JPS63191281A - 空間パタ−ンコ−ド化方法 - Google Patents

空間パタ−ンコ−ド化方法

Info

Publication number
JPS63191281A
JPS63191281A JP62023764A JP2376487A JPS63191281A JP S63191281 A JPS63191281 A JP S63191281A JP 62023764 A JP62023764 A JP 62023764A JP 2376487 A JP2376487 A JP 2376487A JP S63191281 A JPS63191281 A JP S63191281A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
gradations
node
point
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62023764A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2565885B2 (ja
Inventor
Minoru Ito
稔 伊藤
Akira Ishii
明 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP62023764A priority Critical patent/JP2565885B2/ja
Publication of JPS63191281A publication Critical patent/JPS63191281A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2565885B2 publication Critical patent/JP2565885B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の属する技術分野 本発明は、TVカメラを用いて物体表面の3次元形状を
計測するパターン投影法において、計測密度、信頼性、
簡易性を高めるための空間パターンコード化方法に関す
るものである。
偉)従来の技術 TVカメラを用い、物体の表面形状を非接触で3次元計
測する方法として、スポット投影法、スリット投影法、
およびパターン投影法がある。このうちパターン投影法
は、−回の投影だけで多数点の計測を行うことができ、
計測時間の短縮を図ることができる方法として有名であ
る。
この方法は、パターン原画とパターン投影像とを一義的
に対応付け、その結果から三角測量原理に基づき曲面の
3次元距離分布を算出する方法であり、1枚の画像だけ
を用いる利点を有する代わりに、対応付けに工夫が必要
である。
一義的な対応付けを行うには、構造化した投影パターン
を用い、パターン中の各部分を識別するためのパターン
内部の特徴付けが不可欠である。
この特徴付けは、空間パターンコード化又は空間コード
化と呼ばれる。以降簡単のためコード化と略称すること
とする。
このコード化は、さらにパターン形状コード化。
階調コード化に分けられる。前者のパターン形状コード
化として、スリット開口幅の分布によるものとM系列符
号を利用したものが提案されているが、計測密度や計測
の安定性に問題があり、実用性に乏しい0本願は後者の
階調コード化に属するものである。
従来は1階調コード化として、濃淡階調によるものと色
階調によるものとが考えられてきた。このうち濃淡階調
によるものは、多くの階調をもつ空間パターンを投影す
ることによって、パターン原画とパターン像との一義的
な対応付けを可能としたコード化である。これは、原理
的には優れた方法である。しかし、実際の画像では画像
中の雑音、物体表面の反射率のばらつき、ぼけ等により
多くの階調を正しく識別することは困難であり。
通常、3階調、多くてもせいぜい4ないし5階調程度が
識別の限度と言われている。
濃淡階調の代わりに色階調を使った方法でも同様な問題
があり、白色又は淡色系の一様な表面といった理想的な
被測定面を対象とする場合を除き。
多くの階調を利用することができない。
このように1階調コード化の方法には識別できる階調数
が少ないという問題があった。
階調コード化のもつ問題の解決策として、1本のスリッ
トに縦方向の3色分布をもたせ、スリット長さ方向全体
の色分布を使ってスリット番号を識別する方法が提案さ
れた。しかしこの方法はスリットが連続して、十分長く
観測できていることが前提となっており、スリットが途
中で切れていたり1色識別の誤りがある場合には、パタ
ーン原画とパターン像の対応を一義的に定められないと
いうことがあった。このため滑らかで、がっ、十分広い
面の計測に限定された。
上記のパターンコード化の欠点をスリット投影法のもつ
利点でカバーしようとした方法が9時系列コード化であ
る。この方法は、複数スリットを1度に投影するのでは
なく、各時点で投影するスリットの組合わせを予め用意
し9時系列的に順次投影し、各スリットについて各時点
のon−offをコードに書き表す方法であり、広義の
パターン投影法に属し9時系列パターン投影法とも呼ば
れる。この方法は、スリット番号の識別が容易である反
面、多くの画像入力が必要である点で、パターン投影法
の本来の利点を失ったものとなっている。すなわち、パ
ターンを多数回投影するため。
動きのある物体を計測対象とすることができないこと、
又1画像処理を多数の画像に対して実行しなくてはなら
ないので、計算機への負担が重くなること、処理に時間
がかかること、投光系が大がかりになることなどの欠点
があった。
以上説明した様に、1回の投影だけでパターン原画とパ
ターン像とを一義的に対応付け、高い密度で面の3次元
