JPS63198410A - 表面横波共振器 - Google Patents

表面横波共振器

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JPS63198410A
JPS63198410A JP441388A JP441388A JPS63198410A JP S63198410 A JPS63198410 A JP S63198410A JP 441388 A JP441388 A JP 441388A JP 441388 A JP441388 A JP 441388A JP S63198410 A JPS63198410 A JP S63198410A
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JP
Japan
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wave
waves
shear
transverse
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP441388A
Other languages
English (en)
Inventor
Esu Eriotsuto Sukotsuto
スコツト・エス・エリオツト
Shii Burei Robaato
ロバート・シー・ブレイ
Eru Bagueru Chimoshii
チモシー・エル・バグエル
Esu Kurosu Piitaa
ピーター・エス・クロス
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Hewlett Packard Japan Inc
Original Assignee
Yokogawa Hewlett Packard Ltd
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  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は表面弾性波装置に関し、特に表面横波共振器に
関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
一般に表面弾性波装置には2種類のものがある。
1つは表面音響波(SIV)装置とよばれるものである
。SAW装置はフィルタ、発振器または共振器として働
らく。もう一つは、表面スキミングバルク−aνe)装
置と呼ばれるものである。
一般に、弾性波は3つの振動モード、すなわち縦(圧縮
)モード、垂直(剪断)モード、水平または横(剪断)
モードに分類される。表面音響波(これはレイリー波と
呼ばれる)では、縦、および垂直(剪断)モードが存在
する0表面スキミングバルク波では水平(剪断)モード
が存在する。
SA−または5SBNを用いる装置はたとえば、P、 
Cro−ss and S、 Elliott ’5u
rface−Acoustfc−Wave Re5o−
nators、 ’悼Hewlett−Packard
 Journal、 9(December。
1981)およびT/ Lukaszek and^、
 Ba1lato、’Mfcro−wave Freq
uency 5ources Employing S
hallow BulkAcoustic Have 
Devices、” Microwave Journ
al、77(March、 1985)に開示、図示さ
れている。
第3A図に最もよく示されているように、遅延線12の
ような従来の表面音響波装置は、入力変換器18および
出力変換器20が配置される少なくとも1つの表面を有
する水晶のような圧電基板14を含む。
基板14は通常、単結晶水晶やその他の低損失圧電材料
で、約5CI11の直径および約511III+の厚さ
を有する。通常用いられる圧電材料はニオブ化リチウム
である。基板14の表面は鏡面仕上げされる。各変換器
18.20は、一般にインターディジタル変換器(ID
T)と呼ばれる複数本の平行金属バー(指)を有する。
一般にアルミニウムで製造されるIDTは従来の半導体
製造技術によって基板14の表面に被着される。各バー
(指)は、1波長の%、すなわちλ/2 (ここでλ=
 v / f )だけ隣りの指から離隔している。ここ
で、“f”は励振周波数、“v″は表面波速度、“λ”
は波長である。各指は約50〜500ni+の厚さを有
している。
周波数rの交流電圧を入力(送信) IDTに印加し、
隣接指間に電場を発生させる。入力IDTに直接隣接し
た圧電基板中の電気機械的相互作用によって圧力場が発
生する。この圧力場によって生じた振動波がIDTから
表面波として伝播する。この表面波は第2組の離れた受
