JPS6314397A - Storage circuit - Google Patents

Storage circuit

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JPS6314397A
JPS6314397A JP61156307A JP15630786A JPS6314397A JP S6314397 A JPS6314397 A JP S6314397A JP 61156307 A JP61156307 A JP 61156307A JP 15630786 A JP15630786 A JP 15630786A JP S6314397 A JPS6314397 A JP S6314397A
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column
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Mamoru Araki
荒木 衛
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Abstract

PURPOSE:To attain read/write by dividing row selection lines into two, and adding a rotary shift circuit, and a function detecting a maximum address, inhibiting the succeeding operation and starting an adjacent circuit to a row driving circuit driving the divided line so as to apply time division read/write to/from a memory element having plural consecutive addresses from a designated address. CONSTITUTION:Address information 65, '06' is stored from a host device to an address register 60 and a row address '0' is inputted to a row driving circuit 20 and a row driving circuit 30. The row driving control section 24 of the row driving circuit 20 receives a column address '6', it is decoded to be a low-order column selection address and in turning on a rotary shift circuit 23, the row driving selection circuit 22 selects/drives a row selection line 130 corresponding to next row address '1'. The row driving circuit 30 uses a row driving selection circuit 32 to select and drive a row selection line 130. In receiving an operating clock as one of control information 75 to a storage control section 70, the storage control section 70 starts the read corresponding to the operation clock in the write/read control section 80.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は記憶回路に関し、特に指定された番地から連続
した複数個の番地のメモリ素子を時分割的に読出しある
いは書込み可能な記憶回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory circuit, and more particularly to a memory circuit that can time-divisionally read or write memory elements at a plurality of consecutive addresses from a designated address.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、半導体を用いたランダムアクセス記憶回路は、集
積回路の進歩に伴い、記憶容量の大容量化とともに多様
な機能を持つものが提案されている。そのうち、指定さ
れた番地の情報1ビツトだけを読出しあるいは書込み可
能な記憶回路に対し、さらに動作クロックを連続して複
数個与えるだけで指定された番地の情報を含み、これに
続く連続した複数個の番地の情報を時分割で読出あるい
は書込可能な記憶回路が提案され、能率よく記憶回路を
動作させるようにしているものがある。
In recent years, as integrated circuits have progressed, random access memory circuits using semiconductors have been proposed that have increased storage capacity and a variety of functions. Among them, for a memory circuit that can read or write only 1 bit of information at a specified address, by simply applying multiple operating clocks in succession, it is possible to read or write only 1 bit of information at a specified address. A memory circuit has been proposed that can read or write information at an address in a time-division manner, and some are designed to operate the memory circuit efficiently.

この種の従来の記憶回路は、第5図に示すように、8行
×8列のマ) IJソックス場合で8行×8列のマ) 
IJノックス状配置され、各々0.1.・・・、63に
番地付けされた64個のメモリ素子から成るメモリマト
リックス310と、マトリックスの行方向に配列された
8個の行選択線420〜427と5これらを択一的に選
択・駆動する行駆動回路320と、マ) IJソックス
列方向に配列された8個の列情報線440〜447と、
これらを択一的に選択して、これらに対して夫々書込み
及び読出しの動作を実行する列書込回路340及び列読
出回路350と、上位装置からのアドレス情報365を
蓄積し、これらを行アドレス線361及び列アトL/ス
線362に出力するアドレスレジスタ360と、上位装
置からの制御情°報375を受取り、書込読出制御部3
80に動作パルス371を送出する記憶制御部370と
、アドレスレジスタ360から列アドレス線362を介
して列アドレスを受取ってこれを記憶し、記憶制御部3
70から動作ノeルス371を受取るごとにこの列アド
レスを1つずつ増加させ、その結果を列アドレス線38
2a及び382bを介して列書込回路340及び列読出
回路350にそれぞれ与える書込読出制御部380とか
ら構成される。
As shown in Figure 5, this type of conventional memory circuit has 8 rows x 8 columns (8 rows x 8 columns in the case of IJ socks).
IJ Nox-like arrangement, each 0.1. ..., a memory matrix 310 consisting of 64 memory elements numbered 63, and 8 row selection lines 420 to 427 and 5 arranged in the row direction of the matrix are selectively selected and driven. 8 column information lines 440 to 447 arranged in the IJ sock column direction;
A column write circuit 340 and a column read circuit 350 selectively select these and perform write and read operations on these, respectively, and address information 365 from the host device is stored, and these are stored as row addresses. The address register 360 outputs to the line 361 and the column AT/L/S line 362, and receives control information 375 from the host device, and the write/read controller 3
A storage control unit 370 sends out an operation pulse 371 to an address register 360, and a storage control unit 370 receives a column address from an address register 360 via a column address line 362 and stores it.
Each time an operation reference 371 is received from 70, this column address is incremented by one, and the result is sent to column address line 38.
2a and 382b, the write/read control section 380 supplies data to the column write circuit 340 and the column read circuit 350, respectively.