形状を計測することが、従来は不可能であった。
(3)発明の目的 本発明は、パターン投影法において、1回の投影で高い
計測密度と計測の高い安定性、信鯨性を得るための空間
パターンコード化方法を提供する。
(4)発明の構成 (4−1)発明の特徴と従来の技術との差異本発明は、
3階調からなる格子板パターン構造を用いることを特徴
とする。従来はパターンの特徴付けのために、パターン
形状、Na淡階調2色階調を多(用意するか、又は複数
スリットを時系列的に多数回投影する必要があったのに
対して1本発明では、最低3階調のパターンを1回投影
するだけで多くの特徴コードを作りだすパターン構造を
提供している点が大きく異なる。
(4−2)実施例 第1図は2本発明のパターン構造を説明する模式図であ
る。
パターン原画は、白黒灰色の濃淡3階調を有し。
図では白を2.黒を0.灰色を1として表示しである。
RGBa色の階調を用いるときは1例えばRを2. G
を1.BをOに対応させる。
各階調は、コーナ一部分を除き隣接しないように配置さ
れている。
図中のPoに注目すると、Poは各階調領域のコーナ一
部分であり、かつ又エツジの交点であって、その左上の
領域から右廻りに2.1.0.1の階調領域に囲まれて
いる。そこでPoのように階m9M域のコーナ一部分又
はエツジ交点を特徴とする特にノードと名付け、そのノ
ードの主ノードを周囲階調を使って3進4桁の形で表す
こととする。Poの主コードは(2101)となる、同
様にP l”’ P aはそれぞれ(1012)、 (
1020)、 (1012)。
(0212)のコードをもつ。この様なコードは18種
存在する。このことは188階調点パターンを投影した
ことに相当する。
次にノードP0の最近接ノードP1〜P4のもつ主コー
ドをノードP0の補助コードとして与える。つまりPo
の補助コードは、“3進16桁(1012、1020,
1012,0212)となる。そこで、ノードP0の特
徴コードを主コードと補助コードで表すと3進20桁と
なる。
桁数が多くなる煩雑さをさけるため、コードの種類が1
8種であることから4桁毎0,1.2の組合わせに応じ
てコード番号を付すと、ノードの特徴コードは18進5
桁で表現できる。この様にして、特徴コードは1458
種できる。すなわち1458階調のパターンを投影した
ことと等価となる。
以上説明したパターン構造は3値からなり、かつ格子板
状に配列しであるので、3値格子板パターンと称するこ
ととする。3値に限らす4値以上とすれば等価階調数は
増大し、又、最近接ノードを4つに限らず例えば8つと
すればさらに等価階調数が増大することは自明である。
又、エツジは必ずしも直線である必要はない。
このパターンは、隣接格子板の階調がお互いに異なると
いう条件のもとで、乱数を発生させて容易に作ることが
できる。実施例では、  100X 100の3値格子
板パターンをミニコンピユータVAX11/780で発
生させ、ディスプレイ装置に表示すると共に、ビデオプ
リンタでパターン原板を作成した。
第2図は、第1の実施例であり、パターン原画をスライ
ドプロジェクタで物体に投影したときの投影パターン像
の例を部分的に模写したものである。カメラはCODカ
メラを用い、カメラ−物体間距離約1m、スライドプロ
ジェクタと物体間距離約1.5mである。画像は3階調
から成っており。
格子板各領域のエツジのみ図に記した。
第3図は、全体の処理の流れを示したフローチャートで
ある。1で3値化のための識別しきい値を求め、2で各
画素毎に1階調に応じて0.1又は2の値で書き直す。
3では、各格子板領域のコーナーすなわちエツジ交点を
ノードとして抽出する。
4では、抽出したノードを囲む階調分布に応じて、18
種類のコード番号のうちの1つを主コードとして付与す
る。
5では最近接4ノードの主コード番号4つを補助コード
として付与する。但し、隣接ノードの1部が求まらなか
った場合にはそのコード番号には0をつける。
6ではノード識別、コード番号の結果をテーブルに記録
する。
第4図は、パターン原画とパターン像の対応付は処理の
流れを示すフローチャートである。第3図におけるノー
ド、コード識別結果を記録したパターン原画とパターン
像用2枚のテーブルを使う。
簡単のためパターン原画のテーブルをテーブルA。
パターン像のテーブルをテーブルBと呼ぶこととする。
7では、テーブルAの各ノードに対し、テーブルBの各
ノードの主コードを調べ、同じ主コードとなっているノ
ードを探索する。
次に、8においてそのノードと、パターン原板とカメラ
との幾何学的相対関係により定まる射影直線との距離を
算出する。正しい対応点はこの射影直線上にあることは
射影幾何学から自明である。
算出された距離が予め定めた距M(通常3画素分)以内
かどうかを9で調べ、もしもOKであれば10において
、補助コードを比較し、11において、コード番号0を
含まずかつ一致する場合には12において対応ノードと
決定する。ここで決定できなかった場合には、13にて
Oを除き補助コードが一致すれば、14で対応ノードの
候補として登録しておく。同じテーブルB内の他のノー
ドにおいても調べ、対応ノードと決定できず対応ノード
候補となるものが複数存在する場合には。
一致する補助コードの数が多いノードを対応ノードとす
る。
以上の処理をテーブルAの各ノードに対して行う、なお
図中■は、対応ノードでないと判断し次の対応ノード候
補を探索することを表す。
第5図は第2の実施例で、カメラ及び投光系の配置を示
す。21は3値格子板パターンを投影するパターン投影
器、22.23はカメラ、24は被測定物体である。
前記の第1の実施例(第2図〜第4図)では。
1台のカメラのパターン像をパターン原画と対応付けた
が、この第2の実施例では、2台のカメラから得た2枚
