JP5007181B2

JP5007181B2 - Automatic calibration method of detection level in measuring part of shutter tester

Info

Publication number: JP5007181B2
Application number: JP2007225171A
Authority: JP
Inventors: 猛小尾; 博文馬場
Original assignee: 京立電機株式会社
Priority date: 2007-08-31
Filing date: 2007-08-31
Publication date: 2012-08-22
Anticipated expiration: 2027-08-31
Also published as: JP2009058707A

Description

本発明はいわゆるデジタルカメラや光学式カメラなど（以下、単にカメラという）が備えるフォーカルプレーン式シャッタの試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法に関する。 The present invention relates to a method for automatically calibrating a detection level in a measuring unit of a tester for a focal plane shutter provided in a so-called digital camera or optical camera (hereinafter simply referred to as a camera).

カメラが備えるフォーカルプレン式シャッタでは、近年シャッタ速度の高速化が進んでいる。このようなシャッタでは、高速時のシャッタ速度が正確でないと、撮影条件が変動することとなって、理想的な撮影条件として設定したシャッタ速度を実現できない事態が生じる。そこで、フォーカルプレン式シャッタが所望の高速でのシャッタ速度を達成しているかどうかを測定するようにした、シャッタ試験機が特許文献１に提案されている。 In recent years, the shutter speed of a focal plane shutter provided in a camera has been increasing. In such a shutter, if the shutter speed at high speed is not accurate, the shooting conditions fluctuate, and the shutter speed set as the ideal shooting condition cannot be realized. Therefore, Patent Document 1 proposes a shutter tester that measures whether or not the focal plane shutter achieves a desired high shutter speed.

特許文献１のフォーカルプレン式シャッタの試験機は、図１に例示するように、フォーカルプレン式シャッタを構成するシャッタ幕Fsの走行位置の後方に位置する面上に配された反射体Rfと、前記走行位置の前方に配され、前記反射体Rfの所定領域内へ光を投光する投光手段Lp1〜Lp3と、前記走行位置の前方に配されたピンホールを有するピンホール板Ph₁〜Ph₃と、前記ピンホールと前記所定領域とを結ぶ光路上に配され、所定領域内の反射光を受光部（受光手段）へ集光する集光レンズLf1〜Lf3と、前記ピンホール板Lp1〜Lp3の前方に配され、当該ピンホールを通して入射する光を電気信号に変換する受光手段Cd1〜Cd3と、該受光手段Cd1〜Cd3から出力される電気信号のパルス幅の１／２を測定し、前記フォーカルプレンシャッタのシャッタ速度を演算して求める演算手段CPUとを具備してシャッタ試験機が構成されている。図１において、Hmはハーフミラーである。 As illustrated in FIG. 1, the focal plane shutter testing machine disclosed in Patent Document 1 includes a reflector Rf disposed on a surface located behind the travel position of the shutter curtain Fs constituting the focal plane shutter; wherein disposed in front of the traveling position, the light projecting means Lp1~Lp3 for projecting light to a predetermined region of the reflector Rf, pinhole plate Ph ₁ ~ having a pinhole disposed in front of the running position Condensing lenses Lf1 to Lf3 that are arranged on an optical path connecting Ph ₃ and the pinhole and the predetermined region and collect reflected light in the predetermined region to a light receiving unit (light receiving means), and the pinhole plate Lp1 Light receiving means Cd1 to Cd3 that are arranged in front of Lp3 and convert light incident through the pinhole into an electric signal, and ½ of the pulse width of the electric signal output from the light receiving means Cd1 to Cd3 is measured. Calculates the shutter speed of the focal plane shutter And a calculation unit CPU for obtaining Te to shutter tester is configured. In FIG. 1, Hm is a half mirror.