上記のこの従来の記憶回路にIいては、第6図に示した
タイムチャートのように066番地らこの066番地含
んで連続する4番地のメモリ素子に対する読出し動作に
ついて説明する。なお書込みの場合も全く同様の動作で
あり、読出しの場合から容易に類推できるものである。
In the conventional memory circuit I described above, a read operation for memory elements at four consecutive addresses starting from address 066 and including this address 066 will be described as shown in the time chart shown in FIG. Note that the operation is exactly the same in the case of writing, and can be easily inferred from the case of reading.

まずアドレスレジスタ360に蓄積された行アドレス″
0#と列アドレス″′6”が夫々行アドレス線361及
び列アドレス線362を介し夫々行駆動回路320と書
込読出制御部380に与えられる。行駆動回路320は
行アドレス“0#をデコードし行選択線420を選択・
駆動する。書込読出制御部380は列アドレス”6”を
記憶し。
First, the row address stored in the address register 360
0# and column address "'6" are applied to row drive circuit 320 and write/read control section 380 via row address line 361 and column address line 362, respectively. The row drive circuit 320 decodes the row address “0#” and selects the row selection line 420.
Drive. The write/read controller 380 stores column address "6".

記憶制御部370かも送出される動作クロック371を
受取シ、この列アドレスで6”を列アドレス線382b
を介して列読出回路350に与える。
The storage control unit 370 also receives the operating clock 371 and sets the column address 6” to the column address line 382b.
is applied to column readout circuit 350 via.

以後一定の時間間隔tで動作クロック371を受取るご
とにその記憶内容を1つずつ増加させ、その記憶内容“
7#“O” ”1’を列アドレス線382bを介して列
読出回路350に与える。列読出回路350はこの列ア
ドレスを順次デコードして1列情報線446,447,
440.44’lを順次選択し。
Thereafter, each time the operation clock 371 is received at a fixed time interval t, the memory contents are increased by one, and the memory contents "
7# “O” “1” is applied to the column readout circuit 350 via the column address line 382b.The column readout circuit 350 sequentially decodes this column address and outputs the first column information lines 446, 447,
440.44'l are selected in sequence.

既に選択されている行選択線との交点である番地6.7
,0.1のメモリ素子の内容を順次読出して読出情報3
55として上位装置に送出する。
Address 6.7, which is the intersection with the already selected row selection line
, 0.1 are read out sequentially to obtain read information 3.
55 and sends it to the higher-level device.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来の記憶回路は、任意の番地から特定の長さ
のデータを連続して読出・書込する場合に、同一行選択
線からのメモリ素子情報を読出書込することに限られ2
次の行選択線のメモリ素子情報Kまたがっての読出・書
込ができなかった。
The conventional memory circuit described above is limited to reading and writing memory element information from the same row selection line when reading and writing data of a specific length from an arbitrary address.
It was not possible to read or write across the memory element information K of the next row selection line.

