JPS63172930A - 光量検出回路 - Google Patents
光量検出回路Info
- Publication number
- JPS63172930A JPS63172930A JP439087A JP439087A JPS63172930A JP S63172930 A JPS63172930 A JP S63172930A JP 439087 A JP439087 A JP 439087A JP 439087 A JP439087 A JP 439087A JP S63172930 A JPS63172930 A JP S63172930A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- operational amplifier
- circuit
- photodiode
- light
- switch element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は局所部分から受光される光量を選択的に検出す
ると共に、局所部分から受光される光の合成光量を精度
良く検出できる光量検出回路に関する。
ると共に、局所部分から受光される光の合成光量を精度
良く検出できる光量検出回路に関する。
従来の光量検出回路は、第４図に示すように、ダイオー
ド３０を負帰還回路とする演算増幅器２０と、その演算
増幅器２０の非反転入力端子１にアノードが接続され演
算増幅器２０の反転入力端子２にカソードが接続された
ホトダイオード１０とで構成されている。そして、演算
増幅器２０の非反転入力端子１にはリファレンス電圧Ｖ
ｒ＠ｒが入力し、演算増幅器２０の帰還作用により演
算増幅器２０の非反転入力端子１と反転入力端子２との
間の電圧、即ち、ホトダイオード１０のアノードとカソ
ード間の電圧は０〔■〕になる。 このホトダイオード１０に光が入射すると、ホトダイオ
ード１０の端子間電圧は演算増幅器２０により零となる
ように制御されるので、ホトダイオード１０のアートか
らは入射光口に比例した短絡光起電流Ｉ。が流出する。 演算増幅器２０の入力インピーダンスは無限大とみなせ
るので帰還回路を構成するダイオード３０に短絡光起電
流１ ｓｈが流れることになる。ダイオード３０の電流
Ｉと電圧■の特性は １＝Ｉｅ、（ＥＸＰ（ｑＶ／ｋＴ）−１）
−４１）と表されるので演算増幅器２０の出力電圧■。 、、ｔは次式で求められる。 Ｖｃ＋ｕｔ ＝ Ｖｒｍｒ ＋Ｖｔ Ｉｎ （Ｉ ａｈ
／ Ｉｃｏ） ””（２）ただし、Ｖ Ｔ ＝ ｋ
Ｔ ／ ｑで■。。はダイオードの逆方向飽和電流であ
る。（２）式より、出力電圧Ｖ。ｕＬは短絡光起電流Ｉ
Ｓ１．の増減、即ち、光■の増減に伴って増減する。
ド３０を負帰還回路とする演算増幅器２０と、その演算
増幅器２０の非反転入力端子１にアノードが接続され演
算増幅器２０の反転入力端子２にカソードが接続された
ホトダイオード１０とで構成されている。そして、演算
増幅器２０の非反転入力端子１にはリファレンス電圧Ｖ
ｒ＠ｒが入力し、演算増幅器２０の帰還作用により演
算増幅器２０の非反転入力端子１と反転入力端子２との
間の電圧、即ち、ホトダイオード１０のアノードとカソ
ード間の電圧は０〔■〕になる。 このホトダイオード１０に光が入射すると、ホトダイオ
ード１０の端子間電圧は演算増幅器２０により零となる
ように制御されるので、ホトダイオード１０のアートか
らは入射光口に比例した短絡光起電流Ｉ。が流出する。 演算増幅器２０の入力インピーダンスは無限大とみなせ
るので帰還回路を構成するダイオード３０に短絡光起電
流１ ｓｈが流れることになる。ダイオード３０の電流
Ｉと電圧■の特性は １＝Ｉｅ、（ＥＸＰ（ｑＶ／ｋＴ）−１）
−４１）と表されるので演算増幅器２０の出力電圧■。 、、ｔは次式で求められる。 Ｖｃ＋ｕｔ ＝ Ｖｒｍｒ ＋Ｖｔ Ｉｎ （Ｉ ａｈ
／ Ｉｃｏ） ””（２）ただし、Ｖ Ｔ ＝ ｋ
Ｔ ／ ｑで■。。はダイオードの逆方向飽和電流であ
る。（２）式より、出力電圧Ｖ。ｕＬは短絡光起電流Ｉ
Ｓ１．の増減、即ち、光■の増減に伴って増減する。
例えばカメラ用の露出計では、焦点を合わせた被写物体
からの反射光の光量に応じて露出量が測定されるのが望
ましい。しかし、被写全体からの光は単一のホトダイオ
ードの受光面に入射するため被写全体の光量が検出され
、露出量は被写全体の平均光量に応じて測定される。こ
のためミ焦点を合わせた被写物体とその背景との間で著
しく光量に差がある場合には、その被写物体を撮影する
露出量が適切でないという問題がある。 かかる問題を解決するためには、従来の単一のホトダイ
オードを用いた光量検出回路を第５図に示すように複数
個並列に接続して、被写全体の各部毎に光量を測定する
