JPS63217597A - Storage device - Google Patents

Storage device

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Publication number
JPS63217597A
JPS63217597A JP62051671A JP5167187A JPS63217597A JP S63217597 A JPS63217597 A JP S63217597A JP 62051671 A JP62051671 A JP 62051671A JP 5167187 A JP5167187 A JP 5167187A JP S63217597 A JPS63217597 A JP S63217597A
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JP
Japan
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data
circuit
address
internal
word line
Prior art date
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Pending
Application number
JP62051671A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shintaro Shibata
信太郎 柴田
Masatoshi Horiguchi
真寿 堀口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP62051671A priority Critical patent/JPS63217597A/en
Publication of JPS63217597A publication Critical patent/JPS63217597A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To speedily read bit length data equivalent to one word straddling plural memory cell groups in which internal addresses differ by providing an internal address/control code generation circuit generating the internal addresses and control codes from external addresses. CONSTITUTION:The internal address/control code generation circuit generates the control codes with internal X and Y address data in accordance with external input address data. Internal X and Y address data are switched/detached to and from word line selection circuits 13 of submemory cell allays 11 in which corresponding internal address are different and the multiplexer control circuit 16 by the control code to supply them to control circuits 19. Thus, data of bit length equivalent to one word straddling plural arrays 11 in which internal addresses are different can be read without troubling a computer or the like and without increasing the charge.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、少なくとも1ワ一ド分のデータを記憶するメ
モリセルを一グループとして内部アドレスが付与される
記憶装置において、内部アドレスが異なる複数のメモリ
セルグループに跨がり1ワード相当のビット長を有する
データを、外部入力したアドレスデータに基づいて、自
由に読み出すまたは書き込むことが可能な記憶装置に関
するものである。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory device in which an internal address is assigned to a group of memory cells that store at least one word of data. The present invention relates to a memory device in which data having a bit length equivalent to one word across memory cell groups can be freely read or written based on externally input address data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の記憶装置の基本構成を第4図に示す。 FIG. 4 shows the basic configuration of a conventional storage device.

WDC=):Ct=1.・・・・・・、 M)はワード
線BLci) ; <j=’。
WDC=):Ct=1. ..., M) is the word line BLci); <j='.

・・・・・・、 kN)はビット線であり、その交点毎
に少なくとも1ビットの情報を記憶しうるメモリセル4
5が1個接続される。ワード線は、メモリセルに対する
データ読み書きの許可または禁止を制御する信号を伝送
する線路であシ、ビット線はメモリセルからの読出しま
たは書込みデータを伝送する線路である。また、データ
バスは、メモリセルからの抗出しまたは書込みデータを
記憶装置の出力ま泌咲力端子まで伝送する線路であう、
自己憶装置内で共通化される。1ワードかにビットから
構成される装置 必要である。ワード線選択回路40は、少なくとも1o
gtMビットのXアドレスデータを入力し、これをデコ
ードしてM本のワード線の中から1本を選択する選択信
号を出力する回路であり、ワード線駆動回路41はワー
ド線選択回路40から出力される選択信号に基づいてワ
ード線の状態をワード線に接続されたメモリセルに対し
てデータの入出力を行なえる活性状態と反対の非活性状
態とに切換え制御する回路である。マルチプレクサ42
は、活性状態となっているワード線上に配置されている
メモリセルをデータバスに接続するまたは切り離す操作
を行う回路である。マルチプレクサ制御回路45は、少
なくとも16g.NビットのYアドレスデータを入力し
、ビット線毎に配置されたマルチプレクサ42に対して
、その状態を接続状態または切離し状態に切換え制御す
る信号を出力する回路でちゃ、同一データバスに同時に
2個以上のメモリセルが接続されることがないように制
御が行われる。第4図は、入力されたXアドレスデータ
に基づいてWD(5)のワード線が選択され、活性状態
となり、さらに入力されたYアドレスデータに基づいて
活性状態となっているワード線上に配置されたメモリセ
ルアレイ44のメモリセルの中から○印で示すk jB
のメモリセルがマルチブレクf42によって選択され、
データバスに接続された状態を示している。なお、上記
回路の他に記憶装置には、入出力バッファ、アドレスバ
ッファ、メモリセル出力信号の増幅を行うセンス回路、
基準電圧発生回路、読出しまたは書込み制御回路等の周
辺回路が搭載されるが第4図では省略した。
. . ., kN) are bit lines, and each intersection thereof has a memory cell 4 that can store at least one bit of information.
5 is connected. A word line is a line that transmits a signal that controls permission or prohibition of reading and writing data to a memory cell, and a bit line is a line that transmits read or write data from a memory cell. In addition, the data bus is a line that transmits output or write data from memory cells to output or output terminals of the storage device.
It is shared within the self-storage device. A device consisting of one word or bits is required. The word line selection circuit 40 has at least 1o
This circuit inputs gtM-bit X address data, decodes it, and outputs a selection signal for selecting one of M word lines.The word line drive circuit 41 outputs a selection signal from the word line selection circuit 40. This circuit controls the state of the word line to be switched between an active state in which data can be input/output to and from a memory cell connected to the word line and an inactive state opposite to the active state based on a selection signal generated by the word line. multiplexer 42
is a circuit that connects or disconnects memory cells arranged on active word lines from a data bus. The multiplexer control circuit 45 has at least 16 g. A circuit that inputs N-bit Y address data and outputs a signal to control the multiplexer 42 arranged for each bit line by switching its state to a connected state or a disconnected state, two pieces can be connected to the same data bus at the same time. Control is performed so that more memory cells are not connected. FIG. 4 shows that the word line of WD (5) is selected and activated based on the input X address data, and the word line of WD (5) is selected and activated based on the input Y address data. k jB indicated by a circle from among the memory cells of the memory cell array 44
memory cells are selected by multi-break f42,
Shows that it is connected to the data bus. In addition to the above circuit, the memory device includes an input/output buffer, an address buffer, a sense circuit that amplifies the memory cell output signal,
Peripheral circuits such as a reference voltage generation circuit and a read/write control circuit are mounted, but are omitted in FIG.

次に、1ワードかにビットから構成された従来の記憶装
置を仮定し、外部から指定するアドレスと内部アドレス
との対応関係を第3図に示す。ここて、AI)RINC
z 、 y) 、 1LDRINcz + 1 、 y
ハADRIN (z+2.y)、・・・・・・は連続す
る内部アドレスを示しており、内部アドレスは1ワード
データを記憶するに個のメモリセルを1グループとして
付与される。
Next, assuming a conventional storage device consisting of one word or one bit, FIG. 3 shows the correspondence between externally designated addresses and internal addresses. Here, AI) RINC
z, y), 1LDRINcz + 1, y
ADRIN (z+2.y), . . . indicate consecutive internal addresses, and the internal addresses are assigned as one group of memory cells to store one word of data.

さて、従来の記憶装置は、この内部アドレスを外部から
直接指定し、ワード線選択回路、ワード線駆動回路、マ
ルチプレクサ制御回路、マルチプレクサ等の周辺回路を
動作させて、1ワードデータを記憶するメモリセルグル
ープを1組選択し、データ読出しまたは書込みを行うも
のであった。したがって、メモリアレイ構成上の制約か
ら、第3図中斜線で示すように、内部アドレスが異なる
メモリセルグループに跨がり1ワード相当のビット長を
有するデータを記憶装置から絖み出すまたは書き込むこ
とは不可能であった。
Now, in a conventional memory device, this internal address is directly specified from the outside, and peripheral circuits such as a word line selection circuit, a word line drive circuit, a multiplexer control circuit, and a multiplexer are operated to store one word of data in a memory cell. One group was selected and data was read or written. Therefore, due to constraints on the memory array configuration, as shown by diagonal lines in FIG. 3, it is not possible to read or write data with a bit length equivalent to one word across memory cell groups with different internal addresses from the storage device. It was impossible.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の記憶装置を用いてシステムを構成する上で、以下
に述べるような不都合を生じていた。
When configuring a system using conventional storage devices, the following inconveniences have occurred.

電子計算機システム等記憶装置を有するシステムでは、
2組の一連のデータを連結して1組のデータとするよう
な基本操作を必要とすることが多い。一方%記憶装置は
一連のデータをそれぞれワード単位のデータに分割して
蓄える。したがって、一連のデータをワード単位のデー
タに余ルなく分割できる場合は別として、一連のデータ
の終端部が記憶されるワードの終りには、データが記憶
されない空ビットが生ずる。一連のデータを連結する場
合、この空ビットを後続データの先頭部分のデータで埋
める操作、およびこの操作で残った後続f−夕を新たに
ワード単位に分割して再書込みする操作が必要である。
In systems with storage devices such as computer systems,
Basic operations such as concatenating two sets of data into one set of data are often required. On the other hand, a % storage device divides a series of data into word-based data and stores them. Therefore, unless a series of data can be completely divided into word units of data, an empty bit in which no data is stored occurs at the end of a word where the end of a series of data is stored. When concatenating a series of data, it is necessary to fill these empty bits with the data from the beginning of the subsequent data, and to divide the remaining data into new words and rewrite them. .

