JPS63172402A - Manufacture of organic positive characteristic thermistor - Google Patents

Manufacture of organic positive characteristic thermistor

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JPS63172402A
JPS63172402A JP529787A JP529787A JPS63172402A JP S63172402 A JPS63172402 A JP S63172402A JP 529787 A JP529787 A JP 529787A JP 529787 A JP529787 A JP 529787A JP S63172402 A JPS63172402 A JP S63172402A
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JP
Japan
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soldering
melting point
temperature
organic positive
coefficient thermistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP529787A
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Japanese (ja)
Inventor
勝之 内田
鹿間 隆
山本 朝之
高岡 祐一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、導電性粒子を混入分散した有機高分子材料が
示す正の抵抗/温度特性を利用する有機正特性サーミス
タの製造方法に係り、詳しくは、該有機正特性サーミス
タにおける電極とリード線との半田付は方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a method for manufacturing an organic positive temperature coefficient thermistor that utilizes the positive resistance/temperature characteristics exhibited by an organic polymer material mixed and dispersed with conductive particles. In particular, the present invention relates to a method of soldering electrodes and leads in the organic positive temperature coefficient thermistor.

〈従来の技術〉 従来から、有機正特性サーミスタとして、第1図に示す
ような構造のものが知られている。この有機正特性サー
ミスタ10は、カーボンブラックのような導電性粒子を
混入分散したポリエチレンなどの有機高分子材料を素体
材料とする素体11を備えている。そして、この素体1
1の両主表面には、ニッケルなどからなる電極12.1
2が金属箔の熱圧着やメッキなどの手段によって形成さ
れている。
<Prior Art> Conventionally, an organic positive temperature coefficient thermistor having a structure as shown in FIG. 1 has been known. This organic positive temperature coefficient thermistor 10 includes an element body 11 made of an organic polymer material such as polyethylene mixed and dispersed with conductive particles such as carbon black. And this element 1
1 are provided with electrodes 12.1 made of nickel or the like on both main surfaces.
2 is formed by means such as thermocompression bonding or plating of metal foil.

また、これらの電極12.12それぞれの外面には、リ
ードM13.13の各内端部が半田付けにより接続され
ている。
Moreover, each inner end of a lead M13.13 is connected to the outer surface of each of these electrodes 12.12 by soldering.

このような有機正特性サーミスタlOを製造するにあた
って、従来、一般的には電極12.12とリード線13
.13との半田付けはつぎのような条件のもとで行われ
ている。すなわち、半田材料としては融点が183℃の
4/6共晶半田が使用される一方、この半田付けの作業
温度、すなわち、半田付は温度は210〜230℃程度
とされている。
Conventionally, in manufacturing such an organic positive temperature coefficient thermistor lO, the electrode 12.12 and the lead wire 13 are generally connected.
.. Soldering with 13 is performed under the following conditions. That is, while 4/6 eutectic solder having a melting point of 183°C is used as the soldering material, the working temperature of this soldering, that is, the soldering temperature is about 210 to 230°C.

〈発明が解決しようとする問題点〉 ところで、前述した電極12.12とリードwA13゜
13との半田付けにおいては、つぎのような問題点があ
った。すなわち、導電性粒子を混入分散した有機高分子
材料からなる素体材料の融点は100〜125℃のもの
が一般に使用されているため、この素体材料が半田付は
時に210〜230℃というような高温状態にさらされ
た場合には、急激に熱膨張することになってしまう、し
かし、素体11の両主表面に形成された電極12.12
となる金属材料の存する熱膨張率は素体材料の熱膨張率
よりもはるかに小さいので、これらの電極12.12の
膨張は素体11の急膨張に追随することができない、こ
のことにより、素体11の主表面からの電極12.12
の剥離が生じやすくなり、その抵抗値を増大させてしま
う。
<Problems to be Solved by the Invention> By the way, the following problems occurred in the soldering of the electrodes 12.12 and the leads wA13.13. In other words, since the melting point of the element material made of organic polymer material mixed and dispersed with conductive particles is generally used at 100 to 125°C, the melting point of this element material is sometimes 210 to 230°C when soldering. However, if the electrodes 12 and 12 formed on both main surfaces of the element body 11 are exposed to high temperature conditions, they will undergo rapid thermal expansion.
Since the thermal expansion coefficient of the metal material is much smaller than that of the element material, the expansion of these electrodes 12 and 12 cannot follow the rapid expansion of the element body 11. Electrode 12.12 from the main surface of element body 11
peeling is likely to occur, increasing its resistance value.

