JPS63169636A - Accuracy measuring instrument for focal plane shutter - Google Patents

Accuracy measuring instrument for focal plane shutter

Info

Publication number
JPS63169636A
JPS63169636A JP140287A JP140287A JPS63169636A JP S63169636 A JPS63169636 A JP S63169636A JP 140287 A JP140287 A JP 140287A JP 140287 A JP140287 A JP 140287A JP S63169636 A JPS63169636 A JP S63169636A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
comparator
signal
slit
output signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP140287A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Koo
猛 小尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TSUBOSAKA DENKI KK
Original Assignee
TSUBOSAKA DENKI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TSUBOSAKA DENKI KK filed Critical TSUBOSAKA DENKI KK
Priority to JP140287A priority Critical patent/JPS63169636A/en
Publication of JPS63169636A publication Critical patent/JPS63169636A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

PURPOSE:To accurately measure a shutter speed at all times even when the quantity of light of a light source or the sensitivity of a sensor varies by converting the reference value of a comparator to a specific level according to an input signal at the time of measurement. CONSTITUTION:The output signal of the photosensor 12 is amplified 18 and then A/D-converted 22, and the result is inputted to a CPU 24. The CPU 24 performs arithmetic with a specific range which is, for example, a half the maximum level of this input signal and its output is D/A-converted 26 and supplied as the reference value to the comparator 20. Then when a measurement is taken, the output signal of the comparator 20 is stored in the register of the CPU 24 to calculated the shutter speed. The reference value of the comparator 20 is therefore converted according to the input sensitivity at the time of the measurement, thus performing invariably accurate measuring operation.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフォーカルプレーンシャッターの精度測定器に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an accuracy measuring device for focal plane shutters.

(従来の技術) カメラのシャッター装置について、近年高速フォーカル
プレーンシャッターが出現している。この高速時のシャ
ッタースピードが正確か否かによ;っで、撮影条件が変
動を来たし、理想的な撮影条件を設定し得ない事態が生
じる。
(Prior Art) Regarding camera shutter devices, high-speed focal plane shutters have recently appeared. Depending on whether the shutter speed at this high speed is accurate or not, the photographing conditions will fluctuate, resulting in a situation where ideal photographing conditions cannot be set.

そこで、シャッター装置が、所望の高速のシャッタース
ピードを達成しているかどうか測定するオv度測定器が
要求されている。
Therefore, there is a need for an intensity measuring device that measures whether the shutter device is achieving a desired high shutter speed.

このような精度測定器は、スリットが形成されているス
リット板のスリット後方にフォトセンサ−を備え、スリ
ット板のスリ・ノド前方に投光ランプを備えたものに構
成されている。
Such an accuracy measuring device is configured to include a slit plate in which the slit is formed, a photo sensor behind the slit, and a floodlight in front of the slit throat of the slit plate.

しかしてスリット板の前方で測定しようとするフォーカ
ルプレーンシャッターを走行させると、フォトセンサー
では、シャッターの1幕と2暮の通過する間だけ投光ラ
ンプからの光を検出する。
When the focal plane shutter to be measured is run in front of the slit plate, the photo sensor detects the light from the floodlight only during the first and second curtains of the shutter.

そしてその受光量は2,1幕がスリット縁に到達してか
らスリットの他端を敗は出るまでは徐々に増加し、2暮
がスリット縁に到達してからスリットの他端を抜は出る
までは徐々に減少することが了解される。
The amount of light received increases gradually from the time the second and first act reaches the slit edge until it exits the other end of the slit, and after the second act reaches the slit edge, it exits the other end of the slit. It is understood that this will gradually decrease.

しかしてフォトセンサーからの出力レベルは第4図に示
すごとくなる。
Therefore, the output level from the photosensor becomes as shown in FIG.

ここでシャッタースピードをどの範囲に決定するかで微
分方式と固定レヘル方式とがある。
There are a differential method and a fixed level method depending on the range in which the shutter speed is determined.

微分方式は第5図に示すように、フォトセンサーでの受
光量の増減領域A、B間の受光量変化率を求め、この受
光量変化率曲線の極大、極小値間の時間をシャッタース
ピードT1とする。
As shown in Figure 5, the differential method calculates the rate of change in the amount of light received by the photosensor between the increase/decrease regions A and B, and then calculates the time between the maximum and minimum values of the rate of change in the amount of received light curve at the shutter speed T1. shall be.

