JPS63216247A - ガスフエ−ズイオン源 - Google Patents

ガスフエ−ズイオン源

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Publication number
JPS63216247A
JPS63216247A JP4818287A JP4818287A JPS63216247A JP S63216247 A JPS63216247 A JP S63216247A JP 4818287 A JP4818287 A JP 4818287A JP 4818287 A JP4818287 A JP 4818287A JP S63216247 A JPS63216247 A JP S63216247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitter
ion source
electric field
heat reflecting
phase ion
Prior art date
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Pending
Application number
JP4818287A
Other languages
English (en)
Inventor
Mutsunori Obata
小幡 睦憲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
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Publication of JPS63216247A publication Critical patent/JPS63216247A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/06Sources
    • H01J2237/08Ion sources
    • H01J2237/0802Field ionization sources
    • H01J2237/0807Gas field ion sources [GFIS]

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はガスフェーズイオン源に関し、特にイオンビー
ムの生成効率の向」ニを図ったガスフI −ズイオン源
に関する。
[従来技術] 近時、イオンビーム描画装置にガスフェーズイオン源が
用いられるようになった。このガスフェーズイオン源は
、先端が鋭くされたエミッターを例えば液体ヘリウム温
度にに冷却すると共に、該エミッタ先端部にヘリウムガ
スを供給し、先端に付着したヘリウムガス分子を電界に
よって?[させ、イオン化するようにしている。
第2図はこのようなガスフェーズイオン源の従来装置を
示すもので、1はタングステン(W)で形成されたエミ
ッタ、2は例えば銅(Cu)で形成されたホルダー、3
はサファイヤで形成された電気絶縁性熱伝導部材、4は
液体ヘリウム5が収納された冷媒槽、6はエミッタ1に
対向して配置された引出し電極、7は加速電極、8はエ
ミッタ1と加速電極7間に例えば加速電圧+100KV
を印加する加速電源、9はエミッタ1に対して負の30
KV程度の引出し電圧を印加する引出し電源、10は引
出し電極6等を支持する絶縁部材で形成された支持部材
、11はエミッタ1の周囲にヘリウムガスを供給するガ
ス導入パイプ、12は熱反!l)I筒で、該熱反射筒1
2は、エミッタ近傍の頁空度がガス導入により例えば1
0”T o r、rから10’Torr程度に急激に低
下することにより、冷却されたホルダー2等が外部から
の熱や、引出し電極6からの輻射熱によって温度上界し
ないようにホルダー2を囲むようにして配置されている
このような構成において、ガス導入バイブ11を介して
エミッタ1の周囲に導入されたヘリウムのガス分子は、
4°に&!度に冷却されたエミッタ1の先端に付着した
後、該エミッタ先端に印加された強電界によって電離さ
れ、生成されたイオンは引出し電極6によって引出され
て加速される。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、このように構成された従来のガスフェーズイ
オン源においては、エミッタ1の先端に付着されたガス
分子をイオン生成するため、該エミッタ1と引出し電極
6の間に30KV程度の引出し電圧を印加しても、前記
エミッタ1と熱反射筒12とは同電位であるため、エミ
ッタ1先端に印加される電界強度が熱反射筒12によっ
て弱められイオンの生成効率が低下する欠点があった。
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、熱反射筒によ
るエミッタ先端に印加される電界強度の低下を防いでイ
オンの生成効率の向上を図ったガスフェーズイオン源を
提供することを目的としている。
「問題点を解決するための手段コ 本目的を達成するための本発明は、慟低温に冷却された
ホルダーに保持され、周囲にイオーン化されるガスが供
給されるエミッタと、該ホルダーを囲むにうにして扉間
された熱反射筒と、前記エミッタに対向して配置された
引出し電極とを備えたガスフェーズイオン源において、
前記引出し電極よりの引き出し電界がエミッタ側に深く
入り込むように前記熱反OA筒に前記引出し電極とは異
なった電位を与えるための手段を備えたことを特徴とし
ている。
[実施例] 以下本発明の実施例を図面に基づき詳述する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。尚、第1図
に示す実施例装置においては、第2図に示す従来装置と
同一構成要素には同一番号を付してその説明を省略する
。第1図にJりいて、13はホルダー2と熱反rJ4筒
12を電気的に絶縁する絶縁部材、14はエミッタ1と
熱反射筒12の間に20KV程度の補助電圧を印加する
補助電源である。
このように構成されたガスフェーズイオン源においては
、イオンを生成するためにエミッタ1と引出し電極6の
間に30KVの引出し電圧を印加し、エミッタ1と熱反
rJJ筒12の間に20KV程度の補助電圧を印加した
場合、該引出し電極6と熱反射筒12との間には10K
Vの電位差があるため、該エミッタ1と引出し電極6の
間に形成される電界がエミッタ1側に深く入り込む。従
って、エミッタ1の先端に印加される電界強度が熱反射
筒12によって弱められることがないためイオンの生成
効率を向上させることができる。
尚、上記実施例は例示である。上記実施例では、エミッ
タと引出し電極の間に30KVの引出し電圧を印加し、
エミッタと熱反01筒の間に20KVの補助電圧を印加
した場合を説明したが、熱反射筒の形状、エミッタと引
出し電極との間の距離等によって該エミッタと熱反IJ
J 1mの間に印加Jる補助電圧を可変とするように可
変型補助電源としてb良い。
[発明の効果1 以上詳述したように本発明によれば、熱反射筒によるエ
ミッタ先端に印加される電界強度の低下を防いでイオン
の生成効率の向上を図ったガスフェーズイオン源が提供
される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は従来装置
の構成図である。 1:エミッタ、2:ホルダー、3:熱伝導部材、4:冷
媒槽、5:液体ヘリウム、6:引出し゛電極、7:加速
電極、8:加速電源、9:引出し電源、10:支持部材
、11:ガス導入パイプ、12二熱反射筒、13:絶縁
部材、14:補助電源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 極低温に冷却されたホルダーに保持され、周囲にイオン
    化されるガスが供給されるエミッタと、該ホルダーを囲
    むようにして配置された熱反射筒と、前記エミッタに対
    向して配置された引出し電極とを備えたガスフェーズイ
    オン源において、前記引出し電極よりの引き出し電界が
    エミッタ側に深く入り込むように前記熱反射筒に前記引
    出し電極とは異なった電位を与えるための手段を備えた
    ことを特徴とするガスフェーズイオン源。
JP4818287A 1987-03-03 1987-03-03 ガスフエ−ズイオン源 Pending JPS63216247A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010008924A3 (en) * 2008-07-16 2010-04-22 Carl Zeiss Smt Inc. Increasing current in charged particle sources and systems
JP2020187909A (ja) * 2019-05-14 2020-11-19 株式会社日立製作所 ガス電界電離イオン源

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010008924A3 (en) * 2008-07-16 2010-04-22 Carl Zeiss Smt Inc. Increasing current in charged particle sources and systems
JP2011528489A (ja) * 2008-07-16 2011-11-17 カール ツァイス エヌティーエス エルエルシー 荷電粒子源およびシステムにおける電流増加
US8124941B2 (en) 2008-07-16 2012-02-28 Carl Zeiss Nts, Llc Increasing current in charged particle sources and systems
JP2020187909A (ja) * 2019-05-14 2020-11-19 株式会社日立製作所 ガス電界電離イオン源

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