信IDTによて検出できる。表面波の検出は、受信表面
波が受信IDTの指の間に電場を発生し、検知できる電
圧を発生する逆のプロセスによって実行される。
SAW装置が共振器である場合は、IDTに加えて複数
の反射器を含む。各反射器は変換器のそれに製造できる
。UHF領域(30〜3000MH2)用に製造された
SAW共振器において、谷溝の幅(溝が用いられるとき
)は0.2〜20μmの範囲で変化し、隣接溝は同じ寸
法の幅だけ離れている。
反射器IDTの動作帯域、すなわち周波数帯域は、溝が
用いられるときはその溝の周期性と深さの双方によって
決定される。表面音響波はそれが基板の縁のような急激
な表面不連続に会うとき一般に反射器および垂直波に分
解するから、金属バー(または溝)の設計は非常に重要
である。SAWは十分な数の反射器(通常、1000)
に出会うように、金属バー(溝)は十分に小さく(すな
わちバーについては低い高さ、または溝については浅い
深さ)なければならず、それによって特定の周波数でS
AWのコヒーレント反射が発生する。411危して、反
射器はそれ程大きく (すなわちバーについては高くま
たは溝については深く)できない、  SAWがその特
定の周波数で反射器アレイを完全に伝播できないからで
ある。
SAW装置には利点と欠点がある。最大の利点はそのエ
ネルギを基板14の表面16に維持または捕捉する固有
の性質である。第3B図に最もよく示されているように
、レイリー波エネルギの大部分は、表面16から測定さ
れた最上の1波長内に存在する。
この現象は、レイリー波の2つのモード、すなわち、縦
および垂直(剪断)モードが相互に相殺するから、基板
14の母体に回折しない、すなわち表面16から拡散し
ていかないという事実による。こうして、SA−は水平
方向に伝播し、そのエネルギを表面近くに維持する。
最大の欠点は、高いQ(Q値)特性が共振器のような装
置に望まれるとき、製造上の困難さがともなうというこ
とである。Q値は、装置に蓄えられたエネルギと特定の
周波数でのその装置の平均パワー損失の比である。この
値は測定の単位がない、共振器がIGHzより高い周波
数で用いられる場合は、指に対する所要金属化χは非常
に小さくなって、このような微妙な被着をなす半導体技
術はまだ完成されていない。加えてこのような薄い金属
化による装置損失と、公知の材料から製造された基板内
のSAHの粘性損失とは極端に太き(なる。
第2A図に最もよく示されているように、表面スキミン
グバルク波装置30も、少なくとも1つの表面34を有
する圧電基板32を有する。°入力EDT変換器36お
よび出力IDT変換器38が表面34上に備えられてい
る。第2B図に示された5SBW装置は遅延線である。
レイリー波を伝播する代りに、変換器36は横波(剪断
波)(第2A図に最もよく示されるように、基板32の
表面34に平行だけでな(、伝播の方向に直交する波)
を発射するだろう。
5SB−装置の最大の欠点は、基板32の表面34に沿
うて伝播しない横(剪断)波の固有の性質にある。
横(剪断)波は表面34に関して角度をなして伝播する
。このような伝播が妨害されない場合、波は結局のとこ
ろ基板32の母体に全部回折する。このような伝播特性
を有するから、第2B図に最もよく示されているように
、波のエネルギは最上の1波長内に維持されない、結局
、出力変換器38によって検出されたエネルギの量は入
力変換器36によって送られたものよりずっと小さくな
る。このような回折は、自由基板表面とIDTの間の界
面のような不連続で特にやっかいである、したがって、
変換器間の距離は、5SB114が用いる多(の利用分
野での制約となる。
5SB−装置の最大の利点は、伝播する表面スキミング
バルク波が高速度で伝播することが可能となる固有の特
性である。この高速特性(これは表面音響波より60%
も高くなる)は、フィルタおよび遅延線としての利用度
を高める。別のこれまた重要な利点は、低材料減衰(こ
れは一般に“低損失”状態といわれる)の固有特性であ
る。材料減衰は一般に、基板の原子および分子の加熱に
よって失なわれたエネルギ部分として定義される。さら
に、基板の材料減衰は基板の結晶構造にも関係する。
特定の基板がSAW、 5SBHのいずれに適している
かどうかは当業者には周知の事実である。したがって、
最適の5SBI+特性を有する基板、たとえばSTカッ
ト水晶が材料減衰を最小化することは周知である。
こうして、5SBW装置の低損失特性によって5SBW
装置内に大きなパワーが存在することが可能となる。
表面スキミングバルク波の行程の深さは、基板の表面に
非常に近接して伝播する表面音響波の深さより深いから
大パワーを5SBT14装置内で用いることができる。
パワーは、基板の母体内の粒子の運動が基板の表面での
粒子運動より大きいという事実に関連する。
