JPS6321875Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6321875Y2
JPS6321875Y2 JP1980067550U JP6755080U JPS6321875Y2 JP S6321875 Y2 JPS6321875 Y2 JP S6321875Y2 JP 1980067550 U JP1980067550 U JP 1980067550U JP 6755080 U JP6755080 U JP 6755080U JP S6321875 Y2 JPS6321875 Y2 JP S6321875Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
levers
test
valves
rectangular conductor
attached
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1980067550U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS56169338U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1980067550U priority Critical patent/JPS6321875Y2/ja
Publication of JPS56169338U publication Critical patent/JPS56169338U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6321875Y2 publication Critical patent/JPS6321875Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、真空しや断器用バルブの自動試験装
置に関するものである。
一般に、真空しや断器用バルブにおいては、そ
の両電極間に数万ボルトといつた高電圧を印加し
て、これら両電極に固着された接点間の耐圧性、
及び、気密性の試験を行うようにしているが、こ
のような試験が行われる従来の試験装置において
は、複数個の被試験バルブを円板状の回転テーブ
ルの上面にその回転軸と同心的に布設されかつ試
験用電源端子の一方に接続された円環状の平角導
体の上面に等間隔に配置し、それぞれの固定電極
をこの平角導体に接触させるとともに、回転テー
ブルを回転させることにより、複数個の被試験バ
ルブのうち任意のバルブの可動電極をこれらバル
ブの可動電極と軸方向に所定の距離を隔てて配設
され、かつ試験用電源端子のもう一方に接続され
た固定接点に対向させ、かつ回転テーブルを上昇
させることにより、前記バルブの可動電極をこの
固定接点に接触させて、このバルブの両電極間に
この固定接点と、前記平角導体を介して試験用電
源から所定の電圧が印加された状態で、試験を行
う。
所定の時間経過後、回転テーブルを下降させる
ことにより、前記可動電極を固定接点から離間さ
せて、回転テーブルを更に回転させることによ
り、このバルブと相隣るつぎの被試験バルブの可
動電極を前記固定接点に対向させ、引続きこの二
つ目のバルブの試験を行うようにしている。従来
の真空しや断器用バルブの試験装置においては、
このようにして回転テーブルの上面に配置された
複数個の被試験バルブに対し、順次、試験が行わ
れるが、回転テーブルの上面に配置された被試験
バルブの可動電極を試験用電源端子に接続された
固定接点に確実に対向させるためには、回転テー
ブルに対し正確な位置決め機構と、確実な回転テ
ーブルの上下運動機構が必要であり、更に回転テ
ーブルをこのように自動制御するためには、高度
な電子回路を必要とし、装置が複雑かつ高価にな
るといつた欠点を免れなかつた。そのことは特
に、両電極間に数万ボルトといつた高電圧を印加
した場合、相隣るバルブとの間の放電を避けるた
めには、各バルブの間隔を大きくとる必要があ
り、そのため回転テーブルが大きくなり、その質
量が増大することにより更に顕著になる。
本考案は、従来の真空しや断器用バルブの自動
試験装置にみられるこのような欠点を除くために
なされたもので、きわめて簡単な構造で、しかも
連続的に試験を行うことができる真空しや断器用
バルブの自動試験装置を提供するものである。
以下、図面に基づき本考案の詳細を説明する。
第1図は本考案の一実施例を示す平面図、第2
図は第1図のA−A線に沿つた側断面図である。
図において、1は試験の際被試験バルブの両電
極間に印加される高電圧に伴う危険が人体に及ぶ
のを防ぐためのケース、2はこのケース1の1側
壁に沿つてその底面に直線的に布設されるととも
に試験用電源端子((図示せず)の一方に接続さ
れた帯状の平角導体、3はこの平角導体2の上面
に互いに所定の距離を隔てて直線的に配列取着さ
れた固定部材となる複数個の保持環、4はこれら
保持環3に嵌合保持されるとともにそれぞれの固
定電極(図示せず)が平角導体2に接触する複数
個の被試験バルブ、5はケース1の底面に各被試
験バルブ4にそれぞれ対向してこれら被試験バル
ブ4の列と平行に配列取着された複数個のブラケ
ツト、6は後端部分がピン7によりこれらブラケ
ツト5にそれぞれ回動自在に枢着されるとともに
先端部分が各被試験バルブ4の可動電極4aにそ
れぞれ対向するごとく延伸する絶縁材料からなる
上下方向に揺動可能な複数個のレバー、8はこれ
ら揺動レバー6の先端部分に各被試験バルブ4の
可動電極4aに対向するごとくそれぞれ取着され
た複数個の接点、9は一端がこれら接点8にそれ
ぞれ接続されるとともに各揺動レバー6に沿つて
張設されかつ他端が共通導体10を介して試験用
電源端子のもう一方に接続された複数個の導体、
11はケース1の底面に各揺動レバー6にそれぞ
れ対向して上向きに配列取着されるとともにそれ
ぞれのプランジヤ11aの先端がリンク12を介