上記試験機では、カメラの前方から投光手段Lp1〜Lp3によりスポット光を反射体Rfの所定領域内に投光し、そのスポット光の反射体における反射光を、カメラの前方に配した集光レンズLf1〜Lf3に集光させ、受光手段Cd1〜Cd3により電気信号に変換して、演算手段CPUにより電気信号のパルス幅に基づいてシャッタ速度を演算することができるので、従来のようにカメラの裏蓋を開けてシャッタ幕の後方にスリット板とフォトセンサを配する必要がなくなり、カメラの裏蓋を閉めた状態でのシャッタ速度の測定を可能とした点で画期的な試験機であった。 In the above testing machine, the spot light is projected into the predetermined area of the reflector Rf from the front of the camera by the light projecting means Lp1 to Lp3, and the reflected light from the reflector of the spot light is arranged in front of the camera. Since the light is condensed on the lenses Lf1 to Lf3, converted into an electric signal by the light receiving means Cd1 to Cd3, and the shutter speed can be calculated based on the pulse width of the electric signal by the calculation means CPU, It is an epoch-making tester in that it eliminates the need to open the back cover and arrange the slit plate and photo sensor behind the shutter curtain, and allows the shutter speed to be measured with the back cover of the camera closed. It was.

しかし、上記のフォーカルプレン式シャッタの試験機には、次の課題がある。
この試験機の測定部では、フォトセンサ（受光手段、以下、同じ）Cd1〜Cd3に入射する光を検出することによってシャッタ装置のシャッタ速度等の精度を測定するようになっている。このため、当該試験機の測定部は、図２に例示するように前記フォトセンサCd1〜Cd3からの出力信号を増幅する増幅器Am1〜Am3と、増幅器Am1〜Am3から出力される増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータCa1〜Ca3およびＡ／Ｄ変換器Adを備え、前記Ａ／Ｄ変換器AdによりＡ／Ｄ変換された信号が入力されると、当該入力信号の最大レベル値の１／２レンジで出力信号を演算し、この出力信号をＤ／Ａ変換器Da1〜Da3を介した基準値としてコンパレータCa1〜Ca3の他方の入力端子に入力する一方、該コンパレータCa1〜Ca3からの出力信号が演算手段CPUに入力されると、この入力信号に基づいてシャッタスピード等を演算している。 However, the focal plane shutter testing machine has the following problems.
The measuring unit of this tester measures the accuracy of the shutter device such as the shutter speed by detecting light incident on photosensors (light receiving means, hereinafter the same) Cd1 to Cd3. Therefore, as shown in FIG. 2, the measurement unit of the test machine receives amplifiers Am1 to Am3 for amplifying output signals from the photosensors Cd1 to Cd3 and amplified signals output from the amplifiers Am1 to Am3, respectively. Comparators Ca1 to Ca3 and an A / D converter Ad, and when an A / D converted signal is input by the A / D converter Ad, the input signal has a half range of the maximum level value of the input signal. The output signal is calculated, and this output signal is input to the other input terminals of the comparators Ca1 to Ca3 as a reference value via the D / A converters Da1 to Da3, while the output signals from the comparators Ca1 to Ca3 are calculated. When input to the CPU, the shutter speed and the like are calculated based on this input signal.

上記試験機の測定部では、コンパレータCa1〜Ca3の基準値を現実の測定時の入力感度に基づいて変化させるようにしたことによって、ピンホールに異物が付着したり、フォトセンサの感度や投光ランプの光量に変化が生じた場合、或は、反射体の反射率がカメラの機種違いなどによって変化した場合であっても、当該コンパレータCa１〜Ca3の基準値を変化させてより安定して正確なシャッタ速度を測定可能としている。 In the measurement unit of the above tester, the reference values of the comparators Ca1 to Ca3 are changed based on the input sensitivity at the time of actual measurement, so that foreign matter adheres to the pinhole, the sensitivity of the photosensor and the light projection Even if there is a change in the amount of light from the lamp, or even if the reflectivity of the reflector changes due to different camera models, the reference values of the comparators Ca1 to Ca3 can be changed to make it more stable and accurate. A simple shutter speed can be measured.

