適当に処理すれば、ビーム断面の強度分布が分か
る。ビームのエネルギーが高い場合は、螢光板か
ら出る放射線が強いため、直接のぞき窓5で観測
することはできないが、その場合は、テレビカメ
ラを設置して遠隔でテレビを観測する。また、エ
ネルギーの高いビームの場合は、螢光板としてセ
ラミツクの代わりにアルミ板が使われることもあ
る。観測が終われば、ビーム通過の邪魔にならな
いように、移動機構4で螢光板1をビーム光路6
よりはずす。
従来の螢光板モニタは以上のように構成されて
いるので、ビーム強度の最も強い部分が真空チエ
ンバー中心に対してどの位置にあるか、ビーム断
面の径はいくらかなどの情報を得ようとする時、
螢光板1がアルミ板の場合は、アルミ板上を傷つ
け、目盛をうつことができるが、セラミツク等の
ような硬い物質ではそれができず、例えばペン等
で目盛を書くことも、真空度を悪くするため避け
られていたので、ビームの径、位置などの正確な
情報が得られないという問題点があつた。
いるので、ビーム強度の最も強い部分が真空チエ
ンバー中心に対してどの位置にあるか、ビーム断
面の径はいくらかなどの情報を得ようとする時、
螢光板1がアルミ板の場合は、アルミ板上を傷つ
け、目盛をうつことができるが、セラミツク等の
ような硬い物質ではそれができず、例えばペン等
で目盛を書くことも、真空度を悪くするため避け
られていたので、ビームの径、位置などの正確な
情報が得られないという問題点があつた。
また、セラミツクのような絶縁物の場合、ビー
ムがセラミツクを通過できない程低いエネルギー
の時は、セラミツク上に電荷が蓄積され、放電を
起こし、ビームの観測に障害を来たすという問題
点があつた。
ムがセラミツクを通過できない程低いエネルギー
の時は、セラミツク上に電荷が蓄積され、放電を
起こし、ビームの観測に障害を来たすという問題
点があつた。
この発明は上記のような問題点を解消するため
になされたもので、ビームの径を直接読み取るこ
とができると共に真空チエンバーの中心位置に対
するビームの位置も測定でき、さらに螢光板上で
の放電も防止することができる螢光板モニタを得
ることを目的とする。
になされたもので、ビームの径を直接読み取るこ
とができると共に真空チエンバーの中心位置に対
するビームの位置も測定でき、さらに螢光板上で
の放電も防止することができる螢光板モニタを得
ることを目的とする。
この発明に係る螢光板モニタは螢光板上に、導
電性の支持部材と電気的に接続した導電性スケー
ル部材を設置したものである。
電性の支持部材と電気的に接続した導電性スケー
ル部材を設置したものである。
この発明における導電性スケール部材は、ビー
ムが当つても螢光板とは違つた色の光を発する
か、数十MeM程度の低いエネルギー領域では光
を発しないで、螢光板上で目盛の役目をはたすこ
とができる。さらに、螢光板上に蓄積されようと
する電荷は導電性スケール部材より導電性支持部
材を通つてアースに流れるため、電荷の蓄積は生
じず、螢光板上での放電は起きない。
ムが当つても螢光板とは違つた色の光を発する
か、数十MeM程度の低いエネルギー領域では光
を発しないで、螢光板上で目盛の役目をはたすこ
とができる。さらに、螢光板上に蓄積されようと
する電荷は導電性スケール部材より導電性支持部
材を通つてアースに流れるため、電荷の蓄積は生
じず、螢光板上での放電は起きない。
以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第1図はこの発明の一実施例による螢光板モ
ニタを示す断面図である。図において、1はセラ
ミツク製螢光板、2,3は各々この螢光板1を支
持する導電性の支持台及び支持棒である。7は螢
光板1上に設置された導電性スケール部材で、導
電性の支持台2及び支持棒3と電気的に接続して
いる。スケール部材7としては例えば銅のスケー
ルメツシユを用いる。
る。第1図はこの発明の一実施例による螢光板モ
ニタを示す断面図である。図において、1はセラ
ミツク製螢光板、2,3は各々この螢光板1を支
持する導電性の支持台及び支持棒である。7は螢
光板1上に設置された導電性スケール部材で、導
電性の支持台2及び支持棒3と電気的に接続して
いる。スケール部材7としては例えば銅のスケー
ルメツシユを用いる。
第2図a,bは各々螢光板1と、それを支える
支持台2と、スケールメツシユ7の部分の拡大平
面図及び側面図を示し、螢光板1と、スケールメ
ツシユ7は、固定板8を使つて支持台2にネジ9
止めされる。支持台2と、真空チエンバー中心の
位置関係は正確に分るため、スケールメツシユ7
が容易に精度良く支持台2に取り付けられるよう
に、第2図に示すように支持台2には案内枠10
が取りつけられている。
支持台2と、スケールメツシユ7の部分の拡大平
面図及び側面図を示し、螢光板1と、スケールメ
ツシユ7は、固定板8を使つて支持台2にネジ9
止めされる。支持台2と、真空チエンバー中心の
位置関係は正確に分るため、スケールメツシユ7
が容易に精度良く支持台2に取り付けられるよう
に、第2図に示すように支持台2には案内枠10
が取りつけられている。
またスケールメツシユ7は電気的に支持台2及
び支持棒3を通して真空チエンバーにつながり、
アースに流れるように固定板8、ネジ9、案内枠
10、支持台2、支持棒等の支持部材は導電性の
ものが用いられている。
び支持棒3を通して真空チエンバーにつながり、
アースに流れるように固定板8、ネジ9、案内枠