従来、上記の操作は順次1ワードずつ記憶装置から読み
出し、演算装置上で連結またはシフト演算等を行って目
的とする1ワードデータを作成し、再び記憶装置に曹き
込む手続きを踏んでいた。したがって、一連のデータを
連結する時に、処理時間が犬であり、1ワードの再書込
みデータを作製する度に計算機を構成する資源の中で最
も使用頻度の高い演算装置を占有する等の問題があった
Conventionally, the above-mentioned operation has been performed by sequentially reading one word from the storage device, performing a concatenation or shift operation on the arithmetic unit to create the desired one-word data, and then reading the data into the storage device again. Therefore, when concatenating a series of data, there are problems such as the processing time is long and each time one word of rewritten data is created, it occupies the most frequently used arithmetic unit among the resources that make up the computer. there were.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は従来の問題点を解決し、少なくとも1ワ一ド分
のデータを記憶するメモリセルを−グループとして内部
アドレスが付与される記憶装置iにお−て、内部アドレ
スが異なる複数のメモリセルグループに跨が91ワード
相当のビット長を有するデータを、記憶装置の内部構成
に直結し九内部アドレスを意識することなく、外部よシ
アドレスを指定して自由に読出しまた拡書込み可能な記
憶装置を提供するものである。
The present invention solves the conventional problems, and in a memory device i in which internal addresses are assigned as a group of memory cells that store at least one word of data, a plurality of memory cells with different internal addresses A storage device that directly connects data with a bit length equivalent to 91 words across groups to the internal structure of the storage device, and can freely read and write data by specifying an external address without being aware of the internal address. It provides:

本発明は、(1)少なくとも1ワ一ド分のデータを記憶
するメモリセルを−グループとして内部アドレスが付与
されたメモリアレイを複数のサブメモリアレイに分割構
成すること、(2)内部XおよびYアドレスデータ、サ
ブデータバスとメインデータバスの接続関係を規定する
第1の制御コードからなるデータの組、tkは内部Xお
よびYアドレスデータ、選択状態にるるワード線上に配
置されたメモリセルとサブデータバスとの接続関係を規
定する第2の制御コードからなるデータの組を外部入力
したアドレスデータから生成し、データ読出しマ九は書
込み対象のメモリセルが属するサブメモリアレイ毎に出
力する内部アドレス/制御コード発生回路を搭載するこ
と、(3)■サブメモリアレィ間で共通化されたメイン
データバスとサブメモリアレイ内データバスとの接続・
関係を切換えるまたは切離す操作を行う切換え/切離し
回路、およびその制御11号を人力し次第1の制御コー
ドから生成し切換え/切離し回路に出力する切換え/切
離し制御回路を各サブメモリアレイ毎に設置すること、
■i九は、選択状態にあるワード線上に配置されたメモ
リセルとメインビット線に直結されたサブビット線との
接続関係を切換えるまたは切離す手段を有するマルチプ
レクサ、およびその制御信号を内部Yアドレスと第2の
制御コードから生成するマルチプレクサ制御回路を用−
ること、全主要な特徴とする。
The present invention comprises (1) configuring a memory array in which internal addresses are assigned as groups of memory cells that store at least one word of data; (2) internal X and A data set consisting of Y address data, a first control code that defines the connection relationship between the sub data bus and the main data bus, tk is internal X and Y address data, and a memory cell arranged on a word line in a selected state. A data set consisting of a second control code that defines the connection relationship with the sub-data bus is generated from externally input address data, and the data readout function is an internal control code that is output for each sub-memory array to which the memory cell to be written belongs. Equipped with an address/control code generation circuit; (3) ■ Connection between the main data bus shared between sub-memory arrays and the data bus within the sub-memory array;
A switching/disconnecting circuit that switches or disconnects the relationship, and a switching/disconnecting control circuit that generates control code No. 1 from the control code No. 1 and outputs it to the switching/disconnecting circuit as soon as its control No. 11 is manually installed are installed for each sub-memory array. to do,
■i9 is a multiplexer having means for switching or disconnecting the connection between the memory cell arranged on the word line in the selected state and the sub-bit line directly connected to the main bit line, and its control signal as an internal Y address. Using the multiplexer control circuit generated from the second control code -
That is, all the main features.

〔作用〕[Effect]

本発明の記憶装置は、内部アドレスを直接外部から指定
する為にデータ読出しまたは畳込み対象となるメモリセ
ルは同一内部アドレスを有する1グループのメモリセル
に限られると−う従来のデータ読出しまたは畳込み時の
制約を除去しており、外部入力し次アドレスに応じて関
連内部アドレスおよび制御コードを複数組内部発生する
回路全搭載し九ことに=9、内部アドレスが異なる複数
のメモリセルグループに跨が91ワード相当のビット長
を有するデータを、内部アドレスの違いを意識すること
なく、自由に読出しまたは査込み可能である。以下図面
にもとづき実施例について説明する。
The memory device of the present invention is different from the conventional data read or fold method, in which the internal address is directly specified from the outside, so that the memory cells to be read or folded are limited to one group of memory cells having the same internal address. This eliminates restrictions when writing data, and it is fully equipped with a circuit that internally generates multiple sets of related internal addresses and control codes according to external input and the next address. Data having a bit length equivalent to 91 words can be freely read or read without being aware of differences in internal addresses. Examples will be described below based on the drawings.

〔実施例〕 第1図は、本発明の第1の実施例の構成概要を示す図で
ある。本実施例は、P個のサブメモリアレイ10に分m
s成されたメモリアレイと内部アドレス/制御コード発
生回路12およびメインデータバスから構成される装置 のサブメモリアレイ10はサブメモリセルアレイ11、
ワード線選択回路15、ワード線駆動回路14、マルチ
プレクサ15、マルチプレクサ制御回路16、サブデー
タバス17、切換え/切離し回路18、切換え/切離し
制御回路19から構成される。なお、上記回路の他に記
憶装置には、メモリセルからの出力信号の増幅を行うセ
ンス回路、基準電圧発生回路、読出しtたは畳込み制御
回路、アドレスバッフ1、入出力パラフッ等の周辺回路
が搭載されるが第1図では省略し友。
[Embodiment] FIG. 1 is a diagram showing an outline of the configuration of a first embodiment of the present invention. In this embodiment, P sub-memory arrays 10 are divided into m
The sub-memory array 10 of the device is composed of a memory array, an internal address/control code generation circuit 12, and a main data bus, which includes a sub-memory cell array 11,
It is composed of a word line selection circuit 15, a word line drive circuit 14, a multiplexer 15, a multiplexer control circuit 16, a sub data bus 17, a switching/disconnection circuit 18, and a switching/disconnection control circuit 19. In addition to the above circuits, the memory device includes peripheral circuits such as a sense circuit that amplifies the output signal from the memory cell, a reference voltage generation circuit, a readout or convolution control circuit, an address buffer 1, and an input/output parallel buffer. is installed, but it is omitted in Figure 1.

まず、内部アドレス/制御コード発生回路12は、外部
入力されたアドレスデータから、内部Xアドレスデータ
、内部Yアドレスデータそしてサプデーpパスとメイン
データバスの接続関係を規定する第1の制御コードから
なるデータの組を生成し、各サブメモリアレイ10に出
力する回路で6る。以下、説明の都合上第1の実施例に
おける第1の制御コードのことを単に制御コードと呼ぶ
First, the internal address/control code generation circuit 12 generates, from externally input address data, internal X address data, internal Y address data, and a first control code that defines the connection relationship between the sub-p path and the main data bus. A circuit 6 generates a set of data and outputs it to each sub-memory array 10. Hereinafter, for convenience of explanation, the first control code in the first embodiment will be simply referred to as a control code.

内部アドレス/制御コード発生回路12の構成法は.自
由度が大きく外部入力するアドレスの付与法と密接に関
係していることから、主記憶装置への適用例、画像分野
への適用例を用いたアドレス付与法の説明と共に後述す
る。
The method for configuring the internal address/control code generation circuit 12 is as follows. Since this method has a large degree of freedom and is closely related to the method of assigning addresses input externally, the method of assigning addresses will be described later along with an explanation of the method of assigning addresses using an example of application to a main storage device and an example of application to the image field.

また、メインデータバスは、メインデータバス上の絖み
出しt次は腎込みデータを牛ヰ捧記憶装置の出力ま次入
力端子まで伝送する線路であり、サプメ七すアレイ間で
共通化される。
In addition, the main data bus is a line that transmits the data on the main data bus from the output to the next input terminal of the storage device, and is shared between the seven arrays. .

次に1サブメモリアレイ1ロを構成する各回路について
以下に説明する。WD (i) ; (4=1,・・・
・・・、M)はワード線、EL(j):(j=1.・・
・・・・、kN)はビット線でラフ、その交点毎に少な
くとも1ビットの情報を記憶しつるメモリセルが1個接
続される。ワード線は、メモリセルに対するデータ読み
誓きの許可または禁止を制御する信号を伝送する線路で
おり、ビット線はメモリセルからの絖出しま友は書込み
データを伝送する線路である。また、サブデータバス1
7は、メモリセルからの読出しまたは畳込みデータを切
換え〆切離し回路18の大刀端子まで伝送する線路であ
り、サブメモリアレイ1。
Next, each circuit constituting one sub-memory array 1ro will be explained below. WD (i); (4=1,...
..., M) is a word line, EL(j): (j=1...
..., kN) are rough bit lines, and one memory cell that stores at least one bit of information is connected to each intersection thereof. The word line is a line that transmits a signal that controls permission or prohibition of data reading from the memory cell, and the bit line is a line that transmits write data from the memory cell. Also, sub data bus 1
Reference numeral 7 denotes a line for transmitting read or convolution data from the memory cells to the long terminal of the switching/disconnecting circuit 18, which is the sub-memory array 1.

