JPS631535B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS631535B2
JPS631535B2 JP54088633A JP8863379A JPS631535B2 JP S631535 B2 JPS631535 B2 JP S631535B2 JP 54088633 A JP54088633 A JP 54088633A JP 8863379 A JP8863379 A JP 8863379A JP S631535 B2 JPS631535 B2 JP S631535B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
object detection
detection element
power supply
semiconductor element
junction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54088633A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5612568A (en
Inventor
Takeshi Aoki
Shigeru Yoneda
Takashi Ando
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP8863379A priority Critical patent/JPS5612568A/ja
Publication of JPS5612568A publication Critical patent/JPS5612568A/ja
Publication of JPS631535B2 publication Critical patent/JPS631535B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体に接触することに依つて検出素子
の熱容量が変化し、その変化に依つて変動する電
圧をデジタル的に処理して物体の有無を検出する
物体検出装置に関する。
一般に物体の有無を検出する必要がある場合、
例えば製氷機等に於いて氷が製造されて貯氷室に
氷が一定レベルに達したか否かは光電素子あるい
は機械的サーモ手段に依つて検出するが、製氷機
等は湿気が多く且つ低温度であるため霜が付着し
たり、あるいは機械的接点が凍りついたりして誤
動作する危具を有していた。
また近年半導体技術及びエレクトロニクス技術
が進歩しLSIあるいはマイクロコンピユーター等
が実用化され、種々の方面に応用利用されてい
る。例えばエア・コンや冷蔵庫更にはシヨーケー
ス及び製氷機等の温度制御あるいは電力制御に使
用されているが、製氷機等の様に物体即ち氷の量
を検出してこれを制御する機能も温度制御及び電
力制御等と共にLSIあるいはマイクロコンピユー
タで総合的に制御することが望ましい。
本発明は上述した点に鑑みて為されたものであ
り、従来の物体検出装置とは全く異なる新規な物
体検出装置を提供するものである。以下図面を参
照して本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例を示すブロツク図であ
り、1は物体検出素子、2は電源部、3はA/D
変換器、4は制御回路である。
物体検出素子1はNPN型のトランジスタ5と、
該トランジスタ5のコレクタに接続された負荷抵
抗R0と、ベース−コレクタ間及びベース−エミ
ツタ間に各々接続された分割抵抗R1及びR2とか
ら成り、トランジスタ5のコレクタ電圧を出力と
して取り出している。このトランジスタ5は第2
図に示す如く、良熱伝導性の放熱器6、例えばア
ルミニウムで作られた一端が閉口したパイプの中
に熱的に結合して固着され、リード7は放熱器6
の他端に延在して封止部8でハーメチツクシール
されている。放熱器6に何も接触していない場
合、トランジスタ5に流れるコレクタ電流に依つ
てジヤンクツシヨンに発生する熱はトランジスタ
5自身及び放熱器6の熱抵抗及び熱容量によつて
決定される熱的な時定数に従い放熱され、ジヤン
クシヨンの温度は発熱と放熱がつり合うまで上昇
する。従つて温度依存性を有するコレクタ電流は
ジヤンクシヨンの温度上昇に従つて増加し、コレ
クタ電圧は負荷抵抗R0の電圧降下によつて第3
図aの如く減少する。
一方放熱器6に熱容量の大きい物体、例えば氷
9が接触すると、その接触部分は氷9の溶解熱の
ために0℃に固定され熱が吸収される。従つて検
出素子全体としての熱容量が増大し、熱的な時定
数が減少するのでジヤンクシヨンの温度が一定に
達するまでの時間が短かくなり、それと共にトラ
ンジスタ5のコレクタ電圧は第3図bの如く短時
間で一定となる。従つてトランジスタ5に電流を
流し始めてからT1及びT2時間に於けるコレクタ
電圧を測定し、物体が放熱器6に接触していなけ
ればその差はΔV1と大きく、接触していればΔV2
と小さくなるものである。
電源部2は物体の有無の検出動作開始と同時に
制御回路4からの信号SBに依つて物体検出素子1
へ一定電圧Vccの印加を制御するものであり、電
圧Vccが印加された物体検出素子1には分割抵抗
R1,R2によつて決定されるコレクタ電流が流れ
始める。A/D変換器3は物体検出素子1の出力
即ちトランジスタ5のコレクタ電圧の大きさを周
知の方法に依つてデジタル変換するもので、デジ
タル変換されたコレクタ電圧は制御回路4に印加
される。
制御回路4は、電源部2を制御する信号SBを出
力し、更に信号SBを出力してから物体検出素子1
のコレクタ電圧を測定する時間T1及びT2を決定
