JPS63187500A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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Publication number
JPS63187500A
JPS63187500A JP62018404A JP1840487A JPS63187500A JP S63187500 A JPS63187500 A JP S63187500A JP 62018404 A JP62018404 A JP 62018404A JP 1840487 A JP1840487 A JP 1840487A JP S63187500 A JPS63187500 A JP S63187500A
Authority
JP
Japan
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patrol
circuit
data
memory
access
Prior art date
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Pending
Application number
JP62018404A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Tanji
雅行 丹治
Hiroshi Watanabe
弘 渡辺
Yoshiaki Takahashi
義明 高橋
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP62018404A priority Critical patent/JPS63187500A/en
Publication of JPS63187500A publication Critical patent/JPS63187500A/en
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Abstract

PURPOSE:To prevent the increase in the period of patrol by arranging the function of the patrol decentralizingly to a semiconductor storage device. CONSTITUTION:A gate array having several thousands of -several tens of thousands of gates is manufactured recently comparatively easily and it is possible to decentralize the function to each semiconductor storage device 1. The patrol function is provided decentralizing by N-set of semiconductor storage device 1 and patrol is applied to each decentralized unit. Thus, it is not required to apply patrol of memory on by one word via a memory bus 3, then the execution of the main program is not hindered by the patrol program and when the capacity of the memory is increased, the increase in the patrol period with respect to one address is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、情報処理装置に内蔵される半導体記憶装置に
係り、特に大容量の記憶容量が必要とされ、かつ高い信
頼度が要求される情報処理装置に使用するのに適した半
導体記憶装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a semiconductor memory device built into an information processing device, which particularly requires a large storage capacity and high reliability. The present invention relates to a semiconductor memory device suitable for use in an information processing device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体記憶素子を記憶回路に用いた場合、α線等の影響
により、一定の率でデータ誤りが生ずることが知られて
いる。特に大容量の記憶回路を必要とする情報処理装置
では、半導体記憶素子を1000個以上も使用する場合
があり、装置の信頼性を制限する要因となっている。そ
の為従来は、半導体記憶回路より読み出した一語の中に
1 bitの誤りが発生した場合でも、これを訂正する
誤り訂正回路を持つことが一般的である。
It is known that when a semiconductor memory element is used in a memory circuit, data errors occur at a certain rate due to the influence of alpha rays and the like. In particular, information processing devices that require large-capacity storage circuits may use as many as 1,000 or more semiconductor storage elements, which is a factor that limits the reliability of the device. Therefore, conventionally, it is common to have an error correction circuit that corrects even if a 1-bit error occurs in one word read from a semiconductor memory circuit.

半導体記憶装置に高い信頼性が必要とされる場合、1 
bitエラーの発生回数をもって予防保守する方法が考
えられる。これは1例えば特開昭61−11854に見
られるように、記憶装置中に1 bitエラー発生を計
数するカウンタを設け、CPUが定期的にこれを読み出
すことにより実現される。
When high reliability is required for semiconductor storage devices, 1
One possible method is to perform preventive maintenance based on the number of bit errors that occur. This can be achieved, for example, by providing a counter for counting the occurrence of 1-bit errors in the storage device, and having the CPU periodically read out the counter, as seen in Japanese Patent Laid-Open No. 61-11854.

更に他の方法として、訂正不可能な2 bit以上の誤
りが発生する確率を低める為に、ユーザプログラムとは
別のパトロールプログラムを定周期で起動する場合があ
る。パトロールプログラムは。
Still another method is to start a patrol program separate from the user program at regular intervals in order to reduce the probability that an uncorrectable error of 2 bits or more will occur. patrol program.

半導体記憶装置の内容を順次読み取り、1 bit誤り
があった場合にはこれを訂正して再書き込みすることが
行われている。
The contents of a semiconductor memory device are sequentially read, and if there is a 1-bit error, it is corrected and rewritten.