ことが考えられる。しかし、各部の光量、即ち各演算増
幅器の出力を合成しているため、多くの問題点がある。 第１に、各演算増幅器の出力はその帰還回路にダイオー
ドを用いているため各部に入射した光量の対数に比例し
た値となるので、そのまま各出力を加算しても各部の入
射光量の和を求めることができない。したがって、各演
算回路の出力を一旦指数変換した上で加算する必要が生
じ回路構成が複雑となる。第２に、各演算増幅器はオフ
セット調整を必要とし、正確な調整が行われなければ各
演算増幅器のオフセット電圧が加算され光量測定の誤差
が大きくなる。 本発明は、上記の問題点を解決するために成されたもの
であり、その目的とするところは、簡単な回路構成で各
部の光量を選択的に検出すると共に各部の合成光量を精
度良く検出することである。
からの反射光の光量に応じて露出量が測定されるのが望
ましい。しかし、被写全体からの光は単一のホトダイオ
ードの受光面に入射するため被写全体の光量が検出され
、露出量は被写全体の平均光量に応じて測定される。こ
のためミ焦点を合わせた被写物体とその背景との間で著
しく光量に差がある場合には、その被写物体を撮影する
露出量が適切でないという問題がある。 かかる問題を解決するためには、従来の単一のホトダイ
オードを用いた光量検出回路を第５図に示すように複数
個並列に接続して、被写全体の各部毎に光量を測定する
ことが考えられる。しかし、各部の光量、即ち各演算増
幅器の出力を合成しているため、多くの問題点がある。 第１に、各演算増幅器の出力はその帰還回路にダイオー
ドを用いているため各部に入射した光量の対数に比例し
た値となるので、そのまま各出力を加算しても各部の入
射光量の和を求めることができない。したがって、各演
算回路の出力を一旦指数変換した上で加算する必要が生
じ回路構成が複雑となる。第２に、各演算増幅器はオフ
セット調整を必要とし、正確な調整が行われなければ各
演算増幅器のオフセット電圧が加算され光量測定の誤差
が大きくなる。 本発明は、上記の問題点を解決するために成されたもの
であり、その目的とするところは、簡単な回路構成で各
部の光量を選択的に検出すると共に各部の合成光量を精
度良く検出することである。
上記間迎点を解決するための発明の構成は、光量検出回
路において、ホトダイオード又はホトダイオードとスイ
ッチ素子との直列回路に、少なくとも１つの前記直列回
路を並列接続し、この並列に接続した並列回路の両端子
を負帰還回路を有する演算増幅器の反転入力端子と非反
転入力端子に接続したことである。
路において、ホトダイオード又はホトダイオードとスイ
ッチ素子との直列回路に、少なくとも１つの前記直列回
路を並列接続し、この並列に接続した並列回路の両端子
を負帰還回路を有する演算増幅器の反転入力端子と非反
転入力端子に接続したことである。
各ホトダイオードに光が照射されると、受光した光の光
量に応じて各ホトダイオードには光起電力が発生する。 受光状態で、あるホトダイオードに直列接続されたスイ
ッチ素子がオフ状態にある場合には、演算増幅器の入力
端子間にそのホトダイオードの光起電力による電圧差が
生じないため、演算増幅器の出力に変化はなく、そのホ
トダイオードに受光された光量は検出されない。一方、
受光状態で、あるホトダイオードに直列接続されたスイ
ッチ素子がオン状態にある場合には、このスイッチ素子
を介してそのホトダイオードの両端子は演算増幅器の２
つの入力端子間に接続され、ホトダイオードの光起電力
がその端子間に印加されるため、演算増幅器の帰還回路
には演算増幅器の２つの入力端子間電圧が零となるよう
に帰還電流、即ち、ホトダイオードの短絡光起電流が流
れ、演算増幅器の出力はその短絡光起電流に応じた値と
なる。 そして、対応するスイッチ素子がオン状態にある各ホト
ダイオードの短絡光起電流は加算され、その加算された
電流が演算増幅器の帰還回路を流れるので、演算増幅器
の出力は各ホトダイオードの短絡光起電流の加算値に応
じて変化することになる。但し、スイッチ素子を介さず
に直接演算増幅器の２つの入力端子間に接続されたホト
ダイオードの短絡光起電流は、常に演算増幅器の帰還回
路を流れており、そのホトダイオードで受光された光の
光量は演算増幅器の出力に表れる。 このように、スイッチ素子を選択的にオン状態とすれば
、対応する各部の光量を選択的に検出することができる
。また、スイッチ素子を複数オン状態にすれば、そのオ
ン状態にあるスイッチ素子に対応した各部の合成光量が
検出できる。また、合成光量を得るのに１つの演算増幅
器が用いられているので、オフセット電圧による検出誤
差が最小に抑えられる。
量に応じて各ホトダイオードには光起電力が発生する。 受光状態で、あるホトダイオードに直列接続されたスイ