するタイマー10と、時間T1及びT2に於いてデ
ジタル変換されたコレクタ電圧値を入力するため
の入力ゲート11と、入力されたコレクタ電圧値
を記憶するRAM12と、時間T1及びT2に於ける
コレクタ電圧値の差を計算する演算回路13と、
演算回路13の演算結果と予じめRAM12に記
憶させておいた数値とを比較し制御信号SAを出
力する比較回路14とから構成されている。
次に第4図のフローチヤートを参照して制御回
路4の動作を説明する。
制御回路4をスタートさせると制御回路4から
信号SBが出力され、電源部2から物体検出素子1
に電圧Vccが印加される。物体検出素子1の出力
は前述した如く、物体が放熱器6に接触していな
ければ第3図a、接触していれば第3図bで示さ
れる特性に従つて変化する。一方信号SBの出力と
同時にタイマー10がセツトされ作動し始め、時
間T1が経過するとタイマー10は入力ゲート1
1を一時的に開き、その時のコレクタ電圧がA/
D変換器3に依つてデジタル変換された値が入力
ゲート11を介して入力され、RAM12の任意
にアドレスされた番地に格納される。更にタイマ
ー10が時間T2を計数すると、再び入力ゲート
11が開かれその時のデジタル変換されたコレク
タ電圧値が入力ゲート11を介してRAM12の
別の番地に格納される。このRAM12に格納さ
れた各々のコレクタ電圧値は演算回路13に転送
され、演算回路13はその差、即ち第3図に示し
たΔV1あるいはΔV2を計算する。演算回路13の
計算結果は次に比較回路14に転送され、予じめ
RAM12の更に別な番地に設定された数値と比
較される。この予じめ設定された数値は検出する
物体の種類、物体検出素子1の特性及び時間T1
及びT2の間隔に依つて実験的あるいは理論的に
求められた数値であり、比較回路14に依つてこ
の数値より演算結果が大きいと判断されると電圧
差がΔV1であるとして物体無しの制御信号SA
出力され、一方予じめ設定された数値より演算結
果が小さければ電圧差がΔV2であるとして、物体
有りの制御信号SAが出力されるのである。この
動作が終了すると信号SBは電源部2を制御し、電
源部2から物体検出素子1への電圧Vccの印加を
停止させ、物体検出素子1が十分に冷却する時間
を待機した後、再び同様の物体検出動作を繰り返
えす。従つて制御信号SAは一定時間毎にその物
体の有無を示す信号となり、この制御信号SA
例えば警告用のランプを点灯したり、あるいは製
氷機等に於ける貯氷量の制御に利用される。
この様な制御回路4の動作に依れば、物体の有
無の判定を時間T1及びT2のコレクタ電圧をサン
プリングし、その差を物体検出の対象とするた
め、物体検出素子1の初期温度が異なつても、こ
れと無関係に確実な物体検出が行なえる。また制
御回路4をマイクロコンピユータで構成し、上述
した動作を予じめ組まれたプログラムで実行する
こともでき、この場合、時間T1及びT2以外の実
質的に動作していない時間は他のプログラム、例
えば温度制御あるいは電力制御等のプログラムを
実行できるもので、これに依り物体検出と共に総
合的な制御が行えるものである。
上述の如く本発明に依れば物体検出素子に機械
的に強いものが使用でき、更に周囲の温度に影響
されずに物体検出が行えるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すブロツク図、第
2図は第1図に示された実施例に用いられた物体
検出素子の断面図、第3図は第2図に示された物
体検出素子の特性図、第4図は動作を示すフロー
チヤート図である。 1……物体検出素子、2……電源部、3……
A/D変換器、4……制御回路、5……トランジ
スタTr、6……放熱器、7……リード、8……
封止部、9……氷、10……タイマー、11……
入力ゲート、12……RAM、13……演算回
路、14……比較回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電源電圧を供給する電源部と、PN接合部を
    有する半導体素子及び該半導体素子が熱的結合す
    るよう固着されると共に検出すべき物体が接触す
    る位置に設置され前記半導体素子に電流を流すこ
    とにより生ずる熱を放熱させるための放熱器を備
    え、前記電源電圧の供給時、前記PN接合部の温
    度上昇に応じた検出電圧を出力する検出素子と、
    該検出素子の出力を一定時間おいて少なくとも2
    回サンプリングし、該サンプリング値の差が予め
    定められた値以下の場合に物体有の信号を出力す
    る制御回路とを具備したことを特徴とする物体検
    出装置。
JP8863379A 1979-07-11 1979-07-11 Body detecting device Granted JPS5612568A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8863379A JPS5612568A (en) 1979-07-11 1979-07-11 Body detecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8863379A JPS5612568A (en) 1979-07-11 1979-07-11 Body detecting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5612568A JPS5612568A (en) 1981-02-06
JPS631535B2 true JPS631535B2 (ja) 1988-01-13