〔発明が解決しようとする問題点〕 前記の従来方式では、半導体記憶装置の容量が飛踊的に
増大した場合に、パトロールの頻度が著しく低下すると
いう問題があった。半導体記憶装置の容量は、これまで
の増加率から2−3年後には現在の16倍にもなること
が予想されるが、この場合従来方式でパトロールプログ
ラムの起動の周期を一定とした場合、記憶装置中の一語
に対するパトロールの頻度が現在の16分の1になる。
[Problems to be Solved by the Invention] The conventional system described above has a problem in that when the capacity of a semiconductor storage device increases dramatically, the frequency of patrols decreases significantly. It is expected that the capacity of semiconductor storage devices will increase by 16 times its current level in 2-3 years based on the current rate of increase. The frequency of patrolling one word in the storage device will be reduced to one-sixteenth of the current frequency.

パトロールプログラムの起動の周期を短くすることによ
り、パトロール頻度を改善することが可能であるが、こ
の場合、主プログラムの実行速度を低下させる結果とな
り、むやみに周期を短くすることができない。
Although it is possible to improve the patrol frequency by shortening the activation period of the patrol program, in this case, the execution speed of the main program will be reduced, and the period cannot be shortened unnecessarily.

本問題を緩和するために、例えば特開昭57−2086
96に見られる様に、パトロール機能をハードウェア化
し、更にCPUよりのアクセスがない間は定められた間
隔ではなくて連続的にパトロールを行うことが考えられ
る。しかし本方式では、CPUがメモリアクセスを行わ
ないことをパトロールのハードウェアが知る必要があり
、特別の連絡信号が必要である。
In order to alleviate this problem, for example,
As shown in 96, it is conceivable to implement the patrol function in hardware and perform patrol continuously instead of at predetermined intervals while there is no access from the CPU. However, in this method, the patrol hardware needs to know that the CPU will not access the memory, and a special communication signal is required.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の問題点は、メモリバスを介してパトロールを集中
管理することに起因するものであり、パトロールの機能
を半導体記憶装置側に分散して配置することにより解決
される。
The above problem is caused by centrally managing patrol via a memory bus, and can be solved by distributing the patrol function to the semiconductor storage device.

ハードウェアコストの面より、従来半導体記憶装置側の
機能はできるだけ限定する必要があったが、現在では数
千〜致方ゲートのゲートアレイを比較的容易に製作する
ことができるようになり、上記に述べる様に、各半導体
記憶装置に機能を分散することが可能となってきている
In the past, it was necessary to limit the functionality of semiconductor memory devices as much as possible to reduce hardware costs, but now gate arrays with several thousand or more gates can be manufactured relatively easily. As described in , it has become possible to distribute functions to each semiconductor memory device.

〔作用〕[Effect]

パトロール機能をN台の半導体記憶装置が分散って持つ
ことにより、各分散した単位毎に同時にパトロールを行
うことができるため、記憶装置のある一語から他の一語
をパトロールする間隔が集中管理の場合と同一とした場
合、ある−語に着目して、その−語がパトロールアクセ
スされる頻度は、集中管理の場合に比して、Nを乗じた
分だけ多くなる。
By having the patrol function distributed among N semiconductor storage devices, it is possible to perform patrols simultaneously for each distributed unit, so the interval at which one word of the storage device is patrolled from one word to another can be centrally controlled. In the same case as in the case of , when focusing on a certain word, the frequency with which that word is patrol accessed increases by an amount multiplied by N compared to the case of centralized management.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面を参照して、本発明の実施例について説明する
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は1本発明による半導体記憶装置の構成を表わす
図である。1はプリント配線板に搭載された半導体記憶
装置を表わし、3は図示しないデータ処理装置(CPU
)との接続を行うメモリバスを表おす、10〜14が半
導体記憶装置の内部回路であって、10はメモリバス3
とデータノ授受を行うメモリバスインターフェイス回路
、20はパトロール回路、30はCPUからのメモリア
クセスとパトロール回路20からのアクセスが同時に生
じた場合に、CPUからのアクセスを優先すると共に記
憶回路40へのメモリアクセスを行う優先判定制御回路
、40はデータの記憶を行うための記憶回路である。2
0に示すパトロール回路は、後述する様に、定期的に記
憶回路40に読取りアクセスを行い、1ビツト(bit
)エラーを検出した場合にはそのデータを訂正して同一
のアドレスに書き込みを行うものである。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a semiconductor memory device according to the present invention. 1 represents a semiconductor memory device mounted on a printed wiring board, and 3 represents a data processing device (CPU, not shown).
), 10 to 14 are internal circuits of the semiconductor storage device, and 10 is the memory bus 3.
20 is a patrol circuit; 30 is a memory bus interface circuit that gives priority to access from the CPU when memory access from the CPU and access from the patrol circuit 20 occur simultaneously; A priority determination control circuit performs access, and 40 is a storage circuit for storing data. 2
The patrol circuit shown at 0 periodically reads the memory circuit 40 and stores 1 bit (bit) as described below.
) If an error is detected, the data is corrected and written to the same address.