また固定レベル方式は、第6図に示すように、フォトセ
ンサーでの受光口の最大受光量の2をスレッシュレベル
に固定し、このスレッシュレベル以上の受光口が得られ
ている時間T2をシャッタースピードとする。
In addition, in the fixed level method, as shown in Figure 6, the maximum amount of light received by the photo sensor's light receiving aperture is fixed at a threshold level of 2, and the time T2 during which the light receiving aperture is greater than or equal to this threshold level is determined by the shutter speed. shall be.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記のシャッタースピードを決定する微
分方式、固定レベル方式のいずれも次のような問題点を
有している。
(Problems to be Solved by the Invention) However, both the differential method and fixed level method for determining the shutter speed described above have the following problems.

すなわち、微分方式においては、投光ランプからの投光
量に変化があっても測定精度に大きな変化がないという
利点はあるが、幕速か大きくなると、すなわち高速にな
ればなる程受光量変化率曲線の極大、極小値位置が低速
時における相対的位置からずれる傾向にあるため、所望
の精度が得に(いという問題点がある。
In other words, the differential method has the advantage that measurement accuracy does not change significantly even if there is a change in the amount of light emitted from the projector lamp, but as the curtain speed increases, that is, the higher the speed, the rate of change in the amount of received light increases. Since the positions of the maximum and minimum values of the curve tend to deviate from the relative positions at low speeds, there is a problem that the desired accuracy is not achieved.

一方固定しヘル方式にあっては、光源の変化、フォトセ
ンサーの感度変化、スリット面のゴミ、クモリ等により
入力信号レベルが変化する。これに対してスレッシュレ
ベルは固定なので、その分誤差となる問題点がある。し
たがって固定レベル方式においては、フォトセンサーや
光源の交換等の再調整を必要とするが、操作が煩雑であ
る。
On the other hand, in the fixed hell type, the input signal level changes due to changes in the light source, changes in the sensitivity of the photosensor, dust on the slit surface, clouds, etc. On the other hand, since the threshold level is fixed, there is a problem in that it causes an error. Therefore, in the fixed level method, readjustment such as replacement of the photo sensor or light source is required, but the operation is complicated.

そこで本発明は上記種々の問題点を解消すべくなされた
ものであり、その目的とするところは、光源の光量やフ
ォトセンサーの感度が変化したり、スリットにゴミ等が
付着したりしても常に正確にシャッタースピードが測定
できるフォーカルプレーンシャッターの精度測定器を提
供するにある。
Therefore, the present invention was made to solve the various problems mentioned above, and its purpose is to solve the problem even if the light intensity of the light source or the sensitivity of the photosensor changes or if dust or the like adheres to the slit. To provide a focal plane shutter accuracy measuring instrument that can always accurately measure shutter speed.

(発明の概要) 上記目的を達成するため本発明に係るフォーカルプレー
ンシャッターの精度測定器は、スリット板のスリット後
方にフォトセンサー、スリット前方に投光ランプを備え
、スリット板と投光ランプとの間でフォーカルプレーン
シャッターを走行させて、フォトセンサーに入光する光
を検出することによってシャッター装置の精度を測定す
るものにおいて、前記フォトセンサーからの出力信号を
増幅する演算増幅器と、この演算増幅器により増幅され
た増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータおよびA
/D変換器と、該A/D変換器によりへ/D変換された
信号が入力されると共に、該入力信号の最大レベル値の
例えば2等の所定レンジで出力信号を演算し、この出力
信号をD/A変換器を介して基準値として前記コンパレ
ータの他方の入力端子に入力し、該コンパレータからの
出力信号が入力されて、この入力信号に基づいてシャッ
タースピード等を演算するCPUとを具備し、DCレベ
ル方式のスレッシュレベルの自動較正を行うことを特徴
としている。
(Summary of the Invention) In order to achieve the above object, a focal plane shutter accuracy measuring device according to the present invention is provided with a photo sensor behind the slit of a slit plate, a flood lamp in front of the slit, and a connection between the slit plate and the flood lamp. In a device that measures the accuracy of a shutter device by running a focal plane shutter between the two and detecting light incident on the photosensor, an operational amplifier that amplifies the output signal from the photosensor; A comparator and A into which the amplified signals are respectively input.
A /D converter and a signal converted into /D by the A/D converter are input, and an output signal is calculated in a predetermined range, such as 2, of the maximum level value of the input signal, and this output signal is is input to the other input terminal of the comparator as a reference value via a D/A converter, and an output signal from the comparator is input, and a CPU calculates a shutter speed etc. based on this input signal. It is characterized by automatic calibration of the threshold level using the DC level method.

(作用) 次に作用について述べる。(effect) Next, we will discuss the effect.