しかし乍ら、コンパレータCa１〜Ca3の基準値の変更は手動で行うために煩しさがあるのみならず、それゆえに多機種のカメラのフォーカルプレンシャッタを効率よく試験（測定）する上では、未だ不便な部分があることが、本発明が解決すべき課題である。 However, changing the reference values of the comparators Ca1 to Ca3 is not only troublesome because it is performed manually, and therefore it is still inconvenient for efficiently testing (measuring) the focal plane shutters of many types of cameras. This is a problem to be solved by the present invention.

次に、上記図２の測定部の信号処理動作の一例について、以下に説明する。
なお、図２の測定部では、信号処理部のためにシャッタ試験機の光学系の構成に合わせて信号処理系も３系統（Ａ〜Ｃ）が設けられている。系統Ａはシャッタ幕の走行開始位置でのシャッタ速度、系統Ｂはシャッタ幕走行の中間位置でのシャッタ速度、系統Ｃはシャッタ幕走行終了位置でのシャッタ速度のそれぞれを測定するためのものである。以下の説明では、便宜上、一つの系統について述べるが、残り二つの系統についても動作原理は同じである。 Next, an example of the signal processing operation of the measurement unit in FIG. 2 will be described below.
2 includes three signal processing systems (A to C) in accordance with the configuration of the optical system of the shutter tester for the signal processing unit. System A measures the shutter speed at the shutter curtain travel start position, system B measures the shutter speed at the intermediate shutter curtain travel position, and system C measures the shutter speed at the shutter curtain travel end position. . In the following description, one system is described for convenience, but the operating principle is the same for the remaining two systems.

図２の系統Ａにおける演算増幅器Am1では、受光手段からの電気信号をリニアに増幅して出力する。従って、Ａ／Ｄ変換器Adから出力されるデジタル値の多少から、演算手段CPUでは受光手段Cd1に入力される光量の多少を検出できる。これにより、演算手段CPUは、受光手段Cd1からの電気信号の電圧レベルの変動に応じて、Ｄ／Ａ変換器Da1を介してコンパレータCa1のスレッシュレベル電圧を変更することができる。例えば、受光手段Cd1からの電気信号の最大電圧レベルの１／２の電圧を常にスレッシュレベル電圧として波形整形することもできる。このため、スレッシュレベル電圧が固定の場合に問題となる受光手段Cd1からの電気信号の電圧レベル変動に伴うコンパレータCa1の出力波形のパルス幅の変動を防止でき、精度のよいシャッタ速度の測定が可能となる。 The operational amplifier Am1 in the system A in FIG. 2 linearly amplifies and outputs the electrical signal from the light receiving means. Therefore, the arithmetic means CPU can detect the amount of light input to the light receiving means Cd1 from the amount of digital value output from the A / D converter Ad. Thereby, the arithmetic means CPU can change the threshold level voltage of the comparator Ca1 via the D / A converter Da1 according to the fluctuation of the voltage level of the electric signal from the light receiving means Cd1. For example, the waveform shaping can be performed by always setting a voltage that is ½ of the maximum voltage level of the electric signal from the light receiving means Cd1 as the threshold level voltage. For this reason, it is possible to prevent fluctuations in the pulse width of the output waveform of the comparator Ca1 due to fluctuations in the voltage level of the electrical signal from the light receiving means Cd1, which is a problem when the threshold level voltage is fixed, and it is possible to measure the shutter speed with high accuracy. It becomes.