第2図は、CPU2と半導体記憶装置1の接続関係を表
わす図で、本図は一つのCPU2に対して4っの半導体
記憶装置1がメモリバス3を介して接続された例を表わ
す。1つの半導体記憶装置1は、メモリバス3の中のア
ドレス信号の一部により自装置が選択されていることを
検出して、CPU2とのデータの授受を行う。
FIG. 2 is a diagram showing the connection relationship between the CPU 2 and the semiconductor memory device 1. This figure shows an example in which four semiconductor memory devices 1 are connected to one CPU 2 via the memory bus 3. One semiconductor memory device 1 detects that it is selected by some of the address signals in the memory bus 3 and exchanges data with the CPU 2 .

第3図は、第1図にて説明した半導体記憶装置の詳細な
構成を表わす図である。
FIG. 3 is a diagram showing the detailed configuration of the semiconductor memory device explained in FIG. 1.

11〜14はメモリバスとのインターフェイス回路10
を表わし、11は記憶回路40より読み取ったデータを
保持するレジスタ(RDT)、12は記憶回路40に書
き込むデータを保持するレジスタ(WDT)、13は上
記動作を実行する°アドレスを保持するレジスタ(A 
D R)を示し、14は制御信号のインターフェイス回
路(CTL)を表わす。21〜28はパトロール回路を
構成する要素である。21はパトロールを行う周期信号
を発生する回路である0本実施例では半導体記憶装置内
部で一定の周期信号を作り出す構成となっているが、メ
モリバスに制御信号を設けて周期を可変とすることも、
またメモリバスに直接周期信号を設けることによりパト
ロールのタイミングを作ることも可能である。22はパ
トロール動作の制御を行う回路であり、23はパトロー
ルするアドレスを発生するカウンタ(ACNT)、また
24は読み取り誤りが発生したアドレスを保持するレジ
スタ(A P R)であって、25は読み取り誤りが発
生したビット位置に関する情報を保持するレジスタ(S
DR)である。26はデータの誤りを検出・訂正する回
路(ECCCK−CR)であり、27は訂正後のデータ
を保持するレジスタ(RBF)、28はエラー訂正を行
うための訂正符号を生成する回路(ECCGN)である
11 to 14 are interface circuits 10 with the memory bus
, 11 is a register (RDT) that holds data read from the memory circuit 40, 12 is a register (WDT) that holds data to be written to the memory circuit 40, and 13 is a register (that holds the address for executing the above operation). A
DR), and 14 represents a control signal interface circuit (CTL). 21 to 28 are elements constituting a patrol circuit. 21 is a circuit that generates a periodic signal for patrolling. In this embodiment, a constant periodic signal is generated inside the semiconductor storage device, but the period can be made variable by providing a control signal on the memory bus. too,
It is also possible to create patrol timing by providing a periodic signal directly on the memory bus. 22 is a circuit that controls the patrol operation, 23 is a counter (ACNT) that generates the address to be patrolled, 24 is a register (APR) that holds the address where a reading error has occurred, and 25 is a circuit that controls the patrol operation. A register (S) that holds information about the bit position where an error occurred
DR). 26 is a circuit for detecting and correcting data errors (ECCCK-CR), 27 is a register (RBF) that holds the corrected data, and 28 is a circuit that generates a correction code for error correction (ECCGN). It is.