ッチ素子がオフ状態にある場合には、演算増幅器の入力
端子間にそのホトダイオードの光起電力による電圧差が
生じないため、演算増幅器の出力に変化はなく、そのホ
トダイオードに受光された光量は検出されない。一方、
受光状態で、あるホトダイオードに直列接続されたスイ
ッチ素子がオン状態にある場合には、このスイッチ素子
を介してそのホトダイオードの両端子は演算増幅器の２
つの入力端子間に接続され、ホトダイオードの光起電力
がその端子間に印加されるため、演算増幅器の帰還回路
には演算増幅器の２つの入力端子間電圧が零となるよう
に帰還電流、即ち、ホトダイオードの短絡光起電流が流
れ、演算増幅器の出力はその短絡光起電流に応じた値と
なる。 そして、対応するスイッチ素子がオン状態にある各ホト
ダイオードの短絡光起電流は加算され、その加算された
電流が演算増幅器の帰還回路を流れるので、演算増幅器
の出力は各ホトダイオードの短絡光起電流の加算値に応
じて変化することになる。但し、スイッチ素子を介さず
に直接演算増幅器の２つの入力端子間に接続されたホト
ダイオードの短絡光起電流は、常に演算増幅器の帰還回
路を流れており、そのホトダイオードで受光された光の
光量は演算増幅器の出力に表れる。 このように、スイッチ素子を選択的にオン状態とすれば
、対応する各部の光量を選択的に検出することができる
。また、スイッチ素子を複数オン状態にすれば、そのオ
ン状態にあるスイッチ素子に対応した各部の合成光量が
検出できる。また、合成光量を得るのに１つの演算増幅
器が用いられているので、オフセット電圧による検出誤
差が最小に抑えられる。
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説明する。第
１図は実施例に係る光量検出回路の回路図である。演算
増幅器ＯＰＩの反転入力端子２と出力端子３の間には、
帰還回路を形成するダイオードＤＩが接続されている。 また、演算増幅器ＯＰ１の反転入力端子２と非反転入力
端子１０間には、ホトダイオードＰＤＯとＭＯＳ−ＦＥ
Ｔスイッチ素子（以下単に「スイッチ素子」という）Ｆ
ＴＯの直列回路ＣＯと、その直列回路ＣＯと同様な構成
の直列回路Ｃ１−Ｃｎ’を並列接続した並列回路が接続
されている。そして、演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端
子１にはリファレンス電圧■１゜、が印加されている。 かかる構成において、ホトダイオードが受光状態にあり
、任意のスッチ素子ＦＴｉがオンとなると、対応するホ
トダイオードＰＤｉに光起電力が発生するが、演算増幅
器ＯＰＩの入力端子間の電圧が零となるように、ダイオ
ードＤ１に電流が流れる。スッチ素子ＦＴｉのオン抵抗
は小さいものとすれば、ホトダイオードＰＤｉに流れる
電流は短絡光起電流Ｉ ｓｈｉとなる。そして、演算増
幅器ＯＰＩの入力インピーダンスは無限大とすれば、ダ
イオードＤ１に流れる総合電流Ｉは、スイッチ素子ＦＴ
ｉがオンとなっているホトダイオードＰＤ１を流れる 電流の和 Ｉ ＝ Ｓ Ｉ ｓｈｉ
−″（３）となる。 したがって、演算増幅器ＯＰＩの出力電圧■。ｕＬは Ｖｏｕｔ＝Ｖｒａｒ＋Ｖｙｌｎ（１／Ｉｃｏ） −
’（４）＝ ■ｒ＠ｒ ＋ ■７１口 （Σ Ｉ ｓ
ｈｉ ／ Ｉ ｃｏ） −（５）となる。 したがって、スッチ素子ＦＴｉがオン状態にあるホトダ
イオードＰＤｉで受光された光の光量の和の対数値が演
算増幅器ＯＰＩの出力として得られる。このように、ス
ッチ素子を選択的にオン状態とすることにより、各部の
光量の部分的な和を簡単に検出することができる。この
時、１つの演算増幅器ＯＰＩが使用されているため、検
出値にはその演算増幅器ＯＰ１のオフセット電圧のみの
誤差が含まれるだけであるので、各部の加算した先組が
正確に求められる。 尚、第２図に示すように、１つのホトダイオードＰＤＯ
は、スッチ素子を介さずに直接演算増幅器ＯＰＩの入力
端子間に接続してもよい。この場合には、そのホトダイ
オードＰＤＯの短絡光起電流１．ｈＯはダイオードＤＩ
に常時流れることになり、ホトダイオードＰＤＯにより
受光された光の光ｍが常時検出される。 また、第３図に示すように構成することもできる。即ち
、ホトダイオードＰＤｉのアノードとリファレンス電圧
■、。土を入力する演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端子
間にボルテージホロワＶＦｉを介在させ、このＶＦｉは
出力側にスイッチ素子ＦＴｉを含みＶＦｉの帰還ループ
はスイッチ素子ＦＴｌの後より帰還させている。スイッ
チ素子ＦＴｉがオン状態の場合には、スイッチ素子ＦＴ
ｉのオン抵抗による電圧降下を補償して、ホトダイオー
