JPS63161610A - Wafer boat - Google Patents

Wafer boat

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Publication number
JPS63161610A
JPS63161610A JP61307845A JP30784586A JPS63161610A JP S63161610 A JPS63161610 A JP S63161610A JP 61307845 A JP61307845 A JP 61307845A JP 30784586 A JP30784586 A JP 30784586A JP S63161610 A JPS63161610 A JP S63161610A
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JP
Japan
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wafer
wafer boat
furnace
boats
boat
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Application number
JP61307845A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Sakai
勇一 酒井
Hitoo Yamura
矢村 仁夫
Kazuhiro Morishima
森島 和宏
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Coorstek KK
Original Assignee
Toshiba Ceramics Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To lighten and miniaturize a wafer boat, and to set wafers easily in conformity with the desired number of setting by combining and constituting a plurality of split wafer boats in the direction of furnace length of a vertical furnace. CONSTITUTION:A wafer boat 5 has a plurality of split wafer boats 30. These split wafer boats 30 are combined in the direction of furnace length (the vertical direction) of a vertical furnace (a vertical type diffusion furnace 1), thus organizing the wafer boat 5. The split wafer boats 30 as required are combined in conformity with the number of semiconductor wafers (such as silicon wafers 31) to be treated. A plurality of piled up split wafer boats 30 are set into the vertical type diffusion furnace 1.

Description

【発明の詳細な説明】 産、上の1 この発明は、半導体ウェーハまたはそれに類するものを
支持するためウェーハボートに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION This invention relates to a wafer boat for supporting semiconductor wafers or the like.

凭」ヒ久且」L 縦型炉、たとえば縦型の拡散炉を例に説明J−る。凭”hiku”L A vertical furnace, for example a vertical diffusion furnace, will be explained as an example.

半導体1クエーハ、たとえばシリコンウェーハを〜縦型
拡散炉内に設定して、シリコンウェーハに不純物、たと
えばリンを拡散する場合がある。
A semiconductor wafer, e.g. a silicon wafer, may be placed in a vertical diffusion furnace to diffuse an impurity, e.g. phosphorus, into the silicon wafer.

複数のシリコンウェーハはウェーハボートに所定間隔を
おいて保持される。このウェーハボートは縦型拡散炉の
下方から挿入され、縦型拡散炉内に炉長方向に沿って収
容される1゜そしてリンをN2ガスや02ガスとともに
1200℃の縦型拡散炉内に送り込む。このようにして
シリコンウェーハの表面にリンガラスを形成するととも
に、一定量のリンをシリコンウェーハ中に拡散させるの
である。
A plurality of silicon wafers are held on a wafer boat at predetermined intervals. This wafer boat is inserted from the bottom of the vertical diffusion furnace, and the 1° wafer boat is housed in the vertical diffusion furnace along the furnace length direction, and the phosphorus is fed into the vertical diffusion furnace at 1200°C along with N2 gas and 02 gas. . In this way, phosphorus glass is formed on the surface of the silicon wafer, and a certain amount of phosphorus is diffused into the silicon wafer.

iJが °しよ〜とするLlg、 ところが、この種のウェーハボーi−は一体型であり、
縦型拡散炉の炉長にほぼ匹敵するほどの長さを有してい
る。この長さとは、複数のシリコンウェーハを配列する
方向である。
However, this type of wafer board is an integrated type,
It has a length that is almost comparable to the furnace length of a vertical diffusion furnace. This length is the direction in which a plurality of silicon wafers are arranged.

とくに大口径のウェーハ(例えば8インチのシリコンウ
ェーハ)を収容するためのウェーハボートは、大型にな
り、その移動作業が容易ではなかった。またウェーハボ
ートを洗浄する作業が面倒であった。さらに、処理枚数
がウェーハボー1〜のセット可能枚数より少なくてもそ
の大型のウェーハボートを用いなければならず、使用効
率が悪かった。
In particular, wafer boats for accommodating large-diameter wafers (e.g., 8-inch silicon wafers) have become large, making it difficult to move them. In addition, cleaning the wafer boat was troublesome. Furthermore, even if the number of wafers to be processed is smaller than the number of wafers that can be set in wafer boats 1 to 1, a large wafer boat must be used, resulting in poor usage efficiency.

つ1−ハボートは高温(1000℃以上)において使用
されるため、大型のウェーハボートでは変形が署しくそ
のライフが短かった。
1- Since wafer boats are used at high temperatures (1000°C or higher), large wafer boats are severely deformed and have a short lifespan.

そしてウェーハボートの一部に不良部分がでた場合、そ
のウェーハボートを新しいウェーハボートにそっくり交
換しなければならなく不経済であった。
If a defective part appears in a part of the wafer boat, the wafer boat must be completely replaced with a new wafer boat, which is uneconomical.

免1111 この発明は上nC問題点を解決するためになされたもの
であり、軽量で小型になり、その移動や洗浄が容易で、
所望のセット枚数にあわぜX容易にウェーハの設定がで
き、経済的に使用できるウェーハボートを提供すること
を目的としている。
1111 This invention was made to solve the above nC problem, and it is lightweight and compact, easy to move and clean,
It is an object of the present invention to provide a wafer boat that can be used economically and allows easy setting of wafers to a desired number of wafers.

31日と夏上− この発明は上記目的を達成するために、半導体ウェーハ
を保持して縦型炉内設定されるウェーハボートにおいて
、複数の分割ウェーハボートを縦型炉の炉長方向に組み
合わせて構成されることを特徴とするウェーハボートを
要旨としている。
31st and Summer - In order to achieve the above object, the present invention combines a plurality of divided wafer boats in the longitudinal direction of the vertical furnace in a wafer boat that holds semiconductor wafers and is set in a vertical furnace. The gist is a wafer boat characterized by the following configuration.

、を °するための− 第1図を参照する。ウェーハボート5は、複数の分割ウ
ェーハボート30を備えている。
, see Figure 1. The wafer boat 5 includes a plurality of divided wafer boats 30.

これらの分割ウェーハボート30を縦型炉(実施例では
縦型拡散炉1)の炉長方向(上下方向)に組み合わせる
ことにより、ウェーハボート5を構成する。
The wafer boat 5 is constructed by combining these divided wafer boats 30 in the furnace length direction (vertical direction) of a vertical furnace (vertical diffusion furnace 1 in the embodiment).

作」L 処理をする半導体ウェーハ(実施例ではシリコンウェー
ハ31)の枚数にあわせて、必要なだけの分υトクエー
ハボー1〜30を組み合わせる。
1 to 30 are combined as needed according to the number of semiconductor wafers to be processed (silicon wafers 31 in the example).

そして積み上げた複数の分^11ウェーハボー、 ト3
0を縦型拡散炉1内に設定する。
And stacked multiple pieces ^ 11 wafer bow, To 3
0 is set in the vertical diffusion furnace 1.

見−1−九 第1図と第2図を参照する。See-1-9 Please refer to FIGS. 1 and 2.

縦型拡散炉1は、本体2、炉体3、ラジェター4および
ウェーハボート50ローデイング装置6を備えている。
The vertical diffusion furnace 1 includes a main body 2, a furnace body 3, a radiator 4, a wafer boat 50, and a loading device 6.

炉体3の上部にはラジェター4が設けられている。炉体
3の下方にはローディング装置6のロッド20が位置し
Cいる。炉体3は断熱体7、コイル8、プロセスチュー
ブ9を備えている。
A radiator 4 is provided at the top of the furnace body 3. A rod 20 of a loading device 6 is located below the furnace body 3. The furnace body 3 includes a heat insulator 7, a coil 8, and a process tube 9.

断熱体7は、第2図に示づように実施例ではフェルト層
7aおにびファイバ層7bおJ:びこれらフェルト層7
aとファイバ層7bを支持する支持層7Gにより構成さ
れている。
As shown in FIG.
a and a support layer 7G that supports the fiber layer 7b.

フェルト層7a、ファイバ層7bおよび支持層7Cは外
皮10により囲まれている。コイル8は、断熱体7の内
側に配置されている。
The felt layer 7a, the fiber layer 7b and the support layer 7C are surrounded by a skin 10. The coil 8 is arranged inside the heat insulator 7.

プロセスチューブ9は、石英により作られている。この
プロセスチューブ9はコイル8により囲まれている。プ
ロセスチューブ9は、第1図に示すように、センターゾ
ーンCZおよびエンドゾーンEZを有している。
Process tube 9 is made of quartz. This process tube 9 is surrounded by a coil 8. As shown in FIG. 1, the process tube 9 has a center zone CZ and an end zone EZ.

第1図と第2図に示すようにプロセスチューブ9は、上
端が閉じていて、下端には開口部11を有している。こ
の開口部11には、後で述べるウェーハボート5が下方
から挿入されるようになっている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the process tube 9 has a closed upper end and an opening 11 at the lower end. A wafer boat 5, which will be described later, is inserted into this opening 11 from below.

第1図と第2図に示ずにうに、プロセスチューブ9の下
端には、フランジ部12が設けられ−Cいる。このフラ
ンジ部12の近くには、石英製のガス導入パイプ13が
通っている。
1 and 2, a flange portion 12 is provided at the lower end of the process tube 9. As shown in FIGS. A gas introduction pipe 13 made of quartz passes near this flange portion 12 .

ガス導入パイプ13の外端は接続口13aであり、図示
しないガス供給源に接続されている。ガス導入パイプ1
3の内端は、プロセスチューブ9の上部14の近くまで
達している。
The outer end of the gas introduction pipe 13 is a connection port 13a, which is connected to a gas supply source (not shown). Gas introduction pipe 1
The inner end of 3 reaches close to the upper part 14 of the process tube 9.

ガス導入パイプ13の内端には、ガス導入口15が形成
されている。一方、フランジ部12の近くには石英製の
ガス排気パイプ16が設けである。
A gas introduction port 15 is formed at the inner end of the gas introduction pipe 13 . On the other hand, a gas exhaust pipe 16 made of quartz is provided near the flange portion 12.

第2図に示ずJ:うに、プロセスチューブ9の下ff1
lは、ファイバーシール17を介して前記外皮10に密
着されている。そしてプロセスチューブ9は、押え18
により支持プレーi〜19に対して固定されている。
Not shown in Figure 2 J: Sea urchin, bottom of process tube 9 ff1
1 is closely attached to the outer skin 10 via a fiber seal 17. The process tube 9 is then held by the presser foot 18.
It is fixed to the support play i~19 by.

第1図のローディング装置6は、図示しない駆′#J装
置によりロッド20を上下動できるようになっている。
The loading device 6 shown in FIG. 1 is capable of vertically moving the rod 20 by a drive device (not shown).

このロッド20の下端には、す′ボート部21が部材2
2を介し−C設定されている。、この部材22とOツ:
:20は、第2図においては省略しである。
At the lower end of this rod 20, a boat portion 21 is attached to a member 2.
-C is set via 2. , this member 22 and O:
:20 is omitted in FIG.

第2図に示すように、サポート部21は、外部材23と
内部材24を有している。この外部材23は、たとえば
5US304等の金属にJこり作られでいる。一方向部
材24は、SiCもしくは石英により作られている。外
部材23と内部材24は円形状である。内部材24は、
前記プロセスチューブ9のフランジ部12に接合される
ものである。内部材24の内側には0リング25が設け
である。このOリング25を介してフランジ12と内部
材24が密着さ゛れるのである。また外部材23には、
内部材24の外周部とフランジ部12の外周部を覆う縁
部23aが形成されている。
As shown in FIG. 2, the support portion 21 has an outer member 23 and an inner member 24. As shown in FIG. This external member 23 is made of metal such as 5US304. The one-way member 24 is made of SiC or quartz. The outer member 23 and the inner member 24 have circular shapes. The internal material 24 is
It is joined to the flange portion 12 of the process tube 9. An O-ring 25 is provided inside the internal member 24. The flange 12 and the internal member 24 are brought into close contact with each other via the O-ring 25. In addition, the external material 23 includes
An edge portion 23a is formed to cover the outer circumferential portion of the internal member 24 and the outer circumferential portion of the flange portion 12.

つぎに、第2図においてこのサポート部21とフランジ
部′12を冷却する冷n1部を説明する5゜ フランジ部12には、冷却部26が設けられている。こ
の冷却部26は、石英製の部材2Bをフランジ部12に
溶接して内部空間を設けたものである。この冷却部26
の内部空間中には冷却用媒体Mたとえば水が循環される
ようになっている。
Next, in FIG. 2, a cooling part 26 is provided in the 5° flange part 12, which describes a cooling part for cooling the support part 21 and the flange part '12. This cooling section 26 is constructed by welding a quartz member 2B to the flange section 12 to provide an internal space. This cooling section 26
A cooling medium M, for example water, is circulated through the interior space of the cooling medium.

一方、外部材23には、冷却部27が形成されている。On the other hand, a cooling section 27 is formed in the outer member 23.

この冷fJI部27は、外部材23に内部空間を設けた
ものであり、これにも冷却用媒体M、たとえば水が循環
されるようになっている。
This cold fJI section 27 is formed by providing an internal space in the outer member 23, and a cooling medium M, for example, water, is circulated therein as well.

冷却部26は、フランジ部12付近を冷却するためのも
のである。冷却部27は、サポート部21を冷却するた
めのものである。
The cooling section 26 is for cooling the vicinity of the flange section 12. The cooling section 27 is for cooling the support section 21.

第2図に示すように内部材24の上には、サポート台2
9が固定されている。このサボー1〜台2つは、石英製
である。
As shown in FIG.
9 is fixed. These sabots 1 to 2 are made of quartz.

第3図に示すように、このサポート台2つの上には、前
記ウェーハボート5が設定されている。
As shown in FIG. 3, the wafer boat 5 is set on these two support stands.

ウェーハボート5は、第4図に示すように分υ1ウェー
ハボート30を複数積み上げて組み合わせたものである
。実施例では、4つの分υ1ウェーハボート30が積み
上げである。
The wafer boat 5 is a combination of multiple υ1 wafer boats 30 stacked one on top of the other, as shown in FIG. In the example, four minute υ1 wafer boats 30 are stacked.

各分割ウェーハボート30は、複数のシリコンウェーハ
31を所定間隔ごとに離して配列できるようになってい
る。例えば分割ウェーハボート30は、口径が8インチ
の25枚のシリコンウェーハ31を配列できるJ:うに
なっている。第4図に示す例では、4つの分割つ1−ハ
ボートが炉長方向(上下方向)に沿って組み合わせてあ
り、100枚のシリコンウェーハ31を設定できる。第
4図に示すようにサポート台29のベース板29aには
3つの突起29bが形成されている。
Each divided wafer boat 30 is capable of arranging a plurality of silicon wafers 31 at predetermined intervals. For example, the divided wafer boat 30 is shaped like a J: in which 25 silicon wafers 31 having a diameter of 8 inches can be arranged. In the example shown in FIG. 4, four divided one-hub ports are combined along the furnace length direction (vertical direction), and 100 silicon wafers 31 can be set. As shown in FIG. 4, three protrusions 29b are formed on the base plate 29a of the support stand 29.

分割ウェーハボート30の構造を第5図により説明する
The structure of the divided wafer boat 30 will be explained with reference to FIG.

分割ウェーハボート30は側部032.33を有してい
る。側部材32.33の間には、支持部材34ないし3
9が取付けられている。
The split wafer boat 30 has sides 032.33. Between the side members 32, 33 there are support members 34 to 3.
9 is installed.

この各支持部材34ないし39には、シリコンウェーハ
31を嵌め込むための@40がそれぞれ形成されている
。この溝40はたとえばビツヂが4mmである。
Each of the support members 34 to 39 is formed with a hole 40 into which the silicon wafer 31 is fitted. The groove 40 has a width of 4 mm, for example.

側部材32には突起41が設けられている。A protrusion 41 is provided on the side member 32.

一方側部材33には四部42が設けられている。この3
つの突起41と3つの凹部42はそれぞれ対応した位置
にある。
The one side member 33 is provided with four parts 42 . This 3
The three protrusions 41 and the three recesses 42 are located at corresponding positions.

第4図に示したベース板29の3つの突起29bは、第
5図の側部材33の凹部42にそれぞれ嵌まり込むよう
になっている。
The three protrusions 29b of the base plate 29 shown in FIG. 4 fit into the recesses 42 of the side member 33 shown in FIG. 5, respectively.

第4図に示すような状態で分割ウェーハボート30が積
み上げられた場合では、下の段の分割ウェーハボート3
0の突起41が上の段の分割ウェーハボート30の凹部
42に1択まり込むようになっている。
When the divided wafer boats 30 are stacked in the state shown in FIG. 4, the lower divided wafer boats 3
One of the protrusions 41 of No. 0 fits into the recess 42 of the divided wafer boat 30 on the upper stage.

第1図と第2図を参照して、ウェーハボート5のシリコ
ンウェーハ31を、プロセスチューブ9の中で熱処理す
る操作を説明する。
The operation of heat-treating silicon wafers 31 in wafer boat 5 in process tube 9 will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

ローディング装置6のOラド20を上方に上げて勺ボー
ト台29及びウェーハボート5をプロセスチューブ9の
中に挿入する。リーボート部21はフランジ部12に接
合する。冷却部26.27には水を通ず。
The O-rad 20 of the loading device 6 is raised upward, and the row boat stand 29 and the wafer boat 5 are inserted into the process tube 9. The leeboard portion 21 is joined to the flange portion 12. Water is not passed through the cooling parts 26 and 27.

そして、ガス導入バイブ13によりプロセスチューブ9
内に不純物を含むガスを導入するとともに、コイル8に
より所定温度で加熱する。不純物たとえばリンを含むガ
スとしては、例えばリンを含む02ガスおよびN2ガス
などである。シリコンウェーハ31に不純物を拡散処理
した後、このガスはガス排気パイプ16より排出される
。第1図のロッド20を下げてウェーハボート5をプロ
セスチューブ9から出す。
Then, the process tube 9 is
A gas containing impurities is introduced into the chamber, and the coil 8 heats the tube at a predetermined temperature. Gases containing impurities such as phosphorus include, for example, 02 gas and N2 gas containing phosphorus. After the impurity is diffused into the silicon wafer 31, this gas is exhausted from the gas exhaust pipe 16. The rod 20 shown in FIG. 1 is lowered to take out the wafer boat 5 from the process tube 9.

このにうな処理においてはつ1−ハボー1−5は、高温
(例えば1000℃)以上に加熱される。しかし各分割
ウェーハボート30は、そのシリコンウェーハ31の配
列方向の長さ、言換れば炉長方向の長さがff、oかく
分割ウェーハボー1〜の30の変形が起りにくい。した
がってそのノミ命が長くなる。
In this process, the husks 1-1-5 are heated to a high temperature (for example, 1000° C.) or higher. However, each divided wafer boat 30 has a length ff in the direction in which the silicon wafers 31 are arranged, in other words, a length in the furnace length direction, so deformation of divided wafer boats 1 to 30 is difficult to occur. Therefore, the flea's lifespan becomes longer.

ところでこの発明は上述した実施例に限定されるもので
はない。
However, the present invention is not limited to the embodiments described above.

この発明のウェーハボートは縦型拡散炉の他にCV D
炉にも設定できる。
The wafer boat of this invention has a vertical diffusion furnace as well as a CVD
It can also be set in a furnace.

分割ウェーハボート30の組み合わせ段数は、処理すべ
きシリコンウェーハ31の枚数にしたがって変更できる
ものである。また、実施例の縦型拡散炉の炉長より短い
炉長の別の縦型拡散炉にウェーハボート5を使用する場
合でも、組み合わせ段数をその炉長に合わせて少なくす
れば使用可能である。
The number of combined stages of the divided wafer boats 30 can be changed according to the number of silicon wafers 31 to be processed. Further, even when the wafer boat 5 is used in another vertical diffusion furnace having a furnace length shorter than the furnace length of the vertical diffusion furnace of the embodiment, it can be used if the number of combined stages is reduced according to the furnace length.

また分割1ク工−ハボート30相互間の組み合わせに、
突起41と凹部42を用いて互いに動かないように構成
したが、これに限定されるものではない。
Also, for the combination between 1st division and 30th division,
Although the protrusion 41 and the recess 42 are used so that they do not move relative to each other, the present invention is not limited thereto.

分割ウェーハボート30の形状は図示の実施例に限定さ
れるものではない。
The shape of the divided wafer boat 30 is not limited to the illustrated embodiment.

1匪悲丸彫 以上説明したことから明らかなように、高温において使
用されるウェーハボートは、複数の分割ウェーハボート
を組み合わせて構成できる。このため各分割ウェーハボ
ートは、高温雰囲気での使用における変形を従来の一体
型の大型のウェーハボー1−に比べて小さくすることが
でき、ライフを長くでさる1、また人口径の半導体ウェ
ーハを収容する場合でも、各分割ウェーハボートは大型
にはならず、その移動あるいは搬送作業が容易である。
As is clear from the above explanation, a wafer boat used at high temperatures can be constructed by combining a plurality of divided wafer boats. Therefore, each divided wafer boat can reduce deformation when used in a high-temperature atmosphere compared to conventional large integrated wafer boats, and has a longer lifespan. Even in this case, each divided wafer boat does not become large-sized, and its movement or conveyance work is easy.

また分割ウェーハボートを洗浄するのは、従来の一体型
の大型のウェーハボートを洗浄でるよりきわめて楽にな
る。
Additionally, cleaning the split wafer boat is much easier than cleaning a conventional large integrated wafer boat.

一部の分割ウェーハボートに不良部分が生じても、その
分割ウェーハボー1〜のみを新しい分割ウェーハボート
に交換ずればよく、つ工−ハボート全体を交換する必要
がなく経済的である。ウェーハボートは分割ウェーハボ
ートに分けることにより、小型軽量となり、その移動操
作が容易となるので、移動の自動化が簡単にできる。
Even if a defective part occurs in some of the divided wafer boats, only the divided wafer boats 1 to 1 need be replaced with new divided wafer boats, which is economical since there is no need to replace the entire wafer boat. By dividing the wafer boat into divided wafer boats, the wafer boat can be made smaller and lighter, making it easier to move the boat, making it easier to automate the movement.

縦型炉の炉長にあわせて分割ウェーハボートを組み合わ
せ、かつ処理すべき半導体ウェーハの処理すべき所望の
セット枚数に応じてその組み合わせ段数を調節でき、効
率よく使用して処理作業ができる。
The divided wafer boats can be combined according to the furnace length of the vertical furnace, and the number of combination stages can be adjusted according to the desired number of sets of semiconductor wafers to be processed, making it possible to use them efficiently for processing work.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明のウェーハボートが設定された縦型拡
散炉を示す概略図、第2図は縦型拡散炉を示す拡大断面
図、第3図はウェーハボートおよびサポート台を示づ平
面図、第4図はウェーハボートおよびリポ−1〜台を示
す正面図、第5図は1つの分割ウェーハボートを示す一
部省略した斜視図である。 1・・・縦型拡散炉 5・・・ウェーハボート 9・・・プロセスチューブ 12・・・フランジ部 13・・・ガス導入パイプ 15・・・ガス導入口 16・・・ガス排気パイプ 21・・・サポート部 29・・・サポート台 30・・・分!”1ウエーハボート 31・・・シリコンウェーハ 32.33・・・側81S材 34ないし39・・・支持部材 4 Q・・・溝 41・・・突 起 42・・・凹 部 代  理  人    弁理−に    日1  辺 
   徹第1図 う2 第2図 ! 号4      41 第3図 第4図
Fig. 1 is a schematic diagram showing a vertical diffusion furnace in which a wafer boat of the present invention is installed, Fig. 2 is an enlarged sectional view showing the vertical diffusion furnace, and Fig. 3 is a plan view showing the wafer boat and support stand. , FIG. 4 is a front view showing a wafer boat and lipo-1 to stand, and FIG. 5 is a partially omitted perspective view showing one divided wafer boat. 1... Vertical diffusion furnace 5... Wafer boat 9... Process tube 12... Flange portion 13... Gas introduction pipe 15... Gas inlet 16... Gas exhaust pipe 21...・Support department 29...Support stand 30...minutes! "1 Wafer boat 31...Silicon wafer 32.33...Side 81S material 34 to 39...Support member 4 Q...Groove 41...Protrusion 42...Concavity Agent Attorney- day 1 side
Toru 1st figure U2 2nd figure! No. 4 41 Figure 3 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 半導体ウェーハを保持して縦型炉内設定さ れるウエーハボートにおいて、複数の分割ウェーハボー
トを縦型炉の炉長方向に組み合わせて構成されることを
特徴とするウェーハボート。
[Scope of Claims] A wafer boat that holds semiconductor wafers and is set in a vertical furnace, characterized in that it is constructed by combining a plurality of divided wafer boats in the longitudinal direction of the vertical furnace.
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JP (1) JPS63161610A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01103833A (en) * 1987-10-16 1989-04-20 Sony Corp Boat for vertical heat treatment equipment
JPH01133728U (en) * 1988-03-07 1989-09-12
JPH0273732U (en) * 1988-11-28 1990-06-05
US5418885A (en) * 1992-12-29 1995-05-23 North Carolina State University Three-zone rapid thermal processing system utilizing wafer edge heating means
US6716027B2 (en) * 2001-01-18 2004-04-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor wafer boat having stackable independently replaceable boat parts and vertical heat-treating apparatus comprising the same

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