JPS63148146A - 分光光度計の試料室構造 - Google Patents
分光光度計の試料室構造Info
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- JPS63148146A JPS63148146A JP29549586A JP29549586A JPS63148146A JP S63148146 A JPS63148146 A JP S63148146A JP 29549586 A JP29549586 A JP 29549586A JP 29549586 A JP29549586 A JP 29549586A JP S63148146 A JPS63148146 A JP S63148146A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、分散型分光光度計、フーリエ変換分光光度計
等の分光光度計において外装ケースで画成された試料室
の構造に間する。
等の分光光度計において外装ケースで画成された試料室
の構造に間する。
［従来の技術］
従来、例えばフーリエ変換分光光度計の実体構造は、第
４図に示すように、光学ベンチ１上に各種部品が配置さ
れるが、外装ケース２ａで覆われ光源及び干渉計を内蔵
する光源部２と、外装ケース３ａで覆われ検出器等を内
蔵する検出器部３と、光源部２及び検出器部３との間に
画成された試料室４（カバーは図示せず）とからなるブ
ロック構成である。また、分散型分光光度計も同様に、
光源を内蔵する光源部と、分散素子及び検出器を内蔵す
る検出器部と、光源部及び検出器部との間に画成された
試料室とからなるブロック構成である。
４図に示すように、光学ベンチ１上に各種部品が配置さ
れるが、外装ケース２ａで覆われ光源及び干渉計を内蔵
する光源部２と、外装ケース３ａで覆われ検出器等を内
蔵する検出器部３と、光源部２及び検出器部３との間に
画成された試料室４（カバーは図示せず）とからなるブ
ロック構成である。また、分散型分光光度計も同様に、
光源を内蔵する光源部と、分散素子及び検出器を内蔵す
る検出器部と、光源部及び検出器部との間に画成された
試料室とからなるブロック構成である。
光源部２からの光束は窓５ａ、５ｂを介して試料室４を
直進し、窓（図示せず）より検出器部３内に案内される
が、分光測定に際し、試料セル及び参照セル等（以下単
に試料装置という）は概して光源部２の外装ケース２ａ
に固定された試料ホルタ−６ａ、 ８ｂに装着される。
直進し、窓（図示せず）より検出器部３内に案内される
が、分光測定に際し、試料セル及び参照セル等（以下単
に試料装置という）は概して光源部２の外装ケース２ａ
に固定された試料ホルタ−６ａ、 ８ｂに装着される。
第５図は、別のフーリエ変換分光光度計の試料室構造を
示す斜視図で、試料ホルダーｆｌａ、８ｂは試料室４の
光学ベンチｌ上に直接立設された取付板７ａ、７ｂに取
付けられる。
示す斜視図で、試料ホルダーｆｌａ、８ｂは試料室４の
光学ベンチｌ上に直接立設された取付板７ａ、７ｂに取
付けられる。
［解決すべき問題点］
ところで、試料ホルタ−ｆｌａ、８ｂに装着すべき試料
装置としては、測定試料の形態によって夫々有効な測定
方法が異なるために、種々の構造、形状のものが用いら
れる０例えば、液脱法、ヌジョール法の場合は組立セル
、溶滴法の場合は固定セル、ＫＢｒ法の場合は錠剤ホル
ダー、反射法の場合は反射測定装置、ＡＴＲ法の場合は
多重反射又は単反射ＡＴＲ測定装置、拡散反射測定法の
場合は簡易拡散反射装置又は内部処理機構を有する反射
測定装置等、気体セル法の場合は簡易短光路から１００
０ｍに及ぶ長光路の気体セル、フィルム法の場合は試料
フィルム固定枠、水溶液法の場合は種々の形状の水溶液
セル、光音響測定法の場合は光音響測定装置などである
。
装置としては、測定試料の形態によって夫々有効な測定
方法が異なるために、種々の構造、形状のものが用いら
れる０例えば、液脱法、ヌジョール法の場合は組立セル
、溶滴法の場合は固定セル、ＫＢｒ法の場合は錠剤ホル
ダー、反射法の場合は反射測定装置、ＡＴＲ法の場合は
多重反射又は単反射ＡＴＲ測定装置、拡散反射測定法の
場合は簡易拡散反射装置又は内部処理機構を有する反射
測定装置等、気体セル法の場合は簡易短光路から１００
０ｍに及ぶ長光路の気体セル、フィルム法の場合は試料