SAW、 5SBW装置の双方における他の形の損失に
は変換、回折損失が含まれる。変換損失(これは一般に
無視できる)はIDT変換器による、電気エネルギから
振動エネルギへの変換(またはその逆)におけるエネル
ギ損失に関連する0回折損失(これは5SBW装置にお
いて非常に重要である)は伝播波の基板母体への回折に
関係する。
(発明の目的〕 従って本発明の目的は、基板表面にエネルギをトラップ
した高速・低損失の表面波共振器により上記の欠点を解
消することである。
〔発明の概要〕
理想の表面弾性波装置はIGH2以上の周波数で動作可
能でなければならない、また、理想の表面弾性波装置は
また高いQ特性を有するべきである。
したがって、このような理想の表面弾性波装置は表面音
響波装置、表面スキミングバルク波装置の双方の特性を
有しなければならない、また理想の表面弾性波装置はこ
のようなSAW、 5SB−装置の欠点を有してはなら
ない。
特に、理想の表面弾性波装置はSAW装置に存在する高
Q特性を有する共振器である。たとえば、理想の表面弾
性波装置の伝播波のエネルギは基板表面の近くで維持さ
れる。IGHz以上の周波数で動作できるSAW共振器
を製造する際の欠点を除くために、5SB−装置の低損
失、高速度性が理想の表面弾性波装置内に実現される。
たとえば、水晶5SBI4装置の横(剪断)波は、波が
水晶の対応するカットに沿って伝播するとき、表面音響
波より約60%速い。したがって、同じ処理形状につい
て、60%高い周波数が横(剪断)波が用いられるとき
に得られる。表面音響波の速度は通常、電磁波より5桁
遅い(たとえば3000m/秒)から、表面弾性波装置
で伝播できる速度を最大にするのが望ましい。
同じ周波数で、横(剪断)波を用いる基板の材料損失も
表面音響波を用いる装置の材料損失よりも低い。こうし
て、本発明の術語、すなわち、表面したがって、本発明
は、少なくとも1つの表面を有する圧電基板を含む表面
横波共振器(前記基板は横波の伝播が可能な結晶構造を
含む)を与える。共振器はまた、基板表面の上に配置さ
れた周期摂動変換セットを含む(この変換セットは外部
源からの電磁エネルギを横波に変換する)。共振器はさ
らに、周期摂動変換セットから離れた基板表面上に配置
された周期摂動受信セットも含む(受信セットは横波を
最終の電磁エネルギへ変換する)、さらに、共振器は基
板表面に隣接した横波を維持するための表面トラップ周
期摂動中央セットを有する。中央セットは変換セットと
受信セットの中間に配置される。さらに、共振器は横波
を反射する少なくとも2セットの反射周期摂動を有し、
各反射周期摂動セットは、中央セットから遠い方に変換
セットおよび受信セットのそれぞれに隣接して配置され
る。
好適実施例では、中央セットの表面トラップ1周期摂動
は、基板表面に直接隣接した横波の1〜3波長内に横波
を維持する品に用いられる。また、周期摂動は細長いバ
一部材で基板表面上に従来の半導体製造技術によって基
板表面上に被着される。
特に、周期摂動の2つの隣接したバーは、約1〜20μ
の範囲の中心間距離を有する。さらに、各細長バ一部材
は約30〜300nmの範囲の一定の高さを有する。別
の実施例では、反射セットの周期摂動は細長溝である。
〔発明の実施例〕
第1図および第4図には、本発明の一実施例の表面横波
共振器50が示されている。共振器50は表面54を有
する圧電基板52を含む。表面54上には、送信変換器
(IDT) 50および受信変換器5日が配置されてい
る。共振器50はまた、変換器56と変換器58の間に
配置された中央格子領域60を含む。共振器50は、変
換器56.58にそれぞれ隣接して配置された一対の格
子領域62.64を含む。
特に、好適実施例における基板52は、回転Y切断水晶
、たとえば38.4@回転Y切断水晶である。
さらに、基板52は約20ミル(約0.5mm)の厚さ
を有する。さらに、基板52の表面は研磨されている。
変換器56.58、および格子領域60.62.64の
各々は複数個の平行金属バー(指)からなる。通常アル
ミニウムからできているこれらの指は単一の半導体製造
工程で基板54上に被着される。また、これらの指は基
板52の結晶X軸に平行に整列される。
隣接した指間の中心間距離は約0.4〜40μIである
。好適実施例では、中央格子領域60の2つの隣接した
指の中心間距離は約3.86μmで、変換器56.58
および外側格子領域62.64の各々の隣接した2つの
指の中心間距離は約4.0μmである。また、各指の高
さは約30〜300nmである。指の個々の幅は、当該
周波数(100MHz〜5Gtlzの範囲の)について
増減できる。指の幅と当該周波数は反比例の関係にある
。この関係は当業者にとっては周知のことである。たと
えば、上記した周波数について、格子領域60.62.