ここで、スレッシュレベル電圧は、受光手段Cd1からの電気信号の最大電圧レベル（Ａ／Ｄ変換器Adから入力されたデジタル信号の最大値でもある）の１／２に限定されるものではなく、最大電圧レベル未満の電圧であればよい。また、測定の都度、すなわち、先行して測定した際のスレッシュレベル電圧をクリアして、後行の実際に測定を行う対象物からの現実の入力信号に基づいてその都度演算して設定するのでもよい。さらに、先行して測定した際のスレッシュレベル電圧に対して後行の対象物からの信号に基づいて演算したスレッシュレベル電圧がずれている場合のみ、先行のスレッシュレベル電圧をクリアして後行のスレッシュレベル電圧を新たなスレッシュレベル値として設定するようにしてもよい。或はまた、所定のサンプル数を測定した後や、所定の日数が経過した後、或は、範囲を外れたとき等に、スレッシュレベル電圧を設定し直すようにしてもよい。要は、スレッシュレベル電圧を固定したままとせず、増幅信号の最大電圧レベル（受光手段が受光した最大受光量）を基準としてスレッシュレベル電圧を新たに設定することがこの測定部の特徴点である。 Here, the threshold level voltage is not limited to 1/2 of the maximum voltage level of the electric signal from the light receiving means Cd1 (which is also the maximum value of the digital signal input from the A / D converter Ad), Any voltage lower than the maximum voltage level may be used. Also, each time measurement is performed, that is, the threshold level voltage at the time of preceding measurement is cleared, and calculation and setting is performed each time based on the actual input signal from the object to be actually measured in the subsequent stage. But you can. Furthermore, only when the threshold level voltage calculated based on the signal from the succeeding object is deviated from the threshold level voltage measured in the preceding measurement, the preceding threshold level voltage is cleared and the succeeding threshold level voltage is cleared. The threshold level voltage may be set as a new threshold level value. Alternatively, the threshold level voltage may be reset after measuring a predetermined number of samples, after a predetermined number of days have elapsed, or out of range. In short, the characteristic feature of this measurement unit is that the threshold level voltage is not fixed and the threshold level voltage is newly set based on the maximum voltage level of the amplified signal (the maximum amount of light received by the light receiving means). .

上記の従来試験機の測定部における信号処理のより具体的な動作例について、さらに図３を参照して説明する。
即ち、図３に例示した従来試験機の測定部における、一例としてＡ系統の信号処理においては、受光手段Cd1（フォトセンサ）からの反射光の強さに対し検出レベルの調整ユニットCu1における調整値VRをＬ（Low）又はＨ（High）のいずれか一方の側となるように手動でセレクトする。
次に、前記調整ユニットCu1でセットされたＬ又はＨのいずれかの側の調整値VRに対する電気出力をコンパレータCa1に入力した状態で、Ｄ／ＡコンバータDa1に低いDB値から順次高くなるようにDB値を上げて行く。
そこで、前記コンパレータCa1の入力値（手動選択されたＬ又はＨの調整値VR）との一致点を通過した電圧（DB値）で当該コンパレータCa1の出力がLOWとなることにより、演算手段CPUは受光部の反射面から来る光に対応した電気出力を検出することができるように構成されている。 A more specific operation example of the signal processing in the measurement unit of the conventional testing machine will be further described with reference to FIG.
That is, in the signal processing of the A system as an example in the measurement unit of the conventional testing machine illustrated in FIG. 3, the adjustment value in the detection level adjustment unit Cu1 with respect to the intensity of the reflected light from the light receiving means Cd1 (photosensor). Manually select VR so that it is on either L (Low) or H (High) side.
Next, in the state where the electrical output for the adjustment value VR on either the L or H side set by the adjustment unit Cu1 is input to the comparator Ca1, the D / A converter Da1 is made to increase sequentially from a low DB value. Raise the DB value.
Therefore, when the output of the comparator Ca1 becomes LOW at the voltage (DB value) passing through the coincidence point with the input value of the comparator Ca1 (the manually selected L or H adjustment value VR), the calculation means CPU becomes The electric output corresponding to the light coming from the reflecting surface of the light receiving unit can be detected.

