JPS63161943A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
- Publication number
- JPS63161943A JPS63161943A JP61310132A JP31013286A JPS63161943A JP S63161943 A JPS63161943 A JP S63161943A JP 61310132 A JP61310132 A JP 61310132A JP 31013286 A JP31013286 A JP 31013286A JP S63161943 A JPS63161943 A JP S63161943A
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- JP
- Japan
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- ray
- fan
- shielding plate
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- rays
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- Pending
Links
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はファン状Ｘ線ビー１１を照射するＸ線断層撮影
装置に関し、特に照射範囲を制限して被曝１を抑制する
Ｘ線断層撮影装置に関する。
装置に関し、特に照射範囲を制限して被曝１を抑制する
Ｘ線断層撮影装置に関する。
（従来の技術）
Ｘ線断層撮影装置はＸ線によって患部の断層撮影を行う
装置である。そのＸ線断層岡影装置の概略構成を第３図
に示す。図において、１はＸ線断Ｂ穎影を行うためのＸ
線を放射するＸ線管で、その放射Ｘ線はコリメータ２に
よって、扇状に整形されて再構成領域３を照射する。４
は再構成領域３を透過して入射するＸ線をそのエネルギ
ーに比例した電気信号に変換するＸ線検出器、５はＸ線
管１．コリメータ２．Ｘ線検出器４を載せるガントリで
、その中心点を中心として被検体３の周囲を回転し、Ｘ
線管１からＸ線を再構成領域３の全周に曝射し、Ｘ線検
出器４に到達したＸ線のエネルギーを該Ｘ線検出器４の
構成チャネル６で測定する。６Ｒは再構成領域３を通過
しないＸ線ビームの入射覆る基準チャネルである。各チ
ャネル６によって得られたデータは、データ収集部７を
介してコンピュータ８に取り込まれ、温度補正処理やそ
の他の前処理がなされるようになっている。
装置である。そのＸ線断層岡影装置の概略構成を第３図
に示す。図において、１はＸ線断Ｂ穎影を行うためのＸ
線を放射するＸ線管で、その放射Ｘ線はコリメータ２に
よって、扇状に整形されて再構成領域３を照射する。４
は再構成領域３を透過して入射するＸ線をそのエネルギ
ーに比例した電気信号に変換するＸ線検出器、５はＸ線
管１．コリメータ２．Ｘ線検出器４を載せるガントリで
、その中心点を中心として被検体３の周囲を回転し、Ｘ
線管１からＸ線を再構成領域３の全周に曝射し、Ｘ線検
出器４に到達したＸ線のエネルギーを該Ｘ線検出器４の
構成チャネル６で測定する。６Ｒは再構成領域３を通過
しないＸ線ビームの入射覆る基準チャネルである。各チ
ャネル６によって得られたデータは、データ収集部７を
介してコンピュータ８に取り込まれ、温度補正処理やそ
の他の前処理がなされるようになっている。
又、画像再構成のための演算は専用の高速演算装置９に
て行う。１０はコンピュータ８に取り込まれたデータ（
投影データ）をそのままストアしたり、前処理及び再構
成演ｎ処理後のデータ等をストアする外部メモリである
。
て行う。１０はコンピュータ８に取り込まれたデータ（
投影データ）をそのままストアしたり、前処理及び再構
成演ｎ処理後のデータ等をストアする外部メモリである
。
このＸ線断ｍｗ影装置において、ＸｗＡ管１からのＸ線
照！ｌ）Ｊ ｇｔＡ囲は第３図に示すように画像再構成
領域３の全域に亘っている。第４図は再構成領域３にあ
る被検体を示ず図である。図において、１１は被検体で
、１２は特に観察したい関心部位である臓器である。
照！ｌ）Ｊ ｇｔＡ囲は第３図に示すように画像再構成
領域３の全域に亘っている。第４図は再構成領域３にあ
る被検体を示ず図である。図において、１１は被検体で
、１２は特に観察したい関心部位である臓器である。
（発明が解決しようとする問題点）
ところで、既述のように従来ＸＳ＊断層搬影ｖｔ置装お
いてはＸ線の照射範囲は再構成領域３の全域に亘ってお
り、第４図の臓器１２のみを観察するときも被検体１１
にＸ線が照射され、被検体１１に無用のＸ線のｆｆｌ射