のパターン像間でノードの対応付けを行っている。対応
付は処理手順については第1の実施例と同じである。
第6図は、3台のカメラを使った第3の実施例である。
25は追加したカメラであり、3台のカメラは3角配置
されている。3搬車体視の原理に基づき3枚の画像間で
ノードの対応付けを行う。
先ず2枚の画像間で対応ノードの候補を選択した上で、
その対応候補の正誤判定を第3の画像を使って行う。
この方法では、特徴コードを主コードのみとすることが
でき、補助コードを求める手間を省けるメリットがある
。又1画像の雑音が多い場合、見え隠れがある場合、ハ
イライト等がある場合、物体表面が不均一に汚れている
場合等、特徴コードの読取り誤りが多く発生し易い測定
条件では特にを効である。
第7図は、パターン投影による表面形状計測装置の実施
例の細部構成を示したものである。21はパターン投影
器であり、市販のスライドプロジェクタを使用している
。32は3値格子板パターン原板、33は投影レンズ、
34はランプ、22゜23はカメラ、24は被測定物体
、35は画像処理装置、36はフレームメモリ、37は
画像3値化処理回路、38はノード検出回路、39は特
徴コード識別回路、40はテーブルである。又、41は
カメラ位置方位校正データメモリであり、計測前に予め
カメラ校正をして記録しておく、又。
42は対応処理装置、43は3次元位置算出回路。
44は立体表示装置である。
階調は濃淡や色を使うことにより作ることができる0階
調数は4値以上として特徴コードの種類を増やしても構
わない。パターンの各格子板形状は必ずしも正方形でな
くてもよく、長方形であっても、又、他の多角形であっ
てもよい、又、必ずしも各格子板のエツジが直線だけで
なく9曲線であっても構わない。
肚皿ヱ二久■ 3値格子板パターンをV A X 11/780ミニコ
ンピユータで乱数を利用して発生し、モニターに表示し
た後、そのモニター像をスライド撮影した。このスライ
ドパターンを市販のキャビン社製スライドプロジェクタ
を使って計測対象に投影した。
計測対象は約20cmX 20cmの鉄製白色半光沢塗
装波状板であり、波状形状は山谷の深さ3〜511輸p
−p  (不均一分布)1周期約30mn+である。
一方、ソニー製CODカメラ2台を約20cm離して置
き、固定した。レンズはTV左カメラ一般に用いられて
いる焦点距離16ml11のものを使用した。
カメラの前方約80CII+のところに空間座標系の基
準となる基準マーク板を設置し、そのカメラ像から空間
座標系における2台のカメラの位置、方位を校正した。
この校正方法は、特願昭60−118756号「カメラ
位置姿勢校正方法とその装置」ですでに開示しである。
又基準マーク板は特願昭60=118755号「カメラ
位置姿勢校正用マークデータ収集方法」で開示しである
第8図は、上述した波状板への投影パターン像の1例を
示す、このパターン像に面の光反射率補正を施した後、
ノード及びそれが持っている特徴コードを検出し0次に
特徴コードを使って画像間の対応付けを行い、3次元位
置を算出した。
第9図は、処理結果を示す投影像であり、 (a)は正
面方向から見たもの、 (b)は斜め方向から見たもの
である。識別ノード番号からノード、隣接関係を得、計
測ノード点間を直線で結んで表示している。一部計測点
の抜けを除き1画像間の対応が正しく行われ1位置が求
まっている。
計測精度は、基準座標系すなわち空間座標系で最大絶対
精度0.1mm以内、平均ばらつき誤差0.5mm以内
、最大ばらつき誤差2IIla+である。一部計測点が
抜けてしまったのは、主にパターン原板の不良により、
ノード位置が正しく読めなかったり。
特徴コードを読み誤ったことによるものであり。
今後パターン原板の作成に留意すれば解決される。
以上水したように、パターン像間のノード対応は、対応
もれを除き100%正しく行われ、信頼性が高い。又対
応もれはパターン原板の不良や面の光沢による強いハイ
ライトがある場合に生じ得るが、これにより他のノード
の対応に誤りを発生させることがない。この様に9本手
法の利点が実験によっても確認された。
(5)発明の詳細 な説明したように5本願のパターンコード化方法では、
3値以上の階調をもつ格子板パターンを使い、格子板の
コーナーすなわちエツジ交点を特徴点(ノード)とし、
それを囲む階調分布にょリノードの主コードを与え、か
つ隣接するノードの主コードを補助コードとする特徴コ
ード化であるから、少ない階調パターンで多くの特徴コ
ードを作ることができ、たとえば主コードだけを特徴コ
ードとしても18個のコードができる。隣接するノード
を使ってさらに補助コードを増やすと。
特徴コードを容易に増大できる。
このため、パターン投影法におけるパターン原画として
用いると、パターン原画とパターン像又はパターン像間
の対応を一義的に決定することができ、安定した密度の
高い計測が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のパターン構造を説明する模式図、第2
図は第1の実施例であり、投影パターン像の例を部分的
に示した図、第3図は全体の処理の流れを示したフロー
チャート、第4図は対応付は処理の流れを示すフローチ
ャート、第5図はカメラ2台を用いた第2の実施例のカ
メラと投光系の配置を示す図、第6図はカメラ3台を用
いた第3の実施例のカメラと投光系の配置を示す図、第
7図はパターン投影による表面形状計測装置の実施例構
成を示す図、第8図は波状板への投影パターン像の例を
示すオシロ波形の写真、第9図は処理結果を示す投影像
のオシロ波形の写真であり。 (a)は正面方向から見たもの、 (b)は斜め方向か
ら見たものである。 第3図ないし第7図中、1〜14・・・フローチャート
