JPS63164286A - 半導体レ−ザアレイ装置 - Google Patents

半導体レ−ザアレイ装置

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JPS63164286A
JPS63164286A JP31139986A JP31139986A JPS63164286A JP S63164286 A JPS63164286 A JP S63164286A JP 31139986 A JP31139986 A JP 31139986A JP 31139986 A JP31139986 A JP 31139986A JP S63164286 A JPS63164286 A JP S63164286A
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semiconductor laser
stripe
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Masahiro Kume
雅博 粂
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光通信や光情報処理装置等の光源に用いられる
半導体レーザアレイ装置に関するものである。
従来の技術 半導体レーザは、空間的コヒーレンスに優れた光源で、
そのレーザ光の波長(〜0.8μffり程度のスポ・シ
ト径にまで集光できるので、超高密度の光デイスクメモ
リや、高品位のレーザビームプリンタなどに用いられて
いる。近年、メモリへの記録やプリンタの高速化のため
、レーザ光出力の高山カベの要求が益々強くなってきた
。半導体レーザを高出力駆動する時の問題点は、先導波
路内でのレーザビームの安定性もあるが、レーザ光の共
振器端面でのスポ・シト径が小さく(約101101l
、4μm)。
光密度が非常に高くなることである。端面での光密度が
2×106W/cIi以上になると、一般にレーザを構
成する半導体結晶が溶融し、素子が破壊されるに至る。
上記のスポット径を考えると、この時の光出力は80m
Wとなる。この程度の光出力が1個の導波路からなる半
導体レーザの光出力の限界である。そこで、第6図に示
すように、導波路を平行に複数本並置し、導波路間を光
学的に結合させ、各導波路(以下ストライプと呼ぶ)の
発振状態(位相)に相関を持たせたマルチストライプの
レーザアレイが作られた。
発明が解決しようとする問題点 レーザアレイの放射パターン(遠視野像: FFP )
は、各ストライプ内での光の位相によって敏感に変化す
る。第6図(A)に各ストライプ内の電界が同位相の場
合の、導波路内の光分布及びFFPを示す。この場合、
FFPは単峰性で幅の狭い(<6°)ビームとなる。し
かし隣り合うストライプの間で光強度が0とならないた
め、発振しきい値が高い。第6図(B)に示す場合は、
各ストライプで電界の位相がπずれており、この場合は
、ストライプ間で光強度が0となるため、光損失が少な
くなってしきい値が(A)の場合よりも低くなる。
従って第6図に示すアレイでは(B)の反対称モード(
out phase)で発振する。ところがこの場合F
FPは双峰性となり、単一スポットに絞り込むことがで
きない。本発明は、上記欠点に鑑み、FFPが単峰性の
半導体レーザアレイ装置を提供するものである。
問題点を解決するだめの手段 上記問題点を解決するために、本発明の半導体レーザア
レイ装置は、2分の1波長(位相差がπ)の厚さの誘電
体膜を、一つおきのストライプにのみ付けて構成されて
いる。
作  用 この構成によって、隣り合うストライプからの出射光の
位相のずれが誘電体膜によって補正されて、全てのスト
ライプからの光の位相が揃う。
FFPは、導波路内の電界分布をフーリエ変換したもの
に相当する。各ストライプからの出射光の位相が一致し
ていれば、FFPは単峰性の鋭角のビームとなる。
実施例 第1図に本発明の実施例による半導体レーザアレイ装置
を示す。半導体レーザ結晶8の構造は、第6図に示す従
来例と同一である。即ち、P型G a A s基板1上
に、電流狭窄層(n−GaAs)2を介して、3本のス
トライプ溝7より活性層(GaAJAs)4に電流が注
入され、レーザ発振が起こる。各ストライプ上のレーザ
光は、横方向に結合し、全体として同一の波長で発振す
る。ストライプの間ではn −G a A s層2にレ
ーザ光が吸収されるため、第6図(B)に示す反対称モ
ードで発振する。つまり、中央のストライプの電界に対
し、その両側の電界は位相がπだけずれる。そこで、端
面に誘電体のコーテイング膜9を付ける。そして、中央
のストライプの所の膜厚(d2)を、その両側の部分で
の膜厚(dl)よりも2分の1波長の光学的厚さく実際
の厚さに屈折率を掛けたもの)だけ薄くする。このよう
にすると中央のストライプからの光より、その両側から
の光の位相がπずれるので、コーティング嘆出射後では
、位相のそろった3ビームとなる。第2図は第1図に示
す半導体アレイ装置の上面図である。半導体レーザ結晶