内で共通化される。1ワードがにビットから構成される
記憶装置の場合、少なくともに本のデータバスが必要で
ある。切換え/切離し回路18はサブメモリアレイ10
内データバスとメインデータバスとの接続関係を切換え
るまたは切離す回路でめり、切換え/切離し制御回路1
9は内部アドレス/制御コード発生回路12から出力さ
れる制御コードに基づいて制御信号を生成し切換え/切
離し回路18に出力する回路である。ワード線選択回路
13は、少なくともl092Mビットの内部Xアドレス
データを入力し、これをデコードしてM本のワード線の
中から1本を選択する選択信号を出力する回路であり、
ワード線駆動回路14はワード線選択回路15から出力
される選択信号に基づしてワード線の状態をワード線に
接続されたメモリセルに対してデータの入出力を行なえ
る活性状態と反対の非活性状態とに切換え制御する回路
である。マルチプレクサ15は、活性状態となってiる
ワード線上に配置されているメモリセルをサブデータバ
ス17に接続するまたは切シ離す操作を行つ回路でめる
。マルチプレクサ制御回路16は、少なくとも1of2
Nビットの内部Yアドレスデータを入力し、ビット線毎
に配置され次マルチグレクサの状態を接続状態または切
離し状態に切換え制御する信号を出力する回路でるり、
同一サブデータバス17に同時に2個以上のメモリセル
が接続されることがない工うに制御が行われる。
It is shared within. In the case of a storage device in which one word consists of bits, at least one data bus is required. The switching/disconnection circuit 18 is connected to the sub-memory array 10
Switching/disconnection control circuit 1 is a circuit that switches or disconnects the connection between the internal data bus and the main data bus.
A circuit 9 generates a control signal based on the control code output from the internal address/control code generation circuit 12 and outputs it to the switching/disconnection circuit 18. The word line selection circuit 13 is a circuit that inputs at least 1092M bits of internal X address data, decodes it, and outputs a selection signal for selecting one of M word lines,
The word line drive circuit 14 changes the state of the word line based on the selection signal output from the word line selection circuit 15 to an active state opposite to the active state in which data can be input/output to the memory cells connected to the word line. This is a circuit that controls switching to an inactive state. The multiplexer 15 includes a circuit that connects or disconnects the memory cells arranged on the i word line when activated to the sub data bus 17. The multiplexer control circuit 16 has at least 1 of 2
A circuit that inputs N-bit internal Y address data and outputs a signal arranged for each bit line to switch and control the state of the next multiplexer to a connected state or a disconnected state.
Control is performed to prevent two or more memory cells from being connected to the same sub-data bus 17 at the same time.

以下に異なる内部アドレスを有する複数のメモリセルグ
ループに跨が91ワード相当のビット長を有するデータ
を読出す場合について、本実施例の記憶装置の動作説明
を行う。
The operation of the memory device of this embodiment will be described below in the case where data having a bit length equivalent to 91 words is read across a plurality of memory cell groups having different internal addresses.

まず、内部アドレス/制御コード発生回路12は、外部
入力されたアドレスデータから、読出し対象データが記
憶されたメモリセルグループの内部アドレスおよびサブ
データバスとメインデータバスの接続関係を規定する制
御コードを算出し、これらデータの組みを読出し対象の
メモリセルが属するサブメモリアレイ10毎に出力する
。次に各サブメモリアレイ10内において、ワード線選
択回路13は入力された内部Xアドレスデータをデコー
ドし、複数本のワード線の中から1本だけを選択する選
択信号としてワード線駆動回路14に出力する。ワード
線駆動回路14は、選択信号に基づいて、ワード線の状
態をメモリセルに対する読出しteは書込み禁止状態か
ら許可状態に切換える。いりぼつ、マルチプレクサ制御
回路16は入力された内部Yアドレスデータに基づいて
、マルチプレクサ制御信号を発生し、これをマルチプレ
クサ15に出力する。
First, the internal address/control code generation circuit 12 generates, from externally input address data, an internal address of the memory cell group in which the data to be read is stored and a control code that defines the connection relationship between the sub data bus and the main data bus. These data sets are output for each sub-memory array 10 to which the memory cell to be read belongs. Next, in each sub-memory array 10, the word line selection circuit 13 decodes the input internal X address data and sends it to the word line drive circuit 14 as a selection signal for selecting only one of the plurality of word lines. Output. The word line drive circuit 14 switches the state of the word line from a write inhibited state to a write enabled state when reading te to a memory cell. Specifically, the multiplexer control circuit 16 generates a multiplexer control signal based on the input internal Y address data and outputs it to the multiplexer 15.

マルチプレクサ15は、その制御信号を受けて読出しま
友は書込み許可状態にあるワード線上のメモリセルをサ
ブデータバス17に接続する。この時、サブデータバス
17に接続されるメモリセルの数は、1ワードデータに
相当するメモリセル数を越えない。切換え/切離し制御
回路19は入力された制御コードから制御信号を生成し
、切換え/切離し回路18に出力する。切換え/切離し
回路18は、その制御信号に基づいて、サブメモリアレ
イ10内データバスとメインデータバスの接続関係を切
り換える若しくは切り離す操作を行う。これら一連の動
作によシ、各サブメモリアレイ10において同一内部ア
ドレスを有するメモリセルグループの中から特定のメモ
リセルが選択され、メインデータノ(スに電気的に接続
される。選択された谷メモリセルからの出力データは、
外部出力並びの順にメインデータバス上に集合して絖出
し対象の1ワードデータとなり、記憶装置外部に出力さ
れるのでめる。第1図は、サブメモリアレイ10す1、
ナ2、・・・・・・、すPからそれぞれ2個、合計に個
のメモリセルが選択されてメインデータバスに接続され
ている状態を示している。なお、特殊な場合として、読
出し対象データが全て同一内部アドレスを有するメモリ
セルグループに記憶されている場合も同様でメジ、この
場合は一個のサブメモリアレイ10だけを用いて読出し
動作を行うことになる。
In response to the control signal, the multiplexer 15 connects the memory cell on the word line in the read/write enabled state to the sub data bus 17. At this time, the number of memory cells connected to the sub data bus 17 does not exceed the number of memory cells corresponding to one word of data. The switching/disconnecting control circuit 19 generates a control signal from the input control code and outputs it to the switching/disconnecting circuit 18 . The switching/disconnecting circuit 18 performs an operation of switching or disconnecting the connection relationship between the data bus in the sub-memory array 10 and the main data bus based on the control signal. Through these series of operations, a specific memory cell is selected from among the memory cell groups having the same internal address in each sub-memory array 10 and electrically connected to the main data node. The output data from the memory cell is
The data is collected on the main data bus in the order of the external output arrangement, becomes one word data to be set out, and is output to the outside of the storage device. FIG. 1 shows sub-memory array 10s1,
The figure shows a state in which two memory cells each from Na2, . . . , SuP are selected and connected to the main data bus. Note that, as a special case, the same applies when all the data to be read is stored in a memory cell group having the same internal address; in this case, the read operation is performed using only one sub-memory array 10. Become.

次に異なる内部アドレスを有する複数のメモリセルグル
ープに跨が91ワード相当のビット長を有するデータを
誉き込む場合について、本実施例の記憶装置の動作説明
を行9゜ まず内部アドレス/制御コード発生回路12が外部入力
したアドレスデータから内部アドレスと制御コードを内
部発生し各サブメモリアレイ10に出力すること、次に
サブメモリアレイ10内において、ワード線選択回路1
3、ワード線駆動回路14、マルチプレクサ制御回路1
6、マルチプレクサ15、切換え/切離し回路18お=
び切換え/切離し制御回路19等の動作にエリ、同一内
部アドレスを有するメモリセルグルーズの中から特定の
メモリセルが選択され、メインデータバスまで電気的に
接続されることは、読出し動作と同様である。一方、書
込みデータの流れは、読出し時と反対である。
Next, we will explain the operation of the storage device of this embodiment in the case where data having a bit length equivalent to 91 words is loaded across multiple memory cell groups having different internal addresses. The generation circuit 12 internally generates an internal address and a control code from externally input address data and outputs them to each sub-memory array 10. Next, within the sub-memory array 10, the word line selection circuit 1
3. Word line drive circuit 14, multiplexer control circuit 1
6. Multiplexer 15, switching/disconnection circuit 18 =
Similarly to the read operation, a specific memory cell is selected from a group of memory cells having the same internal address and electrically connected to the main data bus. be. On the other hand, the flow of write data is opposite to that during read.

すなわち、メインデータバス上に外部入力された1ワー
ドデータは、切換え/切離し回路18の働きに=υ、同
一内部アドレスを有するメモリセルグルーグ毎のデータ
に分割されて各サブメモリアレイ10内データバスに導
かれ、書込み対象のメモリセルに書き込まれる。
In other words, one word of data externally input onto the main data bus is divided into data for each memory cell group having the same internal address by the function of the switching/disconnection circuit 18, and the data in each sub-memory array 10 is divided into data for each memory cell group having the same internal address. The data is guided to the bus and written to the memory cell to be written.

第1の実施例における外部アドレス付与法は、以下に述
べる適用例を用−て説明する。
The external address assigning method in the first embodiment will be explained using the following application example.

主記憶装置への適用例: 第1図に示した実施例の第1の適用例として、本記憶装
置を用いて電子計算機システム等の主記憶装wtft構
成し、主記憶装置内に蓄えられ九データに対して、高速
な連結操作を行う例を以下に示す。
Example of Application to Main Storage Device: As a first example of application of the embodiment shown in FIG. An example of performing a high-speed concatenation operation on data is shown below.

記憶装置内では、一連のデータはワードを単位とするデ
ータに分割されて記憶される。したがって、一連のデー
タをワード単位のデータに余りなく分割できる場合は別
として、一連のデータの終端部が記憶されるワードの終
りには、データが記憶されない空ビットが生ずる。一連
のデータを連結する場合、この空ビットを後続データの
先頭部分のデータで順次埋める操作が必要である。
In a storage device, a series of data is divided into data units of words and stored. Therefore, unless a series of data can be divided into word units of data without any remainder, an empty bit in which no data is stored occurs at the end of a word where the end of a series of data is stored. When concatenating a series of data, it is necessary to sequentially fill the empty bits with the data at the beginning of the subsequent data.