ここで、演算手段CPUは、上記の手法により知り得たコンパレータCa1の電気出力の１／２レベルの値を、Ｄ／ＡコンバータDa1にDB値として加えておくことにより、カメラのシャッタを動作させたときにおけるコンパレータCa1の出力の１／２レベルを検出することができるので、当該カメラのシャッタスピードを検出して測定することができる。 Here, the calculation means CPU operates the camera shutter by adding a value of 1/2 level of the electrical output of the comparator Ca1 obtained by the above method to the D / A converter Da1 as a DB value. Since the half level of the output of the comparator Ca1 can be detected, the shutter speed of the camera can be detected and measured.

しかし乍ら、実際にはカメラは機種によって受光面側での反射光の強さが大幅に異なったり、また同一機種でも反射光の強さが変ることにあり、さらに、同一機種でもCCDなどの受光素子Rfの前に置く反射面の構成部材を変更することなどが行われるので、上記の従来のシャッタ試験機で測定する個々のカメラごとに適切に反射光を検出するために、測定部の調整ユニットCu1における調整値VRをＬ又はＨのいずれかの側にセレクトすること、及び、セレクトした側の調整値VR自体を手動により調整している。 However, in reality, the intensity of reflected light on the light-receiving surface side varies greatly depending on the model, and the intensity of reflected light varies even with the same model. Since the structural member of the reflective surface placed in front of the light receiving element Rf is changed, in order to detect the reflected light appropriately for each individual camera measured by the above conventional shutter test machine, The adjustment value VR in the adjustment unit Cu1 is selected to either the L or H side, and the adjustment value VR itself on the selected side is manually adjusted.

例えば、異なる機種であっても、或る範囲では、コンパレータCa1で反射光の電気出力を検出し、当該コンパレータCa1に１／２レベルのＤ／ＡコンバータDa1からのDB値を加えることにより、調整ユニットCu1におけるセレクトされた調整値VRは、Ｌ側又はＨ側に選択したままにしておいてもよい。
しかし、反射光の電気出力の変化（差異）がもっと大きくなると、これがシャッタスピードの検出誤差（測定誤差）の要因となる。例えば、反射光による電気出力が余りにも低い場合、又は、反射光による電気出力が高過ぎてサチュレーションを起した場合、或は、電気出力が高くてスルーレートが大きくなる場合などには、上記の調整値VRにおけるＬ側又はＨ側の選択と、選択されたＬ側又はＨ側の調整値VRそのものの手動による調整が不可欠となるのである。
特開昭６３−１６９６３６号公報 For example, even in different models, in a certain range, the comparator Ca1 detects the electrical output of the reflected light, and adjusts by adding the DB value from the D / A converter Da1 of 1/2 level to the comparator Ca1. The selected adjustment value VR in the unit Cu1 may be left selected on the L side or the H side.
However, if the change (difference) in the electrical output of the reflected light is further increased, this becomes a factor of the shutter speed detection error (measurement error). For example, when the electrical output due to reflected light is too low, when the electrical output due to reflected light is too high, or when saturation occurs, or when the electrical output is high and the slew rate increases, Selection of the adjustment value VR on the L side or H side and manual adjustment of the selected adjustment value VR itself on the L side or H side are indispensable.
JP-A 63-169636

そこで本発明では上記のような問題点に鑑み、人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッターを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータCa1の出力の１／２レベルを設定できるようにするため、当該コンパレータCa1の前段にアッテネータATを挿入することにより、コンパレータCa1の入力電圧を適切に決め、その値に基づいてコンパレータCa1の出力が得られるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供することを、課題とする。 In view of the above problems, the present invention eliminates the adjustment operation of the adjustment value VR manually, and automatically opens the camera shutter, and automatically opens 1 / of the output of the comparator Ca1 with respect to the electrical output (voltage) of the reflected light. In order to be able to set two levels, by inserting an attenuator AT in front of the comparator Ca1, the input voltage of the comparator Ca1 is appropriately determined, and the output of the comparator Ca1 can be obtained based on this value. Therefore, an object of the present invention is to provide a method for automatically calibrating a detection level in a measurement unit of a shutter tester capable of easily and speedily detecting a shutter speed of a camera.

