JPS63163861A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63163861A JPS63163861A JP31556286A JP31556286A JPS63163861A JP S63163861 A JPS63163861 A JP S63163861A JP 31556286 A JP31556286 A JP 31556286A JP 31556286 A JP31556286 A JP 31556286A JP S63163861 A JPS63163861 A JP S63163861A
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08292—Germanium-based
-
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- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08264—Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
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- Inorganic Chemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れ、しかも正負両帯電が可能な電子写X感光
体に関する。
境性等が優れ、しかも正負両帯電が可能な電子写X感光
体に関する。
[従来の技術]
水素(H)を含有するアモルファスシリコン(以下、a
−8i:Hと略す)は、近年、光1を変換材料として注
目てれておシ、太陽電池、薄膜トランジスタ、及び・イ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体とし
て応用されている。
−8i:Hと略す)は、近年、光1を変換材料として注
目てれておシ、太陽電池、薄膜トランジスタ、及び・イ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体とし
て応用されている。
従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS 、 ZnO,8台、若しくはS・−での等の
無機材料又はポリ−H−ビニルカルバゾール(pVcz
)若しくはトリニトロフルオレノン(TNF) $の
有機材料が使用されていた。しかしながら、a−8t:
)Iはこれらの無機材料又は有機材料に比して、無公害
物質であるため回収処理の必要がないこと、可視光領域
で高い分光感度を有すること、並びに表面硬度が高く耐
磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有して
いる。このため、a−8l : Hは電子写真プロセス
の感光体として注目されている。
、CdS 、 ZnO,8台、若しくはS・−での等の
無機材料又はポリ−H−ビニルカルバゾール(pVcz
)若しくはトリニトロフルオレノン(TNF) $の
有機材料が使用されていた。しかしながら、a−8t:
)Iはこれらの無機材料又は有機材料に比して、無公害
物質であるため回収処理の必要がないこと、可視光領域
で高い分光感度を有すること、並びに表面硬度が高く耐
磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有して
いる。このため、a−8l : Hは電子写真プロセス
の感光体として注目されている。
このa−8t:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合、感光体特性と
して抵抗及び光感度が高いことが要求される。しかしな
がら、この両特性を単一の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
温の構造にすることによシ、このような要求を満足させ
ている。
して検討が進められているが、この場合、感光体特性と
して抵抗及び光感度が高いことが要求される。しかしな
がら、この両特性を単一の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
温の構造にすることによシ、このような要求を満足させ
ている。
[発明が解決しようとする問題点]
ところで、従来、障壁層としては高抵抗の絶縁性単一層
が用いられているが、このような障壁層では、膜厚が厚
いと光導電層から支持体へ流れるキャリアが障壁層を通
過できず、その結果、残留電位が高くなってしまう、一
方、膜厚が薄いと現像バイアスによシ絶縁破壊を生じて
し15.また、障壁層として、p型又はnuの半導体を
用いた場合には、膜厚が厚いとダングリングゴ/ド等の
構造欠陥にキャリアがトラップされ、残留電位が高くな
シ、一方、膜厚が薄い場合には支持体からのキャリアを
ブロックできず、帯電能が低下してしまり。
が用いられているが、このような障壁層では、膜厚が厚
いと光導電層から支持体へ流れるキャリアが障壁層を通
過できず、その結果、残留電位が高くなってしまう、一