第2図Gは、1次元的なデータの並びを表わしておシ、
図中のブロックE(−)、E(a+1)、11(a +
 2 ) + E (e ” 3 ) +・・・・・・
はそれぞれ1ワ一ド分すなわちにビットのデータに相当
する。ここで、各ブロック内のデータは、同一内部アド
レスを有するメモリセルグルーグに記憶されるものとす
る。
Figure 2G shows a one-dimensional data arrangement.
Blocks E(-), E(a+1), 11(a +
2) + E (e ” 3) +・・・・・・
Each corresponds to one word of data, that is, one bit of data. Here, it is assumed that data in each block is stored in a memory cell group having the same internal address.

また、ブロック#(s+1)内の先頭(a−1)ビット
には先行データの終端部分のデータが記憶されておシ、
残りの(&−1+1)ビットは空状態であるとする。こ
の空ビットを後続データで埋めるべく、一連の後続デー
タの先頭1ワードデータを記憶装置から読み出し、ブロ
ックE(s+1)内の第1ビットから書き込む場合、こ
の書込みデータはブロックff(*+1)とフ゛ロック
E (#+2ンの27゜ロックに跨がるデータとなる。
Also, the data of the end part of the preceding data is stored in the first (a-1) bit in block #(s+1).
It is assumed that the remaining (&-1+1) bits are empty. In order to fill this empty bit with subsequent data, if the first word data of a series of subsequent data is read from the storage device and written from the first bit in block E(s+1), this write data will be written as block ff(*+1). Block E (data spanning 27° lock of #+2 pins).

以後、一連の後続データを順次1ワードずつ読み出し、
空ビットが生じな−ように、先行データの終端に連結し
て書き込む場合も、全て2ブロツクに跨がるデータとな
る。2ブロツクに跨がるデータを記憶装置から自由に読
み出すまたは書き込むには、第1図に示す実施例におい
てメモリアレイ金2個のサブメモリアレイに分割構成し
、第2図α中にす1−す2で示すように、隣接したブロ
ック内のデータが異なるサブメモリアレイに記憶される
べく内部アドレス/制御コード発生回路を設定すること
にニジ容易に実現される。
After that, a series of subsequent data is read out one word at a time,
Even when writing data concatenated to the end of preceding data so that empty bits do not occur, all data will span two blocks. In order to freely read or write data spanning two blocks from a storage device, the memory array is divided into two sub-memory arrays in the embodiment shown in FIG. This can easily be accomplished by configuring the internal address/control code generation circuit so that data in adjacent blocks are stored in different sub-memory arrays, as shown in Figure 2.

本記憶装置から、1ワード相当のピット長を有するデー
タt−絖み出すまたは書き込む場合、上記のブロックを
区別する情報とブロック内のビット位置を区別する情報
の両方を外部アドレスとして与える必要かめる。この条
件が溝上されれば、内部アドレス/制御コード発生回路
の機能により外部入力し九アドレスデータから圓連内部
アドレスデータと制御コードを内部発生できるので、外
部アドレスの付与法は全く自由である。外部アドレス付
与法の一例として、前述のブロックの別を表すE(−ン
; (a =1 +・・・・・・、 2kPQ )とブ
ロック内のビット位置を示すL Q C(t ) : 
(s ” 1 +・・・・・・、k)を組合せ、2組の
数値ADREX (t l g) ; (#=’+・・
・・・・# 2kPQ)N (s=1+・・・・・・、
k)を外部アドレスとする方法がおる。この場合の内部
アドレス/制御コード発生回路の構成例を第3図6に示
す。第3図りにおいて、 M2は2を法とする剰余を求
める演算回路でhD、Kは外部入力されたアドレスデー
タに1を加算する後続アドレス発生回路でらる。
When extracting or writing data having a pit length equivalent to one word from this storage device, it is necessary to provide both the above-mentioned information for distinguishing blocks and information for discriminating bit positions within blocks as external addresses. If this condition is satisfied, the internal address data and control code can be internally generated from externally input nine address data by the function of the internal address/control code generation circuit, so the method of assigning external addresses is completely free. As an example of the external addressing method, E(-n; (a = 1 +..., 2kPQ) indicating the above-mentioned block type and LQC(t) indicating the bit position within the block:
(s ” 1 +..., k), two sets of numerical values ADREX (t l g); (#='+...
・・・・・・#2kPQ)N (s=1+・・・・・・,
There is a method of using k) as an external address. An example of the configuration of the internal address/control code generation circuit in this case is shown in FIG. 3. In the third diagram, M2 is an arithmetic circuit that calculates a remainder modulo 2, and hD and K are subsequent address generation circuits that add 1 to externally input address data.

なお、通常の牛導体記憶装置では外部入力するアドレス
は2進数で宍現されることから、アドレスデータの最下
位ビットに層目すれば特定の論理回路を用いることなく
剰余を求めることも可能である。
In addition, in a normal conductor memory device, the externally input address is represented in binary numbers, so it is possible to find the remainder without using a specific logic circuit by focusing on the least significant bit of the address data. be.

本内部アドレス/制御コード発生回路の動作は以下の通
りでbる。外部入力され友アドレスデータADREX 
(go+ gg )は、後続アドレスの内部発生に用い
られる先行アドレスデータ“す”と、制御コードの一部
となるロケ−シロンデータ“1゜1に分けられる。
The operation of this internal address/control code generation circuit is as follows. External input friend address data ADREX
(go+gg) is divided into preceding address data "su" used for internal generation of the subsequent address and location data "1.degree.1" which becomes part of the control code.

まず、先行アドレスデータ“−0”は演算回路M2に入
力され、2を法とする剰余が求められる。同時に、デー
タ“−0”は後続アドレス発生回路Kにも入力され、1
だけ大きいアドレスデータが内部生成される。外部入力
された先行アドレスおよび内部生成し九後続アドレスの
出力先サブメモリアレイは、前述の剰余に基づいて第3
図6中の切換回路30によって切換えられる。隣接2ワ
ードに跨がシラワード相当のビット長を有するデータを
読み出すま友は書き込む場合には、第2図Gのように、
2通りの場合がめる。まず、第2図a中に斜線で示す工
うに、外部入力された先行アドレスデータに対応するメ
モリセルグループがサブメモリアレイ≠2に属し、内部
生成した後続アドレスデータに対応するメモリセルグル
ープがサブメそリアレイナ1に属する場合、切換回路3
0は第3図G中に実線で示すような接続状mtとる。反
対に、外部入力されたアドレスデータに対応するメモリ
セルグループがサブメモリアレイ内1に属し、内部生成
し友後続アドレスデータに対応するメモリセルグループ
がサブメモリアレイ+2に属する場合、切換回路30は
破線で示すような接続状態をとる。切換回路30ヲ通過
し九アドレスデータは、例えば上位、下位ビットに2分
割され、それぞれ内部Xアドレス、内部Yアドレスとし
てサブメモリアレイ内のワード線選択回路お↓びマルチ
ブレフサ制御回路に出力されてメモリセルグループの選
択に用いられる。
First, the preceding address data "-0" is input to the arithmetic circuit M2, and the remainder modulo 2 is determined. At the same time, data "-0" is also input to the subsequent address generation circuit K, and 1
address data that is larger than that is generated internally. The output destination sub-memory array of the externally input leading address and the internally generated succeeding address is the third one based on the above-mentioned remainder.
Switching is performed by a switching circuit 30 in FIG. When writing data that spans two adjacent words and has a bit length equivalent to a single word, as shown in Figure 2G,
There are two cases. First, as shown by diagonal lines in FIG. If it belongs to Soria Reina 1, switching circuit 3
0 has a connection shape mt as shown by the solid line in FIG. 3G. On the other hand, if the memory cell group corresponding to externally inputted address data belongs to submemory array 1, and the memory cell group corresponding to internally generated friend subsequent address data belongs to submemory array +2, the switching circuit 30 The connection state is as shown by the broken line. The nine address data that has passed through the switching circuit 30 is divided into two parts, for example, into upper and lower bits, and is output as an internal X address and an internal Y address to the word line selection circuit and the multi-branch control circuit in the sub-memory array, respectively, and is sent to the memory. Used to select cell groups.

次に、外部入力されたロケ−シロンデータ“gQ“は、
演算回路M2から出力される剰余と共に、制御コードを
構成し、各サブメモリアレイに出力される。谷サブメモ
リアレイ内の切換え/切離し回路は、剰余に基づいて、
同一メモリセルグループ内のggo番目から最終すなわ
ち第に番目までのメモリセル、または先頭すなわち第1
番目から第(gg  1)番目までのメモリセルを選択
し、これをデータ出力並びの順と整合させてメインデー
タバスに接続する。なお、特殊な場合として、冨。=1
の場合は先行メモリセルグループから全ビットが選択さ
れ、後続メモリセルグループからは1ビットも選択され
な1.Q01ワードをにビットと仮定し、切換え/切離
し回路を導通状態、非導通状態の2状態をとるスイッチ
で構成する場合、サブメモリアレイ毎に少なくともに2
個のスイッチが必要である。
Next, the externally input location data “gQ” is
Together with the remainder output from the arithmetic circuit M2, a control code is configured and output to each sub-memory array. The switching/disconnection circuit in the valley sub-memory array is based on the remainder:
Memory cells from the ggoth to the last, i.e., the ggoth, in the same memory cell group, or the first, i.e., the first
The memory cells from the th to the (gg1)th are selected and connected to the main data bus in accordance with the data output arrangement order. In addition, as a special case, Tomi. =1
In the case of 1., all bits are selected from the preceding memory cell group, and no bit is selected from the succeeding memory cell group. Assuming that the Q01 word is a bit, and the switching/disconnecting circuit is configured with a switch that takes two states, a conductive state and a non-conductive state, at least two
switches are required.