30は記憶回路40(以下メモリ回路と略称する)への
アクセスの優先判定を行うとともに、メモリの制御を行
う回路である0本実施例ではメモリ回路40にダイナミ
ックRAMを使用する例を示しており、優先順位はリフ
レッシュ、CPUからのメモリアクセス及びパトロール
アクセスの順序である。尚メモリ回路40にスタチック
RAMを用いた場合にはリフレッシュ回路44は不要と
なる。
Reference numeral 30 is a circuit that determines the priority of access to the memory circuit 40 (hereinafter abbreviated as the memory circuit) and also controls the memory. In this embodiment, a dynamic RAM is used as the memory circuit 40. , the priority is the order of refresh, memory access from the CPU, and patrol access. Note that if a static RAM is used as the memory circuit 40, the refresh circuit 44 is not necessary.

41〜44はメモリ回路40を構成する例であり、41
は半導体によるメモリ素子を表わし、42は書き込みデ
ータのバッファ(WBF)、43はアドレスのバッファ
(ABF)を表わす・これらは多数のメモリ素子に各信
号を分配するものである。44はダイナミックRAMの
リフレッシュを行う為の回路である。
41 to 44 are examples of configuring the memory circuit 40;
represents a semiconductor memory element, 42 represents a write data buffer (WBF), and 43 represents an address buffer (ABF).These are for distributing each signal to a large number of memory elements. 44 is a circuit for refreshing the dynamic RAM.

第3図において、CPU2からのデータ読取り要求が生
じた場合、14のインターフェイス回路を通じて優先判
定制御回路30により優先判定が行われ、リフレッシュ
要求がなければメモリ素子41よりデータの読み取りを
行い、エラー検出・訂正回路26を通じて読取りデータ
レジスタ11に保持する。このときアドレスはアドレス
レジスタ13及びアドレスバッファ43を通じてメモリ
素子41に伝えておく。
In FIG. 3, when a data read request is issued from the CPU 2, priority determination is performed by the priority determination control circuit 30 through 14 interface circuits, and if there is no refresh request, data is read from the memory element 41 and an error is detected. -Hold in the read data register 11 through the correction circuit 26. At this time, the address is transmitted to the memory element 41 through the address register 13 and address buffer 43.

一方、タイマー回路21によって生じた一定の周期毎に
制御回路22がパトロール要求を起こす。
On the other hand, the control circuit 22 issues a patrol request every fixed period generated by the timer circuit 21.

同時にリフレッシュ回路44又はCPU2からのアクセ
スがなければ優先判定制御回路30によってこのパトロ
ール要求が受けつけられ、アドレスカウンタ23の示す
アドレスのデータを読み取る。
If there is no access from the refresh circuit 44 or the CPU 2 at the same time, this patrol request is accepted by the priority determination control circuit 30, and the data at the address indicated by the address counter 23 is read.

読み取りの結果は誤り検出・訂正回路26より制御回路
22に伝えられ、誤りがなければパトロール要求を取り
消し、アドレスカウンタ23にパルスを出力し、カウン
トUPを行わせる。読み取り結果が1 bit誤りであ
れば、訂正後のデータをデータレジスタ27に一時保持
し、誤り訂正符号を28の回路で付加したのちにメモリ
素子41に書き込みを行った後にアドレスカウンタのカ
ウントUPを行う。この時誤り検出した読み取りと、訂
正データの書き込みの間にCPUからのメモリアクセス
要求が入り込まないことを保証するために、制御回路2
2は要求を立て放しにしておく。また読み取り誤りが生
じた場合にはそのアドレスをアドレスフリーズレジスタ
24に保持するとともに、どのビット位置で生じたかの
情報をシンドロームレジスタ25に保持する。これらの
情報は、半導体記憶装置1上にランプを設けて表示する
ことも可能であるが1本実施例ではCPUより読み取り
が行える様、アドレスフリーズレジスタ24とシンドロ
ームレジスタ25の出力は共に読み取りデータレジスタ
11の入力に接続しである。
The read result is transmitted from the error detection/correction circuit 26 to the control circuit 22, and if there is no error, the patrol request is canceled and a pulse is output to the address counter 23 to cause it to count up. If the read result is a 1-bit error, the corrected data is temporarily held in the data register 27, an error correction code is added by the circuit 28, and after writing to the memory element 41, the address counter is incremented. conduct. At this time, the control circuit 2
2. Leave the request open. If a reading error occurs, the address is held in the address freeze register 24, and information on which bit position the error occurred is held in the syndrome register 25. Although it is possible to display this information by providing a lamp on the semiconductor memory device 1, in this embodiment, the outputs of the address freeze register 24 and the syndrome register 25 are both read data registers so that they can be read by the CPU. 11 input.