Family

ID=13948205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8863379A Granted JPS5612568A (en) 1979-07-11 1979-07-11 Body detecting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5612568A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63100044U (ja) * 1986-12-17 1988-06-29
JPS643639U (ja) * 1987-06-26 1989-01-11

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5614172A (en) * 1979-07-16 1981-02-10 Sanyo Electric Co Ltd Body detecting element
JP2520702B2 (ja) * 1988-08-10 1996-07-31 株式会社ダイフク 倉庫設備および棚への荷搬入出方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50941A (ja) * 1973-05-08 1975-01-08

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50941A (ja) * 1973-05-08 1975-01-08

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63100044U (ja) * 1986-12-17 1988-06-29
JPS643639U (ja) * 1987-06-26 1989-01-11

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5612568A (en) 1981-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103105506B (zh) 检测传感器的热时间常数的风速计
US10109551B2 (en) Methods and apparatuses for determining a parameter of a die
US4319233A (en) Device for electrically detecting a liquid level
US4845978A (en) Determining moisture content of a medium
US7645071B2 (en) On chip temperature measuring and monitoring method
US20050042778A1 (en) System and method for determining the temperature of a semiconductor wafer
EP0202453B1 (en) Dew point measuring apparatus
US20050099163A1 (en) Temperature manager
CN106211703A (zh) 功率器件的散热装置及功率器件的散热控制方法
JPS631535B2 (ja)
JPH09243466A (ja) 半導体温度センサ
US3142170A (en) Control apparatus
JPS631536B2 (ja)
US5335513A (en) Apparatus and method for detecting characteristics of a working fluid
US6984064B1 (en) Thermal transfer measurement of an integrated circuit
US3173610A (en) Dew point detector and controller
JPS631537B2 (ja)
US3854034A (en) Systems incorporating apparatus and methods for simulating timed related temperatures
Boyle et al. A CMOS circuit for real-time chip temperature measurement
US3195345A (en) Thermoelectric dewpoint determining system
US11397047B2 (en) Moisture detector, moisture detection method, electronic device, and log output system
JPS59104515A (ja) 液面検出装置
JP2020173245A (ja) 付着水分検出装置、付着水分検出方法、電気機器、及びログ出力システム
Koch et al. Automated calorimetric measurement with a peltier element for switching loss characterization
US3367124A (en) Thermoelectric refrigeration control means