この他、ブロックE(り内の最初のビットが記憶される
メモリセルを外部アドレスADREX (りとし、以後
昇順に付与する方法、その他あらゆる外部アドレス付与
法が可能でめる。これらの外部アドレス付与法を用い九
場合、外部入力されたアドレスをメモリアレイ構成で決
まる内部アドレスに変換する回路を必要とする場合が套
るが、基本的には上記の内部アドレス/制御コード発生
回路と同様の構成法で実現可能でめる。なお、隣接2ワ
ードに跨るデータの読出しまたは書込みに用−る内部ア
ドレス/制御コード発生回路の構成法には、後続アドレ
スデータを外部人力し、減算回路を用いて先行アドレス
を内部生成する構成法も同様に可能でるり、同等の効果
が必る。
In addition, it is possible to assign the memory cell in which the first bit in block E is stored as the external address ADREX, and then assign it in ascending order, or any other method of assigning external addresses. When using the above method, a circuit may be required to convert an externally input address to an internal address determined by the memory array configuration, but basically the configuration is the same as the internal address/control code generation circuit described above. It can be realized using the following method.The method for configuring the internal address/control code generation circuit used for reading or writing data spanning two adjacent words is to input the subsequent address data externally and use a subtraction circuit. A configuration method in which the preceding address is generated internally is also possible and has the same effect.

画像処理分野への適用例: 第1図に示した実施例の第2の適用例として、本記憶装
置を用いて表示用フレームメモリを構成し、フレームメ
モリ内の画像データに対して画像処理を行う例を以下に
示す。
Application example to the image processing field: As a second application example of the embodiment shown in FIG. 1, a display frame memory is configured using this storage device, and image processing is performed on image data in the frame memory. An example of how to do this is shown below.

画像処理分野では、境界線の追跡等、フレームメモリか
らブロック単位で画素データを読み出し。
In the field of image processing, pixel data is read in blocks from frame memory for purposes such as border tracking.

演算処理を加え、再びブロック単位でフレームメモリに
書き込むことが多い。説明の都合上、1画素のデータを
1ビットで表現できる2値画像を仮定し、1ワードすな
わちにビットのデータを単位とするフレーム画像データ
の一分割法を第2図すに示す。これは、縦1画素、横k
 / a画素、計に画素を1ブロツクとする単純分割法
でろジ、1画素ブロックのデータを同一内部アドレスを
有するに個のメモリセルに記憶させる。この分割法の場
合、第2図す中ブロックAで示すように、縦#画素、横
k / a画素、1itk画素から成る任意位置の1画
素ブロックは、ブロック分割されたフレーム上において
、最大4ブロツクに跨がることになる。
It is often the case that arithmetic processing is added and then written to the frame memory again in blocks. For convenience of explanation, a binary image in which one pixel data can be expressed by one bit is assumed, and a method of dividing frame image data into one unit in units of one word, that is, bit data is shown in FIG. This is 1 pixel vertically and k horizontally.
/a pixel, using a simple division method in which each pixel is one block, and the data of one pixel block is stored in several memory cells having the same internal address. In this division method, as shown in block A in Figure 2, one pixel block at an arbitrary position consisting of # pixels vertically, k/a pixels horizontally, and 1itk pixels has a maximum of 4 pixels on the block-divided frame. You will be crossing blocks.

し九がって、任意位置の1画素ブロックデータをフレー
ムメモリから自由に読み出すt7tは書き込むには、フ
レーム上で隣接し九4ブロックの画素データが記憶装置
内で同時に読出しま皮は書込み可能であることが必要で
るる。これは、本発明の実施例においてメモリアレイを
4個のサブメモリアレイに分割構成し、第2図6中に÷
1−す4で示すように、フレーム上で隣接し友画素ブロ
ックのデータが異なるサブメモリアレイに記憶される工
うに内部アドレス/制御コード発生回路を設定すること
によって容易に実現できる。
Therefore, in order to write t7t, which freely reads one pixel block data at an arbitrary position from the frame memory, 94 blocks of pixel data adjacent to each other on the frame must be simultaneously read out in the storage device. Something is necessary. In the embodiment of the present invention, the memory array is divided into four sub-memory arrays, and ÷
As shown in 1-4, this can be easily realized by setting the internal address/control code generation circuit so that the data of adjacent friend pixel blocks on the frame are stored in different submemory arrays.

本記憶装置!tを用いて構成したフレームメモリから、
第2図中にブロックAで示す工うに、複数ブロックに跨
がる1画素ブロックデータを読出すまたは書込む場合、
フレーム上における対象画素ブロックの位置を一意に決
定する情報を外部アドレスに含めて与える必要がめる。
Book storage device! From the frame memory configured using t,
When reading or writing one pixel block data spanning multiple blocks, as shown by block A in FIG.
It is necessary to provide information that uniquely determines the position of the target pixel block on the frame, including it in the external address.

この条件が満にされてわれは、外部アドレスの付与法は
全く自由で61、内部アドレス/制御コード発生回路に
1つて、外部入力されたアドレスデータからデータ読出
しまたは書込みに必要な関連内部アドレスデータおよび
制御コードを内部発生することができる。
As long as this condition is met, we are completely free to assign external addresses61, and the internal address/control code generation circuit has one internal address/control code generating circuit that provides related internal address data necessary for reading or writing data from externally input address data. and control codes can be generated internally.

−例として、外部アドレスは前述のブロックAにおける
最左上の画素位置を表すこととし、フレームデータをブ
ロック分割し九時のラベルB(g、h);(g=L・・
・・・・、G)J (A=1.・・・・・・、H)と1
画素ブロック内の画素位置を表すLOC’ (w+w+
) ; (w=L・・・・・・* ”/)+ (w=t
、・・・・・・、W)を組合せ、4種類の数値からなる
ADEEX’ (Qrh、vz+u) ; (g=1.
−・−IG) r C&= 1. H・・・・・、 H
)+ (w= 1+ −・・、 V) 、 (so=1
゜・・・・・・、W)t−外部アドレスとする方法があ
る。
- As an example, assume that the external address represents the top left pixel position in the aforementioned block A, and divide the frame data into blocks and label 9 o'clock B (g, h); (g = L...
...,G)J (A=1.....,H) and 1
LOC' (w+w+
) ; (w=L...* ”/)+ (w=t
, ..., W), ADEEX' (Qrh, vz+u); (g=1.
−・−IG) r C&= 1. H..., H
)+ (w= 1+ -..., V), (so=1
゜..., W) There is a method of using t-external address.

この場合の内部アドレス/制御コード発生回路の構成例
を第3116に示す。第3図すにおいて、M2およびM
4はそれぞれ2お=び4を法とする剰余を求める演算回
路でhD、K’は外部入力されたアドレスデータ“f、
”ま之は“五〇”に1を加算する隣接アドレス発生回路
で必る。なお、通常の記憶装置では外部入力するアドレ
スは2進数で表現されることから、アドレスデータの最
下位ビットに着目すれば2を法とする剰余をまた、最下
位ビットを含み2ビットに着目すれば4t−法とする剰
余を特定の論理回路を用いることなく求めることも可能
である。
A configuration example of the internal address/control code generation circuit in this case is shown in No. 3116. In Figure 3, M2 and M
4 is an arithmetic circuit that calculates the remainder modulo 2 and 4, respectively, and hD and K' are externally input address data "f,
``Mano'' is necessary in the adjacent address generation circuit that adds 1 to ``50''.In addition, in normal storage devices, addresses input externally are expressed in binary numbers, so we focused on the least significant bit of the address data. Then, it is also possible to obtain the remainder modulo 2, and by focusing on 2 bits including the least significant bit, the remainder modulo 4t can be obtained without using a specific logic circuit.

本内部アドレス/制御コード発生回路は以下の工うに動
作する。外部入力されたアドレスデータADRIf:X
’ (go r Ao、 va r VQ )は、最左
上画素が属するブロックの位置を表し隣接アドレスの内
部発生に用いられる左上アドレスデータ“go + h
a ”と、制御コードの一部となるロケーシロンデータ
“ν。1wl、′Tに分けられる。
This internal address/control code generation circuit operates as follows. Externally input address data ADRIf:X
' (go r Ao, var VQ) represents the position of the block to which the upper left pixel belongs, and upper left address data "go + h" used for internal generation of adjacent addresses.
a” and location data “ν” which becomes part of the control code. It is divided into 1wl and 'T.

まず、データ“go”は演算回路M2に、データ“五〇
”は演算回路M4Vc入力され、それぞれ2を法とする
剰余と4を法とする剰余が求められる。
First, the data "go" is input to the arithmetic circuit M2, and the data "50" is input to the arithmetic circuit M4Vc, and the remainder modulo 2 and the remainder modulo 4 are determined, respectively.

同時に、データ″go″および4oITはそれぞれ隣接
アドレス発生回路に′にも入力され、1だけ犬きめアド
レスデータが生成される。外部入力されm左上アドレス
お=び内部生成し几右よ、左下、右下アドレスから成る
4個の隣接アドレスは、第3図す中の切換回路を通して
、サブメモリアレイに出力される。なお、同一サブメモ
リアレイに2個以上のアドレスデータが出力されること
がない工うに、前述の剰余に基づいて、切換え回路は制
御される。隣接4ワードに跨がり1ワード相当のビット
長を有するデータft、読み出すまkは誉き込む場合の
例として、第2図す中に斜線を施し次ブロックAの画素
データt−読み出す場合を例に説明する。この例では、
左上アドレス“g。、ho”で指定されるブロックのデ
ータは、サブメモリアレイナ4に属するメモリセルグル
ープに蓄えられて9る。
At the same time, the data "go" and 4oIT are also respectively input to the adjacent address generation circuit ', and dog-grained address data by 1 is generated. Four adjacent addresses consisting of the externally inputted upper left address and the internally generated lower left, lower right, and lower right addresses are output to the sub-memory array through the switching circuit shown in FIG. Note that the switching circuit is controlled based on the above-mentioned remainder so that two or more pieces of address data are not output to the same sub-memory array. As an example of the case where data ft, which spans four adjacent words and has a bit length equivalent to one word, is read out, the pixel data t of the next block A is read out with diagonal lines in Figure 2. Explain. In this example,
The data of the block specified by the upper left address "g.,ho" is stored in the memory cell group belonging to the sub-memory arrayer 9.