フィルム固定枠、水溶液法の場合は種々の形状の水溶液
セル、光音響測定法の場合は光音響測定装置などである
。
種々の試料形態に対して、その有効な測定方法とその専
用試料装置の開発がますます要請されているが、試料室
４には大きな専用試料装置を装着したり、また専用試料
装置に付属する補助装置を同時に載置する場合がある。
用試料装置の開発がますます要請されているが、試料室
４には大きな専用試料装置を装着したり、また専用試料
装置に付属する補助装置を同時に載置する場合がある。
かかる場合、上記従来の分光光度計の試料室構造によれ
ば、試料室４は光源部２と検出器部３とにより仕切られ
ており、限られた空間スペースであるため、一般に試料
装置の脱着が行ないにくく、また試料装置の脱着時の装
着位置の再現精度が悪い。更にまた場合によっては測定
試料自体の形態や大きさに厳しい制限が生じたり、試料
調製のやりにくさを余儀なくされることもある。
ば、試料室４は光源部２と検出器部３とにより仕切られ
ており、限られた空間スペースであるため、一般に試料
装置の脱着が行ないにくく、また試料装置の脱着時の装
着位置の再現精度が悪い。更にまた場合によっては測定
試料自体の形態や大きさに厳しい制限が生じたり、試料
調製のやりにくさを余儀なくされることもある。
試料室４空間を広くすることも考えられるが、空間光路
長の増大、光軸精度の劣化、装置の大型化等の不利益を
招く事態となる。
長の増大、光軸精度の劣化、装置の大型化等の不利益を
招く事態となる。
本発明の目的は、上記問題点を解決するものであり、試
料室空間を広くとらずに、各種測定方法の試料装置を試
料室に簡便且つ迅速に装着交換しうる分光光度計の試料
室構造を提供することにある。
料室空間を広くとらずに、各種測定方法の試料装置を試
料室に簡便且つ迅速に装着交換しうる分光光度計の試料
室構造を提供することにある。
［問題点の解決手段］
上記問題点を解決するため、本発明に係る分光光度計の
試料室構造は、次の３つの構成要件からなる。
試料室構造は、次の３つの構成要件からなる。
■光学ベンチ上に設けた試料室の底部には凹所が形成さ
れていること。
れていること。
■該凹所を閉塞すべき基板とこの基板で支持された試料
ホルダーとを有するユニット型試料スタンドがあること
。
ホルダーとを有するユニット型試料スタンドがあること
。
ここで「試料ホルダー」とは、試料を直接又は間接的に
保持する部材をいう。
保持する部材をいう。
■ユニット型試料スタンドは該試料室の底部に対し着脱
自在に載置されるものであること。
自在に載置されるものであること。
ここで「試料室の底部に対し着脱自在に載置」には、試
料室の上部から載置する場合のほか、試料室の底部上を
スライド移動により載置する場合等も含む意である。
料室の上部から載置する場合のほか、試料室の底部上を
スライド移動により載置する場合等も含む意である。
［実施例］
次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明に係る分光光度計の試料室構造の第１
実施例を示す縦断面図である。第２図は、同実施例を示
す斜視図である。
実施例を示す縦断面図である。第２図は、同実施例を示
す斜視図である。
フーリエ変換分光光度計１０は、光学ベンチ１１上に夫
々設けた検出器部１２．試料室１３及び光源部１４によ
りブロック構成されている。
々設けた検出器部１２．試料室１３及び光源部１４によ
りブロック構成されている。
検出器部Ｘ２は光学ベンチ１１上の片側寄りに設けられ
、光電変換検出器（図示せず）を内蔵し外装ケース１２
ａで覆われている。外装ケース１２ａの下端折曲部１２
ｂは光学ベンチ１１の上面に固定したバッキング１３ａ
に接合しており、検出器部１２内と外気とを遮断する。
、光電変換検出器（図示せず）を内蔵し外装ケース１２
ａで覆われている。外装ケース１２ａの下端折曲部１２
ｂは光学ベンチ１１の上面に固定したバッキング１３ａ
に接合しており、検出器部１２内と外気とを遮断する。
外装ケース１２ａは窓＋２ｃを有しており、光源からの
光束は試料室１３内を通過した後、検出器部１２内の光
電変換検出器の受光素子面上に投入される。
光束は試料室１３内を通過した後、検出器部１２内の光
電変換検出器の受光素子面上に投入される。
光源部１４は検出器１２とは反対側の光学ベンチ１１上
の片偏に設けられ、光源及び干渉計等（図示せず）を内