方、膜厚が薄いと現像バイアスによシ絶縁破壊を生じて
し15.また、障壁層として、p型又はnuの半導体を
用いた場合には、膜厚が厚いとダングリングゴ/ド等の
構造欠陥にキャリアがトラップされ、残留電位が高くな
シ、一方、膜厚が薄い場合には支持体からのキャリアを
ブロックできず、帯電能が低下してしまり。
一方、二色カラーコピーや、プリンタとコピーとの兼用
使用等の目的のため、正負両帯電が可能な感光体が望ま
れている。このような感光体を非晶質シリコンで形成す
る場合、非晶質シリコンに酸素を添加することや、光導
電層と支持体との闇に絶縁層を設けることが考えられる
。しかし、前者の場合には、酸素の添加によシ膜の欠陥
が増大し、感度、残留電位等が悪化してしまう。また、
後者の場合には、絶縁層が厚いとキャリアがトラップさ
れて残留電位が上昇してしまい、逆に薄いと画像の現像
時に絶縁破壊を生じ、好ましくない。
使用等の目的のため、正負両帯電が可能な感光体が望ま
れている。このような感光体を非晶質シリコンで形成す
る場合、非晶質シリコンに酸素を添加することや、光導
電層と支持体との闇に絶縁層を設けることが考えられる
。しかし、前者の場合には、酸素の添加によシ膜の欠陥
が増大し、感度、残留電位等が悪化してしまう。また、
後者の場合には、絶縁層が厚いとキャリアがトラップさ
れて残留電位が上昇してしまい、逆に薄いと画像の現像
時に絶縁破壊を生じ、好ましくない。
本発明は、かかる事直に鑑みてなされたものでありて、
帯電能が優れておシ、残留電位が低く、近赤外領域まで
の広い波長領域に亘りて感腿が高く、基板との密着性が
良く、耐環境性が優れ、かつ正負両帯電ともに良好な帯
電能を有する電子写真感光体を提供することを目的とす
る。
帯電能が優れておシ、残留電位が低く、近赤外領域まで
の広い波長領域に亘りて感腿が高く、基板との密着性が
良く、耐環境性が優れ、かつ正負両帯電ともに良好な帯
電能を有する電子写真感光体を提供することを目的とす
る。
[発明の構成コ
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の障壁層として超格子構造を用いることによシ、上記目
的な達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至り
た。
の障壁層として超格子構造を用いることによシ、上記目
的な達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至り
た。
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体、障壁
層および光導電層を具備する電子写真感光体において、
前記障壁層は、絶縁性の半導体層と、光導成性を有する
半導体層とを交互に積層して構成されていることを特徴
とする。
層および光導電層を具備する電子写真感光体において、
前記障壁層は、絶縁性の半導体層と、光導成性を有する
半導体層とを交互に積層して構成されていることを特徴
とする。
障壁層t−構成する半導体層の厚さは30〜500又で
あるのが好ましい。
あるのが好ましい。
また、障壁j−は、周期律表第■族および第V族に属す
る元素から選ばれた少なくとも1棟を含んでいてもよい
。
る元素から選ばれた少なくとも1棟を含んでいてもよい
。
障壁層を構成する絶縁性の半導体層としては、例えば非
晶質シリコン層、微細晶シリコン層等がちシ、光導電性
を有する半導体層としては、例えば、炭素、酸素および
旦素から運ばれた少なくとも1種を含む非晶質シリコン
層、非晶質BN層等がある。
晶質シリコン層、微細晶シリコン層等がちシ、光導電性
を有する半導体層としては、例えば、炭素、酸素および
旦素から運ばれた少なくとも1種を含む非晶質シリコン
層、非晶質BN層等がある。
微結晶シリコン(μe−8S)は、粒径が約数十オンゲ
ストロムの微結晶のシリコンと非晶質シリコンとの混合
層により形成されているものと考えられ、以下のような
物性上の%徴を有している。第一に、X線回折測定では
2θが28〜28.5°付近にある結晶回折パターンを
示し、/Sローのみが現れる無定形のa−81から明確
に区別される。第二に、μc−8iの暗抵抗は1010
Ω・α以上に調贅することができ、暗抵抗が1050・
ののポリクリスタリンシリコンからも明確に区別される
。
ストロムの微結晶のシリコンと非晶質シリコンとの混合
層により形成されているものと考えられ、以下のような
物性上の%徴を有している。第一に、X線回折測定では
2θが28〜28.5°付近にある結晶回折パターンを
示し、/Sローのみが現れる無定形のa−81から明確
に区別される。第二に、μc−8iの暗抵抗は1010
Ω・α以上に調贅することができ、暗抵抗が1050・
ののポリクリスタリンシリコンからも明確に区別される
。
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例になる電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁層2が形成式れ
、その上には光導電層3が形成されている。更に、光導
電層3の上には表面層4が形成されている。
面構造を示す図である。同図において、1は導電性支持