このため実用的には大きな欠点となっていた。This has resulted in a major drawback in practical terms.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の記憶回路は2行方向に配列されたM個(0,1
・・・M−1)の行選択線と1列方向に配列されたN個
(0,1・・・N−1)の列情報線と、前記行選択線及
び列情報線の交点にM行×N列(共に偶数)のマトリッ
クス状に配置され夫々に番地付けされたメモリ素子と、
該メモリ素子の一つの番地を指定する行アドレスと列ア
ドレスから成るレジスタを蓄積するアドレスレジスタと
、前記行アドレス及び列アドレスを夫々デコードするア
ドレスデコーダ並びに前記アドレスデコーダの出力によ
り前記行選択線を択一的に選択する行駆動選択回路を有
する行駆動回路と、前記列情報線に択一的に書込情報を
与える書込選択回路を有する列書込回路と、前記列情報
線から択一的に読出情報を読出す読出選択回路を有する
列読出回路とを有する記憶回路において、前記N個の列
情報線を上位列情報線(0〜N/2−1)及び下位情報
線(N/2〜N−1)に分類し、前記行選択線を前記上
位列情報線と交差する第1の行選択線及び前記下位列情
報線と交差する第2の行選択線に分割し、前記行駆動回
路を、前記第1の行選択線を選択・駆動し、前記アドレ
スデコーダと行駆動選択回路の間にあって、上位列を選
択する列アドレスの場合は前記アドレスデコーダの出力
をそのまま前記行駆動選択回路に与え、下位列を選択す
る列アドレスの場合は前記アドレスデコーダの出力をシ
フトさせて次の行アドレスを前記行駆動選択回路に与え
るローテートシフト回路を有する第1の行駆動回路と前
記第2−〇行選択線を選択・駆動する第2の行駆動回路
とに分割し、更に、最大の番地を選択された場合にそれ
以降の読出しあるいは書込みを禁止する手段と、他の記
憶回路の読出しあるいは書込みを可能とする信号及び他
の記憶回路からの信号により読出しあるいは書込む動作
を起動できる手段とを含む回路であシ、これにより前記
アドレスで指定された番地から行をまたいであるいは記
憶回路をまたいで連続した複数個の番地のメモリ素子を
時分割的に読出し或いは書込み可能としたものである。
The memory circuit of the present invention has M pieces (0, 1) arranged in two rows.
...M-1) row selection line, N (0, 1...N-1) column information lines arranged in the direction of one column, and an M line at the intersection of the row selection line and the column information line. Memory elements arranged in a matrix of rows and N columns (both even numbers) and individually addressed;
an address register that stores a register consisting of a row address and a column address specifying one address of the memory element; an address decoder that decodes the row address and column address, respectively; and the row selection line is selected based on the output of the address decoder. a row drive circuit having a row drive selection circuit that selectively selects write information; a column write circuit having a write selection circuit that selectively provides write information to the column information line; In a storage circuit having a column readout circuit having a readout selection circuit for reading out readout information, the N column information lines are connected to upper column information lines (0 to N/2-1) and lower column information lines (N/2). ~N-1), and divides the row selection line into a first row selection line that intersects the upper column information line and a second row selection line that intersects the lower column information line, and A drive circuit selects and drives the first row selection line, and in the case of a column address that is located between the address decoder and the row drive selection circuit and selects an upper column, the output of the address decoder is directly used to select the row drive selection line. a first row drive circuit having a rotation shift circuit that shifts the output of the address decoder in the case of a column address for selecting a lower column, and supplies the next row address to the row drive selection circuit; It is divided into a second row drive circuit that selects and drives the 2-0 row selection line, and further includes a means for prohibiting further reading or writing when the largest address is selected, and a means for inhibiting other memory circuits. A circuit that includes a signal that enables reading or writing, and a means that can activate the reading or writing operation by a signal from another storage circuit, thereby allowing data to be read or written across rows or stored from the address specified by the address. It is possible to time-divisionally read or write memory elements at a plurality of consecutive addresses across circuits.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。本
実施例では簡単のために8行×8列のマトリックスの場
合について説明する。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. In this embodiment, for the sake of simplicity, a case of a matrix of 8 rows by 8 columns will be described.

第1図の記憶回路は、8行×8列のマ) IJソックス
状配列され各々0..1・・・、63に番地付けされた
64個のメモリ素子から成るメモリマトリックス10を
有しておシ、このメモリマトリックス10はマ) IJ
ソックス列方向に配列された8個の列情報線140〜1
47に接続されている。列情報線140〜147は、こ
の列情報線の1つを択一的に選択してこれに書込情報4
5を書込む列書込回路40と、この列情報線の1つを択
一的に選択してこれから読出情報55を読出す列読出回
路50とに接続されている。列書込回路40と列読出回
路50はそれぞれ列アドレス線82aと82bを介して
書込読出制御部80に接続されている。
The memory circuit shown in FIG. 1 is arranged in a matrix of 8 rows and 8 columns in the form of an IJ sock, each with 0. .. It has a memory matrix 10 consisting of 64 memory elements numbered 1..., 63, and this memory matrix 10 is
Eight column information lines 140 to 1 arranged in the socks column direction
It is connected to 47. Column information lines 140 to 147 selectively select one of the column information lines and write information 4 thereto.
5, and a column read circuit 50 that selectively selects one of the column information lines and reads read information 55 from it. Column write circuit 40 and column read circuit 50 are connected to write/read controller 80 via column address lines 82a and 82b, respectively.

