JPS63211583A - 電子コネクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し産業上の利用分野］ 本発明はコンタクトに対して形状記憶ノ＼ネをクチュエ
ータとして組込んで無挿抜力で相手コタクトの挿抜を可
能にする電子コネクタに関すものである。

［従来技術］ 近年、集積回路（ｉｃ、Ｌｓｉなど）の進展と共に電子
機器もますます高密度化、多機能化へと発展している。

これに伴いコネクタのコンタクトピッチは狭小方向、ま
たコンタクト数は多極化へと進んでいる。ここで必然的
に問題になってくるのが、電子部品や基板等の挿抜時に
、挿抜力が多極化と共に増大し、無理な力で挿抜を行わ
なければならない点である。このように、無理な力で挿
ｌ　　抜を行う８艷ンタクト接続部に損傷を招し゛たり
・！　　１ンタクトの絶縁物１亀裂を生じさ１１すする
問題点が生じる。

この問題点を解消し挿抜時の挿抜力を低くするため、形
状記憶バネをコンタクトのアクチュエータとして組込ん
だ無挿抜力タイプの電子コネクタが提案されている。

このような電子コネクターは、常温で使用され？ ン　　る場合０例で示すと・第１１図に示すように絶縁
材からなるコネクタハウジング２を有し、該コネる フタハウジング２の正面にはコンタクト室３が開口して
設けられている。コンタクト室３内にはコンタクト４，
５が相手コンタクト６の挿入間隔をへだでて２列に組込
まれている。両側のコンタクト４，５はその強バネ圧主
接点部４Ａ、５Ａを対向させて対として配列され、且つ
その脚部４Ｂ。

５Ｂはコネクタハウジング２の底部を導通して外に導出
されている。コネクタハウジング２には、各コンタクト
４，５の列側で隣接コンタクト間を絶縁するための隔壁
７，８がそれぞれ突設されている。両側のコンタクト４
，５の列間でコンタクト室３内の底部には、面状のヒー
タ９を介して形状記憶バネ１０が配設されている。形状
記憶バネ１０は例えばＮｉ−Ｔｉ合金等よりなる断面Ｕ
字形に成形されていて、両側の列の各コンタクト４゜５
に対して共通にその列に沿って設けられ、湾曲凹部の両
側の両縁部が絶縁材１１を介して各側のコンタクト４，
５に当接され、これらコンタクト４．５を同時に駆動で
きるようにされている。形状記憶バネ１０の凹部内には
位置決め用の姿勢保持具１２が載置され、形状記憶バネ
１０の姿勢を安定させてバランスしたバネ圧を両側のコ
ンタクト５．６に伝達するようになっている。姿勢保持
具１２はコネクタハウジング３に支持されている。

このような電子コネクタ１は、相手コンタクト６の挿入
時には、コネクタハウジング２内に組込んだヒータ９に
通電し形状記憶バネ１０を加熱すると、該形状記憶バネ
１０がオーステナイト状態となり、記憶された形状を回
復し、大きな力を発生し、両コンタクト４，５のバネ圧
に打ち勝って第１２図に示すように両コンタクト４，５
の間隔を押し広げ、無挿抜力で相手コンタクト６を挿入
することができる。次に、ヒータ９に対する通電を止め
ると、形状記憶バネ１０は加熱されなくなってマルテン
サイト相になり、軟質となって、両コンタクト４．５の
バネ圧に負け、第１３図に示すように両コンタクト４．
５が元の姿勢に復帰し、両コンタクト４．５間の間隔が
狭くなり、相手コンタクト６を挟持する状態になる。

温度試験等の高温下で使用される電子コネクタ１の場合
には、第１４図及び第１５図に示すように、両コンタク
ト４，５の互いに対向する内面に係止部４Ｃ，５Ｇが設
けられ、これら係止部４Ｃ。

５Ｃで形状記憶バネ１０の両縁部が係止された構造にな
っている。また、形状記憶バネ１０は高温時に凹部が狭
くなるように形状記憶がなされている。

従って、この場合、常温時には、第１４図に示すように
両コンタクト４．５のバネ力が形状記憶バネ１０のバネ
力に打ち勝って、両コンタクト４゜５の相互間隔が開き
、相手コンタクト６を無挿抜力で挿抜てきる。