フォトセンサーからの出力信号は演算増幅器により増幅
されて、A/D変換器に入力される。A/D変換された
信号はCPUに入力され、CPUではこの入力信号の最
大レベルの2等の所定レンジで演算した信号をD/A変
換器を介してコンパレータの入力端子に入力する。
The output signal from the photosensor is amplified by an operational amplifier and input to an A/D converter. The A/D converted signal is input to the CPU, and the CPU inputs a signal calculated in a predetermined range such as 2 of the maximum level of this input signal to the input terminal of the comparator via the D/A converter.

測定時は、コンパレーターからの出力信号がレジスター
を介してCPUに入力され、CPUではこの入力信号に
基づいてシャッタースピード等の所要のデータを演算す
るのである。
During measurement, the output signal from the comparator is input to the CPU via a register, and the CPU calculates necessary data such as shutter speed based on this input signal.

このようにコンパレーター基準値が現実の測定時の入力
感度に基づいて変換されうるので、スリットに異物が付
着したり、フォトセンサーの感度や投光ランプの光量に
変化が生じても、該変化分等を取り込んだ基準値に基づ
いて測定されるので常に正確な測定が可能となる。
In this way, the comparator reference value can be converted based on the input sensitivity during actual measurement, so even if foreign matter adheres to the slit or changes occur in the sensitivity of the photosensor or the light intensity of the floodlight, the change will not occur. Since the measurement is performed based on the reference value incorporating the minutes, etc., accurate measurement is always possible.

(実施例) 以下には本発明の好適な一実施例を添付図面に基づいて
詳細に説明する。
(Embodiment) A preferred embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明装置の概要図を示す。FIG. 1 shows a schematic diagram of the apparatus of the present invention.

10はスリン1−ガラスであり、これには3本のスリッ
トA、B、Cが形成されている。12はフォトセンサー
であり、各スリットA、B、Cの後方に配置されている
。14は投光ランプであり、スリットA、B、、Cの前
方に配置されている。したがって投光ランプ14から発
する光は各スリットA、’B、Cを通過し、対応するフ
ォトセンサー12に入光する。
Reference numeral 10 denotes Surin 1-glass, in which three slits A, B, and C are formed. Reference numeral 12 denotes a photosensor, which is arranged behind each slit A, B, and C. 14 is a floodlight lamp, which is arranged in front of the slits A, B, . Therefore, the light emitted from the floodlight lamp 14 passes through each slit A, 'B, and C and enters the corresponding photosensor 12.

フォトセンサー12からの出力信号はCPUを含む信号
処理部に入力される。
The output signal from the photosensor 12 is input to a signal processing section including a CPU.

第2図は信号処理部16の概要図である。FIG. 2 is a schematic diagram of the signal processing section 16.

フォトセンサー12からの出力信号は演算増幅器18に
よって増幅され、A/D変換器22によってA/D変換
され、CPU24に入力されてCPU24のRAMに記
↑aされる。CPU24では、特に、フォトセンサー1
2での最大受光量に対応する最大レベル値が記憶され、
この最大レベル値に対する所定値、例えば最大レベル値
の2をスレッシュレベル値として出力する。このスレッ
シュレベル値はD/A変換器26によってD/A変換さ
れてコンパレーター20の入力端子に基f 電圧として
印加される。
The output signal from the photosensor 12 is amplified by the operational amplifier 18, A/D converted by the A/D converter 22, inputted to the CPU 24, and written in the RAM of the CPU 24. In the CPU 24, in particular, the photo sensor 1
The maximum level value corresponding to the maximum amount of light received at step 2 is stored,
A predetermined value for this maximum level value, for example the maximum level value of 2, is output as the threshold level value. This threshold level value is D/A converted by the D/A converter 26 and applied to the input terminal of the comparator 20 as a base f voltage.

コンパレーター20からの出力信号はレジスフに入力さ
れCPU24では、この入力信号に茫づいてシャッター
スピードを演算する。
The output signal from the comparator 20 is input to the register, and the CPU 24 calculates the shutter speed based on this input signal.

3つのフォトセンサー12からの出力信号は、それぞれ
上記構成を有する回路が並列に構成されることによって
それぞれ別個に処理される(なおA / D変換器22
とCPU24は共用されている)。
The output signals from the three photosensors 12 are processed separately by configuring circuits each having the above configuration in parallel (note that the A/D converter 22
and the CPU 24 are shared).

第3図は各部の信号レベルを示すものである。FIG. 3 shows the signal levels of each part.