が行われていた。
いてはＸ線の照射範囲は再構成領域３の全域に亘ってお
り、第４図の臓器１２のみを観察するときも被検体１１
にＸ線が照射され、被検体１１に無用のＸ線のｆｆｌ射
が行われていた。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、被検体の観察したい部位のみを照射することのできる
Ｘ線断ＦｔＡＷｉ彰装冒を大川することにある。
、被検体の観察したい部位のみを照射することのできる
Ｘ線断ＦｔＡＷｉ彰装冒を大川することにある。
（問題点を解決するための手段）
前記の問題点を解決するための本発明は、ファン状ｘｉ
ビームを照射するＸ線断層撮影装置において、前記ファ
ン状Ｘ線ビームの通過する面積が可変の空隙を有する少
なくとも２枚のＸ線不透過材で作られた遮蔽手段をコリ
メータに設けてＸ線ビームの照射ｔ！朋を制限すること
を特徴とするものである。
ビームを照射するＸ線断層撮影装置において、前記ファ
ン状Ｘ線ビームの通過する面積が可変の空隙を有する少
なくとも２枚のＸ線不透過材で作られた遮蔽手段をコリ
メータに設けてＸ線ビームの照射ｔ！朋を制限すること
を特徴とするものである。
（作用）
コリメータに遮蔽手段を設け、遮蔽手段の作る空隙の面
積を可変にして、ファン状Ｘ線ビームをその空隙を通過
させて被検体の関心部位のみを照射することを可能にす
る。
積を可変にして、ファン状Ｘ線ビームをその空隙を通過
させて被検体の関心部位のみを照射することを可能にす
る。
（実滴例）
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例の概略構成図である。
図において、第３図と同じ部分に同じ符号を付しである
。１３はＸ線管１から照射され、コリメータ２で扇状に
整形されたＸ線ビームの照射範囲を制限する着脱可能な
鉛板で作られている２枚の板から成る遮蔽板で、コリメ
ータ２に、ファンビームのファン方向にファンビームの
中心線に対称な位置に設けられており、上下に可動で三
角形状の中央の傾斜を利用して開口部１４の開口幅を加
減することができる。
。１３はＸ線管１から照射され、コリメータ２で扇状に
整形されたＸ線ビームの照射範囲を制限する着脱可能な
鉛板で作られている２枚の板から成る遮蔽板で、コリメ
ータ２に、ファンビームのファン方向にファンビームの
中心線に対称な位置に設けられており、上下に可動で三
角形状の中央の傾斜を利用して開口部１４の開口幅を加
減することができる。
次に上記のように構成された実施例の動作を説明する。
Ｘ線管１から出たＸ線ビームはコリメータ２によって扇
状に整形され、遮蔽板１３に到達する。遮蔽板１３は鉛
で作られているため、遮蔽板１３に当ったＸ線は吸収さ
れ、開口部１４を通過する。
状に整形され、遮蔽板１３に到達する。遮蔽板１３は鉛
で作られているため、遮蔽板１３に当ったＸ線は吸収さ
れ、開口部１４を通過する。
ここで、′ａ敲根板１３構造及びその動作を第２図を参
照して説明する。図において、第１図と同じ部分には同
じ符号を付しである。図中、１５は薄いファンスライス
厚用のアパーチャ、１６はアパーチャ１５よりも厚いフ
ァンスライス厚用のアパーチャである。Ｘ線管１からフ
ァンビームを放射する場合はこの両方のアパーチャの何
方か一方を使用して行うもので、第２図はアパーチャ１
５を用いてＸ線ファンビームを放射している状態を示し
ており、（イ）図は遮蔽板１３を下げて開口部１４の間
口幅を広くしである場合の図で、（ロ）図は遮蔽板１３
を上に上げて開口部１４の間口幅を狭りシシた場合の図
である。この図で明らかに分るように遮蔽板１３の形状
が三角形状なのでこれを上下することにより間口部１４
の開口幅を加減することができるものである。
照して説明する。図において、第１図と同じ部分には同
じ符号を付しである。図中、１５は薄いファンスライス
厚用のアパーチャ、１６はアパーチャ１５よりも厚いフ
ァンスライス厚用のアパーチャである。Ｘ線管１からフ
ァンビームを放射する場合はこの両方のアパーチャの何
方か一方を使用して行うもので、第２図はアパーチャ１
５を用いてＸ線ファンビームを放射している状態を示し
ており、（イ）図は遮蔽板１３を下げて開口部１４の間
口幅を広くしである場合の図で、（ロ）図は遮蔽板１３
を上に上げて開口部１４の間口幅を狭りシシた場合の図
である。この図で明らかに分るように遮蔽板１３の形状
が三角形状なのでこれを上下することにより間口部１４
の開口幅を加減することができるものである。
第１図に戻り、遮蔽板１３の開口部１４を通過したＸ線
ビームは被検体１１の中、関心部位１２のみを曝射する
。この場合関心部位１２は回転中心に位置させ、必要な
幅だけを照射するようにビーム幅を調節する。その調節