64の指の幅と、変換器56.580指の幅は0.2ミ
クロン〜20ミクロンの範囲で変化できる。好適実施例
においては、中央領域60には約32本の指、各外部領
域62.64の各々には約700〜800本の指が存在
する。
動作時、変換器56の指の間に電場が生成されるように
交流電圧が送信変換器56に供給される。次に変換器5
6の直下の圧電基板52内の電気機械的作用によって圧
力場が発生する。水晶基板の特定の結晶構造のために、
この圧力場は横振動波を含む。
横振動波はまた、横または水平(剪断)波、表面スキミ
ングバルク波またはシャローバルク音響波と呼ばれる。
横y波は受信変換器58に向かうて伝播する。これらの
振動波は変換器58の指の間に電場を生成し、測定可能
な電圧を発生する。
横波は、第2B図に最もよく示されているように、それ
が送信変換器56から受信変換器58へ伝播するときに
、基板52の母体に回折する固有の特性を有する。伝播
横波を最大化または“トラップ”するために、中央格子
領域60が備えられる。中央領域60の指は、基板52
の表面54の直下で横波を最上の1から3波長に維持す
るのに用いられる。第5図に最もよく示されているよう
に、伝播横波を最上の1〜3波長内にトラップするとき
は、伝播波のエネルギは回折されず、受信変換器58に
よって検出されるエネルギの量は最大化される。
横(剪断)波を第1基板の表面にトラップすることは、
剪断速度が第1基板のそれより小さい案内層が存在する
ことによって達成される。この案内層は第1基板表面の
直上に配置される。このようなトラップされた剪断波は
一般にラブ(Love)モードと呼ばれる。 (Mat
thewsによる“5urfaceWave Filt
ers”のp、p、33〜38 (1977)参照)0
本発明においては、変換器56.58および領域60.
62.64のアルミニウム指は、基板52内を伝播して
いる横波を減速することによってこのようなラブモード
を発生し、それによって横波を基板52の表面54に直
接隣接する領域にトラップする。このようなラブモード
の浸透の深さはアルミニウム指の高さの関数である。ま
た、アルミニウム指の高さは横波への圧電結合の強さに
も影響する。こうして、各型式の装置に対して、装置の
Q値を最大にし、装置挿入(変換)損失を最小にする特
定の金属指軍が存在する。
外側領域62.64の金属指については、それらは主に
、横波を共振周波数で基板52の中心にコヒーレントに
反射するのに用いられる。伝播波を反射するのに指また
は他の摂動を用いることは技術的に周知である(たとえ
ば、前記“5urface−^cous−tic−Wa
ve Re5onators”参照)、外側領域62お
よび64の金属指は表面トラッピング効果にも影響する
また、中央領域60の金属指は無視できる程小さい反射
特性を有している。同様に、変換器56.58の指はま
た変換の主機能に加えてトラッピング、反射両方のため
に用いられる。
表面音響装置と表面スキミングバルク波装置の双方の属
性を利用すると、装置50の共振周波数は同様の金属形
状を有する従来のSA−装置のそれより高くなる。次に
、装置50は従来のSA−装置に比較して高いQ値を持
つことができる。また、装置50は、大きなパワー(こ
れは横波の伝播路の増大した深さによる)で動作可能で
、それによって所定レベルの循環パワーに対して低いパ
ワー密度でよい、増大したパワー現象は金属バー内の粒
子運動(これまた横(剪断)方向にある)の結果のこと
もある。金属バーおよび基板が同じ方向に振動する場合
は、金属バーはストレスによる損傷を受けにくい、また
、装置12の金属擾乱が少なくなる。
すなわち表面での原子運動が小さくなり、装置の劣化が
遅らされる。また、装置50は従来のSAW装置に比べ
GHz帯での安定度がより優れる。
第6図には、共振器50の別の実施例の横断面図が示さ
れている。この横波共振器は好適実施例の共振器50に
偵ているから、この共振器の対応要素は数字“1”を加
えて指示される(たとえば、基板は152で表わされる
)、共振器150では、中央格子領域160と同様、変
換器156.158は従来の半導体製造法によって被着
される金属指からなる。
しかし、格子領域162.164は金属指の代りに溝を
有する。領域162.164の溝は従来の半導体製造法
によってエッチされる。溝のある形状をもつと、共振器
150は共振器150よりずっと高いQ値をもつことに
なる(溝は入射波のほとんど100%を反射するから)
その他に種々の修正がなしうることは当業者に明らかで
あろう。たとえば、共振器50.150の両方とも、2
ボート装置すなわち2つの変換器を示す。単一ボートま