体である。該導電性支持体の上には障壁層2が形成式れ
、その上には光導電層3が形成されている。更に、光導
電層3の上には表面層4が形成されている。
導電性支持体1は1通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
成される。
障壁層2は2種の半導体薄膜例えば非晶質シリコン(a
−8S)薄膜からなる超格子構造を有しており。
−8S)薄膜からなる超格子構造を有しており。
a−8tは水素が添加されたもの(a−8l:H)とす
ることができる。
ることができる。
一方の半導体薄膜は絶縁性を肩し、他方の半導体薄膜は
光導′成性を有している。
光導′成性を有している。
上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。
障壁層2の上に形成される光導電層3は、 a−8GH
又はμc−81:Hによりm成される。
又はμc−81:Hによりm成される。
光4電層3に光が入射するとキャリアが発生し、このキ
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帝tW、
荷と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して
導電性支持体に到達する。
ャリアのうち一方の極性のものは感光体表面の帝tW、
荷と中和し、他方の極性のものは光導電層3を走行して
導電性支持体に到達する。
障壁層2および光導電層3を構成するasl:H又はμ
a−8t:Hにおける水素の含有量は、0.01〜30
M子チが好ましく、1〜25原子−がより好ましい。こ
のよ5な水素の含有量によシ、シリコンのダングリング
?ンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたも
のとなシ、光導電特性が向上する。
a−8t:Hにおける水素の含有量は、0.01〜30
M子チが好ましく、1〜25原子−がより好ましい。こ
のよ5な水素の含有量によシ、シリコンのダングリング
?ンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたも
のとなシ、光導電特性が向上する。
a−st:a4をグロー放電分解法によシ成膜するには
、原料として5in4及びS i 2H6等のシラン@
ガスを反応室に尋人し、高周波によジグロー放電するこ
とによシ薄層中KMを添加することができる。
、原料として5in4及びS i 2H6等のシラン@
ガスを反応室に尋人し、高周波によジグロー放電するこ
とによシ薄層中KMを添加することができる。
必要に応じて、シラン類のキャリアガスとして水素又は
ヘリウムをガスを使用することができる。
ヘリウムをガスを使用することができる。
一方、SiF4ガス及び5iCt4ガス等のハロダン化
ケイ素を原料ガスとして使用することができる。また、
シラン類ガスとハロダン化ケイ素ガスとの混合ガスで反
応させても、同様にHを含Mするa−81:Hを成膜す
ることができる。なお、グロー放電分解法によらず、例
えば、スフ4ツタリング等の物理的な方法によってもこ
れ等の薄層を形成することができる。
ケイ素を原料ガスとして使用することができる。また、
シラン類ガスとハロダン化ケイ素ガスとの混合ガスで反
応させても、同様にHを含Mするa−81:Hを成膜す
ることができる。なお、グロー放電分解法によらず、例
えば、スフ4ツタリング等の物理的な方法によってもこ
れ等の薄層を形成することができる。
光導電層3の上に派面層4が設けられている。
光導電層3を構成するa−8t :H等は、その屈折率
が3乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が
起きやすい、このような光反射が生じると、光導電層に
吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大きくなる
。このため、表面層4f:設けて反射を防止することが
好ましい、また、表面層4を設けることによシ、光導電
層3が損傷から保護される。嘔らに、表面層を形成する
ことによシ、帯電能が向上し、表面に′1荷がよくのる
ようになる。
が3乃至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が
起きやすい、このような光反射が生じると、光導電層に
吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大きくなる
。このため、表面層4f:設けて反射を防止することが
好ましい、また、表面層4を設けることによシ、光導電
層3が損傷から保護される。嘔らに、表面層を形成する
ことによシ、帯電能が向上し、表面に′1荷がよくのる
ようになる。
表面層を形成する材料としては、a−8IN:)I、a
−BiO二H1及びa−5IC:H等の無機化合物並び
にポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
−BiO二H1及びa−5IC:H等の無機化合物並び
にポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電によυ約500Vの正電圧で帯t−gせた状態で光