しかも、このような半田付は時の高温は素体材料そのも
のの特性を変質、劣化させ、その抵抗値を変化させる原
因にもなっていた。そのため、従来の有機正特性サーミ
スタ10においては、半田付けに伴う抵抗値の変化が生
じ、かつ製品ごとの抵抗値のばらつきが大きくなり、そ
の信頼性に問題が生じていた。
Moreover, the high temperatures encountered during such soldering alter and deteriorate the properties of the element material itself, causing a change in its resistance value. Therefore, in the conventional organic positive temperature coefficient thermistor 10, the resistance value changes due to soldering, and the resistance value varies widely from product to product, causing problems in its reliability.

本発明はかかる従来の問題点に鑑み、半田付けに伴う抵
抗値の変化やそのばらつきを防止し、信鯨性の向上を図
ることができる存機正特性す−ミ   ゛スタの製造方
法の提供を目的とする。
In view of these conventional problems, the present invention provides a method for manufacturing a resistor with a long-lasting characteristic that can prevent changes and variations in resistance value due to soldering and improve reliability. With the goal.

く問題点を解決するための手段〉 本発明は、このような目的を達成するために、導電性粒
子が混入分散する有機高分子材料を材料とする素体の両
主表面それぞれに形成された電極にリード線を半田付け
で接続する有機正特性サーミスタの製造方法において、
前記半田付けに使用する半田材料の融点を前記素体材料
の融点より5℃から45℃高い温度範囲に設定し、かつ
半田付は温度を前記素体材料の融点より30℃から70
℃高い温度範囲に設定して半田付けを行うことを特徴と
するものである。
Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, the present invention provides a conductive material formed on both main surfaces of an element body made of an organic polymer material in which conductive particles are mixed and dispersed. In a method for manufacturing an organic positive temperature coefficient thermistor in which lead wires are connected to electrodes by soldering,
The melting point of the solder material used for the soldering is set at a temperature range of 5°C to 45°C higher than the melting point of the element material, and the temperature for soldering is set at a temperature range of 30°C to 70°C higher than the melting point of the element material.
This method is characterized in that soldering is performed at a temperature range that is higher than 10°C.

〈実施例〉 以下、本発明を実施例に基づき詳細に説明する。<Example> Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on examples.

本発明方法の実施に供する有機正特性サーミスタは、従
来例と同一の構造であるから第1図に基づいてその構造
を説明する。すなわち、本発明の有機正特性サーミスタ
10は、素体11と電極12.12とリード線13.1
3とから構成されている。
Since the organic positive temperature coefficient thermistor used to carry out the method of the present invention has the same structure as the conventional example, its structure will be explained based on FIG. That is, the organic positive temperature coefficient thermistor 10 of the present invention includes the element body 11, the electrodes 12.12, and the lead wires 13.1.
It is composed of 3.

素体11は、導電性粒子を混入分散した有機高分子材料
からなる素体材料によって形成されている。
The element body 11 is formed of an element material made of an organic polymer material in which conductive particles are mixed and dispersed.

このような導電性粒子としてはカーボンブラック、グラ
ファイトまたは金属粉末などが使用され、有機高分子材
料としてはポリエチレン、ポリプロピレンもしくはポリ
ブタジェン系の樹脂材料が使用されている。
Carbon black, graphite, metal powder, etc. are used as such conductive particles, and polyethylene, polypropylene, or polybutadiene resin materials are used as the organic polymer material.

そして、この素体11の両主表面には、例えば、ニッケ
ルなどからなる金属箔の熱圧着もしくはメッキという手
段によって電極12.12が形成され、これらの電極1
2.12の各外面にはリード&I13..13の内端部
が半田付けによりそれぞれ接続されている。なお、図に
おける符号14は、素体11およびリード線13.13
の内端部を封止するための絶縁性樹脂である。
Electrodes 12 and 12 are formed on both main surfaces of this element body 11 by thermocompression bonding or plating of metal foil made of nickel, for example.
2. Each outer surface of 12 has a lead &I13. .. The inner ends of 13 are connected to each other by soldering. Note that the reference numeral 14 in the figure indicates the element body 11 and the lead wires 13 and 13.
This is an insulating resin for sealing the inner end of the

つぎに、本発明による電極12.12とリード線13゜
13との半田付は方法について説明する。
Next, a method of soldering the electrode 12.12 and the lead wire 13.13 according to the present invention will be described.