蔵し外装ケース１４ａで覆われている。外装ケース＋４
ａの下端折曲部＋４ｂは光学ベンチ１１の上面に固定し
たバッキング１３ｂに接合しており、光源部１４内と外
気とを遮断する。外装ケース１４ａは窓１４ｃを有して
おり、光源からの光束は窓＋４ｃを透過した後、試料室
１３内を通過して検出器部１２内に導入される。
の片偏に設けられ、光源及び干渉計等（図示せず）を内
蔵し外装ケース１４ａで覆われている。外装ケース＋４
ａの下端折曲部＋４ｂは光学ベンチ１１の上面に固定し
たバッキング１３ｂに接合しており、光源部１４内と外
気とを遮断する。外装ケース１４ａは窓１４ｃを有して
おり、光源からの光束は窓＋４ｃを透過した後、試料室
１３内を通過して検出器部１２内に導入される。
試料室１３は検出器部１２の外装ケース＋２ａと光源部
１４の外装ケース１４ａとにより画成された空間で、着
脱自在のカバー１３ａにより覆われている。
１４の外装ケース１４ａとにより画成された空間で、着
脱自在のカバー１３ａにより覆われている。
第２図に示すように、試料室１３の底部は光学ベンチ１
１に穿設した凹所１５を有しており、その周囲にはバッ
キングｔｅａを収めた受座平坦面１６が形成されている
。受座平坦面１６の四隅にはネジ孔ｔａｂが穿設されて
いる。
１に穿設した凹所１５を有しており、その周囲にはバッ
キングｔｅａを収めた受座平坦面１６が形成されている
。受座平坦面１６の四隅にはネジ孔ｔａｂが穿設されて
いる。
１７はユニット型試料スタンドである。これは、受座平
坦面１６に嵌合合致する長方形で試料室１３の凹所１５
を覆うべき基板１８と、この四隅に設けられた受座平坦
面１６のネジ孔１８ｂに着脱自在に螺着するネジ＋８ａ
と、基板１８に垂設した一対の取付板１９で支持された
試料ホルダー１９ａとから構成されている。
坦面１６に嵌合合致する長方形で試料室１３の凹所１５
を覆うべき基板１８と、この四隅に設けられた受座平坦
面１６のネジ孔１８ｂに着脱自在に螺着するネジ＋８ａ
と、基板１８に垂設した一対の取付板１９で支持された
試料ホルダー１９ａとから構成されている。
次に使用態様を説明すると、分光測定に際し、先ず、試
料室１３から外したユニット型試料スタンド１７の試料
ホルダー１９ａに対し測定方法に合致した試料装置を装
着する。この際、試料ホルダー１９ａの周りには障害物
がないので、試料の調製及び装着作業を首尾よく迅速に
行なうことができる。
料室１３から外したユニット型試料スタンド１７の試料
ホルダー１９ａに対し測定方法に合致した試料装置を装
着する。この際、試料ホルダー１９ａの周りには障害物
がないので、試料の調製及び装着作業を首尾よく迅速に
行なうことができる。
また、ユニット型試料スタンド１７に付着した汚物等を
簡単に掃除拭払することもできる。
簡単に掃除拭払することもできる。
次に、試料装置を装着したユニット型試料スタンド１７
をそのまま第２図示矢印の如く試料室１３底部にａｍし
、ネジ＋８ａをネジ孔１ｆｉｂに螺合せしめる。これに
より、セツティングが完了するが、同時に、凹所１５は
ユニット型試料スタンド１７の基板１８で閉塞され、試
料室１３空間と凹所１５空間とは基板１８により気密分
離される。特に、バッキング１８ａの存在によりその気
密度は高い、試料装置の種類によってはリード線、ガス
管、モータ、付属部品等を基板１８の裏面側に装備させ
た場合でも、凹所１５がこれらを受容するので、ユニッ
ト型試料スタンド１７の試料室１３底部への載置がその
まま可能となる。
をそのまま第２図示矢印の如く試料室１３底部にａｍし
、ネジ＋８ａをネジ孔１ｆｉｂに螺合せしめる。これに
より、セツティングが完了するが、同時に、凹所１５は
ユニット型試料スタンド１７の基板１８で閉塞され、試
料室１３空間と凹所１５空間とは基板１８により気密分
離される。特に、バッキング１８ａの存在によりその気
密度は高い、試料装置の種類によってはリード線、ガス
管、モータ、付属部品等を基板１８の裏面側に装備させ
た場合でも、凹所１５がこれらを受容するので、ユニッ
ト型試料スタンド１７の試料室１３底部への載置がその
まま可能となる。
ところで、できるだけ試料室１３空間には光束を照射す
べき試料装置の試料部のみを存在させ、他の構成部品を
排除することが望ましい、試料部以外の構成部品（例え
ばモータ）からのオイルガス等が試料室１３空間に充満
した場合には、分光測定の障害となるからである。そこ