(hv)が入射すると、光導電層3において電子と正孔
の中ヤリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内
の゛電界によシ表面層49J1に回けて加速され、正孔
は導電性支持体1側に向けて加速でれる。この場合、従
来の高抵抗の絶縁性単一層からなる障壁層を用いると、
前述のように、膜厚が厚いと光導電Jiiから支持体へ
流れるキャリアが障壁層を通過できず、その結果、残留
電位が高くなりてしまう。一方、膜厚が薄いと現像バイ
アスにより絶縁破壊を生じてしまう。また、障壁層とし
てp温又はniの半導体を用いた場合には、膜厚が厚い
とダングリング?ンド等の構造欠陥に中ヤリアがトラフ
7″てれ、残留電位が高くなシ、一方、膜厚が薄い場合
には支持体からのキャリアをブロック゛できず、¥If
I電能が低下してしまう。これに対し、本発明の感光体
のように、障壁層を超格子構造とすると、ポテンシャル
井戸層においては、量子効果のために、超格子構造でな
い単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10
倍と長い。また、超格子構造においては、バンドギャッ
プの不連続性によシ、周期的なバリア層が形成されるが
、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を通シ抜
けるので、キャリアの実効移動度はバルクにおける移動
度と同等であシ、キャリアの走行性が優れている0以上
のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば、高光導
電特性を得ることができ、従来の感光体よりも鮮明な画
像を得ることができる。
放電によυ約500Vの正電圧で帯t−gせた状態で光
(hv)が入射すると、光導電層3において電子と正孔
の中ヤリアが発生する。この伝導帯の電子は、感光体内
の゛電界によシ表面層49J1に回けて加速され、正孔
は導電性支持体1側に向けて加速でれる。この場合、従
来の高抵抗の絶縁性単一層からなる障壁層を用いると、
前述のように、膜厚が厚いと光導電Jiiから支持体へ
流れるキャリアが障壁層を通過できず、その結果、残留
電位が高くなりてしまう。一方、膜厚が薄いと現像バイ
アスにより絶縁破壊を生じてしまう。また、障壁層とし
てp温又はniの半導体を用いた場合には、膜厚が厚い
とダングリング?ンド等の構造欠陥に中ヤリアがトラフ
7″てれ、残留電位が高くなシ、一方、膜厚が薄い場合
には支持体からのキャリアをブロック゛できず、¥If
I電能が低下してしまう。これに対し、本発明の感光体
のように、障壁層を超格子構造とすると、ポテンシャル
井戸層においては、量子効果のために、超格子構造でな
い単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10
倍と長い。また、超格子構造においては、バンドギャッ
プの不連続性によシ、周期的なバリア層が形成されるが
、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層を通シ抜
けるので、キャリアの実効移動度はバルクにおける移動
度と同等であシ、キャリアの走行性が優れている0以上
のごとく、薄層を積層した超格子構造によれば、高光導
電特性を得ることができ、従来の感光体よりも鮮明な画
像を得ることができる。
また、このような超格子構造の障壁層を有する感光体は
、障壁層の膜厚を厚くしてもキャリアの移動度や寿命が
落ちることがなく、正負両帯電共に良好な帯電能を有し
ている。
、障壁層の膜厚を厚くしてもキャリアの移動度や寿命が
落ちることがなく、正負両帯電共に良好な帯電能を有し
ている。
以下に第2図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法によυ製造する装置、並びに装造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21,22,23,
24には、例えば夫々5IH4)B2H6,H2,CH
4等の原料ガスが収容てれている。これらガスノンぺ内
のガスは、流麓真整用のパルプ26及び配管27を介し
て混合器28に供給されるようになっている。各ボンベ
には圧力計25が設置式れておシ、該圧力計25を監視
しつつバルブ26を調整することによシ混合器28に供
給する各原料ゴスの流量及び混合比を94節できる。混
合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給され
る0反応容器29の底部31には1回転軸30が鉛直方
向の回シに回転可能に取付けられている。該回転軸30
の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30に
当直にして固定てれている。反応容器29内には、円筒
状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と一致
させて底部31上に設置されている。感光体のドラム基
体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の軸中