(条件 I) 半田付けに使用する半田材料は、■スズ(Sn)と鉛(
Pb )を主成分とするものであって、これに所定量の
カドミウム(Cd )を添加した材料、■スズと鉛を主
成分とするものであって、これに所定量のビスマス(B
i)を添加した材料、もしくは、■スズと鉛を主成分と
するものであって、これに所定量のカドミウムとビスマ
スの両方を添加した材料のいずれかであって、その融点
が素体材料の融点である100〜125℃よりも5℃か
ら45℃高い温度範囲に設定されている。なお、この半
田材料の融点の最低温度を素体材料の融点よりも5℃高
い温度としたのは、有機正特性サーミスタ10使用時に
その素体11に通電して自己発熱させた際に半田材料が
溶融するという不都合の発生を防止するためであって、
実験によって半田材料の融点の方が素体材料の融点より
も5℃高ければ不都合が発生しないことが確認されてい
る。また、最高温度については、後述する半田付は温度
との関係において、この半田付は温度が余りにも高くな
ることを避は得る上限温度として実験により確認されて
いる。
(Condition I) The solder materials used for soldering are ■tin (Sn) and lead (
(1) A material whose main component is tin and lead with a predetermined amount of bismuth (B) added to it and a predetermined amount of cadmium (Cd);
i) A material whose main components are tin and lead, and a predetermined amount of both cadmium and bismuth added thereto, the melting point of which is the same as that of the element material. The temperature range is set to be 5°C to 45°C higher than the melting point of 100°C to 125°C. The lowest temperature of the melting point of this solder material is set to be 5°C higher than the melting point of the element material because when the organic positive temperature coefficient thermistor 10 is used and the element 11 is energized to generate self-heating, the solder material In order to prevent the inconvenience of melting,
It has been confirmed through experiments that no problem occurs if the melting point of the solder material is 5° C. higher than the melting point of the element material. Regarding the maximum temperature, it has been experimentally confirmed that the temperature of soldering, which will be described later, is the upper limit temperature at which the soldering temperature can be avoided from becoming too high.

(条件 ■) そして、このような半田材料を使用して電極12゜12
とリード線13.13の内端部との半田付けを行うが、
このときの半田付は温度は素体材料の融点よりも30℃
から70℃高い温度範囲とされる。なお、この半田付は
温度の最低温度を素体材料の融点よりも30℃高い温度
、すなわち、半田材料の融点よりも25℃高い温度とし
たのは、被加工物の温度が低いために半田材料が作業中
に凝固してしまい、その作業性が悪くなってしまうこと
を防止するためであって、25℃については実験によっ
て求めたものである。また、半田付は温度の最高温度を
素体材料の融点よりも70℃高い温度に設定したのは、
素体材料の融点よりも70℃以上高い半田付は温度で半
田付は作業を行った場合には、素体材料の劣化や電極1
2.12の素体11からの剥離が生じやすくなるからで
、これについても実験結果によるものである。
(Condition ①) Then, using such solder material, the electrode 12°12
Solder the inner end of lead wire 13.13.
At this time, the soldering temperature is 30°C higher than the melting point of the base material.
The temperature range is 70 degrees Celsius higher than the average temperature. The reason for this soldering is that the lowest temperature is 30°C higher than the melting point of the base material, or 25°C higher than the melting point of the solder material, because the temperature of the workpiece is low. This is to prevent the material from coagulating during work and impairing workability, and the temperature of 25°C was determined through experiments. In addition, the reason why the maximum temperature for soldering was set to 70°C higher than the melting point of the base material was because
If soldering is performed at a temperature that is 70°C or more higher than the melting point of the element material, it may cause deterioration of the element material or electrode 1.
This is because separation from the element body 11 of 2.12 is likely to occur, and this is also based on experimental results.

