JPS63187335A - Data selecting method - Google Patents

Data selecting method

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JPS63187335A
JPS63187335A JP62018630A JP1863087A JPS63187335A JP S63187335 A JPS63187335 A JP S63187335A JP 62018630 A JP62018630 A JP 62018630A JP 1863087 A JP1863087 A JP 1863087A JP S63187335 A JPS63187335 A JP S63187335A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
data group
memory device
word
group
Prior art date
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Pending
Application number
JP62018630A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruo Hayamizu
速水 治夫
Hideki Fukuoka
福岡 秀樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Priority to JP62018630A priority Critical patent/JPS63187335A/en
Publication of JPS63187335A publication Critical patent/JPS63187335A/en
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Abstract

PURPOSE:To execute a selection by a memory device which has decreased 1 bit per 1 word, by constituting each word of the memory device of 3 bits, and assigning three kinds of values in which a hamming distance is separated by >=2 among eight kinds of values which can be expressed by 3 bits, to an initial state, an existence state of a data group 1, and an existence state of a data group 2, respectively. CONSTITUTION:A memory device storing the existence of data of both data groups is collected to one, and its 1 word is constituted of 3 bits. Subsequently, among eight kinds of values which can be expressed by 3 bits, three kinds of values in which a hamming distance is separated by >=2 are selected, and are assigned to an initial state, an existence state of a data group 1, and an existence state of a data group 2, respectively. In such a way, a memory which is constituted of total 4 bits per 1 word up to now can be decreased to 3 bits per 1 word, while keeping the same effect.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の属する技術分野) 本発明は、2つのデータ群の中で相互にデータ内容が一
致するデータのみを選別するデータ選別方法に関するも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical field to which the invention pertains) The present invention relates to a data selection method for selecting only data whose data contents match each other from two data groups.

(従来の技術) データ処理の分野では、2つのデータ群について相互に
データ内容の一致するデータを抽出して結合する要求が
しばしば生じる。この場合、各々のデータ群のデータ量
が多い場合は、直接結合すると結合に長時間を要するた
め、予め各々のデータ群から結合の可能性のないデータ
を除去し、結合時間を短縮させるデータ選択の操作が用
いられる。
(Prior Art) In the field of data processing, there is often a need to extract and combine data whose data contents match each other from two data groups. In this case, if the amount of data in each data group is large, it will take a long time to combine directly, so data selection is performed to shorten the combining time by removing data that has no possibility of being combined from each data group in advance. The following operations are used.

第5図は従来のデータ選別操作の原理を説明する図で、
1,2はデータ群、3は所定のハツシュ関数を持つハツ
シュ回路、4,5はハツシュ値をアドレス空間とするメ
モリ装置、6,7は選別されたデータ群である。
Figure 5 is a diagram explaining the principle of conventional data sorting operation.
1 and 2 are data groups, 3 is a hash circuit having a predetermined hash function, 4 and 5 are memory devices whose address spaces are hash values, and 6 and 7 are selected data groups.

操作は、先ずメモリ装置4,5の全ワードをit Oj
jに設定した後、データ群lの各データ内容をハツシュ
回路3でハツシュ値に変換し、その値に対応するメモリ
装置5の該当ワードに“′1″を設定する。この操作を
操作10と呼ぶ。
The operation begins by writing all the words in the memory devices 4 and 5 as it Oj
After setting j, each data content of the data group l is converted into a hash value by the hash circuit 3, and "'1" is set in the corresponding word of the memory device 5 corresponding to the value. This operation is called operation 10.