ドＰＤｉのアノードをリファレンス電圧■ｒｌ！、とす
ることができる。但し、これはボルテージホロワＦＴｉ
が各々オフセット電圧を生じない場合であり、実際、こ
のオフセット電圧分の誤差を生じる。しかし、これは第
１図のスイッチ素子ＦＴｉのオン抵抗による誤差と比べ
ると小さなものとなる。スイッチ素子ＦＴｉがオフ状態
のとき、ボルテージホロワの入力リーク電流とスイッチ
素子ＦＴｉのリーク電流が充分小さいとすれば、ホトダ
イオードＰＤｉのアノードはハイインピーダンスとなり
、ホトダイオードＰＤｉには短絡光起電流Ｉ ｓｈｌは
流れない。したがって、スイッチ素子ＦＴｉがオン状態
で、受光時にホトダイオードＰＤｉに流れる電流は、光
ｍの大きさにかかわらず、正確にその時の短絡光起電流
となり、感度と合成光量を検出する時の精度が向上する
。
１図は実施例に係る光量検出回路の回路図である。演算
増幅器ＯＰＩの反転入力端子２と出力端子３の間には、
帰還回路を形成するダイオードＤＩが接続されている。 また、演算増幅器ＯＰ１の反転入力端子２と非反転入力
端子１０間には、ホトダイオードＰＤＯとＭＯＳ−ＦＥ
Ｔスイッチ素子（以下単に「スイッチ素子」という）Ｆ
ＴＯの直列回路ＣＯと、その直列回路ＣＯと同様な構成
の直列回路Ｃ１−Ｃｎ’を並列接続した並列回路が接続
されている。そして、演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端
子１にはリファレンス電圧■１゜、が印加されている。 かかる構成において、ホトダイオードが受光状態にあり
、任意のスッチ素子ＦＴｉがオンとなると、対応するホ
トダイオードＰＤｉに光起電力が発生するが、演算増幅
器ＯＰＩの入力端子間の電圧が零となるように、ダイオ
ードＤ１に電流が流れる。スッチ素子ＦＴｉのオン抵抗
は小さいものとすれば、ホトダイオードＰＤｉに流れる
電流は短絡光起電流Ｉ ｓｈｉとなる。そして、演算増
幅器ＯＰＩの入力インピーダンスは無限大とすれば、ダ
イオードＤ１に流れる総合電流Ｉは、スイッチ素子ＦＴ
ｉがオンとなっているホトダイオードＰＤ１を流れる 電流の和 Ｉ ＝ Ｓ Ｉ ｓｈｉ
−″（３）となる。 したがって、演算増幅器ＯＰＩの出力電圧■。ｕＬは Ｖｏｕｔ＝Ｖｒａｒ＋Ｖｙｌｎ（１／Ｉｃｏ） −
’（４）＝ ■ｒ＠ｒ ＋ ■７１口 （Σ Ｉ ｓ
ｈｉ ／ Ｉ ｃｏ） −（５）となる。 したがって、スッチ素子ＦＴｉがオン状態にあるホトダ
イオードＰＤｉで受光された光の光量の和の対数値が演
算増幅器ＯＰＩの出力として得られる。このように、ス
ッチ素子を選択的にオン状態とすることにより、各部の
光量の部分的な和を簡単に検出することができる。この
時、１つの演算増幅器ＯＰＩが使用されているため、検
出値にはその演算増幅器ＯＰ１のオフセット電圧のみの
誤差が含まれるだけであるので、各部の加算した先組が
正確に求められる。 尚、第２図に示すように、１つのホトダイオードＰＤＯ
は、スッチ素子を介さずに直接演算増幅器ＯＰＩの入力
端子間に接続してもよい。この場合には、そのホトダイ
オードＰＤＯの短絡光起電流１．ｈＯはダイオードＤＩ
に常時流れることになり、ホトダイオードＰＤＯにより
受光された光の光ｍが常時検出される。 また、第３図に示すように構成することもできる。即ち
、ホトダイオードＰＤｉのアノードとリファレンス電圧
■、。土を入力する演算増幅器ＯＰ１の非反転入力端子
間にボルテージホロワＶＦｉを介在させ、このＶＦｉは
出力側にスイッチ素子ＦＴｉを含みＶＦｉの帰還ループ
はスイッチ素子ＦＴｌの後より帰還させている。スイッ
チ素子ＦＴｉがオン状態の場合には、スイッチ素子ＦＴ
ｉのオン抵抗による電圧降下を補償して、ホトダイオー
ドＰＤｉのアノードをリファレンス電圧■ｒｌ！、とす
ることができる。但し、これはボルテージホロワＦＴｉ
が各々オフセット電圧を生じない場合であり、実際、こ
のオフセット電圧分の誤差を生じる。しかし、これは第
１図のスイッチ素子ＦＴｉのオン抵抗による誤差と比べ
ると小さなものとなる。スイッチ素子ＦＴｉがオフ状態
のとき、ボルテージホロワの入力リーク電流とスイッチ
素子ＦＴｉのリーク電流が充分小さいとすれば、ホトダ
イオードＰＤｉのアノードはハイインピーダンスとなり
、ホトダイオードＰＤｉには短絡光起電流Ｉ ｓｈｌは
流れない。したがって、スイッチ素子ＦＴｉがオン状態
で、受光時にホトダイオードＰＤｉに流れる電流は、光
ｍの大きさにかかわらず、正確にその時の短絡光起電流
となり、感度と合成光量を検出する時の精度が向上する
。
本発明はホトダイオード又はホトダイオードとスイッチ
素子との直列回路に、少なくとも１つの前記直列回路を
並列接続し、この並列に接続した並列回路の両端子を負