高温時には、第１５図に示すように形状記憶バネ１０が
縮んで、両コンタクト４，５を引き寄せ、相手コンタク
ト６の両面に圧接させることができる。

［発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、このように形状記憶バネ１０でコンタク
ト４．５を駆動する電子コネクタ１においては、第１２
図及び第１３図に示すタイプの場合では、ヒータ９の通
電を止めてもコネクタハウジング２内に組込まれた形状
記憶バネ１０の温度が変態点以下に下って第１３図に示
すように両コンタクト４．５の間隔が狭ばまって接触圧
を発生させるのに数１０秒の時間がかかり、また第１４
図及び第１５図に示すタイプの場合では、第１５図に示
すように両コンタクト４，５の間隔が狭められて接触圧
を発生させるため形状記憶バネ１０をその変態点以上の
高温にさらすのに時間がかかり、定常状態での使用前に
導通チェック等の簡単な初期チェックを行いにくい問題
点があった。

これらの問題点を解決するため、第１２図、第１４図に
示す状態で両コンタクト４．５間を、挿入する相手コン
タクト６の厚さより若干小さ目の位置で静止するように
形状記憶バネ１０と両コンタクト４．５とを釣り合せる
ことにより、相手コンタクト６の挿入時に無挿抜力状態
となり、初期チェックも容易に行えるようになるが、こ
のようにするとコンタクト４．５は形状記憶バネ１０の
バイアスも兼ねているためスチフネスが大きく、両コン
タクト４，５の位置を高い精度で管理しなければならな
くなる等の問題点があった。

本発明の目的は、初期チェック等を容易に行うことがで
きる電子コネクタを提供することにある。

［問題点を解決するための手段１ 上記の目的を達成するための本発明の構成を、実施例に
対応する第１図乃至第１０図を参照して説明すると、本
発明はコネクタハウジング２にコンタクト４．５が組込
まれ、前記コンタクト４゜５は相手コンタクト６に接触
する強バネ圧主接点部４Δ、５△を有し、且つ前記コン
タクト４．５は前記コネクタハウジング２に組込まれた
形状記憶バネ１０で駆動されるようになっている電子コ
ネクタにおいて、前記コンタクト４．５は前記強バネ圧
主接点部４Ａ、５Ａが前記相手コンタクト６に接触する
前に接触できる位置に待機している弱バネ圧補助接点部
４０．５Ｄを有することを特徴とする。

［作用］ このような電子コネクタ１はコンタクト４．５に相手コ
ンタクト６を接触させての初期チェック時には、張り出
している弱バネ圧補助接点部４Ｄ。

５Ｄが強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａに比べて弱いバネ圧
で先に相手コンタクト６に接触でき、強バネ圧主接点部
４Ａ、５Ａを使用しないで初期チェックを行えるように
なる。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。第１図及び第２図は本発明の第１実施例を示したもの
である。本実施例は、高温下で使用される電子コネクタ
に本発明を適用したものである。本実施例におけるコン
タクト４，５は、強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａが相手コ
ンタクト６に接触する前に接触できる位置に待機してい
る弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄを有している。これら
、弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５０は、コンタクト４゜５
の上部に下から上向きにスリット１３．１４を入れて弱
バネ圧となるように幅狭の補助バネ部１５．１６を形成
し、これを内側に張り出させることにより形成されてい
る。

このような電子コネクタにおいては、形状記憶バネ１０
がマルテンサイト状態のときには、弱バネ圧補助接点部
４０．５Ｄが内側に張り出して待機しているので、相手
コンタクト６は強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａに接触する
前に該弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄに接触でき、形状
記憶バネ１０を加熱しなくても初期チェックができる。

加熱されて、形状記憶バネ１０がオーステナイト状態の
時は両コンタクト４．５が相互に接近する方向に該形状
記憶バネ１０で駆動されて強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａ
も相手コンタクト６に接触される状態になる。更に詳し
く説明すると、第１図において室温状態では形状記憶バ
ネ１０はマルテンサイト状態であり、コンタクト４．５
との釣り合いがとれたところで静止している。このとき
、強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａは弱バネ圧補助接点部４
Ｄ。