上記課題を解決することを目的としてなされた本発明検出レベルの自動構成方法の構成は、フォトセンサCd1〜Cd3からの出力信号を増幅する増幅器Am1〜Am3と、増幅器Am1〜Am3から出力される増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータCa1〜Ca3と、測定レベルをL側、H側に切替える調整ユニットCu1と、コンパレータCa1〜Ca3の前段に設けたアッテネータATと、演算手段CPUと、Ａ／Ｄ変換器Adを備え、前記演算手段CPUが、前記Ａ／Ｄ変換器AdによりＡ／Ｄ変換された信号が入力されると、当該入力信号の最大レベル値の１／２レンジで出力信号を演算し、この出力信号をＤ／Ａ変換器Da1〜Da3を介した基準値として前記コンパレータCa1〜Ca3の他方の入力端子に入力する一方、該コンパレータCa1〜Ca3からの出力信号が入力されると、この入力信号に基づいてシャッタスピードを演算するシャッタ試験機の測定部によるシャッタ速度の測定において、コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を決めて調整ユニットCu1はＬ側を選択し、アッテネータATをスルーにした状態で、Ｄ／ＡコンバータDaに低いDB値から順次高くなるDB値を加えて行き、コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧との一致点を通過したＤ／ＡコンバータDaの電圧を、前記コンパレータCa1〜Ca3のＬ側の出力電圧とすることにより、演算手段CPUに反射光の電気出力を検出させるとともに、コンパレータCa1〜Ca3の出力電圧があるレベルより低くなると、演算手段CPUが切替命令を供給することにより調整ユニットCu1の測定レベルをL側からH側に自動的に切替え、次いで、前記コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を適切に決めておき、上記で検出した入力電圧に対し、前記Ｌ側，Ｈ側及びアッテネータATのDBaをコンパレータCa1〜Ca3の＋入力値になるように設定することで、前記入力電圧に基づいて前記コンパレータCa1〜Ca3からの出力を得ることを特徴とするものである。 The configuration of the detection level automatic configuration method of the present invention made for the purpose of solving the above-mentioned problems includes amplifiers Am1 to Am3 for amplifying output signals from the photosensors Cd1 to Cd3, and amplifications output from the amplifiers Am1 to Am3. Comparators Ca1 to Ca3 to which signals are respectively input, adjustment unit Cu1 for switching the measurement level to the L side and H side, an attenuator AT provided in the previous stage of the comparators Ca1 to Ca3, an arithmetic means CPU, and an A / D converter When the signal that has been A / D converted by the A / D converter Ad is input, the calculation means CPU calculates an output signal in a 1/2 range of the maximum level value of the input signal, When this output signal is input to the other input terminal of the comparators Ca1 to Ca3 as a reference value via the D / A converters Da1 to Da3, when the output signal from the comparators Ca1 to Ca3 is input, Based on the signal In the measurement of shutter speed by the measurement unit of the shutter tester that calculates the shutter speed, the input voltage of the comparators Ca1 to Ca3 is determined, the adjustment unit Cu1 selects the L side, and the attenuator AT is set to the through state, and the D / A converter The DB value that gradually increases from Da to DB is added to Da, and the voltage of the D / A converter Da that passes through the coincidence with the input voltage of the comparators Ca1 to Ca3 is the output voltage on the L side of the comparators Ca1 to Ca3. By making the calculation means CPU detect the electrical output of the reflected light, and when the output voltage of the comparators Ca1 to Ca3 becomes lower than a certain level, the calculation means CPU supplies a switching command to measure the adjustment unit Cu1. Is automatically switched from the L side to the H side, then the input voltages of the comparators Ca1 to Ca3 are determined appropriately, and the input voltage detected above is The output from the comparators Ca1 to Ca3 is obtained based on the input voltage by setting the DBa of the L side, the H side, and the attenuator AT to be the + input value of the comparators Ca1 to Ca3. It is.

