JPS63166968A - Sputtering device - Google Patents
Sputtering deviceInfo
- Publication number
- JPS63166968A JPS63166968A JP31215386A JP31215386A JPS63166968A JP S63166968 A JPS63166968 A JP S63166968A JP 31215386 A JP31215386 A JP 31215386A JP 31215386 A JP31215386 A JP 31215386A JP S63166968 A JPS63166968 A JP S63166968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- magnet
- substrate
- gaseous
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 abstract 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- -1 Argon ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、薄膜をスパッタリングにより形成する装置に
関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for forming thin films by sputtering.
従来の技術
従来のスパッタリング装置は、第6図に示すように構成
されていた。Prior Art A conventional sputtering apparatus was constructed as shown in FIG.
以下、第6図を参照しながら従来のスパッタリング装置
について説明する。24は、磁石21及びヨーク22を
固定するカソード本体、23はターゲット、25はプラ
ズマシールド、2eはターゲット23を冷却するための
冷却水の入口、27は冷却水出口である。28はカソー
ド本体24及び基板ホルダー31を支持するチャンバー
である。Hereinafter, a conventional sputtering apparatus will be explained with reference to FIG. 24 is a cathode body for fixing the magnet 21 and yoke 22, 23 is a target, 25 is a plasma shield, 2e is a cooling water inlet for cooling the target 23, and 27 is a cooling water outlet. 28 is a chamber that supports the cathode body 24 and the substrate holder 31.
また32はスパッタリングにより膜が形成される基板で
、基板ホルダー31に装着されている。33はターゲッ
ト23をスパッタリングした時の侵食形状を示す。Further, 32 is a substrate on which a film is formed by sputtering, and is mounted on the substrate holder 31. 33 shows the erosion shape when the target 23 is sputtered.
第7図は、第6図のA矢印方向から磁石21を見た図で
ある。FIG. 7 is a view of the magnet 21 viewed from the direction of arrow A in FIG.
以下、その動作について説明する。チャンバー28内を
真空ポンプにより、10 Torr 台の真空度ま
で排気する。その後、アルゴンガスを導入して5X10
Torr 程度に設定し、カソード本体24へ電
源29によりDC又はRFの電圧を印加する。これによ
りチャンバー28内にプラズマが発生する。このプラズ
マ中には、アルゴンイオンが存在する。また、磁石21
の磁界30によりプラズマ密度の高い部分が発生し、ア
ルゴンイオンのターゲット23への衝突量が増加し、基
板32上へ高速成膜させる。The operation will be explained below. The inside of the chamber 28 is evacuated to a degree of vacuum on the order of 10 Torr using a vacuum pump. After that, introduce argon gas and
Torr, and a DC or RF voltage is applied to the cathode body 24 by the power supply 29. As a result, plasma is generated within the chamber 28. Argon ions are present in this plasma. In addition, the magnet 21
The magnetic field 30 generates a region with high plasma density, and the amount of argon ions colliding with the target 23 increases, resulting in high-speed film formation on the substrate 32.
発明が解決しようとする問題点
このカソードにおいて薄膜を形成する時、第6図に示す
侵食形状33の如く、ターゲット23の侵食が局部的に
犬きくなるため、ターゲット23の利用効果が30チ程
度となってしまう。そのため、ターゲット23が高価な
場合及び生産の場で使用する時非常に大きな問題となる
。Problems to be Solved by the Invention When forming a thin film on this cathode, the erosion of the target 23 becomes locally severe as shown in the erosion shape 33 shown in FIG. It becomes. Therefore, this becomes a very serious problem when the target 23 is expensive or when used in production.
そこで、本発明はカソード部の構成を工夫することによ
り、ターゲットの利用効率向上を図ることを目的とする
。Therefore, an object of the present invention is to improve the utilization efficiency of the target by devising the configuration of the cathode section.
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明のスパッタリング
装置は、カソード本体の外部に磁石を配置するとともに
、この磁石を移動体により移動可能に支持し、移動体を
駆動して磁石を適当なスピードで移動するようにしたも
のである。Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the sputtering apparatus of the present invention disposes a magnet outside the cathode body, supports the magnet so that it can be moved by a moving body, and supports the moving body. The magnet is driven to move at an appropriate speed.