たは多ポート装置は、単一ボート装置に対して単一変換
器または、“nボート装置”に対して“n′個の変換器
を備えることによって製造できる。単一ボート装置は第
7図に示されている。共振器50の要素に対応ず要素は
数字”2”を付加することによって指示される。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明によれば、表面音響波装置
と表面スキミングバルク波装置の双方の特徴が得られる
から、高いQ値と高い動作周波数が得られる。さらに、
波の伝播路が太(なるので伝播パワーも増加できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の表面横波共振器の簡単化し
た透視図、第2A図は従来技術の表面スキミングバルク
波装置の簡単化した透視図、第2B図は第2A図の装置
の簡単化した波形図、第3A図は従来技術の表面音響波
装置の簡単化した透視図、第3B図は第ZA図の装置の
簡単化した波形図、第4図は第1図の共振器の簡単化し
た断面図、第5図は第1、第4図の共振器の簡単化した
波形図、第6図は第1図の共振器の別の実施例の単純化
した断面図、第7図は本発明のさらに他の実施例の簡単
化した透視図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、横波を伝播させる結晶構造を有し、少くとも1つの
    表面を有する圧電基板と、 外部電源から入力した電磁エネルギーを前記横波に変換
    するために前記表面上に配置された少くとも1セットの
    変換周期摂動と、 前記横波を反射しかつ前記横波を前記表面に隣接して維
    持するための少くとも1セットの表面トラッピング及び
    反射周期摂動とから成る表面横波共振器。 2、前記表面トラッピング及び反射周期摂動が、前記横
    波を実質的に前記表面直下で前記横波の1〜3波長以内
    に維持するようにした第1項記載の表面横波共振器。 3、横波を伝播させる結晶構造を有し、少くとも1つの
    表面を有する圧電基板と、 外部電源から入力した電磁エネルギーを前記横波に変換
    するために前記表面上に配置された周期摂動から成る変
    換セットと、 前記横波を電磁エネルギーに変換するために、前記表面
    上の前記変換セットから離れた位置に設けられた周期摂
    動から成る受信セットと、前記変換セットと前記受信セ
    ットの間の前記表面上に配置され、前記横波を前記表面
    に隣接して維持するための表面トラッピング周期摂動か
    ら成る中央セットと、 前記変換セットと受信セットの各々に対して、前記中央
    セットから遠い方の前記表面上に設けられ、前記横波を
    反射するための少くとも2セットの反射周期摂動とから
    成る表面横波共振器。 4、前記中央セットが前記横波を実質的に前記表面直下
    で前記横波の1〜3波長以内に維持するようにした第3
    項記載の表面横波共振器。
JP441388A 1987-01-12 1988-01-12 表面横波共振器 Pending JPS63198410A (ja)

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JP (1) JPS63198410A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6946930B2 (en) 2001-04-27 2005-09-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave device and electronic device using the same
US7009468B2 (en) 2001-04-27 2006-03-07 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave device and electronic device using the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6946930B2 (en) 2001-04-27 2005-09-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave device and electronic device using the same
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