ま九、隣接する右上、左下、右下ブロックのデータは、
それぞれサブメモリアレイナ1、ナ2、ナ3に属するメ
モリセルグループに蓄えられている。
The data of the adjacent upper right, lower left, and lower right blocks is
They are stored in memory cell groups belonging to sub-memory arrays 1, 2, and 3, respectively.

従って、切換回路は剰余に基づき、第3図す中に実線で
示す工うな接続状Mkとることになる。なお、図中には
示されていないが、切換回路にはブロックAの位置で決
まるスイッチ群の接続状態として、少なくとも4通シの
接続状態がある。従って、導通状態、非導通状態の2状
態をとるスイッチで構成する場合、4人力4出力の接続
が2組必要であることから、少なくとも32個のスイッ
チが必要でろる。切換回路を通過した一対のアドレスデ
ータは、それぞれ内部Xアドレスお;び内部Yアドレス
としてサブメモリアレイ内のワード線選択回路およびマ
ルチブレフサ制御回路に出力されメモリセルグループの
選択に用いられる。
Therefore, the switching circuit will take the connection shape Mk shown by the solid line in FIG. 3 based on the remainder. Although not shown in the figure, there are at least four connection states of the switch group determined by the position of block A in the switching circuit. Therefore, if the switch is configured with switches that take two states, conductive and non-conductive, two sets of connections for four people and four outputs are required, so at least 32 switches are required. The pair of address data that has passed through the switching circuit is output as an internal X address and an internal Y address to a word line selection circuit and a multi-breather control circuit in the sub-memory array, respectively, and is used to select a memory cell group.

次に、外部入力されたロケーシ冨ンデータ“9g+w。Next, location data “9g+w” is externally input.

”は、演算回路M2およびM4から出力される剰余と共
に、制御コードを構成し、各サブメモリアレイに出力さ
れる。各サブメモリアレイ内の切換え/切離し回路は、
同一メモリセルグループからロケーションデータと前述
の剰余で決まるメモリセルを選択し、データ出力並びの
順と整合をとって、メインデータバスに接続する。1ワ
ードをにビットと仮定し、切換え/切離し回路を導通状
態、非導通状態の2状態をとるスイッチで構成する場合
、サブメモリアレイ毎にに2個のスイッチが必要で必る
。同一メモリセルグループから出力対象となるデータを
有するメモリセルを選択する規則の例を以下に述べる。
” constitutes a control code together with the remainders output from the arithmetic circuits M2 and M4, and is output to each sub-memory array.The switching/disconnection circuit in each sub-memory array is
A memory cell determined by the location data and the above-mentioned remainder is selected from the same memory cell group, and is connected to the main data bus in accordance with the order of data output arrangement. Assuming that one word is a bit, and when the switching/disconnecting circuit is constructed of switches that take two states, conductive and non-conductive, two switches are required for each sub-memory array. An example of a rule for selecting memory cells having data to be output from the same memory cell group will be described below.

まず、ブロック内の画素位置を示すロケーションデータ
LOC’ (w + w )と外部入力され友ロケーシ
望ンデータLOC’ (ν。、賛。ンとの比較結果に基
づいて、以下の4グループに分類する。なお、特殊な場
合として、!。=1の場合はグループ2および4、す。
First, based on the comparison result between the location data LOC' (w + w) indicating the pixel position within the block and the externally input friend location data LOC' (ν. .As a special case, if !.=1, groups 2 and 4.

=1の場合はグループ3および4、さらにν。=1かつ
町=1の場合はグループ2.5.4が空となる。
= 1 for groups 3 and 4, and also ν. If =1 and town=1, group 2.5.4 will be empty.

1−  LOC’ (v + w) + (y=1. 
t”””+ V) r (w−w。p”””+ W)2
、  LOC’(v+w): (v=’ *・・・・・
・、マ。−リ+ (y−wg 、++m・、W)l  
LOC’ (v +w) : (1=vg r”・・”
+ V) + (vFl r”””+ 町−リ4、LO
C’Cv*w):Cv=’r”””rv。1)t(11
1=1+”””+Vg  1)次に、上記4グループの
中から、前述の剰余に基づいて、1グルーグを選択する
。説明の都合上。
1-LOC' (v + w) + (y=1.
t”””+V) r (w-w.p”””+W)2
, LOC'(v+w): (v=' *・・・・・・
·,Ma. -li+ (y-wg, ++m・, W)l
LOC' (v + w): (1=vg r"..."
+ V) + (vFl r”””+ Machi-ri 4, LO
C'Cv*w): Cv='r"""rv.1)t(11
1=1+"""+Vg 1) Next, 1 group is selected from the above 4 groups based on the above-mentioned remainder.For convenience of explanation.

第2図す中の1ブロツクが25画素から構成される場合
を想定し、読出し対象となるブロック4周辺の拡大図を
第2図dに示す。読出し対象ブロックAはブロックfl
(2,2八B (2,5)、 B (5,2)、 B(
3,3)の隣接4ブロツクに跨っており、その最左上画
素のブロックE(2,2)自位置はLOG’ (3゜2
)でるる。従って、外部入力するアドレスデータはAD
REX’ (2,2,3,2ンで6る。読出LJt象と
なるメモリセルを有する各メモリセルグループ内では、
画素位置LOC’ (5,2)のデータを蓄えているメ
モリセルt−要としてメモリセルは4グループに分類さ
れ、斜線を施し九画素データを蓄えているメモリセルが
メインデータバスに接続される。
Assuming that one block in FIG. 2 is composed of 25 pixels, FIG. 2d shows an enlarged view of the vicinity of block 4 to be read. Block A to be read is block fl
(2,28B (2,5), B (5,2), B(
3,3), and the position of block E(2,2) of the upper leftmost pixel is LOG' (3°2
) out. Therefore, the address data input externally is AD
REX' (6 in 2, 2, 3, 2. In each memory cell group that has memory cells to be read LJt,
Memory cells storing data at pixel position LOC' (5, 2) t-The memory cells are classified into four groups, and the diagonally shaded memory cells storing nine pixel data are connected to the main data bus. .

この他、フレーム上の最左上の画素を外部アドレスAD
RE:X’ (1)とし、最古下の画素まで昇順に付与
する方法、また最左上の画素を外部アドレスADREX
’ (1,1) トL、フレーム上告u!jfco 2
次元座標をそのまま外部アドレスとする方法、その個使
用目的に応じm6らゆる外部アドレス付与法が可能であ
る。
In addition, the top left pixel on the frame is set to the external address AD.
RE:
'(1,1) L, frame appeal u! jfco 2
Various methods of assigning external addresses are possible depending on the purpose of use, such as using dimensional coordinates as external addresses as they are.

これらの外部アドレス付与法を用い友場合、外部入力さ
れたアドレスデータをメモリアレイ構成で決まる内部ア
ドレスに変換する回路を必要とする場合が6るが、基本
的には上記の内部アドレス/制御コード発生回路と同様
の構成法で実現できる。なお、隣接4ワードに跨るデー
タの絖出しまたは書込みに用いる内部アドレス/制御コ
ード発生回路の構成法には、右上または左下または右下
ブロックのアドレスデータを外部入力し、加算または減
算回路を用いて隣接ブロックのアドレスを内部生成する
構成法も同様に可能でめり、同等の効果がある。
When using these external addressing methods, a circuit may be required to convert externally input address data to an internal address determined by the memory array configuration, but basically the internal address/control code described above is required. This can be realized using the same configuration method as the generator circuit. The internal address/control code generation circuit used to generate or write data spanning four adjacent words can be configured by externally inputting the address data of the upper right, lower left, or lower right block, and using an addition or subtraction circuit. A configuration method in which addresses of adjacent blocks are internally generated is also possible and has the same effect.

第2図0は、第2図す同様1ワードかにビットから構成
される装置 ムメモリと2値画像からなる画像データを仮定し、フレ
ームデータのブロック分割法を示し比ものでおるが、第
2図bとは分割法が異なる。すなわち。
FIG. 20 shows a method for dividing frame data into blocks, assuming a device memory consisting of one word or bit and image data consisting of a binary image, similar to that shown in FIG. The division method is different from that in Figure b. Namely.

この分割法は、縦S画素、横2に/8画画素ざ十2に画
素を1ブロツクとしており、データ量にして2ワードに
相当する。なお、データ読みvIきの単位は、第2図C
中ブロックAで示す工うに、縦S画素、横k / s画
素、計に画素でめり、データ量にして1ワード相当で6
る。内部アドレスは2ワードデータを記憶するメモリセ
ルをーグループとして付与されており,第2図C中にE
’Cデrt):Cr=1、・・・・・・+R)+Ct=
1,・・・・・・、T)で示す各ブロック内の画素デー
タは全て同一内部アドレスを有するメモリセルグループ
に記憶される。第2図C中、ナ1−す3はフレーム上で
隣接した画素ブロックが異なるサブメモリアレイに記憶
される工うに付記し友ラベルでろ夕、本ブロック分割法
の場合3個のサブメモリアレイで実現可能でおる。サブ
メモリアレイにはワード線選択回路、マルチプレクサ制
御回路等の周辺回路が必要になるので、メモリアレイ分
割数は大きい#1ど記憶装置の記憶密度を劣化させる性
質がある。本フレーム画像データ分割法は、前述の単純
分割法に比べて、メモリアレイ分割数を4から5に低減
できるので、記憶装置の高密度化につながる。
In this division method, one block consists of S pixels vertically and 2/8 pixels horizontally, which corresponds to 2 words in data amount. The unit of data reading is shown in Figure 2 C.
The structure shown in the middle block A is S pixels vertically and K/s pixels horizontally, and the total number of pixels is 6, and the amount of data is equivalent to 1 word.
Ru. Internal addresses are assigned to memory cells that store 2 words of data as a group, and are indicated by E in Figure 2C.
'Cdert): Cr=1,...+R)+Ct=
1, . . . , T) in each block are all stored in memory cell groups having the same internal address. In Fig. 2C, numbers 1 to 3 are labels to indicate that adjacent pixel blocks on the frame are stored in different submemory arrays.In the case of this block division method, three submemory arrays are used. It is possible. Since the sub-memory array requires peripheral circuits such as a word line selection circuit and a multiplexer control circuit, the number of memory array divisions tends to deteriorate the storage density of a storage device such as #1, which has a large number of divisions. This frame image data division method can reduce the number of memory array divisions from 4 to 5 compared to the above-described simple division method, leading to higher density storage devices.