10、支持台2、支持棒等の支持部材は導電性の
ものが用いられている。
次に動作について説明する。ビーム6がスケー
ルメツシユ7を通して螢光板1に当たると、螢光
板1の部分は光り、スケールメツシユ7の部分は
光らない。従つて、スケールメツシユの部分は黒
く見え、スケールメツシユの間隔が分つていれば
ビームの径、ビームの最も強い部分が、真空チエ
ンバーの中心からどのくらい離れているか知るこ
とができる。また、スケールメツシユが光るほど
エネルギーの高いビームでも、光の色が異なるた
め、先と同じ効果が期待できる。また、ビームが
螢光板を通過できない程エネルギーが低くても、
螢光板上に蓄積されるようとする電荷は、スケー
ルメツシユ7を通して真空チヤンバーに流れるた
め、蓄積されず、螢光板上での放電は起きない。
ルメツシユ7を通して螢光板1に当たると、螢光
板1の部分は光り、スケールメツシユ7の部分は
光らない。従つて、スケールメツシユの部分は黒
く見え、スケールメツシユの間隔が分つていれば
ビームの径、ビームの最も強い部分が、真空チエ
ンバーの中心からどのくらい離れているか知るこ
とができる。また、スケールメツシユが光るほど
エネルギーの高いビームでも、光の色が異なるた
め、先と同じ効果が期待できる。また、ビームが
螢光板を通過できない程エネルギーが低くても、
螢光板上に蓄積されるようとする電荷は、スケー
ルメツシユ7を通して真空チヤンバーに流れるた
め、蓄積されず、螢光板上での放電は起きない。
なお、上記実施例ではスケールメツシユ7とし
て銅を用いたが、他の金属でもよく、導電性を示
すものであればよい。また、スケールメツシユ7
を角型のものとしたが、スケールとして使用でき
るものであれば型は何でもよく、さらにメツシユ
の太さも等間隔で変えられれば読み取りが非常に
楽となる。
て銅を用いたが、他の金属でもよく、導電性を示
すものであればよい。また、スケールメツシユ7
を角型のものとしたが、スケールとして使用でき
るものであれば型は何でもよく、さらにメツシユ
の太さも等間隔で変えられれば読み取りが非常に
楽となる。
また、螢光板としてセラミツクを用いたが、こ
れも他の材料の螢光板であつてもよい。
れも他の材料の螢光板であつてもよい。
以上のように、この発明によれば、螢光板上に
導電性の支持部材と電気的に接続した導電性スケ
ール部材を設置して螢光板モニタを構成したの
で、ビームの径や位置を読みとることができ、さ
らに、螢光板上での放電も防ぐことができる効果
がある。
導電性の支持部材と電気的に接続した導電性スケ
ール部材を設置して螢光板モニタを構成したの
で、ビームの径や位置を読みとることができ、さ
らに、螢光板上での放電も防ぐことができる効果
がある。
第1図はこの発明の一実施例による螢光板モニ
タを示す断面図、第2図a,bは各々この発明の
一実施例による螢光板モニタの主要部を拡大して
示す平面図及び側面図、並びに第3図は従来の螢
光板モニタを示す断面図である。 1……螢光板、2……支持台、3……支持棒、
6……ビーム、7……スケール部材、8……固定
板、10……案内枠。なお、図中、同一符号は同
一又は相当部分を示す。
タを示す断面図、第2図a,bは各々この発明の
一実施例による螢光板モニタの主要部を拡大して
示す平面図及び側面図、並びに第3図は従来の螢
光板モニタを示す断面図である。 1……螢光板、2……支持台、3……支持棒、
6……ビーム、7……スケール部材、8……固定
板、10……案内枠。なお、図中、同一符号は同
一又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ビームの光路中に設置され、上記ビームの照
射により発光する螢光板、この螢光板上に設置さ
れた導電性スケール部材、並びに上記螢光板及び
上記スケール部材を支持し、上記スケール部材と
電気的に接続された導電性支持部材を備えた螢光
板モニタ。 2 螢光板はセラミツクよりなる特許請求の範囲
第1項記載の螢光板モニタ。 3 導電性スケール部材は金属メツシユである特
許請求の範囲第1項又は第2項記載の螢光板モニ
タ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62057177A JPS63222288A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | 螢光板モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62057177A JPS63222288A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | 螢光板モニタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63222288A JPS63222288A (ja) | 1988-09-16 |
JPH0523718B2 true JPH0523718B2 (ja) | 1993-04-05 |
Family