ところで、本発明によって製造した有機正特性サーミス
タと従来品とを比較するために、本発明の発明者らが多
数の試料について抵抗値のばらつき範囲および抵抗変化
率について試験を行ったところ、第1表に示すような試
験結果を得た。なお、この表中の符号Xは半田付は前の
試料における抵抗値の平均値、符号yは半田付は後の試
料における抵抗値の平均値、符号σは半田付は後の試料
における抵抗値のばらつき範囲を示している。
By the way, in order to compare the organic positive temperature coefficient thermistor manufactured by the present invention with conventional products, the inventors of the present invention conducted tests on the variation range of resistance value and the rate of change in resistance on a large number of samples. The test results shown in the table were obtained. In addition, in this table, the code X is the average value of the resistance value of the previous sample for soldering, the code y is the average value of the resistance value of the sample after soldering, and the code σ is the resistance value of the sample after soldering. It shows the range of variation.

この試験における試料としては、つぎのようなものを使
用している。まず、実施例1としては、融点が125℃
の素体材料からなる素体11の両主表面にニッケルから
なる電極12.12を形成して厚みが0.4fiのシー
トとしたうえで、これを10鶴角の大きさとなるように
切断し、その電極12.12の外面それぞれにリード線
13.13の内端部を半田付けしている。この半田付け
においては、5n−Pb−Cdからなり融点が145℃
とされた半田材料を使用し、かつ半田付は温度を180
℃としている。
The following samples are used in this test. First, in Example 1, the melting point is 125°C.
Electrodes 12 and 12 made of nickel were formed on both main surfaces of the element body 11 made of the element material of , to form a sheet with a thickness of 0.4 fi, and this was cut into a size of 10 Tsuru angle. , the inner ends of lead wires 13.13 are soldered to the outer surfaces of the electrodes 12.12, respectively. In this soldering, it is made of 5n-Pb-Cd and has a melting point of 145°C.
Use a soldering material that is
℃.

実施例2においては、その構成が実施例1と同一とされ
、その半田付けのみが異なっている。すなわち、この半
田付けにおいては、5n−Pb−Biからなり融点が・
130℃とされた半田材料を使用し、かつ半田付は温度
を160℃としている。
The second embodiment has the same configuration as the first embodiment, with the only difference being the soldering. That is, in this soldering, it is made of 5n-Pb-Bi and has a melting point of
A soldering material heated to 130°C is used, and the soldering temperature is 160°C.

つぎに、比較例1は構成が実施例1と同一とされ、その
半田材料としては実施例1と同様に、融点が145℃と
された5n−Pb−Cdからなるものを使用している。
Next, Comparative Example 1 has the same structure as Example 1, and the solder material used therein is 5n-Pb-Cd having a melting point of 145 DEG C., as in Example 1.

しかし、この比較例1においては、半田付は温度を素体
材料の融点125℃よりも75℃高い200℃としてい
る。
However, in Comparative Example 1, the soldering temperature is 200° C., which is 75° C. higher than the melting point of the base material, 125° C.

比較例2においても、その構成は実施例1と同一とされ
、半田付けについてのみ異なっている。
Comparative Example 2 also has the same configuration as Example 1, and differs only in soldering.

すなわち、この半田付けにおいては、融点が183℃の
476共晶半田を使用し、かつ半田付は温度を220℃
としている。したがって、この比較例2が従来品となっ
ている。
That is, in this soldering, 476 eutectic solder with a melting point of 183°C is used, and the soldering temperature is 220°C.
It is said that Therefore, this comparative example 2 is a conventional product.

(以下、余白) 第1表 第1表に示した実験結果からは、つぎのことが明らかに
なっている。すなわち、実施例1および実施例2を従来
品である比較例2と比べてみると、その抵抗値のばらつ
き範囲(σ)が25.0−Ωから3、OmΩ以下となり
、かつ抵抗変化率についても60.6%から10%以下
へと大きく低減している。なお、この比較例2において
は、半田付は時に素体から電極が一部剥離したものがあ
った。
(Hereinafter, blank space) Table 1 The experimental results shown in Table 1 reveal the following. That is, when Example 1 and Example 2 are compared with Comparative Example 2, which is a conventional product, the variation range (σ) of the resistance value is from 25.0-Ω to 3.0 mΩ or less, and the resistance change rate is has also significantly decreased from 60.6% to less than 10%. In Comparative Example 2, some of the electrodes sometimes peeled off from the element body during soldering.