帰還回路を有する演算増幅器の反転入力端子と非反転入
力端子に接続しているので、スイッチ素子を選択的にオ
ン状態とすることにより対応する各部の光量を選択的に
検出することができる。また、スイッチ素子を複数オン
状態にすることによりそのオン状態にあるスイッチ素子
に対応した各部の合成光量が検出できる。 また、合成光量を得るのに１つの演算増幅器が用いられ
ているので、オフセット電圧による検出誤差が最小に抑
えられる。
素子との直列回路に、少なくとも１つの前記直列回路を
並列接続し、この並列に接続した並列回路の両端子を負
帰還回路を有する演算増幅器の反転入力端子と非反転入
力端子に接続しているので、スイッチ素子を選択的にオ
ン状態とすることにより対応する各部の光量を選択的に
検出することができる。また、スイッチ素子を複数オン
状態にすることによりそのオン状態にあるスイッチ素子
に対応した各部の合成光量が検出できる。 また、合成光量を得るのに１つの演算増幅器が用いられ
ているので、オフセット電圧による検出誤差が最小に抑
えられる。
第１図は本発明の具体的な一実施例に係る光量検出回路
を示した回路図。第２図は他の実施例に係る光量検出回
路を示した回路図。第３図は他の実施例に係る光量検出
回路を示した回路図。第４図は従来の単一のホトダイオ
ードを用いた光量検出回路の回路図。第５図は第４図の
回路を複数並列接続して各部の合成光量を検出するよう
に構成した光検出回路の回路図である。 １０・・ホトダイオード ２０・−°演算増幅器３０−
・ダイオード ＯＰｌ ・・演算増幅器ＰＤＯ〜ＰＤｎ
°・・・ホトダイオードＦＴＯ〜ＦＴｎ−ＭＯ３ＦＥＴ
スイッチ素子素子−ダイオード
を示した回路図。第２図は他の実施例に係る光量検出回
路を示した回路図。第３図は他の実施例に係る光量検出
回路を示した回路図。第４図は従来の単一のホトダイオ
ードを用いた光量検出回路の回路図。第５図は第４図の
回路を複数並列接続して各部の合成光量を検出するよう
に構成した光検出回路の回路図である。 １０・・ホトダイオード ２０・−°演算増幅器３０−
・ダイオード ＯＰｌ ・・演算増幅器ＰＤＯ〜ＰＤｎ
°・・・ホトダイオードＦＴＯ〜ＦＴｎ−ＭＯ３ＦＥＴ
スイッチ素子素子−ダイオード
Claims (2)
- （１）ホトダイオード又はホトダイオードとスイッチ素
子との直列回路に、少なくとも１つの前記直列回路を並
列接続し、この並列に接続した並列回路の両端子を負帰
還回路を有する演算増幅器の反転入力端子と非反転入力
端子に接続したことを特徴とする光量検出回路。 - （２）前記演算増幅器の負帰還回路はダイオードで構成
されていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の光量検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP439087A JPS63172930A (ja) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | 光量検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP439087A JPS63172930A (ja) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | 光量検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63172930A true JPS63172930A (ja) | 1988-07-16 |
Family
ID=11583027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP439087A Pending JPS63172930A (ja) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | 光量検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63172930A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2726691A1 (fr) * | 1994-11-08 | 1996-05-10 | Thomson Csf | Photodetecteur de grande dimension et procede de realisation d'un tel photodetecteur |
| JP2008008647A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Shirinkusu Kk | 光電変換装置 |