図でT4、T5、T6はそれぞれスリットA1B、Cを
経由する経路で算出されるシャッタースピードである。
In the figure, T4, T5, and T6 are shutter speeds calculated along the paths passing through slits A1B and C, respectively.

シャッタースピードは主としてT5により評価される。Shutter speed is mainly evaluated by T5.

T4は初動値等として、T6は終動値等としてそれぞれ
各種の基準に基づいて評価される。なおT7 、T8は
それぞれスリットΔ、B、C間における1幕と2幕の走
行時間である。これらの各幕スピードも種々の基準に基
づいて各種の評価の対象となる。
T4 is evaluated as an initial value, etc., and T6 is evaluated as a final value, etc. based on various criteria. Note that T7 and T8 are the running times of the first act and the second act between the slits Δ, B, and C, respectively. The speed of each of these curtains is also subject to various evaluations based on various criteria.

本実施例においてはスリット数は3本の場合をレリとし
て示したが、4本以上のスリットを設けて、さらに細か
い種々の測定ポインI・を設定するようにすることもで
きる。
In this embodiment, the case where there are three slits is shown, but it is also possible to provide four or more slits to set various finer measurement points I.

前記のスレッシュレベル値の設定は、測定の都度、すな
わち、先行して測定した際のスレッシュレベル値をクリ
アーして、後行の実際に測定を行う対象物からの現実の
入力信号に基づいてその都度演算(最大レベル値の1/
2等)して設定するのでもよいし、先行して測定した際
のスレッシュレベル値に対して後行の対象物からの信号
に基づいて演算したスレッシュレベル値がずれている場
合のみ、先行のスレッシュレベル値をクリアーして後行
のスレッシュレベル値を新たなスレ、シュレベル値とし
て設定するようにしてもよい。あるいはまた所定のサン
プル数を測定した後、所定の日数が経過した後またはあ
る範囲をバズした特等に、スレッシュレベル値を設定し
直すようにしてもよい。本発明においては、スレッシュ
レベルを設定する時期は特に限定されるものではなく、
要は、スレッシュレベル値を固定にするものではなく、
最大受光量を基準としてスレッシュレベル値を新たに設
定することを特徴としている。
The above-mentioned threshold level value is set each time a measurement is performed, that is, the threshold level value from the previous measurement is cleared, and the threshold level value is set based on the actual input signal from the object to be measured subsequently. Calculate each time (1/of the maximum level value
2, etc.), or only if the threshold level value calculated based on the signal from the following object deviates from the threshold level value measured previously, The threshold level value may be cleared and the subsequent threshold level value may be set as a new thread or threshold value. Alternatively, the threshold level value may be reset after measuring a predetermined number of samples, after a predetermined number of days have elapsed, or when a certain range has become buzzed. In the present invention, the timing of setting the threshold level is not particularly limited;
The point is that the threshold level value is not fixed;
The feature is that the threshold level value is newly set based on the maximum amount of light received.

以上、本発明の好適な実施例を説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものではなく、細部の数組等の変
更実施は本発明の精神を逸脱しない限り本発明に包含さ
れるのはもちろんである。
Although preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and changes in several sets of details are included in the present invention as long as they do not depart from the spirit of the present invention. Of course, it is possible to