ここで8個の列情報線140〜147について更に詳し
く説明すると、これら列情報線は4個ずつ上位列情報線
(140〜143)及び下位列情報線(144〜147
)に分類され、夫々上位列選択アドレス及び下位列選択
アドレスで選択されるよって構成されている メモリマトリックス10は更にマトリックスの行方向に
配列された上位列情報線140〜143に交差する8個
の第1の行選択線120〜127と、下位列選択線14
4〜147に交差する8個の第2の行選択線130〜1
37とに接続されている。第1の行選択線120〜12
7及び第2の行選択線130〜137は夫々のうちの1
つを夫夫択一的に選択して駆動する第1の行駆動回路2
0及び第2の行駆動回路30とに接続されている。この
第1の行駆動回路20及び第2の行駆動回路30は行ア
ドレス線61を介してアドレスレジスタ60に接続され
ている。このアドレスレジスタは上位装置(図示されて
いない)から行アドレス及び列アドレスから成るアドレ
ス情報65を受取って蓄積し、これらを夫々行アドレス
線61及び列アドレス線62に出力するよう構成されて
いる。
To explain in more detail the eight column information lines 140 to 147, these column information lines consist of four upper column information lines (140 to 143) and four lower column information lines (144 to 147).
) and are selected by the upper column selection address and the lower column selection address, respectively. The first row selection lines 120 to 127 and the lower column selection line 14
Eight second row selection lines 130 to 1 intersecting lines 4 to 147
37. First row selection lines 120-12
7 and the second row selection lines 130 to 137 are one of each.
A first row drive circuit 2 that selectively selects and drives one of the
0 and the second row drive circuit 30. The first row drive circuit 20 and the second row drive circuit 30 are connected to an address register 60 via a row address line 61. This address register is configured to receive and store address information 65 consisting of a row address and a column address from a host device (not shown), and output these to a row address line 61 and a column address line 62, respectively.

記憶制御部70は上位装置から書込読出制御信号及び動
作クロックを含む制御情報75を受取って1行駆動制御
部24.書込読出制御部80.・および行駆動回路24
などへ制御信号、動作クロック等を送出できるように構
成されている。書込読出制御部80は、アドレスレジス
タ60からの列アドレス線62及び記憶制御部70から
制御信号71を介して動作クロックを入力し1列アドレ
ス線82a及び82bに出力するように構成されている
。行駆動制御部24ば、アドレスレジスタ60からの列
アドレス線62及び記憶制御部70から制御信号線72
を介して制御信号を入力し。
The storage control unit 70 receives control information 75 including a write/read control signal and an operation clock from the host device, and controls the one-row drive control unit 24 . Write/read control unit 80. - and row drive circuit 24
It is configured to be able to send control signals, operating clocks, etc. The write/read control section 80 is configured to input an operating clock via a column address line 62 from the address register 60 and a control signal 71 from the storage control section 70, and output it to the first column address lines 82a and 82b. . The row drive control unit 24 has a column address line 62 from the address register 60 and a control signal line 72 from the storage control unit 70.
Input the control signal through.

第1の行駆動回路20を制御するように構成されている
The first row drive circuit 20 is configured to control the first row drive circuit 20 .

行駆動回路20は、アドレスデコーダ21と。The row drive circuit 20 has an address decoder 21.

行駆動選択回路22と、これらの間にあるローテートシ
フト回路23とを有し、アドレスレジスタ60から行ア
ドレス線61を介して受取った行アドレスをデコードし
9行選択線120〜127の1つを択一的に選択し駆動
する機能を有している。
It has a row drive selection circuit 22 and a rotation shift circuit 23 located therebetween, which decodes the row address received from the address register 60 via the row address line 61 and selects one of the nine row selection lines 120 to 127. It has a function of selectively selecting and driving.

この選択の際、アドレスレジスタ60の列アドレス線6
2上の列アドレスと記憶制御部70からの制御信号72
とによシ動作する行駆動制御部24の出力により、ロー
テートシフト回路23のオン・オフが制御され9列アド
レスが上位列選択アドレスの場合はローテートシフト回
路23はオフとなってデコードされた行アドレスに対応
する行選択線を選択し2列アドレスが下位列選択アドレ
スの場合はローテートシフト回路23はオンとなってデ
コードされた行アドレスの次の行アドレスに対応する行
選択線を選択(なお行アドレス7の次の行は行アドレス
0に戻る。)するよう構成されている。
In this selection, the column address line 6 of the address register 60
Column address on 2 and control signal 72 from storage control unit 70
The rotation shift circuit 23 is turned on and off by the output of the row drive control unit 24, which operates independently.If the 9th column address is an upper column selection address, the rotation shift circuit 23 is turned off and the decoded row is If the row selection line corresponding to the address is selected and the second column address is a lower column selection address, the rotate shift circuit 23 is turned on and selects the row selection line corresponding to the next row address of the decoded row address ( Note that the row following row address 7 returns to row address 0.).