５Ｄより後退したところで静止しているので、相手コン
タクト６の挿入時には弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄの
みが接触する。このため、穫く弱い力で相手コンタクト
６の挿入が可能となる。このとき、初期チェックをする
のに必要な最小の接触圧が発生する。弱バネ圧補助接点
部４Ｄ、５Ｄは強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａに比べ、バ
ネ定数が小さく、弱バネ圧補助接点部４０．５０の位置
が多少ずれても接触圧には大きく影響しない。相手コン
タクト６の挿入後、使用状態である高温下にさらすと、
形状記憶バネ１０はオーステナイト相になり、第１図に
破線で示すような記憶された形状になり、強バネ圧主接
点部４Ａ、５Δが相互に接近する状態になる。この結果
、強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａが大きな接触圧で相手コ
ンタクト６に接触し、高温下での連続使用においても高
い信頼性が得られる。再び、室温に戻すと、形状記憶バ
ネ１０は元の位置で静止し、相手コンタクト６とは弱バ
ネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄのみが接触する状態に戻る。

なお、常温下において使用される電子コネクタの場合も
、同様にして本発明を適用すると、ヒータ９に通電直後
に初期チェックが可能となり、加熱温か下り形状記憶バ
ネの変態温度以下になった時点で高い接触圧が得られる
ようになる。

第３図乃至第５図は本発明の第２実施例を示したもので
ある。本実施例は、高温環境下で使用される電子コネク
タに本発明を適用した例を示している。本実施例では、
形状記憶バネ１０が各コンタクト４．５の上部外側にそ
れぞれ配置されており、また各コンタクト４．５に上か
ら下向きにスリット１３．１４が入れられて補助バネ部
１５゜１６が形成されている点で、第１実施例と相違し
ている。このため、弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄは形
状記憶バネ１０で駆動される強バネ圧主接点部４Ａ、５
Ａの動きに無関係に一定の位置に止まる。

このような電子コネクタにおいては、室温下において相
手コンタクト６を挿入するときには、コンタクト４．５
が第４図に示すような状態にあるので、弱バネ圧補助接
点部４Ｄ、５Ｄのみが相手コンタクト６へ接触する。こ
の状態で、コンタクト４，５はマルテンサイト状態にあ
る形状記憶バネ１０に打ち勝って外側に開く形で力を発
生している。このため相手コンタクト６の挿入等にはほ
とんで挿入力を必要とせず、しかも初期チェックをする
のに必要な最小の接触圧を弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５
Ｄから得ることができる。相手コンタクト６の挿入後に
、使用状態である高温下に該電子コネクタをさらすと、
形状記憶バネ１０がオーステナイト状態となり、第５図
に示すように記憶されている形状になってコンタクト４
．５を内向きに押圧し、強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａが
大ぎな接触圧で相手コンタクト６に圧接される。次に、
環境を再び室温に戻すと、形状記憶バネ１０はマルテン
サイト状態になって第４図に示す元の位置に戻り、弱バ
ネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄのみが相手コンタクト６に接
触しているため弱い力で相手コンタクト６の抜去が可能
となる。

第６図乃至第８図は本発明の第３実施例を示したもので
ある。これら第６図乃至第８図は常温下で使用される電
子コネクタに本発明を適用した例を示している。本実施
例においては、形状記憶バネ１０は絶縁ブロック１７で
コンタクト４．５に絶縁支持されている。この場合、絶
縁ブロック１７はコンタクト４．５に固定されており、
該絶縁ブロック１７の下面の凹部１７Ａに形状記憶バネ
１０の一端が挿入されて支持されている。形状記憶バネ
１０の折り返し部分の下面には面状のヒータ９がコネク
タハウジング２に支持されて配設されている。

このような電子コネクタにおいては、常温下では第６図
に示すように、マルテンサイト状態にある形状記憶バネ
１０の外向きに引っ張る力にコンタクト４．５の力が打
ち勝ち、対向するコンタクト４，５間の間隔が相手コン
タクト６の幅より狭い位置で静止している。相手コンタ
クト６の挿入時に、ヒータ９に通電すると、形状記憶バ
ネ１０が加熱されオーステナイト状態となり、該形状記
憶バネ１０は予め記憶されている形状になるように第７
図に示す如くＵ状の開口間隔をせばめ、絶縁ブロック１
７を介してコンタクト４．５を外向きに引っ張る。この
状態では、弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄが前の位置に
とり残されて待機しているので、相手コンタクト６は弱
い接触圧で弱バネ圧補助接点部４Ｄ、５Ｄに接触される
。従って、ヒータ９への通電を止めて形状記憶バネ１０
がマルテンサイト状態に戻る前でも弱バネ圧補助接点部
４Ｄ、５Ｄにより初期チェックが可能である。