第2図0の分割法を用い九場合、ま丸は縦2#画木、横
h/a画素、計2に画素1c1ブロックとする分割法を
用−九場合、2ワードデータを記憶するメモリセルt−
1グループとして内部アドレスを付与することが必要に
なるが、記憶装置の構成法、内部アドレス/制御コード
発生回路の構成法、外部アドレスの付与法、データの読
出しまたは書込み動作は前記単純分割法を用い友記憶装
置と同様に実現できる。
In the case of using the division method shown in Figure 2 0, the mamaru is 2 # drawing trees vertically, h/a pixels horizontally, and the division method is 1 c 1 block for a total of 2 pixels. cell t-
Although it is necessary to assign internal addresses as one group, the method of configuring the storage device, the method of configuring the internal address/control code generation circuit, the method of assigning external addresses, and the data read or write operation are based on the simple division method described above. It can be realized in the same way as a user memory device.

なお、1画素のデータが複数ビットで我現される場合、
ま7’C2ワ一ド以上のデータを記憶するメモリセルt
−1グループとして内部アドレスを付与する場合にも同
様な本記憶装置を実現でき、同様な効果を得られる。
In addition, when the data of one pixel is represented by multiple bits,
7'C Memory cell t that stores data of 2 words or more
A similar storage device can be realized even when internal addresses are assigned as a -1 group, and similar effects can be obtained.

ま九、第1図に示した第1の実施例では、マルチプレク
サに与えられた機能は、選択状態にめるワード線上に配
置されたメモリセルとサブデータバスの電気的な接続関
係を切離し状態または接続状態に切換える機能だけであ
り、メモリセルが接続されるサブデータバスは固定であ
った。し友がって、データ読出しまたは書込み時に、メ
インデータバスと各メモリアレイ内データバスとの間に
データ並びの順序を交換する切換え/切離し回路が必要
で6つ九。第2の実施例として、切換え/切離し回路の
機能をマルチプレクサに白鳥′させることにエフ、サブ
アレイ内データバスをメインデータバスに直結した構成
例も可能で本発明の一態様でおる。すなわち、選択状態
にあるワード線上に配置されたメモリセルが接続される
サブデータバスをマルチプレクサ制御信号を用いて切換
えるようにマルチプレクサを構成するのでおる。この場
合、マルチプレクサ制御回路は、Yアドレスデータと第
1の実施例における制御コードに相当する第2の制御コ
ードからマルチプレクサ制御信号を生成することになる
。なお、第2の実施例の動作、外部アドレス付与法、適
用分野、効果は、第1の実施例と同等でおる。
9. In the first embodiment shown in FIG. 1, the function given to the multiplexer is to disconnect the electrical connection between the sub data bus and the memory cells arranged on the word line to be put into the selected state. Alternatively, the sub data bus to which the memory cells are connected is fixed. Therefore, when reading or writing data, a switching/disconnecting circuit is required between the main data bus and the data bus in each memory array to exchange the order of data arrangement. As a second embodiment, a configuration example in which the sub-array data bus is directly connected to the main data bus is also possible, and is one aspect of the present invention, in which the function of the switching/disconnection circuit is made to function as a multiplexer. That is, the multiplexer is configured to use a multiplexer control signal to switch the sub-data bus to which the memory cells arranged on the selected word line are connected. In this case, the multiplexer control circuit will generate a multiplexer control signal from the Y address data and a second control code corresponding to the control code in the first embodiment. Note that the operation, external address assignment method, application field, and effects of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

さらに、第1および第2の実施例では、サブメモリアレ
イ毎にメモリセルアレイを配置する構成を示したが、各
実施例において、メモリセルアレイ、ワード線選択回路
、ワード線駆動回路をサブメモリアレイ間で共通化し次
第3および第4の実施例も可能でおる。第3または第4
の実施例には、第1−第4の実施例におけるメモリセル
総数が等しいと仮定しm場合、(1)ワード線選択回路
数とワード線駆動回路数を削減できることによる面積的
高密度化、(2)記憶装置内において、読出しまたは書
込み時に動作するワード線駆動回路等の周辺回路総数の
低減による低消費電力化等を図れる特長がある。ところ
で、サブメモリセルアレイには、同一ワード線上に配置
されたメモリセルだけが同時に読出しまたは書込み許可
状態となるという構成上の制約がある。し九がって、第
3または第4の実施例の工うに、サブメモリアレイ間で
メモリセルアレイを共通化する場合、同時に各メモリア
レイ内で読出しまたは書込み状態となるメモリセルグル
ープを同一ワード線上に配置するように内部アドレス/
制御コード発生回路を設定することが必要である。一方
、同一ワード線上に配置できるメモリセル数は有限でお
るので、上述の設定には限界かめる。これは、特例とし
て、複数のメモリセルグループに跨がり1ワード相当の
ビット長を有するデータ′Jfr、Rみ出すマ九は書き
込むことが不可能な場合からり得ることを意味している
Furthermore, in the first and second embodiments, a configuration was shown in which a memory cell array is arranged for each sub-memory array, but in each embodiment, the memory cell array, word line selection circuit, and word line drive circuit are arranged between sub-memory arrays. The third and fourth embodiments will also be possible as soon as they are made common. third or fourth
In the embodiment, assuming that the total number of memory cells in the first to fourth embodiments is the same, (1) increasing the density in terms of area by reducing the number of word line selection circuits and the number of word line driving circuits; (2) The memory device has the advantage of reducing power consumption by reducing the total number of peripheral circuits such as word line drive circuits that operate during reading or writing. By the way, the sub-memory cell array has a structural restriction that only memory cells arranged on the same word line are enabled for reading or writing at the same time. Therefore, when a memory cell array is shared between sub-memory arrays as in the third or fourth embodiment, memory cell groups that are to be read or written in each memory array at the same time are placed on the same word line. internal address/
It is necessary to set up a control code generation circuit. On the other hand, since the number of memory cells that can be arranged on the same word line is limited, there is a limit to the above setting. This means that, as a special case, data 'Jfr,R' extending across a plurality of memory cell groups and having a bit length equivalent to one word may occur in a case where it is impossible to write.

しかし、同一ワード線上に配置されるメモリセル数は、
1ワードデータを記憶するメモリセル数に比べて十分多
いので、メモリセルアレイを複数のサブメモリアレイ間
で共有する構成を用いt記憶装置に対して、異なる内部
アドレスを有するメモリセルグループに跨が91ワード
相当のビット長を有するデータを読み出すi几は書き込
む時に、前述の特例に遭遇する機会は稀でおる。なお、
第3および第4の実施例には、使用上に上述の制約があ
るものの、その動作、外部アドレス付与法、適用分野、
効果は第1または第2の実施例と同等である。
However, the number of memory cells arranged on the same word line is
Since the number of memory cells is sufficiently large compared to the number of memory cells that store one word of data, a configuration in which the memory cell array is shared among multiple submemory arrays is used, and for a t storage device, 91 times the number of memory cells spanning memory cell groups having different internal addresses is used. When reading and writing data having a bit length equivalent to a word, it is rare to encounter the above-mentioned special case. In addition,
Although the third and fourth embodiments have the above-mentioned restrictions on use, their operation, external address assignment method, field of application,
The effect is equivalent to the first or second embodiment.