(発明の効果) 以上のように本発明によれば、コンパレータの基準値が
現実の測定時の入力信号に基づいて所定レベルに変換さ
れうるので、スリットに異物が付着したり、フォトセン
サーの感度や投光ランプの光量に変化が生じても、該変
化分等を取り込んだ基準値が新たに設定されることにな
り、常に正確な測定が可能となる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the reference value of the comparator can be converted to a predetermined level based on the input signal during actual measurement. Even if there is a change in the amount of light from the light emitting lamp or the amount of light from the floodlight lamp, a new reference value is set that incorporates the change, etc., making accurate measurement possible at all times.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明装置の概要図、第2図はその信号処理部
の概要図、第3図は各部の信号レベル図である。第4図
はフォトセンサーでの受光量を示ずレベル図、第5図は
微分方式でシャッタースピードを求める場合の説明図、
第6図はレベル方式でシャッタースピードを求める場合
の説明図である。 IO・・・スリットガラス、  12・・・フォトセン
サー、 A、B、C・・・スリット、14・・・投光ラ
ンプ、  16・・・信号処理部、18・・・増幅器、
 22・・・A/D変換器、24・・・cpu、 26
・・・D/A変換器。 図               面 第1図
FIG. 1 is a schematic diagram of the apparatus of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram of its signal processing section, and FIG. 3 is a signal level diagram of each section. Figure 4 is a level diagram that does not show the amount of light received by the photosensor, Figure 5 is an explanatory diagram when determining the shutter speed using the differential method,
FIG. 6 is an explanatory diagram when determining the shutter speed using the level method. IO... Slit glass, 12... Photo sensor, A, B, C... Slit, 14... Flood lamp, 16... Signal processing section, 18... Amplifier,
22...A/D converter, 24...cpu, 26
...D/A converter. Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、スリット板のスリット後方にフォトセンサー、スリ
ット前方に投光ランプを備え、スリット板と投光ランプ
との間でフォーカルプレーンシャッターを走行させて、
フォトセンサーに入光する光を検出することによってシ
ャッター装置の精度を測定するものにおいて、前記フォ
トセンサーからの出力信号を増幅する演算増幅器と、 この演算増幅器により増幅された増幅信号がそれぞれ入
力されるコンパレータおよびA/D変換器と、 該A/D変換器によりA/D変換された信号が入力され
ると共に、該入力信号の最大レベル値の例えば1/2等
の所定レンジで出力信号を演算し、この出力信号をD/
A変換器を介して基準値として前記コンパレータの他方
の入力端子に入力し、該コンパレータからの出力信号が
入力されて、この入力信号に基づいてシャッタースピー
ド等を演算するCPUとを具備するフォーカルプレーン
シャッターの精度測定器。
[Claims] 1. A photo sensor is provided behind the slit of the slit plate, a floodlight is provided in front of the slit, and a focal plane shutter is run between the slit plate and the floodlight,
In a device that measures the accuracy of a shutter device by detecting light incident on a photosensor, an operational amplifier amplifies an output signal from the photosensor, and an amplified signal amplified by this operational amplifier is input, respectively. A comparator and an A/D converter, a signal A/D converted by the A/D converter is input, and an output signal is calculated in a predetermined range, such as 1/2 of the maximum level value of the input signal. and convert this output signal to D/
A focal plane that is input to the other input terminal of the comparator as a reference value via an A converter, and a CPU that receives an output signal from the comparator and calculates a shutter speed, etc. based on this input signal. Shutter accuracy measuring instrument.
JP140287A 1987-01-07 1987-01-07 Accuracy measuring instrument for focal plane shutter Pending JPS63169636A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP140287A JPS63169636A (en) 1987-01-07 1987-01-07 Accuracy measuring instrument for focal plane shutter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP140287A JPS63169636A (en) 1987-01-07 1987-01-07 Accuracy measuring instrument for focal plane shutter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63169636A true JPS63169636A (en) 1988-07-13

Family

ID=11500499

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP140287A Pending JPS63169636A (en) 1987-01-07 1987-01-07 Accuracy measuring instrument for focal plane shutter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63169636A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55115037A (en) * 1979-02-28 1980-09-04 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Shutter tester
JPS6161091A (en) * 1984-08-30 1986-03-28 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション Data processing terminal

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55115037A (en) * 1979-02-28 1980-09-04 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Shutter tester
JPS6161091A (en) * 1984-08-30 1986-03-28 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション Data processing terminal

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63169636A (en) Accuracy measuring instrument for focal plane shutter
JPS5983165A (en) Light source device for illumination
JP3466730B2 (en) Pattern evaluation apparatus and pattern evaluation method
JPS59169134A (en) Device for exposure with reduced projection
CN114609073A (en) High-intensity spectrum measuring method and system and spectrum measuring device
JPS5993409A (en) Focusing error detector
JPS6052852A (en) Device for controlling exposure
JPH01312403A (en) Photoelectric switch
JPH0587626A (en) Photometric apparatus
JP3139628B2 (en) Spectrophotometer
JP2805956B2 (en) Thickness measuring device
JP5007181B2 (en) Automatic calibration method of detection level in measuring part of shutter tester
RU2077709C1 (en) Device for on-line check of tolerance of diameters of input apertures of photographic lens
JPH0750569A (en) Photoelectric switch
SU1737402A1 (en) Instrument to measure the effective time exposure of the shutters
JPS6040904A (en) Length measuring device
JPS61230593A (en) Automatic deciding device for adjustment of size and linearity
JPS5853546B2 (en) Brown Kankidokensa Souchi
JPH0543964B2 (en)
SU957006A1 (en) Micro densitometer
JPS61173226A (en) Photometric equipment of camera
JPS6288942A (en) Liquid concentration detector
SU1668922A1 (en) Determining transmission coefficient of objective
JPH02257382A (en) Feather measuring instrument
JPH0943056A (en) Instrument for measuring intensity of light