また、実施例1と半田付は温度のみが異なる比較例1と
実施例1. 2を比較した場合には、実施例1.2の抵
抗値のばらつき範囲(σ)が6.38 mΩから3.O
mΩ以下と約1/2になり、その抵抗変化率は26.4
%から10%以下へと低減している。このことから、半
田材料が同一であったとしても、半田付は温度が高過ぎ
ると抵抗値のばらつき範囲および抵抗変化率が増大する
ことが分かる。
Comparative Example 1 and Example 1 differ only in soldering temperature from Example 1. When comparing Example 1.2, the resistance value variation range (σ) of Example 1.2 is from 6.38 mΩ to 3.38 mΩ. O
The resistance change rate is approximately 1/2 of mΩ or less, and the resistance change rate is 26.4.
% to less than 10%. From this, it can be seen that even if the solder material is the same, if the soldering temperature is too high, the range of variation in resistance value and the rate of change in resistance will increase.

つぎに、前述した各試料に対して、0N−OFFサイク
ル(寿命)試験を行ったところ、つぎのような結果を得
た。すなわち、実施例1および実施例2では500サイ
クルにおける抵抗値変化が20%以下であるのに対し、
比較例1では抵抗値変化が50%を越え、しかも、従来
例である比較例2においては150%を越えてしまう。
Next, a 0N-OFF cycle (lifetime) test was conducted on each of the samples described above, and the following results were obtained. That is, in Example 1 and Example 2, the resistance value change in 500 cycles was 20% or less, whereas
In Comparative Example 1, the resistance value change exceeds 50%, and in Comparative Example 2, which is a conventional example, it exceeds 150%.

以上説明した各種試験の結果から、有機正特性サーミス
タの抵抗値は半田材料の融点とその半田付は温度とによ
って大きな影響を受けることが確認でき、しかも、本発
明方法による有機正特性サーミスタは従来品よりも抵抗
値のばらつきや変化が少なく、かつその寿命が長(なる
ことが確認できた。
From the results of the various tests explained above, it can be confirmed that the resistance value of an organic positive temperature coefficient thermistor is greatly affected by the melting point of the solder material and its soldering temperature. It was confirmed that there is less variation and change in resistance value than with conventional products, and that the lifespan is longer.

〈発明の効果〉 以上のように本発明の製造方法によれば、素体材料の融
点を基準として半田材料の融点およびその半田付は温度
を従来よりも低温度に設定したので、有機正特性サーミ
スタにおける抵抗値の変化および製品ごとの抵抗値のば
らつきを少なくすることができ、かつその寿命を長くす
ることができ、しかも、その半田付は作業になんらの支
障も生じることもない、そのため、このような有機正特
性サーミスタにおける信幀性を大きく向上することがで
きる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the manufacturing method of the present invention, the melting point of the solder material and its soldering temperature are set lower than conventional ones, based on the melting point of the element material, so that organic positive properties are achieved. Changes in the resistance value of the thermistor and variations in resistance value between products can be reduced, and its lifespan can be extended, and its soldering does not cause any trouble to the work. The reliability of such an organic positive temperature coefficient thermistor can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、有機正特性サーミスタの断面図である。 10・・・有機正特性サーミスタ、 11・・・素体、 12・・・電極、 13・・・リード線。 FIG. 1 is a cross-sectional view of an organic positive temperature coefficient thermistor. 10...Organic positive temperature coefficient thermistor, 11... elemental body, 12... Electrode, 13... Lead wire.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性粒子が混入分散する有機高分子材料を材料
とする素体の両主表面それぞれに形成された電極にリー
ド線を半田付けで接続する有機正特性サーミスタの製造
方法において、 前記半田付けに使用する半田材料の融点を前記素体材料
の融点より5℃から45℃高い温度範囲に設定し、かつ
半田付け温度を前記素体材料の融点より30℃から70
℃高い温度範囲に設定して半田付けを行うことを特徴と
する有機正特性サーミスタの製造方法。
(1) A method for manufacturing an organic positive temperature coefficient thermistor in which lead wires are connected by soldering to electrodes formed on both main surfaces of an element body made of an organic polymer material in which conductive particles are mixed and dispersed, The melting point of the solder material used for soldering is set to a temperature range of 5 to 45 degrees Celsius higher than the melting point of the element material, and the soldering temperature is set to a temperature range of 30 to 70 degrees Celsius higher than the melting point of the element material.
A method for manufacturing an organic positive temperature coefficient thermistor, characterized in that soldering is performed at a temperature range higher than 0.degree.
JP529787A 1987-01-12 1987-01-12 Manufacture of organic positive characteristic thermistor Pending JPS63172402A (en)

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