操作10が終了したら、次にデータ群2の各データ内容
をハツシュ回路3でハツシュ値に変換し1、その値に対
応するメモリ装置5の該当ワードを参照し、値が“1″
″である時はそのデータはデータ群1に一致するデータ
が存在するとしてそのデータを選択してデータ群7を得
るとともに、前記ハツシュ値に対応するメモリ装置4の
該当ワードにtt I IIを設定する。この操作を操
作11と呼ぶ。
When operation 10 is completed, the hash circuit 3 converts each data content of the data group 2 into a hash value 1, and the corresponding word in the memory device 5 corresponding to that value is referred to, and the value is "1".
'', the data matches data group 1, and that data is selected to obtain data group 7, and tt I II is set in the corresponding word of the memory device 4 corresponding to the hash value. This operation is called operation 11.

操作11が終了したら、更にデータ群1の各データ内容
を再度ハツシュ回路3でハツシュ値に変換し、その値に
対応するメモリ装置4の該当ワードを参照し、値が/(
11gである時はそのデータはデータ群2に一致するデ
ータが存在するとしてそのデータを選択してデータ群6
を得る。
When operation 11 is completed, each data content of data group 1 is converted into a hash value again by the hash circuit 3, and the corresponding word in the memory device 4 corresponding to that value is referred to, and the value is /(
11g, the data matches data group 2, and that data is selected and data group 6 is selected.
get.

この操作を操作I2と呼ぶ。This operation is called operation I2.

第5図では、例えばデータ群1を”ABDDFG”、デ
ータ群2を“AACDEFFH”とした場合、選別され
たデータ群6,7として”ADDF”、”AADFF”
が得られることを示している。
In FIG. 5, for example, if data group 1 is "ABDDFG" and data group 2 is "AACDEFH", selected data groups 6 and 7 are "ADDF" and "AADFF".
This shows that it is possible to obtain

第6図は、第5図の操作10.11.12のタイムチャ
ートである。
FIG. 6 is a time chart of operations 10.11.12 in FIG.

以上の説明において、メモリ装置4,5の1ワードは、
論理的には1ビットであるが、しばしばメモリの1ビッ
ト障害に対処する為、メモリを2ビット構成とし、その
1ビット目をデータビット、2ビット目をパリティビッ
トとする従来よりよく知られたメモリ装置の障害対策が
採られる。
In the above explanation, one word of the memory devices 4 and 5 is
Logically it is 1 bit, but in order to deal with 1-bit failures in memory, it is often known that the memory is made up of 2 bits, with the 1st bit being the data bit and the 2nd bit being the parity bit. Measures will be taken to deal with memory device failures.

この場合、KI OI IIを論理的なego”に、t
L 10 jlを論理的な“1″に対応させ、これら以
外のII OOII、パ11″′が読み出された場合は
、メモリ装置に障害が発生しているとして所定の障害処
理を行う。
In this case, KI OI II becomes logical ego”, t
L 10 jl is made to correspond to logical "1", and if II OOII and PA 11''' other than these are read, it is determined that a failure has occurred in the memory device and predetermined failure processing is performed.

このため、メモリ装置2台で1ワード当り合計4ビット
となっている。
Therefore, the total number of bits per word is 4 bits in two memory devices.

本方法のメモリ装置4,5の構成は同一である。The configurations of the memory devices 4, 5 in this method are the same.

第7図は従来方法のメモリ装置の構成例であり、91は
アドレスレジスタ、92は書き込みレジスタ、93は読
み出しレジスタ、94は制御回路、95は2ビット構成
のメモリを示す。
FIG. 7 shows an example of the configuration of a conventional memory device, where 91 is an address register, 92 is a write register, 93 is a read register, 94 is a control circuit, and 95 is a 2-bit memory.

上記の方法で、データ群1,2の一致するデータを精度
良く選別するためには、メモリ装置4゜5のワード数は
データ群1,2のデータ数の許容最大数の5倍ないし1
0倍が必要とされている。
In order to accurately select matching data in data groups 1 and 2 using the above method, the number of words in the memory device 4.5 must be 5 times to 1 times the maximum allowable number of data in data groups 1 and 2.
0x is required.