| JP2011106875A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Sharp Corp | 光センサおよび表示装置 |
-
1987
- 1987-01-12 JP JP439087A patent/JPS63172930A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2726691A1 (fr) * | 1994-11-08 | 1996-05-10 | Thomson Csf | Photodetecteur de grande dimension et procede de realisation d'un tel photodetecteur |
| EP0712166A1 (fr) * | 1994-11-08 | 1996-05-15 | Thomson-Csf | Photodétecteur de grande dimension et procédé de réalisation d'un tel photodétecteur |
| US5712499A (en) * | 1994-11-08 | 1998-01-27 | Thomson-Csf | Large photodetector array |
| JP2008008647A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Shirinkusu Kk | 光電変換装置 |
| JP2011106875A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Sharp Corp | 光センサおよび表示装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0679869A2 (en) | Distance measuring device | |
| US3302106A (en) | Resistance measuring apparatus including an automatic balancing bridge | |
| US4114036A (en) | A leak current suppressing printed circuit board | |
| JPS63172930A (ja) | 光量検出回路 | |
| US4247186A (en) | Photometric circuit for camera | |
| JPH0587812B2 (ja) | ||
| US4681441A (en) | Light measuring device | |
| JPS6020655A (ja) | 光検出回路 | |
| JP2863758B2 (ja) | 入力オフセット電圧補正装置 | |
| US2358391A (en) | Measuring circuit | |
| JP2506433B2 (ja) | ４線式抵抗測定装置 | |
| JP2535387B2 (ja) | 光位置検出装置 | |
| JPH0257739B2 (ja) | ||
| JPS62266470A (ja) | ピ−ク値検出回路 | |
| RU2084841C1 (ru) | Способ измерения фототока фотодиодного приемника излучения | |
| JPH07114330B2 (ja) | 受光回路のレンジ切り換え回路 | |
| JP3223525B2 (ja) | 位置センサ装置 | |
| JPH03188337A (ja) | 光電変換回路 | |
| JPH0626860A (ja) | 距離検出用半導体位置検出素子 | |
| JPS592513Y2 (ja) | 分光光度計の測光回路 | |
| US3349666A (en) | Flash exposure meter | |
| US4302099A (en) | Programmable computing enlarging exposure meter | |
| RU2077704C1 (ru) | Измеритель потока оптического излучения | |
| SU1760374A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
| SU712775A1 (ru) | Автоматический измеритель составл ющих комплексного сопротивлени |