は関心部位１２が大きい時は遮蔽板１３を下げて開口部
１４を大きくして広い範囲を曝射し、関心部位１２が小
さい時は遮蔽板１３を上げて開口部１４を小さくして、
噴射範囲を小さくする。尚、遮蔽板１３はその如何なる
位置においても基準チャネル６Ｒに入射するＸ線ビーム
を妨害することの無いように取り付けられている。
ビームは被検体１１の中、関心部位１２のみを曝射する
。この場合関心部位１２は回転中心に位置させ、必要な
幅だけを照射するようにビーム幅を調節する。その調節
は関心部位１２が大きい時は遮蔽板１３を下げて開口部
１４を大きくして広い範囲を曝射し、関心部位１２が小
さい時は遮蔽板１３を上げて開口部１４を小さくして、
噴射範囲を小さくする。尚、遮蔽板１３はその如何なる
位置においても基準チャネル６Ｒに入射するＸ線ビーム
を妨害することの無いように取り付けられている。
以上のような構造の遮蔽板１３を有しているので、これ
に適合したアルゴリズムによって演算すれば、ＣＴ値の
シフト等も防げる。
に適合したアルゴリズムによって演算すれば、ＣＴ値の
シフト等も防げる。
以上説明したように、本発明によれば、簡単な遮蔽板を
付加することにより関心部位のみを照射することができ
、被検体の被曝線山を低減させることができる。
付加することにより関心部位のみを照射することができ
、被検体の被曝線山を低減させることができる。
本発明は本実施例に限るものでは無い。遮蔽板は鉛板で
説明したが、モリブデンでもタングステンでもその他適
当な材質のものがあれば何を使用しても差支えないもの
である。
説明したが、モリブデンでもタングステンでもその他適
当な材質のものがあれば何を使用しても差支えないもの
である。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように、本発明によれば、被検体の
被嗜線凹を少なくして必要な部位の観察を行い得るＸＩ
Ｉ断層撮影装置を得ることができて、実用上の効果は大
きい。
被嗜線凹を少なくして必要な部位の観察を行い得るＸＩ
Ｉ断層撮影装置を得ることができて、実用上の効果は大
きい。
第１図は本発明の一実施例の概略構成図で、第２図は遮
蔽板の構造の説明図、第３図は従来からあるＸ線断層Ｒ
影装置の構成図、第４図は被検体中の関心部位を示す図
である。
蔽板の構造の説明図、第３図は従来からあるＸ線断層Ｒ
影装置の構成図、第４図は被検体中の関心部位を示す図
である。
Claims (1)
- ファン状Ｘ線ビームを照射するＸ線断層撮影装置におい
て、前記ファン状Ｘ線ビームの通過する面積が可変の空
隙を有する少なくとも２枚のＸ線不透過材で作られた遮
蔽手段をコリメータに設けてＸ線ビームの照射範囲を制
限することを特徴とするＸ線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61310132A JPS63161943A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61310132A JPS63161943A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63161943A true JPS63161943A (ja) | 1988-07-05 |
Family
ID=18001552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61310132A Pending JPS63161943A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63161943A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006184267A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Nagoya Electric Works Co Ltd | Ｘ線検査装置、ｘ線検査方法およびｘ線検査プログラム |
-
1986
- 1986-12-26 JP JP61310132A patent/JPS63161943A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006184267A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-07-13 | Nagoya Electric Works Co Ltd | Ｘ線検査装置、ｘ線検査方法およびｘ線検査プログラム |
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