8の片方の端面に、コーテイング膜9があり、その膜厚
が、中央のストライプに対応する部分のみ2分の1波長
の厚さ分薄くなっているのがわかる。出射端面における
電界分布は、図示のとおり位相がそろうので、FFPは
図示のとおり狭い出射角の単峰性ビームとなる。端面コ
ーテイング膜としては、アルミナが最適であり、その他
にはSiO□やSiN なども用いることができる。本
実施例では、まず端面にアルミナ(屈折率1.es)を
0.473μm(レーザ光波長λ=0.78μmで1波
長膜厚に相当)スパッタ法で付け、ホトリングラフイー
を用いて、中央のストライプの部分だけをフッ酸でエツ
チングして0.236μm(2分の1波長)にした。
第3図に、電流光出力特性を示す。素子が破壊するに至
る光出力は230111Wと高く、単一スドライブレー
ザではけっして得られない値である。また第4図に遠視
野像の強度分布(FFP )を示す。
横軸は角度を示している。図示したとおり、単峰性て、
半値角が1.4°と鋭いピークが得られている。
発明の効果 本発明によれば、高出力でビームのコヒーレンスの良い
半導体レーザが得られ、その実用的効果は犬なるものが
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体レーザアレイ装置の構造図、第
2図はその作用を説明するための図、第3図は電流−光
出力特性図、第4図は遠視野像の強度分布図、第5図は
従来の半導体レーザアレイ装置の構造図、第6図は電界
分布とFFPの説明図である。 1・・・・・・P型G a A s基板、2・・・・・
・n型GaAs電流狭窄層、3・・・・・・P型G a
 A I A s クラッド層、4・・・・・・G a
 A I A s 活性層、6・・・・・・n型G a
 A I A s  クラッド層、6・・・・・・n型
G a A sコンタクト層、7・・・・・・ストライ
ブ溝、8・・・・・・半導体レーザ結晶、9・・・・・
・端面コーテイング膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名ε−
千1隼体レーV″緒品 m  1  f!l             q−−
一奢給函コーティング用友第 2v!J 第3図 主情面コーテイング膜史r(レ −s        o        ”s    
(etejree)/・−P−QetAS     4
−Cra、AIAJ2.4・−7tイーA!;    
5−n−(2aAIAs計−P−眞A!AS    7
−  ストライプン、−1t43図 第6図    7 (A)(βう

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数個の光導波路を平行に並べて、光学的に結合される
    とともに、共振器端面の少なくとも一方において、各レ
    ーザ出射部に、隣りあう出射部に対して光学的距離が2
    分の1波長異なった厚さの誘電体膜が交互にあることを
    特徴とする半導体レーザアレイ装置。
JP31139986A 1986-12-25 1986-12-25 半導体レ−ザアレイ装置 Expired - Lifetime JPH0744309B2 (ja)

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JPH0744309B2 JPH0744309B2 (ja) 1995-05-15

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ID=18016727

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002329926A (ja) * 2000-03-27 2002-11-15 Tadashi Takano 半導体レーザ装置およびそれを用いた通信システム
EP1962395A2 (en) 2007-02-26 2008-08-27 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser element
US7668218B2 (en) 2007-02-20 2010-02-23 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser element

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EP2086076A2 (en) 2007-02-26 2009-08-05 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser element
US7764722B2 (en) 2007-02-26 2010-07-27 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser element

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