本発明による上記手法により、反射光の電気出力（電圧）に対し上記で決定したVo値をコンパレータCa1に加えるようにアッテネータATが設定されているので、当該Vo値の１／２をＤ／ＡコンバータDa1に加えておけば、いつでも最良の状態でシャッタスピードの測定が可能になる。 Since the attenuator AT is set to add the Vo value determined above to the comparator Ca1 with respect to the electrical output (voltage) of the reflected light by the above method according to the present invention, ½ of the Vo value is set to D / A. In addition to the converter Da1, it is possible to measure the shutter speed in the best condition at any time.

次に、本発明の実施の形態例について図を参照して説明する。
図１は公知のカメラ試験機の構成の概要を模式的に例示したブロック図、図２は図１のカメラ試験機における測定部の構成を例示したブロック図、図３は図２の測定部の構成を詳細に示したブロック図、図４は本発明方法を採用した測定部の一例のブロック図である。図１〜図４において、同一符号は同一部材を示すものとする。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 is a block diagram schematically illustrating the outline of the configuration of a known camera testing machine, FIG. 2 is a block diagram illustrating the configuration of a measurement unit in the camera testing machine of FIG. 1, and FIG. 3 is a block diagram of the measurement unit of FIG. FIG. 4 is a block diagram showing an example of a measurement unit employing the method of the present invention. 1-4, the same code | symbol shall show the same member.

図４に示す本発明方法を採用した測定部では、図３に示す従来の測定部の構成と次の点で異なる。
図４の本発明方法による測定部では、測定レベルをＬ側，Ｈ側に切換える調整ユニットCu1が、Ｌ側又はＨ側を、まずＬ側に自動でセレクトし、アッテネータATスルーでコンパレータCa1の出力が演算手段CPUに入力する。コンパレータCa1の出力があるレベルより低くなると、演算手段CPUからその旨の信号が調整ユニットCu1に切替指令として供給され、当該ユニットCu1がＨ側に自動的に切換わるようにしてＬ側とＨ側を手動で切換操作して調整することを行う必要がない構成のものとした。 The measuring unit employing the method of the present invention shown in FIG. 4 differs from the conventional measuring unit shown in FIG. 3 in the following points.
In the measuring section according to the method of the present invention shown in FIG. 4, the adjustment unit Cu1 for switching the measurement level between the L side and the H side automatically selects the L side or the H side first to the L side, and outputs the comparator Ca1 with the attenuator AT through. Is input to the arithmetic means CPU. When the output of the comparator Ca1 becomes lower than a certain level, a signal to that effect is supplied from the calculation means CPU to the adjustment unit Cu1 as a switching command, and the unit Cu1 is automatically switched to the H side so that the L side and the H side are switched. The configuration is such that it is not necessary to perform manual switching operation for adjustment.

また、本発明方法では、コンパレータCa1の前段にアッテネータATを挿入し、当該アッテネータATの特性を、Vin＝Voのスルー特性とすると共に、調整ユニットCu1がＬ側，Ｈ側のいずれの側が選択されていても、Ｌ側又はＨ側の値とアッテネータに演算手段CPUから印加されるDBa値が、前記のVo値となるように設定している。 In the method of the present invention, an attenuator AT is inserted in front of the comparator Ca1, the characteristic of the attenuator AT is set to the through characteristic of Vin = Vo, and the adjustment unit Cu1 is selected on either the L side or the H side. Even so, the L-side or H-side value and the DBa value applied from the calculation means CPU to the attenuator are set to be the Vo value.

これにより、受光手段Cd1が受光して増幅器Am1から出力される受光電圧に対し、予め決定しているアッテネータATのVo値がコンパレータCa1に印加されるように、当該アッテネータATが設定されているので、上記Vo値１／２レベルの値をＤ／ＡコンパレータDa1に加えておけば、最良の状態でシャッタスピードの測定が可能になる。 As a result, the attenuator AT is set so that the Vo value of the attenuator AT determined in advance is applied to the comparator Ca1 with respect to the received light voltage received by the light receiving means Cd1 and output from the amplifier Am1. If the Vo value ½ level is added to the D / A comparator Da1, the shutter speed can be measured in the best condition.