して各揺動レバー6にそれぞれ連結された複数個
のソレノイドである。
本考案は、このように構成されており、各被試
験バルブ4は試験用電源端子に対し並列に接続さ
れることになる。このようなものにおいて、試験
を行う際は、各ソレノイド11を無励磁状態に保
つたまま、固定部材である各保持環3に複数個の
被試験バルブ4を嵌合するとともに、それぞれの
固定電極を平角導体2に接触させる。この時点で
は各ソレノイド11は無励磁状態に保たれてお
り、それぞれのプランジヤ11aが上限位置にあ
るので、これらプランジヤ11aが連結されてい
る各揺動レバー6は、第2図に実線で示すよう
に、ピン7を支点として、上方向いつぱいまで揺
動し、それぞれの先端部分に取着された接点8と
各被試験バルブ4の可動電極4aは所定の間隔に
保たれる。このような状態の下で、試験用電源端
子に所定の電圧を印加するとともに、ソレノイド
11を励磁すると、この励磁されたソレノイド1
1のプランジヤ11aが吸引されて下降するの
で、このプランジヤ11aが連結されている揺動
レバー6が、第2図に鎖線で示すように、ピン7
を支点として下方に揺動し、その先端部分に取着
された接点8が被試験バルブ4の可動電極4aに
接触することにより、この被試験バルブ4の両電
極間に所定の電圧が印加される。そして所定の時
間経過後、ソレノイド11の励磁を解くことによ
り、プランジヤ11aがこのソレノイド11に設
けられた圧縮ばね(図示せず)などの作用により
上昇し、揺動レバー6が元の位置に復帰するの
で、揺動レバー6の先端部分に取着された接点8
と被試験バルブ4の可動電極4aは再び所定の間
隔に保たれる。したがつて複数個の被試験バルブ
4に対し、試験時間、試験順序を定め、このあら
かじめ定められたプログラムに従つて、各ソレノ
イド11を制御して、これら被試験バルブ4を、
順次繰返し試験することにより、自動的に耐圧
性、気密性の試験が行われる。
本考案における複数個の被試験バルブの配列間
隔は、これらバルブの両電極間に印加される最大
試験電圧とこれらバルブの最大径により定まる。
したがつて保持環3に関しては、被試験バルブの
最大径に適合する1種類の保持環を用い、これら
保持環を平角導体の上面に接着剤などにより強固
に固着し、径の小さなバルブの試験を行う際は、
これら保持環に適合するスリーブを準備し、これ
らスリーブをバルブの外周に嵌め込み、これらス
リーブを介してバルブを保持するようにしてもよ
いし、あるいは試験が行われるべきバルブの径に
応じて、複数種類の保持環を準備し、これら保持
環を平角導体の上面にボルトなどの適宜な手段に
より着脱自在に取着するようにしてもよい。ま
た、これら保持環は、高電圧の印加に伴うアーク
の発生を防止するため、絶縁材料から作られるの
が好ましい。更にブラケツト5に関しては試験が
行われるできバルブの高さに応じて、複数種類の
ブラケツトを準備し、これらブラケツトをケース
の底面にボルトなど適宜な手段により着脱自在に
取着するようにしてもよい。あるいは被試験バル
ブの最大高さに適合する1種類のブラケツトを用
い、このブラケツトに、試験が行われるべきバル
ブの高さに応じて、ピン7が挿通される複数個の
穴を設けてもよい。このように構成することによ
り、1台の装置で、各種サイズのバルブに対し試
験を行うことができる。
本考案は、前記のように構成することにより、
従来の真空しや断器用バルブの自動試験装置に比
べて、装置がきわめて簡単かつ安価になり、しか
も動作が確実であるといつた大きな実用上の効果
を備えたものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す真空しや断器
用バルブの自動試験装置の要部平面図、第2図は
第1図のA−A線に沿つた側断面図である。 1……ケース、2……平角導体、3……保持
環、4……バルブ、5……ブラケツト、6……レ
バー、7……ピン、8……接点、9……導体、1
0……共通導体、11……ソレノイド、12……
リンク、4a……可動電極、11a……プランジ
ヤ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 装置の基板の上面に直線的に布設されるととも
    に試験用電源端子の一方に接続された帯状の平角
    導体と、この平角導体の上面に互いに所定の距離
    を隔てて直線的に配列取着されるとともに被試験
    バルブをその固定電極がこの平角導体に接触する
    ごとく垂直に保持する複数個の保持具と、後端部
    分が前記基板の上面にこれら複数個の保持具にそ
    れぞれ対向してこれら複数個の保持具の列と平行
    に配列取着された複数個の固定部材にそれぞれ回
    動自在に枢着されるとともに先端部分が前記保持
    具により保持される複数個の被試験バルブの可動
    電極にそれぞれ対向するごとく延伸する絶縁材料
    からなる上下方向に揺動可能な複数個のレバー
    と、これらレバーの先端部分に取着されこれらレ
    バーが下方に揺動したとき前記複数個の試験バル
    ブの可動電極にそれぞれ接触する複数個の接点
    と、一端がこれら接点にそれぞれ接続されるとと
    もに他端が共通導体を介して試験用電源端子のも
    う一方に接続された複数個の導体と、前記基板の
    上面に前記複数個のレバーにそれぞれ対向して配
    列取着されるとともにそれぞれのプランジヤの先
    端がこれら複数個のレバーにそれぞれ連絡された
    複数個のソレノイドとから構成されたことを特徴
    とする真空しや断器用バルブの自動試験装置。
JP1980067550U 1980-05-19 1980-05-19 Expired JPS6321875Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980067550U JPS6321875Y2 (ja) 1980-05-19 1980-05-19