しかも、上記方法を適用するのはデータ群1゜2のデー
タ数の許容最大数が非常に大きい場合である為、上記パ
リティピットが合計2ビットあることは装置規模を大き
く膨らませるという欠点となっている。
Moreover, since the above method is applied when the maximum permissible number of data in a data group 1゜2 is extremely large, the fact that the parity pits have a total of 2 bits has the disadvantage of greatly increasing the scale of the device. ing.

(発明の目的) 本発明の目的は、従来の方法と同一の選別精度を保ち、
かっ1ワード当り1ビット少ないメモリ装置で選別する
方法を提供することにある。
(Object of the invention) The object of the present invention is to maintain the same sorting accuracy as the conventional method,
Another object of the present invention is to provide a method for selecting a memory device with one bit less per word.

(発明の構成) (発明の特徴と従来の技術の差異) 本発明は、両データ群のデータの存在を記録するメモリ
装置を1つにまとめ、その1ワードを3ビット構成とし
、3ビットで表現できる8種の値の内、ハミングの距離
が2以上離れた3種の値を選び、各々初期状態、データ
群1の存在状態、データ群2の存在状態に割り当てるこ
とを最も主要な特徴とする。
(Structure of the Invention) (Characteristics of the Invention and Differences between the Prior Art) The present invention combines memory devices that record the existence of data of both data groups into one, and makes one word of the memory device consist of 3 bits. The most important feature is that out of the eight values that can be expressed, three values with a Hamming distance of 2 or more are selected and assigned to the initial state, the existence state of data group 1, and the existence state of data group 2, respectively. do.

(実施例) 第1図は、本発明のデータ選別方法の一実施例の原理を
説明する図で、1,2はデータ群、8は所定のハツシュ
関数を持つハツシュ回路、9はハツシュ値をアドレス空
間とするメモリ装置、6゜7は選別されたデータ群であ
る。
(Example) FIG. 1 is a diagram explaining the principle of an embodiment of the data selection method of the present invention, in which 1 and 2 are data groups, 8 is a hash circuit having a predetermined hash function, and 9 is a hash value. A memory device serving as an address space, 6.7 is a selected data group.

メモリ装置9は、その一実施例を後述するように、3ビ
ット構成である。
The memory device 9 has a 3-bit configuration, as will be described in one embodiment later.

操作は、先ずメモリ装置9の全ワードを「初期状態」(
例えば’ 101 ”とする)に設定した後、データ群
1の各データ内容をハツシュ回路8でハツシュ値に変換
し、その値に対応するメモリ装置9の該当ワードに「デ
ータ群1の存在状態」(例えば” 110 ”とする)
を設定する。この操作を操作13と呼ぶ。
The operation begins by putting all words in the memory device 9 into the "initial state" (
For example, '101'), each data content of data group 1 is converted into a hash value by hash circuit 8, and the corresponding word of memory device 9 corresponding to that value is written as ``existence state of data group 1''. (For example, “110”)
Set. This operation is called operation 13.

操作13が終了したら、次にデータ群2の各データ内容
をハツシュ回路8でハツシュ値に変換し、その値に対応
するメモリ装置9の該当ワードを参照し、その内容が“
110”または既に” 011 ”である時は、 ■ そのデータはデータ群1に一致するデータが存在す
るとしてそのデータを選択してデータ群7を得る。
When operation 13 is completed, the hash circuit 8 converts each data content of the data group 2 into a hash value, and the corresponding word in the memory device 9 corresponding to that value is referred to, and the content is "
110" or is already "011", (1) It is assumed that data matching data group 1 exists, and that data is selected to obtain data group 7.

■ 同時に前記ハツシュ値に対応するメモリ装置4の該
当ワードに「データ群2の存在状態」(例えば“011
”とする)を設定する。
■ At the same time, the corresponding word of the memory device 4 corresponding to the hash value is written as the “existence state of data group 2” (for example, “011
”).

この操作を操作14と呼ぶ。This operation is called operation 14.