の各処理、21・・・パターン投影器、22,23.2
5・・・カメラ、24・・・被測定物体、32・・・3
値格子板パターン原板、33・・・投影レンズ、34・
・・ランプ、35・・・画像処理装置、36・・・フレ
ームメモリ、37・・・画像3値化処理回路、38・・
・ノード検出回路、39・・・特徴コード識別回路、4
0・・・テーブル、41・・・カメラ位置方位校正デー
タメモリ、42・・・対応処理装置、43・・・3次元
位置算出回路、44・・・立体表示装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 3値以上の濃淡、又は3色以上の色、又は濃淡と色の組
    合わせによって3種類以上の階調を配置した多値格子板
    パターンを具備し、該パターンを被測定対象物に投影し
    て生じる投影像のエッジ交点又は格子板各領域のコーナ
    ーを特徴点とし該特徴点に周囲の階調分布に応じた特徴
    コードを付与したことを特徴とする空間パターンコード
    化方法。
JP62023764A 1987-02-04 1987-02-04 空間パタ−ンコ−ド化方法 Expired - Fee Related JP2565885B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62023764A JP2565885B2 (ja) 1987-02-04 1987-02-04 空間パタ−ンコ−ド化方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62023764A JP2565885B2 (ja) 1987-02-04 1987-02-04 空間パタ−ンコ−ド化方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63191281A true JPS63191281A (ja) 1988-08-08
JP2565885B2 JP2565885B2 (ja) 1996-12-18

Family

ID=12119406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62023764A Expired - Fee Related JP2565885B2 (ja) 1987-02-04 1987-02-04 空間パタ−ンコ−ド化方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2565885B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000009442A (ja) * 1998-06-22 2000-01-14 Fuji Xerox Co Ltd 3次元画像撮影装置
JP2001116526A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Fuji Xerox Co Ltd 3次元形状計測装置
JP2001338280A (ja) * 2000-05-30 2001-12-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 3次元空間情報入力装置
JP2002191058A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Olympus Optical Co Ltd 3次元画像取得装置および3次元画像取得方法
JP2002206919A (ja) * 2001-01-10 2002-07-26 Fuji Xerox Co Ltd 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法
JP2007017355A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Omron Corp ステレオ対応づけのための投光パターンの生成装置及び生成方法
JP2007101276A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Topcon Corp 三次元計測用投影装置及びシステム
JP2012098087A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Canon Inc 測定装置及び測定方法
JP2016197127A (ja) * 2016-08-02 2016-11-24 キヤノン株式会社 計測装置、計測装置の制御方法、およびプログラム

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3482990B2 (ja) 1998-08-18 2004-01-06 富士ゼロックス株式会社 3次元画像撮影装置
KR20090107536A (ko) * 2007-01-22 2009-10-13 캘리포니아 인스티튜트 오브 테크놀로지 정량적 3-d 이미징을 위한 방법
KR101272573B1 (ko) 2011-11-17 2013-06-10 재단법인대구경북과학기술원 구조광 패턴 기반의 깊이 정보 추정 장치 및 방법

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000009442A (ja) * 1998-06-22 2000-01-14 Fuji Xerox Co Ltd 3次元画像撮影装置
JP2001116526A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Fuji Xerox Co Ltd 3次元形状計測装置