ID=13048244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62057177A Granted JPS63222288A (ja) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | 螢光板モニタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63222288A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2985175B2 (ja) * | 1988-10-17 | 1999-11-29 | ソニー株式会社 | イオンビーム装置 |
JP2857406B2 (ja) * | 1989-03-10 | 1999-02-17 | 住友重機械工業株式会社 | 荷電粒子ビームモニタ |
JP4984704B2 (ja) * | 2006-07-18 | 2012-07-25 | 富士通株式会社 | 荷電粒子の入射角モニタ素子 |
-
1987
- 1987-03-11 JP JP62057177A patent/JPS63222288A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63222288A (ja) | 1988-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1176383A (en) | X-ray intensifier detector system for x-ray electronic radiography | |
CA1114525A (en) | X-ray image intensifier tube | |
Piore et al. | A High Vacuum Recording Spectrograph for the Study of Radiation from Solids in the 100–800A Range | |
JPS5828706B2 (ja) | ストリ−クカメラ撮像管 | |
JPH0523718B2 (ja) | ||
CN108181783B (zh) | 一种x射线条纹相机光电阴极快速检测系统 | |
US4900930A (en) | Alpha-ray image detecting apparatus | |
US4992742A (en) | Charged-particle distribution measuring apparatus | |
Arora et al. | A simple high-resolution on-line x-ray imaging crystal spectrograph for laser–plasma interaction studies | |
JP2615396B2 (ja) | 荷電粒子の計数方法 | |
Lerche et al. | Resolution limitations and optimization of the LLNL streak camera focus | |
KR101267615B1 (ko) | 회절 격자 기반의 엑스레이 장치 | |
Black et al. | Imaging microwell detectors for x-ray and gamma-ray applications | |
RU2095883C1 (ru) | Газовый электролюминесцентный детектор | |
Böwering et al. | Spectral diagnosis of a laser-produced XUV source using a digital camera system with pinhole transmission grating | |
Welsch et al. | Design alternatives for beam halo monitors in high intensity accelerators | |
SU480140A1 (ru) | Устройство дл хронографировани | |
Scheidt | In‐Air X‐Ray Detectors: A New Field of Simple and Powerful Beam Diagnostics | |
Lehmann et al. | Systematic approach to measure the performance of microchannel-plate photomultipliers | |
Scheidt | detection of hard X-rays in air for precise monitoring of vertical position & emittance in the ESRF dipoles | |
Hornstra et al. | Nondestructive beam profile detection systems for the zero gradient synchrotron | |
Haouat et al. | Experimental study of the ELSA electron‐beam halo | |
JP2527735B2 (ja) | ストリ−ク装置 | |
Wahlig et al. | Cylindrical Spark Chamber | |
Braun et al. | Design alternatives for beam halo monitors in high intensity accelerators |