作 用 この技術的手段による作用は次のようになる。For production The effect of this technical means is as follows.
すなわち、移動体上に磁石を設置し、駆動可能にした事
により、ターゲット上のプラズマ密度の高い部分すなわ
ち、ターゲット侵食部分が時々刻々と移動して均一な侵
食形状が得られ、ターゲットの利用効率が向上する。In other words, by installing a magnet on a moving body and making it driveable, the part of the target with high plasma density, that is, the target eroded part, moves moment by moment to obtain a uniform eroded shape, which improves target usage efficiency. will improve.
実施例
以下、本発明の一実施例について第1図〜第3図を参照
しながら説明する。EXAMPLE Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
第1図、第2図は、本発明の一実施例におけるスパッタ
リング装置の断面を示す。又、第3図は、第1図のA矢
印方向から見た時の磁石を示す。第1図、第2図におい
て、1はターゲット3の表面上に平行磁界を発生させる
だめの磁石、2は磁石1と接着材で一体となっているヨ
ークである。FIGS. 1 and 2 show a cross section of a sputtering apparatus in an embodiment of the present invention. Further, FIG. 3 shows the magnet when viewed from the direction of arrow A in FIG. 1. In FIGS. 1 and 2, 1 is a magnet that generates a parallel magnetic field on the surface of the target 3, and 2 is a yoke that is integrated with the magnet 1 using an adhesive.
4はターゲット3を装着するためのカソード本体、6は
プラズマシールドである。前記磁石1とヨーク2は無端
状のベルトT上に設置されており、このベルト7は、プ
ーリー6を介してもモーター10にて駆動可能に構成さ
れている。9はカソード本体4へRF又はDCの電圧を
印加するための電源である。8はカソード本体4及び基
板ホルダー11を支持するためのチャンバーである。1
2はスパッタリングにより膜が形成される基板で、基板
ホルダー11に装着されている。4 is a cathode body for mounting the target 3, and 6 is a plasma shield. The magnet 1 and yoke 2 are placed on an endless belt T, and the belt 7 is configured to be driven by a motor 10 via a pulley 6 as well. Reference numeral 9 denotes a power source for applying RF or DC voltage to the cathode body 4. 8 is a chamber for supporting the cathode body 4 and the substrate holder 11. 1
Reference numeral 2 denotes a substrate on which a film is formed by sputtering, and is mounted on a substrate holder 11.
以上のように構成されたスパッタリング装置のカソード
部分について、その動作を説明する。ターゲット3へ電
圧を印加することにより、電界がターゲット3の表面に
対して垂直にかかり、磁石1により発生する磁界と直交
し、電子サイクロトロン運動をする。そのため、その部
分のプラズマ密度が高くなり膜付速度が上昇する。ここ
で、モーター10によりプーリー6を介して、ベルト7
を駆動する。それに従って磁石1が一方向へ移動し、プ
ラズマ密度の高い部分、すなわちターゲット3の侵食の
激しくなると想定される部分が移動することになる。従
って、ターゲット3は、従来のカソード構造を用いたも
のに比べて、より均一に侵食されていくことになる。The operation of the cathode portion of the sputtering apparatus configured as described above will be explained. By applying a voltage to the target 3, an electric field is applied perpendicularly to the surface of the target 3, perpendicular to the magnetic field generated by the magnet 1, and causes electron cyclotron motion. Therefore, the plasma density in that part increases and the film deposition rate increases. Here, the motor 10 passes the belt 7 through the pulley 6.
to drive. Accordingly, the magnet 1 moves in one direction, and the part where the plasma density is high, that is, the part where the target 3 is expected to be severely eroded, moves. Therefore, the target 3 will be eroded more uniformly than when using a conventional cathode structure.
なお、磁石1の形状は第4図及び第6図に示すような形
状でも良い。又、磁石1の駆動はベルト7以外にチェー
ンでも良い。Note that the shape of the magnet 1 may be as shown in FIGS. 4 and 6. Further, the magnet 1 may be driven by a chain instead of the belt 7.
発明の効果
以上のように、本発明のスパッタリング装置は、カソー
ドの磁石をカソード本体の外部如配置するとともに、移
動体により移動可能としたために、ターゲットの利用効
率を向上させることができる。Effects of the Invention As described above, in the sputtering apparatus of the present invention, the cathode magnet is disposed outside the cathode body and is movable by the movable body, so that the efficiency of target utilization can be improved.