上述のように、本発明ではコンパレータCa1に入力する受光電圧の何如に拘らず、アッテネータATにより予め適切に設定した値によりコンパレータCa1に出力させることができるので、カメラの種類や受光面における反射材の反射特性の相違があるカメラ群であっても、調整ユニットCu1の手動による調整を要することなく、かかる複数のカメラのシャッタ速度の測定を、簡便かつスピーディに精度良く行うことができる。 As described above, in the present invention, regardless of the light reception voltage input to the comparator Ca1, the comparator Ca1 can output the value appropriately set in advance by the attenuator AT. Even in a group of cameras having different reflection characteristics, it is possible to easily and speedily measure the shutter speeds of a plurality of cameras without requiring manual adjustment of the adjustment unit Cu1.

公知のカメラ試験機の構成の概要を模式的に例示したブロック図。The block diagram which illustrated the outline of the composition of the publicly known camera testing machine typically. 図１のカメラ試験機における測定部の構成を例示したブロック図。The block diagram which illustrated the composition of the measurement part in the camera testing machine of FIG. 図２の測定部の構成を詳細に示したブロック図。The block diagram which showed the structure of the measurement part of FIG. 2 in detail. 本発明方法を採用した測定部の一例のブロック図。The block diagram of an example of the measurement part which employ | adopted the method of this invention.

Explanation of symbols

Cd1 受光手段
Am1 増幅器
Cu1 調整ユニット
Ca1 コンパレータ
Da1 Ｄ／Ａコンバータ
CPU 演算手段 Cd1 Light receiving means
Am1 amplifier
Cu1 adjustment unit
Ca1 comparator
Da1 D / A converter
CPU calculation means

Claims

Amplifiers Am1 to Am3 that amplify the output signals from the photosensors Cd1 to Cd3, comparators Ca1 to Ca3 that receive the amplified signals that are output from the amplifiers Am1 to Am3, and adjustment that switches the measurement level between the L side and the H side A unit Cu1, an attenuator AT provided before the comparators Ca1 to Ca3, a calculation means CPU, and an A / D converter Ad are provided, and the calculation means CPU is A / D converted by the A / D converter Ad. When the received signal is input, an output signal is calculated in a 1/2 range of the maximum level value of the input signal, and the output signal is used as a reference value via the D / A converters Da1 to Da3 to compare the comparators Ca1 to Ca3. In the measurement of the shutter speed by the measurement unit of the shutter tester that calculates the shutter speed based on this input signal when the output signal from the comparators Ca1 to Ca3 is input,
Determine the input voltage of comparators Ca1 to Ca3, select the L side of the adjustment unit Cu1, and with the attenuator AT turned through, add the DB value that gradually increases from the low DB value to the D / A converter Da. The voltage of the D / A converter Da that has passed the coincidence point with the input voltage of Ca1 to Ca3 is used as the output voltage on the L side of the comparators Ca1 to Ca3, so that the arithmetic means CPU detects the electrical output of the reflected light. At the same time, when the output voltage of the comparators Ca1 to Ca3 becomes lower than a certain level, the calculation means CPU automatically switches the measurement level of the adjustment unit Cu1 from the L side to the H side by supplying a switching command,
Next, the input voltages of the comparators Ca1 to Ca3 are appropriately determined, and the L side, the H side, and the DBa of the attenuator AT are set to the positive input values of the comparators Ca1 to Ca3 with respect to the input voltage detected above. A method for automatically calibrating a detection level in a measurement unit of a shutter testing machine, wherein the output from the comparators Ca1 to Ca3 is obtained based on the input voltage by setting .