心と一致させて載置されておシ、このドラム基体34の
内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設されてい
る。電極33とドラム基体34との間には高周波電源3
6が接続されており、電極33およびドラム基体34i
&+1に高周波電流が供給されるようになりている。回
転軸3Qはモータ38によ多回転駆動される0反応容器
29内の圧力は圧力計37VCよシ監視され、反応容器
29はダートパルプ38t′介して真空ポ/グ等の適宜
の排気手段に連結てれている。
グロー放電法によυ製造する装置、並びに装造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21,22,23,
24には、例えば夫々5IH4)B2H6,H2,CH
4等の原料ガスが収容てれている。これらガスノンぺ内
のガスは、流麓真整用のパルプ26及び配管27を介し
て混合器28に供給されるようになっている。各ボンベ
には圧力計25が設置式れておシ、該圧力計25を監視
しつつバルブ26を調整することによシ混合器28に供
給する各原料ゴスの流量及び混合比を94節できる。混
合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給され
る0反応容器29の底部31には1回転軸30が鉛直方
向の回シに回転可能に取付けられている。該回転軸30
の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸30に
当直にして固定てれている。反応容器29内には、円筒
状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と一致
させて底部31上に設置されている。感光体のドラム基
体34が支持台32上にその軸中心を回転軸30の軸中
心と一致させて載置されておシ、このドラム基体34の
内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が配設されてい
る。電極33とドラム基体34との間には高周波電源3
6が接続されており、電極33およびドラム基体34i
&+1に高周波電流が供給されるようになりている。回
転軸3Qはモータ38によ多回転駆動される0反応容器
29内の圧力は圧力計37VCよシ監視され、反応容器
29はダートパルプ38t′介して真空ポ/グ等の適宜
の排気手段に連結てれている。
上記製造装置によシ感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ダートパル′
f39を開にして反応容器29fE4を約0、1 To
rrの圧力以下に排気する0次いで、メンベ21.2;
!、23.24からの所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器29内に導入する。この場合に、反応
容器29内に導入するガス流量は反応容器29円の圧力
が0.1乃至1.0Torrになるように設定する。次
いで、モータ38を作動させてドラム基体34を回転さ
せ、ヒータ35によシトラム基体34を一定温度に加熱
すると共に、高周波電源36によシミ極33とドラム基
体34との間に高周波電流を供給して、両者間にグロー
放Xt−形成する。これによシ、ドラム基体34上にa
−8l二Hが堆積する。なお、原料ガス中にN20 、
NH5、NO2、N2 e CH4# C2H4#
O□ガス等を使用することによシ、これらの元素をa−
81:H中に含有させることができる。
器29内にドラム基体34を設置した後、ダートパル′
f39を開にして反応容器29fE4を約0、1 To
rrの圧力以下に排気する0次いで、メンベ21.2;
!、23.24からの所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器29内に導入する。この場合に、反応
容器29内に導入するガス流量は反応容器29円の圧力
が0.1乃至1.0Torrになるように設定する。次
いで、モータ38を作動させてドラム基体34を回転さ
せ、ヒータ35によシトラム基体34を一定温度に加熱
すると共に、高周波電源36によシミ極33とドラム基
体34との間に高周波電流を供給して、両者間にグロー
放Xt−形成する。これによシ、ドラム基体34上にa
−8l二Hが堆積する。なお、原料ガス中にN20 、
NH5、NO2、N2 e CH4# C2H4#
O□ガス等を使用することによシ、これらの元素をa−
81:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため1
人体に対して安全である。
ズドシステムの製造装置で製造することができるため1
人体に対して安全である。
次に、この発明に係る゛1子写真感光体を成膜し、電子
写真特性を試繊した結果について説明する。
写真特性を試繊した結果について説明する。
試験列1
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドララスト処理を施した直径が80層1幅が
350mのアルミニウム真ドラム基体を反応容器内に装