で、本実施例では、基板１８の裏面側に構成部品を装備
できるよう凹所１５を形成すると共に、凹所１５内から
試料室１３空間への迷光（熱放射）の侵入、熱対流の侵
入を防出する目的で、また凹所１５空間内の不純物ガス
等が試料室１３空間へ拡散するのを防止する目的で、基
板１８で凹所１５を閉塞する構造をとった。なお、凹所
１５内の不純物ガス等を外部へ抜気させたり、凹所１５
と外部との間に電気的ケーブル、試料内部処理のガス管
等を通すべく、凹所１５内に連通ずる孔等を光学ベンチ
１１の側面等に形成してもよい。
べき試料装置の試料部のみを存在させ、他の構成部品を
排除することが望ましい、試料部以外の構成部品（例え
ばモータ）からのオイルガス等が試料室１３空間に充満
した場合には、分光測定の障害となるからである。そこ
で、本実施例では、基板１８の裏面側に構成部品を装備
できるよう凹所１５を形成すると共に、凹所１５内から
試料室１３空間への迷光（熱放射）の侵入、熱対流の侵
入を防出する目的で、また凹所１５空間内の不純物ガス
等が試料室１３空間へ拡散するのを防止する目的で、基
板１８で凹所１５を閉塞する構造をとった。なお、凹所
１５内の不純物ガス等を外部へ抜気させたり、凹所１５
と外部との間に電気的ケーブル、試料内部処理のガス管
等を通すべく、凹所１５内に連通ずる孔等を光学ベンチ
１１の側面等に形成してもよい。
第３図は、本発明に係る分光光度計の試料室構造の第２
実施例を示す斜視図である。なお、第２図に示す部分と
同一部分には同一参照符号を付し、その説明を省略する
。
実施例を示す斜視図である。なお、第２図に示す部分と
同一部分には同一参照符号を付し、その説明を省略する
。
第３図に示す分光光度計は単光路の分光光度計で、光源
部１４の窓１４ｄからの単光束は試料室１３内を通過し
、検出部１２の外装ケース＋２ａに形成した窓（図示せ
ず）を介してその内部に導入されるが、この単光路に対
して試料セルと参照セルが交互に切換介在するよう構成
されている。すなわち、ユニット型試料スタンド２０は
、受座平坦面１６に嵌合合致する長方形で試料室１３の
凹所１５を覆うべき基板１８と、この四隅に設けられた
受座平坦面１６のネジ孔１６ｂに着脱自在に螺着するネ
ジ１８ａと、基板１６に対して単光路の横断方向に直線
往復動され窓２１ａ 、 ２１ｂ 、 ２１ｃを有する
可動試料ホルダー２１と、基板１６の裏面側に吊り下げ
たモータ２２と、モータ２２の回転を可動試料ホルダー
２１の直線往復動に変換せしめる歯車伝達機構（図示せ
ず）等から構成されている。
部１４の窓１４ｄからの単光束は試料室１３内を通過し
、検出部１２の外装ケース＋２ａに形成した窓（図示せ
ず）を介してその内部に導入されるが、この単光路に対
して試料セルと参照セルが交互に切換介在するよう構成
されている。すなわち、ユニット型試料スタンド２０は
、受座平坦面１６に嵌合合致する長方形で試料室１３の
凹所１５を覆うべき基板１８と、この四隅に設けられた
受座平坦面１６のネジ孔１６ｂに着脱自在に螺着するネ
ジ１８ａと、基板１６に対して単光路の横断方向に直線
往復動され窓２１ａ 、 ２１ｂ 、 ２１ｃを有する
可動試料ホルダー２１と、基板１６の裏面側に吊り下げ
たモータ２２と、モータ２２の回転を可動試料ホルダー
２１の直線往復動に変換せしめる歯車伝達機構（図示せ
ず）等から構成されている。
試料装置を可動試料ホルダー２１に装着した後、そのま
ま試料スタンド２０を受座平坦面１６上に載置し、ネジ
＋８ａをネジ孔＋８５に螺合せしめる。電源コード等は
光学へンチ１１の側部に開けた孔（図示せず）を介して
接続する。基板１６の裏面側に突出したモータ２２や歯
車伝達機構等は凹所１５空間に収納されると共に、凹所
１５空間と試料室１３空間とは基板１８により気密分離
される。凹所１５の存在により、基板１６の裏面側にモ
ータ２２等を突出装備でき、試料室１３内の障害物をな
くし、自然法発のオイルガス等の悪影響のない良好な測
定雰囲気下で分光測定を行なうことができる。また、モ
ータを基板１日上に搭載する場合に比し、モータの吊り
下げ支持が可能となったので、モータ振動の軽減化を図
ることができる。更にまた、受座平坦面１８上のバッキ
ングｌｅａは試料室１３空間の気布保持を達成している
ことから、モータ等からの熱放射及び熱対流による障害
も防止でき、また同時に光学ベンチ１１に対する防振作
用も果たす。