操作14が終了したら、更にデータ群1のデータ内容を
再度ハツシュ回路8でハツシュ値に変換し、その値に対
応するメモリ装置9の該当ワードを参照し、その内容が
“011”である時は、そのデータはデータ群2に一致
するデータが存在するとしてそのデータを選択してデー
タ群6を得る。
When operation 14 is completed, the data content of data group 1 is again converted into a hash value by the hash circuit 8, and the corresponding word in the memory device 9 corresponding to that value is referred to, and if the content is "011", , the data matches data group 2, and that data is selected to obtain data group 6.

この操作を操作15と呼ぶ。This operation is called operation 15.

第1図では、第5図と同様にデータ群1をIIABDD
FG”、データ群2を“AACDEFFH”とした場合
、選別されたデータ群6.7として“ADDF”、”A
ADFF”が得られることを示している。
In Figure 1, data group 1 is set to IIABDD as in Figure 5.
FG”, data group 2 is “AACDEFFH”, the selected data group 6.7 is “ADDF”, “A
This shows that "ADFF" can be obtained.

第2図は、第1図の操作13.14.15のタイムチャ
ートである。
FIG. 2 is a time chart of operations 13, 14, and 15 in FIG.

第3図はメモリ装置9の一実施例を示す。FIG. 3 shows one embodiment of the memory device 9. As shown in FIG.

同図において、90は1ワード3ビット構成のメモリ、
91はハツシュ回路8から出力されるハツシュ値をセッ
トするメモリ90のアドレスレジスタ、92はメモリ9
0に所定の値を書き込む書き込みレジスタ、93はメモ
リ90の読み出しレジスタ、94は全体の制御およびメ
モリの読み出し結果を判定する制御回路である。
In the figure, 90 is a memory with 1 word and 3 bits;
91 is an address register of a memory 90 for setting the hash value output from the hash circuit 8; 92 is an address register of the memory 9;
A write register 93 writes a predetermined value to 0, a read register 93 for the memory 90, and a control circuit 94 for overall control and for determining the result of reading the memory.

第4図は、本実施例における、メモリ90の1ワードの
取り得る値とそれらに対応する状態の説明図であり、第
4図(a)はメモリの値、第4図(b)は対応する状態
を示している。
FIG. 4 is an explanatory diagram of possible values of one word of the memory 90 and their corresponding states in this embodiment, where FIG. 4(a) is the value of the memory and FIG. 4(b) is the corresponding state. Indicates the state of

本実施例の“101”、” 1 ]、 O”、”011
”は、互いにハミングの距離が2離れた値の組の例であ
る。
“101”, “1], O”, “011” in this example
” is an example of a set of values having a Hamming distance of 2 from each other.

同図に示すように、有為な状態” 101 ”、” 1
10 ”、“011”以外は障害状態としており、メモ
リが1ビット障害となった場合および3ビットバースト
障害(“000”、”111”固定)となった場合を検
出可能である。
As shown in the figure, the significant states "101", "1"
Anything other than ``10'' and ``011'' is considered to be a failure state, and it is possible to detect a 1-bit memory failure or a 3-bit burst failure (fixed at ``000'' and ``111'').

本発明は、ハツシュ回路8の構成がどんな場合にも有効
である。
The present invention is effective regardless of the configuration of the hash circuit 8.

(発明の効果) 従来の方法では、メモリが1ワード当り合計4ビットで
あったが、本発明の方法では、同一の効果を保ちつつ、
1ワード当り3ビットに減じることができる。
(Effects of the invention) In the conventional method, the memory was 4 bits in total per word, but in the method of the present invention, while maintaining the same effect,
It can be reduced to 3 bits per word.