置し、反ゐ容器を約10−5トルの真空度に排気した。
理及びサンドララスト処理を施した直径が80層1幅が
350mのアルミニウム真ドラム基体を反応容器内に装
置し、反ゐ容器を約10−5トルの真空度に排気した。
ドラム基体を250℃に加熱し、 10 rpmで自転
てせつつ、 SiH4ガスを3008CCMという流量
で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力を0.8トル
に調節した。そして、100Wの高周波電力を印加して
プラズマを生起させ、ドラム基体上に50Xのa−6L
薄層(ρd:1011Ω・譚、ρp : l O20・
の)を形成した。次いでSiH4ガスを508CCM%
CH4ガスを2508CCM導入し、100Wの高周波
電力を印加し、50Xのa−8iC薄層(ρd:〜′1
015カッ、ρp : 〜1013Ω・cWl)を形成
した。このような操作を繰り返して、2種類の50層づ
つのa−8IC薄層からなる5000Xのへテロ接合超
格子構造の障壁層を形成した。
てせつつ、 SiH4ガスを3008CCMという流量
で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力を0.8トル
に調節した。そして、100Wの高周波電力を印加して
プラズマを生起させ、ドラム基体上に50Xのa−6L
薄層(ρd:1011Ω・譚、ρp : l O20・
の)を形成した。次いでSiH4ガスを508CCM%
CH4ガスを2508CCM導入し、100Wの高周波
電力を印加し、50Xのa−8iC薄層(ρd:〜′1
015カッ、ρp : 〜1013Ω・cWl)を形成
した。このような操作を繰り返して、2種類の50層づ
つのa−8IC薄層からなる5000Xのへテロ接合超
格子構造の障壁層を形成した。
次に、SiH4ガスを3008CCM、 B2H6ガス
を5in4ガスに対して1×100流黛比で反応室内に
導入し、反応室内の圧力を1.Oトルとして200Wの
高周波電力を印加し、25μmの光導電層を形成した。
を5in4ガスに対して1×100流黛比で反応室内に
導入し、反応室内の圧力を1.Oトルとして200Wの
高周波電力を印加し、25μmの光導電層を形成した。
最後に、0.5μmの浮式のa−8iCからなる表面層
を形成した。
を形成した。
このようにして形成した感光体に+6.5kVの電圧を
印加すると、500 vo六圃面電位得られ、5秒後の
保持率は70チであった。次に、−6,5Vの電圧を印
加したところ、−4O0Vの異面電位が得られ、5秒後
の保持率は50チでめった。
印加すると、500 vo六圃面電位得られ、5秒後の
保持率は70チであった。次に、−6,5Vの電圧を印
加したところ、−4O0Vの異面電位が得られ、5秒後
の保持率は50チでめった。
更に、この感光体を複写機に装着して画一を形成させた
ところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明で艮好な画
像が得られた。
ところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明で艮好な画
像が得られた。
試験例2
障壁層の構成層の1つであるa−8iC薄層の代わシに
h−8iN薄層(ρd、ρp:〜1014Ω・c!n)
を形成したことを除いて、試験例1と同様にして電子写
真感光体を製造した。
h−8iN薄層(ρd、ρp:〜1014Ω・c!n)
を形成したことを除いて、試験例1と同様にして電子写
真感光体を製造した。
なお、a−8IN薄層は、5in4ガスを25 SCC
M 。
M 。
N2ガス′f、500 SCCMに設定し、200Wの
高周波電力を印加することにより得られた。
高周波電力を印加することにより得られた。
この感光体を試験例1と同様に複写機に装着して画像を
形成場せたところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明
で良好な画像が得られた。
形成場せたところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明
で良好な画像が得られた。
試験例3
障壁層の構成層の1つであるa−8iC薄層の代わシに
1−BN薄層(βd、ρp:〜1014Ω−am>t−
形成したことを除いて、試験例1と同様にして電子写真
感光体を製造した。
1−BN薄層(βd、ρp:〜1014Ω−am>t−
形成したことを除いて、試験例1と同様にして電子写真
感光体を製造した。
なお、a−BN薄層は、N2で希釈された15%B2H
6ガス’i200sccMの流量で導入し、400Wの
高周波電力を印加することにより得られた。
6ガス’i200sccMの流量で導入し、400Wの
高周波電力を印加することにより得られた。
この感光体を試験例1と同様に複写機に装着して画像を
形成させたところ、正負両帝゛4の場合にも鮮明で良好
な画像が得られ九。
形成させたところ、正負両帝゛4の場合にも鮮明で良好
な画像が得られ九。
試験ガ3
障壁層の構成層の1つである50Xのa−81薄層の代
わシに100Xμc−81薄層(ρci: l 010
Q・cmρp:100・国)を形成したこと上瞼いて、