ま試料スタンド２０を受座平坦面１６上に載置し、ネジ
＋８ａをネジ孔＋８５に螺合せしめる。電源コード等は
光学へンチ１１の側部に開けた孔（図示せず）を介して
接続する。基板１６の裏面側に突出したモータ２２や歯
車伝達機構等は凹所１５空間に収納されると共に、凹所
１５空間と試料室１３空間とは基板１８により気密分離
される。凹所１５の存在により、基板１６の裏面側にモ
ータ２２等を突出装備でき、試料室１３内の障害物をな
くし、自然法発のオイルガス等の悪影響のない良好な測
定雰囲気下で分光測定を行なうことができる。また、モ
ータを基板１日上に搭載する場合に比し、モータの吊り
下げ支持が可能となったので、モータ振動の軽減化を図
ることができる。更にまた、受座平坦面１８上のバッキ
ングｌｅａは試料室１３空間の気布保持を達成している
ことから、モータ等からの熱放射及び熱対流による障害
も防止でき、また同時に光学ベンチ１１に対する防振作
用も果たす。
なお、上記各実施例においては、光源部１４と検出器部
１２との間に画成される試料室１３について説明したが
、例えば、フーリエ変換赤外中可視分光光度計において
は、干渉計と光源との間に試料室を設けたタイプのもの
や、光路中復数の試料室を設けたタイプのものも存在す
る。したがって、勿論、本発明はかかる試料室について
も適用できることは言う迄もない、また、上記実施例で
はユニット型試料スタンドを試料室上部から底部へ持ち
下げて載置するものであるが、装置前面から試料室底部
上をスライド自在に載置する構成としてもよい。
１２との間に画成される試料室１３について説明したが
、例えば、フーリエ変換赤外中可視分光光度計において
は、干渉計と光源との間に試料室を設けたタイプのもの
や、光路中復数の試料室を設けたタイプのものも存在す
る。したがって、勿論、本発明はかかる試料室について
も適用できることは言う迄もない、また、上記実施例で
はユニット型試料スタンドを試料室上部から底部へ持ち
下げて載置するものであるが、装置前面から試料室底部
上をスライド自在に載置する構成としてもよい。
以上説明したように、本発明に係る分光光度計の試料室
構造は、光学ベンチ上に設けた試料室の底部に凹所を形
成した点、この凹所を閉塞すへさ基板で試料ホルダーを
支持したユニット型試料スタンドを用い、これを該試料
室の底部に対し着脱自在に載置する点に特長を有するも
のであるから１次の効果を奏する。
構造は、光学ベンチ上に設けた試料室の底部に凹所を形
成した点、この凹所を閉塞すへさ基板で試料ホルダーを
支持したユニット型試料スタンドを用い、これを該試料
室の底部に対し着脱自在に載置する点に特長を有するも
のであるから１次の効果を奏する。
０分光測定に際し、分光光度計の試料室に試料装置をセ
ットする場合、予め試料室以外の自由なスペースに載置
したユニット型試料スタンドの試料ホルダーに対し試料
装置を装着した後、そのユニット型試料スタンドをそっ
くり試料室の底部にｉｔｉ！置することができるので、
装着の作業性が向上する。特に、付属部品の多い試料装
置を装着する場合には、限られた試料室空間内での煩雑
な装着作業を行なわなくて済み、スピーディ−な試料調
製を実現できる。
ットする場合、予め試料室以外の自由なスペースに載置
したユニット型試料スタンドの試料ホルダーに対し試料
装置を装着した後、そのユニット型試料スタンドをそっ
くり試料室の底部にｉｔｉ！置することができるので、
装着の作業性が向上する。特に、付属部品の多い試料装
置を装着する場合には、限られた試料室空間内での煩雑
な装着作業を行なわなくて済み、スピーディ−な試料調
製を実現できる。
また、試料装置の交換はユニット型試料スタンド単位で
行なうことができるので、分光測定中、別のユニット型
試料スタンドに別の試料装置を装着しておけば、交換に
手間取らず、分光分析の能率化を図ることができる。
行なうことができるので、分光測定中、別のユニット型
試料スタンドに別の試料装置を装着しておけば、交換に
手間取らず、分光分析の能率化を図ることができる。
■試料室内に試料装置を直接装着せず、ユニット型試料
スタンドに試料装置を簡単に装着できるから、試料室内
に汚物等が直接付着することがなく、試料室内を常に清
潔に保持でき、最適な雰囲気下で分光分析を行なうこと
ができる。ユニット型試料スタンドの掃除・洗浄等も簡
単である。
スタンドに試料装置を簡単に装着できるから、試料室内