JP2001338280A (ja) * 2000-05-30 2001-12-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 3次元空間情報入力装置
JP2002191058A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Olympus Optical Co Ltd 3次元画像取得装置および3次元画像取得方法
JP2002206919A (ja) * 2001-01-10 2002-07-26 Fuji Xerox Co Ltd 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法
JP2007017355A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Omron Corp ステレオ対応づけのための投光パターンの生成装置及び生成方法
JP2007101276A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Topcon Corp 三次元計測用投影装置及びシステム
JP2012098087A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Canon Inc 測定装置及び測定方法
JP2016197127A (ja) * 2016-08-02 2016-11-24 キヤノン株式会社 計測装置、計測装置の制御方法、およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2565885B2 (ja) 1996-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7103212B2 (en) Acquisition of three-dimensional images by an active stereo technique using locally unique patterns
US7456842B2 (en) Color edge based system and method for determination of 3D surface topology
US20020057832A1 (en) Method and system for acquiring a three-dimensional shape description
US7430312B2 (en) Creating 3D images of objects by illuminating with infrared patterns
US8330803B2 (en) Method and apparatus for 3D digitization of an object
US7298889B2 (en) Method and assembly for the photogrammetric detection of the 3-D shape of an object
US20070057946A1 (en) Method and system for the three-dimensional surface reconstruction of an object
WO2009150799A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
JPS63191281A (ja) 空間パタ−ンコ−ド化方法
US20210004987A1 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
US11640673B2 (en) Method and system for measuring an object by means of stereoscopy
JP2005140547A (ja) 3次元計測方法、3次元計測装置、及びコンピュータプログラム
CN114187363A (zh) 一种获取径向畸变参数值的方法、装置以及移动终端
JP2010071768A (ja) 車両検査装置
JPS60152903A (ja) 位置計測方法
JP2004077290A (ja) 3次元形状計測装置および方法
Chen et al. Realtime structured light vision with the principle of unique color codes
JP7390239B2 (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JP2020046229A (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
CN114494316A (zh) 角点标记方法、参数标定方法、介质及电子设备
JPH0339603A (ja) パターンの輪郭検出方法及びこの方法を用いた測長装置
US11195290B2 (en) Apparatus and method for encoding in structured depth camera system
Tehrani et al. A practical method for fully automatic intrinsic camera calibration using directionally encoded light
JP2961140B2 (ja) 画像処理方法
JP7515979B2 (ja) 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees