JPS63157075A - Measuring instrument for electronic circuit - Google Patents

Measuring instrument for electronic circuit

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Publication number
JPS63157075A
JPS63157075A JP61304879A JP30487986A JPS63157075A JP S63157075 A JPS63157075 A JP S63157075A JP 61304879 A JP61304879 A JP 61304879A JP 30487986 A JP30487986 A JP 30487986A JP S63157075 A JPS63157075 A JP S63157075A
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JP
Japan
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hardware
measurement
electronic circuit
program
measuring device
Prior art date
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Application number
JP61304879A
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Japanese (ja)
Inventor
Teruaki Ogata
尾方 照明
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS63157075A publication Critical patent/JPS63157075A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To improve the operating rate of a device by providing a means which diagnoses whether or not plural pieces of hardware for measurement are in a state where there is no hindrance to the execution of a measurement program and a selecting means which selects stand-by hardware according to the diagnostic result. CONSTITUTION:A computer 1a edits the measurement execution program by using a tester language or translates it into object codes which can be executed by a sequence controller 2a. Then if a 3rd measurement voltage source 5 becomes faulty when a certain electronic circuit is measured, 1st-5th voltage sources 3-7 for measurement are named P1-P5 in order and a controller 2a diagnoses functions, so that it is judged that the voltage sources P1, P2, P4, and P5 are normal. On the other hand, when voltages sources that the computer 1a requires are denoted as Pa-Pc, object codes of the execution program are determined so that Pa=P1, Pb=P2, and Pc=P4 when the functions of those voltage sources are represented as P (same function). Therefore, the measurement execution program and hardware correspond to each other one to one and a measurement is taken.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電子回路測定装置に関し、特にその測定用
ハードウェアを制御する際に、該測定用ハードウェアを
診断し、自己修復するようにしたものに関するものであ
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an electronic circuit measuring device, and particularly to an electronic circuit measuring device that diagnoses and self-repairs the measuring hardware when controlling the measuring hardware. It is about what happened.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の電子回路測定装置では、測定に必要な直
流電圧源、電圧計、信号発生器等に各々固有なハードウ
ェア対応アドレスを割りつけ、これらのハードウェアを
専用のシーケンスコントローラにより制御するのが、一
般的である。この場合測定を実行する為の一連の制御シ
ーケンスを実行させる為に、制御手段であるシーケンス
コントローラに対し適用可能なテスタ言語を用いて、測
定実行プログラムを作成している。この実行プログラム
は、テスタ言語を用いていても、ハードウェアに一対一
に対応したアドレスを解読指定し、設定値などをデータ
として伝達するものであり、ハードウェアとは不可分な
ものである。
In conventional electronic circuit measurement equipment of this type, a unique hardware address is assigned to each of the DC voltage sources, voltmeters, signal generators, etc. required for measurement, and these hardware are controlled by a dedicated sequence controller. is common. In this case, in order to execute a series of control sequences for executing measurements, a measurement execution program is created using a tester language that can be applied to the sequence controller that is the control means. Even if this execution program uses a tester language, it decodes and specifies addresses in one-to-one correspondence with the hardware, and transmits setting values and the like as data, and is inseparable from the hardware.

第4図は従来の電子回路測定装置の一例を示し、図にお
いて、lは測定実行プログラムをテスタ言語を使用して
編集したり、これをシーケンスコントローラ2で実行可
能なオブジェクトコードに翻訳したりするコンピュータ
であり、このコンピュータlはシーケンスコントローラ
2と共用している場合も多い、2は実行プログラムを解
読し、測定用ハードウェア3〜10を制御する為のシー
ケンスコントローラ、3〜7は測定用電圧源などで、こ
の場合は、同一機能を有しているものが5台設置されて
いる。また8は信号源、9は電圧測定器、lOは測定ヘ
ッド11のリレーなどを切替る為のコントロール回路、
11は測定ヘッドで、電子回路を測定する為の外付は定
数を変更する為の切替回路などを含むものである。
FIG. 4 shows an example of a conventional electronic circuit measuring device. This computer is often shared with a sequence controller 2. 2 is a sequence controller for decoding an execution program and controlling measurement hardware 3 to 10, and 3 to 7 are measurement voltages. In this case, five units having the same function are installed. Further, 8 is a signal source, 9 is a voltage measuring device, 1O is a control circuit for switching the relay of the measuring head 11, etc.
Reference numeral 11 denotes a measuring head, and external components for measuring the electronic circuit include a switching circuit for changing constants and the like.

次にこの従来の電子回路測定装置の動作を第4図に基づ
いて説明する。
Next, the operation of this conventional electronic circuit measuring device will be explained based on FIG.

先ずコンピュータlを使用して、測定実行プログラムを
テスタ言語を使用して作成、′IIA集する。
First, using the computer 1, a measurement execution program is created using the tester language and compiled.

この時、測定装置本体に設置しているハードウェアを自
然言語に近い表現方法を用いて設定するのが一般的であ
る。勿論、ハードウェアごとに、一対一に対応した表現
を用いている。
At this time, it is common to set the hardware installed in the measuring device using an expression method similar to natural language. Of course, we use expressions that correspond one-to-one for each piece of hardware.

次にシーケンスコントローラ2で測定プログラムを実行
可能なオブジェクト言語に、上記コンピュータ1を用い
て翻訳する。但しここまでの処理をシーケンスコントロ
ーラ2を用いて実行する測定装置は数多くある0次にシ
ーケンスコントローラ2は、ハードウェア3〜10に一
対一に対応したアドレスを指定し、データを転送して行
くことによって、測定条件を設定し、測定結果を例えば
電圧測定器9によって得た後に、シーケンスコントロー
ラ2に転送し、シーケンスコントローラ2で、データ出
力、良否判定を行なう、ここでハードウェア3〜10は
測定装置によって、その種類。
Next, the sequence controller 2 translates the measurement program into an executable object language using the computer 1 described above. However, there are many measuring devices that use the sequence controller 2 to perform the processing up to this point.The 0th-order sequence controller 2 specifies addresses in one-to-one correspondence with the hardware 3 to 10 and transfers data. After setting the measurement conditions and obtaining the measurement results using, for example, the voltage measuring device 9, the data are transferred to the sequence controller 2, and the sequence controller 2 outputs the data and makes a pass/fail judgment. Depending on the device, its type.

数量などの構成は異なる。The composition such as quantity is different.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の電子回路測定装置は、以上の様に構成されている
ので、ある測定実行プログラムで使用しているハードウ
ェアが故障などで、使用できなくなった場合には、プロ
グラムを作成し直すか、もしくはハードウェアを修復す
る事が必要であった。
Conventional electronic circuit measurement equipment is configured as described above, so if the hardware used in a measurement execution program breaks down or becomes unusable, the program must be rewritten or It was necessary to repair the hardware.

また仮に同一機能の予備ハードウェアが、テスタに既に
設置されていても、自動的に切替で使用するなど、いわ
ゆる自動修復の機能の実現は不可能であった。
Further, even if spare hardware with the same function was already installed in the tester, it was impossible to realize a so-called automatic repair function, such as automatically switching to use.

この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、ハードウェアの不具合状況が測定プログラ
ムの実行に故障をきたすかどうかの判断を自動的にでき
、予備のハードウェア等を。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to automatically determine whether a hardware malfunction will cause a failure in the execution of a measurement program, and to save spare hardware, etc. .

自動的に切替えて測定を実行することのできる電子回路
測定装置を得ることを目的とする。
The object of the present invention is to obtain an electronic circuit measuring device that can automatically switch and perform measurements.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る電子回路測定装置は、測定プログラムの
実行に必要な機能を有するハードウェア群を指定するハ
ードウェア群指定手段と、測定の為の複数のハードウェ
アが測定プログラムの実行にさしつかえない状態にある
かどうかを診断する診断手段と、該診断結果に基づいて
予備のハードウェア等の実行可能なものを選択する選択
手段とを備えたものである。
The electronic circuit measuring device according to the present invention includes a hardware group specifying means for specifying a hardware group having functions necessary for executing a measurement program, and a state in which a plurality of hardware for measurement does not interfere with execution of the measurement program. The device is equipped with a diagnostic means for diagnosing whether or not the present invention is present, and a selection means for selecting executable hardware such as spare hardware based on the diagnosis result.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、ハードウェア群指定手段は測定プ
ログラムを翻訳する際に、個々のハードウェアに対する
アクセス方法に変換するのでは無く、同一機能を有する
ハードウェア群に対する一般名称によるアクセスを可能
とする方法に変換する。また選択手段は、上記プログラ
ムを実行可能なハードウェアの組合せからなるコンフィ
ギユレーション・テーブルを作成し、その結果を参照し
てハードウェアに対して固有のアドレスを与え、固有の
アクセスを可能とする。
In this invention, when translating a measurement program, the hardware group specifying means does not convert the measurement program into an access method for each piece of hardware, but uses a method that allows access to a group of hardware having the same function using a general name. Convert to In addition, the selection means creates a configuration table consisting of combinations of hardware that can execute the above program, refers to the result, gives a unique address to the hardware, and enables unique access. do.

〔実施例〕〔Example〕

以下この発明の一実施例を図について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明による電子回路測定装置の全体構成を示
し、図において、H5〜H,は電子回路の特性を測定す
るための複数のハードウェア、Mlは測定プログラムの
実行に必要な機能を有するハードウェア群を指定するハ
ードウェア群指定手段、M2は上記各ハードウェアH1
〜H,が測定プログラムを実行可能な状態にあるか否か
を判断するハードウェア診断手段、M3は該診断結果に
基づき上記複数のハードウェアH1〜H7のうち測定プ
ログラムを実行可能な状態にあるものの組合せを選択す
る選択手段、M4は選択されたハードウェアを測定プロ
グラムに基づいて制御する制御手段である。
FIG. 1 shows the overall configuration of an electronic circuit measuring device according to the present invention. In the figure, H5 to H are a plurality of hardware for measuring the characteristics of an electronic circuit, and Ml is a function necessary for executing a measurement program. A hardware group specifying means for specifying a hardware group having the above-mentioned hardware H1;
~H, is a hardware diagnostic means for determining whether or not the measurement program is executable; and M3 is a hardware diagnostic means that determines whether or not the plurality of hardware H1 to H7 is in an executable state to execute the measurement program based on the diagnosis result. Selection means for selecting a combination of items, and M4 are control means for controlling selected hardware based on a measurement program.

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

まずハードウェア群指定手段M1は測定プログラムに基
づいて測定の実行に必要な機能を有するハードウェア群
を指定し、ハードウェア診断手段M2は指定されたハー
ドウェア群の各ハードウェアが測定プログラムを実行可
能な状態にあるか否かを判断する。次に選択手段M3は
該診断結果及び測定プログラムに基づいて、該プログラ
ムを実行可能なハードウェアH0〜H7の組合せを選択
し、制御手段M4は選択されたハードウェアを測定プロ
グラムに基づいて制御する。
First, the hardware group specifying means M1 specifies a hardware group having the functions necessary for executing the measurement based on the measurement program, and the hardware diagnosis means M2 causes each hardware in the specified hardware group to execute the measurement program. Determine whether it is possible. Next, the selection means M3 selects a combination of hardware H0 to H7 that can execute the program based on the diagnosis result and the measurement program, and the control means M4 controls the selected hardware based on the measurement program. .

第2図はこの発明の一実施例による電子回路測定装置の
ブロック構成図であり、第2図において、3〜11は従
来と同一のものであり、1aは測定実行プログラムをテ
スタ言語を使用して編集したり、シーケンスコントロー
ラ2aで実行可能なオブジェクトコードに翻訳したりす
るコンピュータであり、従来技術と異なる点は、オブジ
ェクトコードに翻訳する際に、ハードウェア3〜10と
1対1の対応をまだとっておらず、同一機能を示す一般
名称に対応させている点である。但しこのコンピュータ
1aは、シーケンスコントローラ2aと共用しても良い
、2aは実行プログラムを解読し、測定用ハードウェア
3〜10を制御する為のシーケンスコントローラで、従
来のものとの機能上の相違点はハードウェア3〜10に
対しての診断を行ないその結果を記憶し測定実行プログ
ラムに必要なハードウェア構成の可否を判断し、各ハー
ドウェアに固有のアクセス方法を決定し、測定実行プロ
グラムに従ってハードウェア3〜10を制御する。
FIG. 2 is a block configuration diagram of an electronic circuit measuring device according to an embodiment of the present invention. In FIG. This is a computer that edits and translates into object code that can be executed by the sequence controller 2a.The difference from conventional technology is that when translating into object code, it does not have a one-to-one correspondence with hardware 3 to 10. This point has not been adopted yet, but instead it corresponds to a general name that indicates the same function. However, this computer 1a may also be used in common with a sequence controller 2a. 2a is a sequence controller for decoding the execution program and controlling the measurement hardware 3 to 10. Functionally, this computer 1a is different from the conventional one. diagnoses hardware 3 to 10, stores the results, determines whether the hardware configuration necessary for the measurement execution program is available, determines the access method specific to each piece of hardware, and executes the hardware according to the measurement execution program. ware 3 to 10.

また第3図は本実施例装置の動作順序を示すフローチャ
ートであり、図において、Slは、測定プログラムを自
然言語に近いテスタ言語で作成するステップで、従来シ
ステムと同様である。S2は、テスタ言語を翻訳して、
シーケンスコントローラ2aで実行可能なオブジェクト
コードに変換するステップで、従来はこの実行可能なオ
ブジェクトコードをこの時点でハードウェアと一対一に
対応させていたが、本実施例では機能毎に割り付けられ
た一般名称や、例えば出現順に割り当てられた番号など
に、言いかえると後で実施するハードウェアの機能診断
結果によって再編成可能な様に冗長性を持たせた上で、
テスタ言語′で作成された測定プログラムをオブジェク
トコードに変換する。S3は、測定プログラムを従来と
同様シーケンスコントローラ2aにローディンクスるス
テップ、S4はロードされたプログラムを解読し、必要
なハードウェアのコンフィギユレーションテーブルを一
次的に作るステップ、S5はステ・ノブS4で作成され
た測定に必要なハードウェアのコンフィギユレーション
テーブルに基づいて測定装置の機能を診断するステップ
、S6は診断結果に基づいて、測定に必要なハードウェ
アの構成が当該測定装置で可能か否かの判断を行なうス
テップ、S7はステップS6の判断結果に基づいて、測
定可能であれば、ハードウェアコンフィギユレーション
を固定し、下記ハードウェアに固有のアクセスの為のア
ドレスなどを与えるステップであり、測定不能の場合に
はその旨を測定装置を操作する人に何らか形で通知する
。S8は実際に測定を開始するステップである。
Further, FIG. 3 is a flowchart showing the operating sequence of the apparatus of this embodiment, and in the figure, Sl is a step for creating a measurement program in a tester language close to natural language, which is the same as in the conventional system. S2 translates the tester language,
In the step of converting into object code that can be executed by the sequence controller 2a, conventionally, this executable object code was made to correspond one-to-one with the hardware at this point, but in this embodiment, general In other words, we provide redundancy to names and, for example, numbers assigned in the order of appearance, so that they can be reorganized based on the results of hardware function diagnosis performed later.
Convert the measurement program created in the tester language into object code. S3 is the step of loading the measurement program into the sequence controller 2a as in the past, S4 is the step of decoding the loaded program and temporarily creating the necessary hardware configuration table, and S5 is the step of loading the measurement program into the sequence controller 2a. A step of diagnosing the function of the measuring device based on the configuration table of the hardware necessary for measurement created in S4, and S6 is a step of diagnosing the function of the measuring device based on the diagnosis result. Step S7 is to determine whether it is possible or not, based on the determination result in step S6, if it is measurable, fix the hardware configuration and set the address etc. for access specific to the hardware below. If measurement is not possible, the person operating the measuring device is notified of this in some form. S8 is a step for actually starting measurement.

次に作用効果について説明する。Next, the effects will be explained.

ここで、いまある電子回路の測定を実施する際に、第2
図に示すハードウェアにおいて測定用電圧源3台を必要
とするとき、従来の方法では、例えば、測定実行プログ
ラムでハードウェア3,4゜5を指定していた。この場
合、ハードウェア3゜4.5はハードウェアと測定実行
プログラムが一対一に対応する為に、例えばハードウェ
ア5が、故障で、その機能を満足しない時には、測定は
不能となり、該ハードウェア5を修復するか、もしくは
、該ハードウェア5の部分を正常な機能を有する電圧源
に取替えるかであった。しかるに本実施例では、ハード
ウェア5を正常な機能を有するハードウェア7に、自動
的にプログラムを変更させる事によって変更しており、
これによりハードウェア5が異常であっても、測定は可
能となる。
Here, when measuring an existing electronic circuit, the second
When the hardware shown in the figure requires three measurement voltage sources, in the conventional method, for example, the measurement execution program specifies hardware 3, 4.5. In this case, since hardware 3.4.5 has a one-to-one correspondence between the hardware and the measurement execution program, for example, if hardware 5 fails and does not satisfy its function, measurement becomes impossible and the hardware Either the hardware 5 should be repaired, or the hardware 5 should be replaced with a functioning voltage source. However, in this embodiment, the hardware 5 is changed to the hardware 7 having normal functions by automatically changing the program.
This allows measurement even if the hardware 5 is abnormal.

その方法としては、例えば電源(この例では5台設置さ
れている)に、順にPi、P2.・・・・・・Pbと仮
に名づけでおき、シーケンスコントローラ2aによって
その機能を診断し、PL、P2.P4゜Pbは、正常と
判断し、その結果を記憶したコンフィギユレーションテ
ーブルを作成する。一方でコンビエータlで翻訳された
実行プログラムは、必要とする電源をPa、Pb、Pc
としておく。
For example, the power supplies (5 units are installed in this example) are connected to Pi, P2. ......Temporarily named Pb, its function is diagnosed by the sequence controller 2a, and PL, P2. P4°Pb determines that it is normal and creates a configuration table that stores the result. On the other hand, the execution program translated by Combiator l requires power from Pa, Pb, and Pc.
I'll leave it as that.

ここで電源の機能をPで表わされた場合には、これらの
電源を同一機能を有するものとするという規則をあらか
じめ設定しておき、実行プログラムのオブジェクトコー
ドをPa−Pi、Pb−P2゜Pc−Pbと決定する。
Here, if the function of a power supply is represented by P, a rule is set in advance that these power supplies have the same function, and the object code of the execution program is expressed as Pa-Pi, Pb-P2゜. Determine Pc-Pb.

従ってこの段階で、測定実行プログラムとハードウェア
とが、一対一の対応がとれる事になり、測定を実行する
Therefore, at this stage, there is a one-to-one correspondence between the measurement execution program and the hardware, and the measurement is executed.

このように本実施例によれば、個々の測定用ハードウェ
アの自動修復が可能な様に構成したので、装置の稼動率
を向上させる事ができると共に、無人運転など、連続運
転に適する電子回路測定装置を提供できる効果がある。
In this way, according to this embodiment, each measurement hardware is configured to be able to be automatically repaired, so the operating rate of the device can be improved, and the electronic circuit is suitable for continuous operation such as unmanned operation. This has the effect of providing a measuring device.