常温下での使用状態では、形状記憶バネ１０がマルテン
サイト状態にあり、この状態ではコンタクト４．５の力
が形状記憶バネ１０の力に打ち勝って各コンタクト４，
５は第８図に示すように相互間の間隔が狭くなる状態に
なり、弱バネ圧補助接点部部４Ｄ、５Ｄの接触圧に加え
て強バネ圧主接点４Ａ、５Ａの接触圧が加わり、大きな
接触圧が相手コンタクト６に作用するようになり、高い
信頼性が得られる。

第９図及び第１０図は本発明の第４実施例を示す。この
場合には、強バネ圧主接点部４Ａ、５Ａと弱バネ圧補助
接点部４０．５Ｄとを有する各コンタクト４．５は、そ
れぞれ別のパーツ４Ｅ（５Ｅ）、４Ｆ　（５Ｆ）で形成
され、コネクタハウジング２への挿入は両者４Ｅ　（５
Ｅ）、４Ｆ　（５Ｆ＞を圧接状態で圧入することにより
行われている。

このため、各パーツ４Ｅ　（５Ｅ）、４Ｆ　（５Ｆ）は
相互に電気的に導通がとられ、前記実施例と同様の機能
を有することになる。

以上述べたように、強バネ圧主接点部と弱バネ圧補助接
点部は、本発明の主旨に沿うものであれば、どのような
方法で形成してもよい。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る電子コネクタでは、コ
ンタクトの強バネ圧主接点部が相手コンタクトに接触す
る前に該相手コンタクトに接触できる位置で待機する弱
バネ圧補助接点部を該コンタクトに設けたので、この弱
バネ圧補助接点部を利用することにより小さな挿抜力で
相手コンタクトの挿抜ができ、形状記憶バネでコンタク
トを駆動するタイプであっても初期チェックが行える利
点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明に係る電子コネクタの第１実
施例の要部であるコンタクトと形状記憶バネの関係を示
す縦断面図及び横断面図、第３図及び第４図は本発明に
係る電子コネクタの第２実施例の要部を示す縦断面図及
び横断面図、第５図は第４図とは異なる動作状態を示す
横断面図、第６図乃至第８図は本発明に係る電子コネク
タの第３実施例の要部を示す異なる動作状態の横断面図
、第９図及び第１０図は本発明に係る電子コネクタの第
４実施例の要部を示す縦断面図及び横断面図、第１１図
は従来の電子コネクタの横断斜視図、第１２図及び第１
３図は第１１図に示す電子コネクタのコンタクトと形状
記憶バネとの関係を示す異なる動作状態の側面図、第１
４図及び第１５図はコンタクトと形状記憶バネとの関係
の伯の例を示す異なる動作状態の側面図である。 １・・・電子コネクタ、２・・・コネクタハウジング、
４．５・・・コンタクト、４Ａ、５Ａ・・・強バネ圧主
接点部、４Ｄ、５Ｄ・・・弱バネ圧補助接点部、６・・
・相手コンタクト、９・・・ヒータ、１０・・・形状記
憶バネ、１１・・・絶縁材、１３．１４・・・スリット
、１５．１６・・・補助バネ部。 ＠６図　　　　第７図 ＠１２図　　　第１３図 ＠１４図　　　　第１５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. コネクタハウジングにコンタクトが組込まれ、前記コン
   タクトは相手コンタクトに接触する強バネ圧主接点部を
   有し、且つ前記コンタクトは前記コネクタハウジングに
   組込まれた形状記憶バネで駆動されるようになっている
   電子コネクタにおいて、前記コンタクトは前記強バネ圧
   主接点部が前記相手コンタクトに接触する前に接触でき
   る位置に待機している弱バネ圧補助接点部を有すること
   を特徴とする電子コネクタ。