データ群の許容最大数を10万と仮定する場合、1ワー
ド当り1ビットの削減は50万ないし100万ビット、
即ち61キロないし122キロバイトの削減効果である
Assuming that the maximum allowable number of data groups is 100,000, the reduction of 1 bit per word is 500,000 to 1,000,000 bits,
That is, the reduction effect is 61 kilobytes to 122 kilobytes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のデータ選別方法の一実施例の原理の説
明図、 第2図は第1図の操作13〜15のタイムチャート、第
3図は第1図のメモリ装置9の一実施例、第4図はメモ
リ90の1ワードの取り得る値とそれに対応する状態の
説明図、 第5図は従来のデータ選別操作方法の原理の説明図、第
6図は第5図の操作10.11.12のタイムチャート
、第7図は従来方法のメモリ装置の構成例である。 1.2・・・データ群、 3.8 ・・・ハツシュ回路、 4.5.9  ・・・ハツシュ値をアドレス空間とする
メモリ装置、 6.7・・・選別されたデータ群、 90  ・・ 1ワード3ピツ1〜構成のメモリ、旧・
・・アドレスレジスタ、 92・・・書き込みレジスタ、 93・・ 読み出しレジスタ、 94・・・制御回路。 第3図 92  sき公与レジスタ 93  S牝かヱしレジ叉り 第4図
FIG. 1 is an explanatory diagram of the principle of one embodiment of the data selection method of the present invention, FIG. 2 is a time chart of operations 13 to 15 in FIG. 1, and FIG. 3 is an implementation of the memory device 9 in FIG. 1. For example, FIG. 4 is an explanatory diagram of the possible values of one word of the memory 90 and the corresponding states, FIG. 5 is an explanatory diagram of the principle of the conventional data sorting operation method, and FIG. 6 is the operation 10 of FIG. The time chart of .11 and 12, FIG. 7, is an example of the configuration of a memory device using the conventional method. 1.2... Data group, 3.8... Hash circuit, 4.5.9... Memory device with hash value as address space, 6.7... Selected data group, 90.・Memory of 1 word 3 bits 1 ~ configuration, old ・
...Address register, 92...Write register, 93...Read register, 94...Control circuit. Figure 3 92 S public register 93 S female cashier register Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 2つのデータ群について、相互にデータ内容の一致する
データのみを選別するために、ハッシュ回路とその出力
であるハッシュ値をアドレス空間とするメモリ装置とを
備え、 まず、データ群1の各データについてハッシュ値を求め
、各ハッシュ値に対応するメモリ装置の該当ワードにデ
ータ群1の存在状態を記録し、次にデータ群2の各デー
タについて同一のハッシュ回路でハッシュ値を求め、メ
モリの対応するワードが存在状態であればデータ群2の
そのデータはデータ群1のいずれかのデータと一致する
とみなして選択するとともに、メモリ装置にデータ群2
の存在状態を記録し、更にデータ群1について再度同一
のハッシュ回路でハッシュし、該当ワードがデータ群2
の存在状態であればそのデータ群2のいずれかのデータ
と一致するものとみなしそのデータを選択するデータ選
別方法において、上記メモリ装置の各ワードを3ビット
構成とし、3ビットで表現できる8種の値の内、ハミン
グの距離が2以上離れた3種の値を各々初期状態、デー
タ群1の存在状態、データ群2の存在状態に割り当てる
ことを特徴とするデータ選別方法。
[Claims] In order to select only data whose data contents match each other from two data groups, a hash circuit and a memory device whose address space is the hash value output from the hash circuit are provided. A hash value is calculated for each data in group 1, the existence state of data group 1 is recorded in the corresponding word of the memory device corresponding to each hash value, and then a hash value is calculated for each data in data group 2 using the same hash circuit. If the corresponding word in the memory exists, it is assumed that the data in data group 2 matches any data in data group 1 and is selected, and data group 2 is stored in the memory device.
The existence state of data group 1 is recorded, and data group 1 is hashed again using the same hash circuit, and the corresponding word is added to data group 2.
In this data sorting method, each word of the memory device has a 3-bit configuration, and eight types of data that can be expressed with 3 bits are selected. A data selection method characterized in that three types of values separated by a Hamming distance of two or more are assigned to an initial state, an existence state of a data group 1, and an existence state of a data group 2, respectively.
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