最後に、本発明の記憶装置におけるメモリアレイ分割法
として、第1−第4の実施例に用いたサブメモリアレイ
構成を混在させた分割法も全て可能でおり、第1−第4
の実施例と同様な効果が得られる。また、メモリアレイ
分割数には制限がないので、1ワード相当のピット長金
有する外部読出しまたは書込みデータが、内部アドレス
が異なる4個以上のメモリセルグループに跨がるような
場合にも、第1〜第4の実施例またはこれらを組合せf
cw成と同様な記憶装置を実現でき、同様な効果を得ら
れる。
Finally, as a memory array partitioning method for the storage device of the present invention, all of the partitioning methods that mix the sub-memory array configurations used in the first to fourth embodiments are also possible.
The same effects as in the embodiment can be obtained. Furthermore, since there is no limit to the number of memory array divisions, even if external read or write data with a pit length equivalent to one word spans four or more memory cell groups with different internal addresses, Embodiments 1 to 4 or a combination of these f
A storage device similar to cw configuration can be realized and similar effects can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、外部入力したアドレスデータから
関連する内部アドレスデータと制御コード金生成する内
部アドレス/制御コード発生回路を搭載しt本発明の記
憶装置では、内部アドレスが異なる複数のメモリセルグ
ループに跨がシ1ワード相洛のビット長を有するデータ
を、内部アドレスを意識することなく、自由に胱出しま
友は書込み可能である利点がある。したがって、電子計
算機システム等の主記憶装置として用い友場合、基本操
作として多用される記憶装置内データの連結操作におい
て、主演算装置が行う操作は先行データの最終ビット位
置検出だけとなり、残りの操作は全て記憶装置からの単
純なデータ読出しと書込み操作だけで実行可能となるの
で、処理の高速化と電子計算機システム資源の中で最も
使用頻度が高い演算装置の占有時間を大幅に低減する効
果が大でるる。ま九画遣処理分野にお−ても、7レーム
メモリを本発明の記憶装置を用いて構成することにエフ
、フレームメモリからのデータ転送時間に起因するオー
バーヘッド時間を大幅に低減できる効果が犬で6る。
As explained above, the memory device of the present invention is equipped with an internal address/control code generation circuit that generates related internal address data and control codes from externally input address data. There is an advantage that a user can freely write data having a bit length of one word across the memory without being aware of the internal address. Therefore, when used as the main storage device of a computer system, etc., in the concatenation operation of data in the storage device, which is often used as a basic operation, the main processing unit performs only the detection of the final bit position of the preceding data; can be executed by simply reading and writing data from the storage device, which has the effect of speeding up processing and significantly reducing the time occupied by the arithmetic unit, which is the most frequently used computer system resource. It's big. Also in the field of picture processing, configuring a 7-frame memory using the storage device of the present invention has the effect of greatly reducing the overhead time caused by the time required to transfer data from the frame memory. That's 6.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例の構成概要を示す図、 第2図α〜dは実施例の各適用分野におφて外部アドレ
ス付与法およびデータが記憶されるサブメモリアレイの
別を示す図、 第3図ar&は第1の実施例における内部アドレスおよ
び制御コード発生回路の実施例構成図、第4図は従来の
半導体記憶装置の基本構成を示す図、 第3図は従来のアドレス付与法を示す図でらる。 WD(i) : (t=1.・・・・・・、M)・・・
ワード線BL(j) i (j=1.・・・・・・、k
N)−°°ビット線D(q)、5D(qン;(q=1.
・・・・・・、k)・・・データバスADHIN(z 
、y)、ADHIN (g+ 1 、y)、ADHIN
(z+2.y)roo・内部アドレスデータするラベル 10・・・サブメモリアレイ 11・・・サブメモリセルアレイ 12−゛°内部アドレスおよび制御コード発生回路15
・・・ワード線選択回路 14・・・ワード線駆動回路 15・・・マルチプレクサ 16・・・マルチプレクサ制御回路 17・・・サブデータバス 18・・・切換えおよび切離し回路 19・・・切換えおよび切離し制御回路30・・・切換
回路 40・・・ワード線選択回路 41・・・ワード線駆動回路 42・・・マルチプレクサ 45・・・マルチダレタブ制御回路 44・・・メモリセルアレイ 45・・・メモリセル 第 2 図 (での2) 第 3 図
FIG. 1 is a diagram showing an outline of the configuration of the first embodiment of the present invention, and FIGS. FIG. 3 ar& is an embodiment configuration diagram of the internal address and control code generation circuit in the first embodiment. FIG. 4 is a diagram showing the basic configuration of a conventional semiconductor memory device. This is a diagram showing the address assignment method. WD(i): (t=1.....,M)...
Word line BL(j) i (j=1.....,k
N)-°°bit line D(q), 5D(qn; (q=1.
......,k)...Data bus ADHIN(z
, y), ADHIN (g+ 1 , y), ADHIN
(z+2.y)roo・Internal address data label 10...Sub memory array 11...Sub memory cell array 12-゛°Internal address and control code generation circuit 15
...Word line selection circuit 14...Word line drive circuit 15...Multiplexer 16...Multiplexer control circuit 17...Sub data bus 18...Switching and disconnection circuit 19...Switching and disconnection control Circuit 30...Switching circuit 40...Word line selection circuit 41...Word line drive circuit 42...Multiplexer 45...Multiple tab control circuit 44...Memory cell array 45...Memory cell FIG. (Part 2) Figure 3

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)少なくとも1ビットのデータを記憶可能なメモリ
セルを、データ読出しまたは書込みの許可または禁止を
切換制御する信号を伝送するワード線と読出しまたは書
込みデータを伝送するビット線の交点毎に配置したメモ
リセルアレイと、 内部Xアドレスデータを入力しワード線選択信号をワー
ド線駆動回路に出力するワード線選択回路と、 前記ワード線に乗せる信号の状態許可状態または禁止状
態に切換え制御するワード線駆動回路と、 内部Yアドレスデータを入力し第1の制御信号をマルチ
プレクサに出力する第1のマルチプレクサ制御回路と、 データ読出しまたは書込み許可状態にあるワード線上に
配置されているメモリセルの中から前記第1の制御信号
に基づいて特定のメモリセルを選択し前記特定のメモリ
セルをサブデータバスに接続する第1のマルチプレクサ
と、 第1の制御コードから第2の制御信号を生成する切換え
/切離し制御回路と、 前記第2の制御信号に基づいてサブデータバスとメイン
データバスとの接続状態を切換える若しくは切離す操作
を行う切換え/切離し回路を構成要素にもつ第1のサブ
メモリアレイ、または前記メモリセルアレイと、前記ワ
ード線選択回路と、前記ワード線駆動回路と、前記内部
Yアドレスおよび第2の制御コードを入力し第3の制御
信号を第2のマルチプレクサに出力する第2のマルチプ
レクサ制御回路と、 前記第3の制御信号に基づいてデータ読出しまたは書込
み許可状態にあるワード線上に配置されているメモリセ
ルとメインデータバスに直結されたサブデータバスとの
接続関係を切換える若しくは切離す第2のマルチプレク
サを構成要素にもつ第2のサブメモリアレイの少なくと
も一方のサブメモリアレイに分割構成された第1のメモ
リアレイ構成、 または前記第1のメモリアレイにおいて少なくとも2組
のサブメモリアレイ間でワード線選択回路とワード線駆
動回路とメモリセルアレイを共通化した第2のメモリア
レイ構成、 または前記第1および前記第2のメモリアレイにおける
サブメモリアレイ構成を混在させた第3のメモリアレイ
構成の何れかの構成を採るメモリアレイと、 前記メインデータバスと、内部アドレスが異なる複数の
メモリセルグループに跨がり1ワード相当のビット長を
有するデータの読出しまたは書込に必要な内部Xアドレ
スデータと内部Yアドレスデータと第1または第2の制
御コードからなる三種類のデータの組を外部入力された
アドレスデータから生成しデータ読出しまたは書込み対
象のメモリセルが属するサブメモリアレイ毎に出力する
手段を有する内部アドレス/制御コード発生回路とを構
成要素に備えてなる ことを特徴とする記憶装置。
(1) A memory cell capable of storing at least one bit of data is arranged at each intersection of a word line that transmits a signal for switching and controlling permission or prohibition of data read or write and a bit line that transmits read or write data. a memory cell array, a word line selection circuit that inputs internal X address data and outputs a word line selection signal to the word line drive circuit, and a word line drive circuit that controls switching of the state of the signal carried on the word line to an enabled state or a disabled state. a first multiplexer control circuit that inputs internal Y address data and outputs a first control signal to the multiplexer; and a first multiplexer control circuit that inputs internal Y address data and outputs a first control signal to the multiplexer; a first multiplexer that selects a specific memory cell based on a control signal and connects the specific memory cell to a sub data bus; and a switching/disconnection control circuit that generates a second control signal from the first control code. and a first sub-memory array having as a component a switching/disconnecting circuit that switches or disconnects the connection state between the sub-data bus and the main data bus based on the second control signal, or the memory cell array. , the word line selection circuit, the word line drive circuit, and a second multiplexer control circuit that receives the internal Y address and the second control code and outputs a third control signal to the second multiplexer; a second multiplexer that switches or disconnects the connection between the memory cells arranged on the word line in the data read or write enabled state and the sub data bus directly connected to the main data bus based on the third control signal; a first memory array configuration divided into at least one sub-memory array of a second sub-memory array having as a component, or word line selection between at least two sets of sub-memory arrays in the first memory array; Either a second memory array configuration in which a circuit, a word line drive circuit, and a memory cell array are shared, or a third memory array configuration in which submemory array configurations in the first and second memory arrays are mixed. the main data bus, internal X address data and internal Y address necessary for reading or writing data having a bit length equivalent to one word across multiple memory cell groups having different internal addresses; An internal address having means for generating three types of data sets consisting of data and a first or second control code from externally input address data and outputting them for each sub-memory array to which a memory cell to be read or written belongs. 1. A storage device comprising: a control code generation circuit as a component.
(2)前記外部入力したアドレスデータの全部または一
部から一定の数値を法とする剰余を求める第1の演算回
路と、前記外部入力したアドレスデータの全部または一
部に一定の数値を加算または減算して連係したアドレス
データを内部生成する第2の演算回路と、前記外部入力
したアドレスデータの部分を含み内部生成したアドレス
データの出力先サブメモリアレイを前記第1の演算回路
から出力される剰余に基づいて切り換える切換回路を有
し、前記外部入力したアドレスの一部と前記第1の演算
回路から出力される剰余を用いて制御コードを生成する
手段を有する内部アドレス/制御コード発生回路を搭載
してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
記憶装置。
(2) a first arithmetic circuit that calculates a remainder modulo a certain numerical value from all or part of the externally input address data; a second arithmetic circuit that internally generates subtracted and linked address data; and a sub-memory array to which the internally generated address data including the portion of the externally input address data is output, which is output from the first arithmetic circuit. an internal address/control code generation circuit having a switching circuit that switches based on the remainder, and having means for generating a control code using a part of the externally input address and the remainder output from the first arithmetic circuit; 2. The storage device according to claim 1, wherein the storage device is equipped with a storage device.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012198946A (en) * 2012-07-26 2012-10-18 Fujitsu Semiconductor Ltd Memory device, memory controller and memory system
JP2012198947A (en) * 2012-07-26 2012-10-18 Fujitsu Semiconductor Ltd Memory device, memory controller and memory system
JP2012230712A (en) * 2012-07-26 2012-11-22 Fujitsu Semiconductor Ltd Memory device, memory controller, and memory system

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