なお上記実施例では、自動修復を行なう場合について説
明したが、本発明の基本原理は異なる電子回路、又は同
一機能の電子回路を複数同時に測定する場合、すなわち
並列測定を行なう場合にも適用でき、この場合には、仮
に電子回路Aの測定に必要なハードウェアのコンフィギ
ユレーションテーブルと、電子回路Bの測定に必要なコ
ンフィギユレーションテーブルとを各々作成し、測定可
否の判断を行ない、可能であれば、測定プログラムの実
行が可能となるよう各々固有のハードウェアアクセス手
段をとることになる。
In the above embodiment, the case where automatic repair is performed has been explained, but the basic principle of the present invention can also be applied to the case where different electronic circuits or a plurality of electronic circuits with the same function are measured at the same time, that is, when performing parallel measurement. In this case, a hardware configuration table required for measuring electronic circuit A and a configuration table required for measuring electronic circuit B are created respectively, and a determination is made as to whether or not measurement is possible. If possible, each will have its own hardware access means to enable execution of the measurement program.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のようにこの発明にかかる電子回路測定装置によれ
ば、測定の為の複数のハードウェアが、測定プログラム
の実行にさしつかえない状態にあるかどうかを診断する
診断手段と、該診断結果に基づいて予備のハードウェア
等の実行可能なものを選択する選択手段とを設け、ハー
ドウェアの故障時にはこれを自動修復できる様にしたの
で、装置の稼動率を向上させることができ、無人運転等
もできるという効果がある。
As described above, the electronic circuit measuring device according to the present invention includes a diagnostic means for diagnosing whether or not a plurality of pieces of hardware for measurement are in a state that does not interfere with the execution of a measurement program, and a diagnostic device based on the diagnostic results. A selection means is provided to select viable hardware such as spare hardware, and in the event of a hardware failure, it can be automatically repaired. This improves the operating rate of the equipment and allows for unattended operation. There is an effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による電子回路測定装置の全体構成図、
第2図は本発明の一実施例による電子回路測定装置のブ
ロック構成図、第3図はその動作の概要を示すフローチ
ャート図、第4図は従来の電子回路測定装置の構成を示
す図である。 H6〜Hい・・・ハードウェア、Ml・・・ハードウェ
ア群指定手段、M2・・・ハードウェア診断手段、M3
・・・選択手段、M4・・・制御手段、1a・・・コン
ピュータ、2a・・・シーケンスコントローラ、3〜7
・・・測定用電圧源、8・・・信号源、9・・・電圧測
定器、lO・・・コントロール回路、11・・・測定ヘ
ッド。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of an electronic circuit measuring device according to the present invention;
FIG. 2 is a block configuration diagram of an electronic circuit measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a flowchart showing an overview of its operation, and FIG. 4 is a diagram showing the configuration of a conventional electronic circuit measuring device. . H6~H...Hardware, Ml...Hardware group specifying means, M2...Hardware diagnosis means, M3
... selection means, M4 ... control means, 1a ... computer, 2a ... sequence controller, 3 to 7
... Voltage source for measurement, 8... Signal source, 9... Voltage measuring device, lO... Control circuit, 11... Measurement head. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数のハードウェアにより測定プログラムに基づ
いて電子回路の測定を行なう電子回路測定装置において
、 電子回路の特性を測定するための複数のハードウェアと
、 上記測定プログラムの実行に必要な機能を有するハード
ウェア群を指定するハードウェア群指定手段と、 該各ハードウェアが測定プログラムを実行可能な状態に
あるか否かを判断するハードウェア診断手段と、 該診断結果に基づき上記複数のハードウェアのうち測定
プログラムを実行可能な状態にあるものの組合せを選択
する選択手段と、 選択されたハードウェアを測定プログラムに基づいて制
御する制御手段とを備えたことを特徴とする電子回路測
定装置。
(1) In an electronic circuit measuring device that measures electronic circuits based on a measurement program using multiple pieces of hardware, it includes multiple pieces of hardware for measuring the characteristics of the electronic circuit and the functions necessary to execute the above measurement program. hardware group specifying means for specifying a hardware group that has a plurality of hardware; hardware diagnostic means for determining whether each piece of hardware is in a state in which a measurement program can be executed; An electronic circuit measuring device comprising: a selection means for selecting a combination of hardware in which a measurement program can be executed; and a control means for controlling the selected hardware based on the measurement program.
JP61304879A 1986-12-19 1986-12-19 Measuring instrument for electronic circuit Pending JPS63157075A (en)

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