従って、ターゲットの価格がコストに大きく影響を及ぼ
す量産の場合に、利用効率が良くなることで、生産性の
向上を図ることができる。Therefore, in the case of mass production where the target price has a large effect on the cost, productivity can be improved by improving utilization efficiency.
第1図は本発明の一実施例におけるスパッタリング装置
の縦断正面図、第2図は同縦断側面図、第3図は第1図
の入方向から磁石を見た平面図、第4図及び第6図は磁
石の他の構造を示す第3図と同様の平面図、第6図は従
来例の縦断正面図、第7図は第6図のA方向から磁石を
見た平面図である。
1・・・・・・磁石、3・・・・・・ターゲット、4・
・・・・・カソード本体、7・・・・・・ベルト、8・
・・・・・チャンバー、12・・・・・・基板。
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 第4図 第5図
第6図FIG. 1 is a longitudinal sectional front view of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a longitudinal sectional side view thereof, FIG. 6 is a plan view similar to FIG. 3 showing another structure of the magnet, FIG. 6 is a longitudinal sectional front view of the conventional example, and FIG. 7 is a plan view of the magnet viewed from direction A in FIG. 6. 1...Magnet, 3...Target, 4.
...Cathode body, 7...Belt, 8.
...Chamber, 12...Substrate. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and 1 other person No. 3
Figure 4 Figure 5 Figure 6
Claims (1)
装着したカソード本体をチャンバーにて支持し、前記カ
ソード本体の外部に磁石を配置するとともに、移動体に
より移動可能に支持したことを特徴とするスパッタリン
グ装置。A sputtering apparatus characterized in that a substrate on which a film is formed by sputtering and a cathode body equipped with a target are supported in a chamber, a magnet is disposed outside the cathode body, and the cathode body is movably supported by a moving body. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31215386A JPS63166968A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Sputtering device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31215386A JPS63166968A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Sputtering device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63166968A true JPS63166968A (en) | 1988-07-11 |
Family
ID=18025880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31215386A Pending JPS63166968A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Sputtering device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63166968A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110031116A1 (en) * | 2009-08-07 | 2011-02-10 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Magnetron sputtering target assembly and coating apparatus having same |
-
1986
- 1986-12-26 JP JP31215386A patent/JPS63166968A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110031116A1 (en) * | 2009-08-07 | 2011-02-10 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Magnetron sputtering target assembly and coating apparatus having same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4946576A (en) | Apparatus for the application of thin layers to a substrate | |
US5458759A (en) | Magnetron sputtering cathode apparatus | |
US5130005A (en) | Magnetron sputter coating method and apparatus with rotating magnet cathode | |
US5876576A (en) | Apparatus for sputtering magnetic target materials | |
US5409590A (en) | Target cooling and support for magnetron sputter coating apparatus | |
US20070261952A1 (en) | Magnetron Sputtering Apparatus | |
EP0555339B1 (en) | Magnetron sputter coating method and apparatus with rotating magnet cathode | |
JPH079062B2 (en) | Spatter device | |
US5753089A (en) | Sputter coating station | |
US20090205950A1 (en) | Film deposition apparatus and film deposition method | |
JP5386329B2 (en) | Magnet unit and sputtering apparatus for magnetron sputtering electrode | |
JPS63166968A (en) | Sputtering device | |
JP2555004B2 (en) | Sputtering equipment | |
JP2000104167A (en) | Magnetron sputtering device | |
KR20170031435A (en) | Sputtering apparatus | |
JPH08209343A (en) | Method and apparatus for plane magnetron sputtering | |
KR100603459B1 (en) | Sputtering Apparatus | |
JPS63125675A (en) | Magnetron sputtering device | |
JPS63247366A (en) | Magnetron sputtering device | |
JPH0726202B2 (en) | Film thickness adjustment method in magnetron sputtering | |
JPH11350123A (en) | Thin film production apparatus and production of liquid crystal display substrate | |
JPH01111870A (en) | Sputtering device | |
JP3414667B2 (en) | Magnetron sputtering method | |
KR102617710B1 (en) | Substrate treatment apparatus | |
JP3898318B2 (en) | Sputtering equipment |