2 bit以上の誤りが発生した場合には、エラー検出
・訂正回路26でデータの訂正を行うことができないた
め、制御回路22は、正しく読み取れた場合と同じ動作
を行う。従って前記の2 bit以上の誤りは、そのア
ドレスにCPUが読み取りのアクセルを行った場合にの
みシステムプログラムに伝えられる。
If an error of 2 bits or more occurs, the error detection/correction circuit 26 cannot correct the data, so the control circuit 22 performs the same operation as when the data is read correctly. Therefore, the above-mentioned error of 2 bits or more is reported to the system program only when the CPU performs a read access to that address.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、メモリパスを介して一語ずつメモリの
パトロールを行う必要がなくなる為に、主プログラムの
実行がパトロールプログラムにより妨げられることがな
くなるとともに、メモリの容量が大きくなった場合に、
−アドレスに対するパトロール周期−の増大を防止する
ことが可能である。又、本回路全体が1個のゲートアレ
イLSIに収納可能であり本発明を採用することによる
物量及び原価の増大は実用上問題ない。
According to the present invention, there is no need to patrol the memory word by word via the memory path, so the execution of the main program is not hindered by the patrol program, and even when the memory capacity increases,
It is possible to prevent an increase in the patrol cycle for addresses. Further, the entire circuit can be housed in one gate array LSI, and there is no practical problem in increasing the quantity and cost due to the adoption of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例の概略ブロック図、第2図は本
発明の情報処理装置中の位置付けを表わす図、第3図は
本発明の詳細な構成を表わす図である。 1・・・半導体記憶装置、2・・・CPU、10・・・
メモリパスインターフェイス、20・・・パトロール回
路、第1日 率2図 不3図
FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the invention, FIG. 2 is a diagram showing the positioning of the invention in an information processing apparatus, and FIG. 3 is a diagram showing the detailed configuration of the invention. 1... Semiconductor storage device, 2... CPU, 10...
Memory path interface, 20...Patrol circuit, 1st day rate 2 figures and 3 figures

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、定期的に、データを記憶する記憶回路に読取りアク
セスを行うパトロール回路と、読み取つたデータに1ビ
ットエラーを検出した場合にはそのデータを訂正して同
一のアドレスに書込み動作を行なわせる誤り検出・訂正
および再書込み機能を有する半導体記憶装置において、
データ処理装置からのアクセスと該パトロール回路から
のアクセスが同時にあつた場合にデータ処理装置からの
アクセスを優先して記憶回路にアクセスを行なわせる優
先判定制御回路と、該パトロール回路からの読取りアク
セスによつて1ビットエラーを検出した場合に、誤り検
出から訂正データの書込みが終了するまでの期間、該パ
トロール回路からのアクセス要求を継続させる手段を設
け、誤り検出から訂正データの書込みが終了するまで該
処理装置からのメモリアクセス要求を阻止するようにし
たことを特徴とする半導体記憶装置。 2、パトロール回路によるメモリアドレスの更新は、読
取りデータに誤りがないか、或いは、誤りがあつた場合
は、訂正後のデータを書込んだことを条件に行うことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装置
[Claims] 1. A patrol circuit that periodically performs read access to a memory circuit that stores data, and if a 1-bit error is detected in the read data, corrects the data and returns it to the same address. In a semiconductor memory device having error detection/correction and rewriting functions for performing a write operation,
A priority determination control circuit that gives priority to the access from the data processing device and accesses the storage circuit when there is an access from the data processing device and an access from the patrol circuit at the same time; Therefore, when a 1-bit error is detected, a means is provided to continue the access request from the patrol circuit during the period from error detection to the end of writing of correction data. A semiconductor memory device characterized in that a memory access request from the processing device is blocked. 2. The scope of claims characterized in that the memory address is updated by the patrol circuit on the condition that there is no error in the read data, or if there is an error, the corrected data is written. 2. The semiconductor memory device according to item 1.
JP62018404A 1987-01-30 1987-01-30 Semiconductor storage device Pending JPS63187500A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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