試験例1と同様にして7500にのへテロ接合超格子型
障壁層を形成した。
わシに100Xμc−81薄層(ρci: l 010
Q・cmρp:100・国)を形成したこと上瞼いて、
試験例1と同様にして7500にのへテロ接合超格子型
障壁層を形成した。
なお、at−8i薄層は、5iH4ガスを258CCM
。
。
N2 、ガスを500SCCM導入し、500WC)高
周波電力を導入することによシ得られた。
周波電力を導入することによシ得られた。
この感光体を試験例1と同様に複写機に装着して画像を
形成させたところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明
で良好な画像が得られた。
形成させたところ、正負両帯電いずれの場合にも、鮮明
で良好な画像が得られた。
薄層の種類は、上記試験例のように2種類に限らず、3
種類以上の薄層を積層してもよく、要するに、絶縁性を
有する半導体層と光導電性を有する半導体層との組合せ
であればよい。
種類以上の薄層を積層してもよく、要するに、絶縁性を
有する半導体層と光導電性を有する半導体層との組合せ
であればよい。
[発明の効果コ
本発明によれば、薄壁層に超格子構造を用いているため
、キャリアの走行性が高いとともに、高抵抗のため帯′
1特性の優れた電子写X感光体を得ることができる。特
に、この発明においては、絶縁性と光導電性の2種の半
導体膜を用いているため、膜厚を厚くしてもキャリアの
移動度や寿命が落ちることがなく、正負両帯電ともに良
好な帯電能を有する感光体が得られるという利点がおる
。
、キャリアの走行性が高いとともに、高抵抗のため帯′
1特性の優れた電子写X感光体を得ることができる。特
に、この発明においては、絶縁性と光導電性の2種の半
導体膜を用いているため、膜厚を厚くしてもキャリアの
移動度や寿命が落ちることがなく、正負両帯電ともに良
好な帯電能を有する感光体が得られるという利点がおる
。
第1図は本発明の実施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第2図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1:導電性支持体、2:障壁層、3:光導電層、4:表
面層。
面図、第2図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図である。 1:導電性支持体、2:障壁層、3:光導電層、4:表
面層。
Claims (4)
- (1)導電性支持体、障壁層および光導電層を具備する
電子写真感光体において、前記障壁層は、絶縁性の半導
体層と光導電性を有する半導体層とを交互に積層して構
成されていることを特徴とする、正負両帯電が可能な電
子写真感光体。 - (2)前記障壁層を構成する半導体層の 膜厚は、30〜500Åである
- (3)前記光導電層は、その少なくとも一部が微結晶化
している材料から構成される特許請求の範囲第1ないし
3項のうちいずれか1項記載の電子写真感光体。 - (4)前記光導電層の上には表面層が形成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1ないし4項のうちい
ずれか1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31556286A JPS63163861A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | 電子写真感光体 |
DE19873740319 DE3740319A1 (de) | 1986-11-29 | 1987-11-27 | Elektrophotographisches aufzeichnungsmaterial |
US07/408,384 US5143807A (en) | 1986-11-29 | 1989-09-18 | Electrophotographic photoreceptor with superlattic barrier layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31556286A JPS63163861A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63163861A true JPS63163861A (ja) | 1988-07-07 |
Family
ID=18066838
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31556286A Pending JPS63163861A (ja) | 1986-11-29 | 1986-12-26 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63163861A (ja) |
-
1986
- 1986-12-26 JP JP31556286A patent/JPS63163861A/ja active Pending
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