に汚物等が直接付着することがなく、試料室内を常に清
潔に保持でき、最適な雰囲気下で分光分析を行なうこと
ができる。ユニット型試料スタンドの掃除・洗浄等も簡
単である。
（■特殊な試料装置をユニット型試料スタンドに装着し
た場合、その基板の裏面側に構成部品が突出することが
あるが、試料室の底部に設けた凹所がこれを受容するの
で、かかるユニット型試料スタンドの載置も可能となる
。換言すれば、凹所が存在するのでユニット型試料スタ
ンドの基板の裏面側に構成部品を装備できるから、その
分、特殊な試料装置の構成部品を試料室内へ余分に載置
でき、試料室のスペースを大きくとらずに、多種多様な
試料装置を使用することができる。近時、多検体を４統
的に無人測定処理する完全自動化を目的とする試料ホル
ダーも実用化されつつあるが、本発明によれば、試料形
態に合致した測定方法とその専用試料装置の開発に即応
した試料室構造を提供することができる。
た場合、その基板の裏面側に構成部品が突出することが
あるが、試料室の底部に設けた凹所がこれを受容するの
で、かかるユニット型試料スタンドの載置も可能となる
。換言すれば、凹所が存在するのでユニット型試料スタ
ンドの基板の裏面側に構成部品を装備できるから、その
分、特殊な試料装置の構成部品を試料室内へ余分に載置
でき、試料室のスペースを大きくとらずに、多種多様な
試料装置を使用することができる。近時、多検体を４統
的に無人測定処理する完全自動化を目的とする試料ホル
ダーも実用化されつつあるが、本発明によれば、試料形
態に合致した測定方法とその専用試料装置の開発に即応
した試料室構造を提供することができる。
■分光分析に悪影響をもたらす試料装置の構成部品（例
えばモータなど）をユニット型試料スタンドの基板の裏
面側に構成部品を装備した場合には、ユニット型試料ス
タンドを試料室底部に載置すると、自ずと基板により凹
所と試料室とが気密的に仕切られるから、構成部品から
発散するオイルガス、熱、光等が試料室側に拡散するこ
とがなく、良好な雰囲気下で分光分析を行なうことがで
きる。従来に比し、試料室構造の面から分光分析装置と
しての測定精度の向上を図り得る。
えばモータなど）をユニット型試料スタンドの基板の裏
面側に構成部品を装備した場合には、ユニット型試料ス
タンドを試料室底部に載置すると、自ずと基板により凹
所と試料室とが気密的に仕切られるから、構成部品から
発散するオイルガス、熱、光等が試料室側に拡散するこ
とがなく、良好な雰囲気下で分光分析を行なうことがで
きる。従来に比し、試料室構造の面から分光分析装置と
しての測定精度の向上を図り得る。
第１図は、本発明に係る分光光度計の試料室構造の第１
実施例を示す縦断面図である。 第２図は、同実施例を示す斜視図である。 第３図は、本発明に係る分光光度計の試料室構造の第２
実施例を示す斜視図である。 第４図は、従来のフーリエ変換分光光度計の試料室構造
の一例を示す斜視図である。 第５図は、従来のフーリエ変換分光光度計の試料室構造
の別の例を示す斜視図である。 １１・・・光学ベンチ、１２・・・検出器部、１２ａ
、 １４ａ ＠争・外装ケース、１３・・・試料室、１
３ａ１・カバー、１４１・光源部、１５６１凹所、１Ｂ
・・・受座平坦面、＋６ａ・・・バッキング、ｔｓｂ・
・・ネジ孔、１７．２０−・・ユニッ）［試料スタンド
、１８・・・基板、１８ａ・帝−ネジ、１９・・・取付
板、１９ａ・・・試料ホルダー、２１・・・可動試料ホ
ルダー。
実施例を示す縦断面図である。 第２図は、同実施例を示す斜視図である。 第３図は、本発明に係る分光光度計の試料室構造の第２
実施例を示す斜視図である。 第４図は、従来のフーリエ変換分光光度計の試料室構造
の一例を示す斜視図である。 第５図は、従来のフーリエ変換分光光度計の試料室構造
の別の例を示す斜視図である。 １１・・・光学ベンチ、１２・・・検出器部、１２ａ
、 １４ａ ＠争・外装ケース、１３・・・試料室、１
３ａ１・カバー、１４１・光源部、１５６１凹所、１Ｂ
・・・受座平坦面、＋６ａ・・・バッキング、ｔｓｂ・
・・ネジ孔、１７．２０−・・ユニッ）［試料スタンド
、１８・・・基板、１８ａ・帝−ネジ、１９・・・取付
板、１９ａ・・・試料ホルダー、２１・・・可動試料ホ
ルダー。
Claims (1)
- 光学ベンチ上に設けた試料室の底部に凹所を形成すると
共に、該凹所を閉塞すべき基板で試料ホルダーを支持し