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980067550U JPS6321875Y2 (ja) 1980-05-19 1980-05-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS56169338U JPS56169338U (ja) 1981-12-15
JPS6321875Y2 true JPS6321875Y2 (ja) 1988-06-16

Family

ID=29661550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1980067550U Expired JPS6321875Y2 (ja) 1980-05-19 1980-05-19

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6321875Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6333130B2 (ja) * 2014-09-05 2018-05-30 昭和電線ケーブルシステム株式会社 電気試験装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5110668U (ja) * 1974-07-11 1976-01-26

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5110668U (ja) * 1974-07-11 1976-01-26

Also Published As

Publication number Publication date
JPS56169338U (ja) 1981-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4997117B2 (ja) 集積回路の検査及びバーンインのためのシステム
US3599093A (en) Apparatus including a wire tipped probe for testing semiconductor wafers
JPS6321875Y2 (ja)
US4012094A (en) Electron tube socket having spring-wire contacts
CN111537877B (zh) 一种柱上开关控制终端试验装置
JPH022969A (ja) 配線板の電気的機能試験装置の制御装置
US5358421A (en) Zero-insertion-force socket for gull wing electronic devices
KR100469547B1 (ko) 평면패널디스플레이용도체어레이
JPH09236634A (ja) ハンドラのロータリアーム・デバイスチャック部の構造
KR100276101B1 (ko) 웨이퍼 검사기의 포고 핀과 블록의 결합구조
JPH08292228A (ja) Icデバイスの試験装置
US2621226A (en) Socket for lighthouse tubes
US1645904A (en) Electron-discharge device
US2244404A (en) Apparatus for testing spark plugs
US3026390A (en) Relay construction
US2413410A (en) Contact fixture
US3416225A (en) Method of assembling a relay
CN218630069U (zh) 器件寿命试验测试装置
US4329648A (en) Method of checking for electrical frit breakdown in kinescopes and apparatus therefor
US2836879A (en) Jig fixture
WO2018151645A1 (en) A chip testing method and an apparatus for testing of a plurality of field emission light sources
US1969525A (en) Machine for working glass
JPH09236635A (ja) ハンドラのロータリアーム・デバイスチャック部
US1657235A (en) Contact device
SU1487112A1 (ru) Устройство для контроля электропараметров приборов