たユニット型試料スタンドを該試料室の底部に対し着脱
自在に載置してなることを特徴とする分光光度計の試料
室構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29549586A JPS63148146A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 分光光度計の試料室構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29549586A JPS63148146A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 分光光度計の試料室構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63148146A true JPS63148146A (ja) | 1988-06-21 |
Family
ID=17821348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29549586A Pending JPS63148146A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 分光光度計の試料室構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63148146A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5153675A (en) * | 1990-02-22 | 1992-10-06 | Nicolet Instrument Corporation | Modular optical system for Fourier transform infrared spectrometer |
| JP2008292503A (ja) * | 2008-08-04 | 2008-12-04 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2014089157A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Jasco Corp | 分光装置 |
| WO2021220531A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5559318A (en) * | 1978-10-30 | 1980-05-02 | Hitachi Ltd | Sample room of spectrophotometer |
-
1986
- 1986-12-11 JP JP29549586A patent/JPS63148146A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5559318A (en) * | 1978-10-30 | 1980-05-02 | Hitachi Ltd | Sample room of spectrophotometer |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5153675A (en) * | 1990-02-22 | 1992-10-06 | Nicolet Instrument Corporation | Modular optical system for Fourier transform infrared spectrometer |
| JP2008292503A (ja) * | 2008-08-04 | 2008-12-04 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2014089157A (ja) * | 2012-10-31 | 2014-05-15 | Jasco Corp | 分光装置 |
| WO2021220531A1 (ja) * | 2020-04-27 | 2021-11-04 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
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