行駆動回路30はアドレスデコーダ31と行駆動選択回
路32とを有し、アドレスレジスタ60から行アドレス
線61を介して受取った行アドレスをデコードし2行選
択線130〜137のうちの1つを択一的に選択し駆動
する機能を有している。
The row drive circuit 30 has an address decoder 31 and a row drive selection circuit 32, and decodes the row address received from the address register 60 via the row address line 61 and selects one of the two row selection lines 130-137. It has a function of selectively selecting and driving.

列書込回路40は、アドレスデコーダ41と書込選択回
路42とを有し、書込読出制御部80かから列アドレス
線82aを介して受取った列アドレスをデコードし9列
情報線140〜147の一つを択一的に選択してこの選
択された列情報線と前記行駆動回路20又は30で夫々
選択された行選択線120〜127のうちの一つ又は1
30〜137のうちの1つとの交点のメモリ素子に、上
位装置から受取った書込情報45を書込む機能を有して
いる。
The column write circuit 40 includes an address decoder 41 and a write selection circuit 42, and decodes the column address received from the write/read control unit 80 via the column address line 82a, and writes the column address to the nine column information lines 140 to 147. one of the selected column information lines and one or more of the row selection lines 120 to 127 selected by the row drive circuit 20 or 30, respectively.
It has a function of writing the write information 45 received from the host device into the memory element at the intersection with one of 30 to 137.

列読出回路50はアドレスデコーダ51と読出選択回路
52とを有し、書込読出制御部80から列アドレス線8
2を介して受取った列アドレスをデコードして列情報線
140〜147のうちの1つを択一的に選択して、この
選択された列情報線と前記行駆動回路20又は30で夫
々選択された行選択線120〜127のうちの一つ又は
130〜137のうち1つとの交点のメモリ素子から情
報を読出して、この読出情報55を上位装置に送出する
機能を有している。
The column read circuit 50 has an address decoder 51 and a read selection circuit 52, and has a column address line 8 from the write/read control section 80.
2, and selectively selects one of the column information lines 140 to 147, and selects the selected column information line and the row drive circuit 20 or 30, respectively. It has a function of reading information from the memory element at the intersection with one of the row selection lines 120 to 127 or one of the row selection lines 130 to 137, and transmitting this read information 55 to the host device.

書込読出制御部80ば、アドレスレジスタ60から列ア
ドレス線61を介して列アドレスを受取ってこれを記憶
し、記憶制御部70から制御信号線71を介して動作ク
ロックが与えられる度にこの列アドレスを1つずつ増加
させる(なお列アドレス7の次は列アドレスOに戻る。
The write/read control section 80 receives a column address from the address register 60 via the column address line 61 and stores it, and writes the column address every time an operation clock is applied from the storage control section 70 via the control signal line 71. The address is incremented by one (note that after column address 7, it returns to column address O.

)機能を有し。) has a function.

この結果を列アドレス線82a及び82bを介して列書
込回路40及び列読出回路50にそれぞれ供給し、アド
レス情報65の列アドレスで指定される番地から連続し
た複数個の番地のメモリ素子を時分割的に書込みあるい
は読出しすることが可能なように構成されている。
The results are supplied to the column write circuit 40 and the column read circuit 50 via the column address lines 82a and 82b, respectively, and the memory elements at consecutive addresses starting from the address specified by the column address of the address information 65 are read. It is configured so that it can be written or read in parts.

70が連続した複数個の番地について書込みあるいは読
出し動作を実行するごとに、隣接回路制御信号94によ
り実行している番地が最大の番地であるかを比較し、最
大の番地であればそれ以降の動作を禁示する動作制御信
号92によシ記憶制御部70に以降の書込みあるいは読
出し動作を禁止させ、また隣接回路起動出力信号91を
最大の番地以降のオンにする。隣接回路起動入力信号9
5は隣接の記憶回路の隣接回路起動出力信号に接続され
、オンの際には動作制御信号92により記憶制御部70
を制御して書込みあるいは読出しの動作を実行させるよ
うな機能を持つ。
Every time 70 executes a write or read operation for a plurality of consecutive addresses, it compares whether the address being executed is the largest address using the adjacent circuit control signal 94, and if it is the largest address, the subsequent The operation control signal 92 prohibiting the operation causes the storage control unit 70 to prohibit subsequent write or read operations, and the adjacent circuit activation output signal 91 is turned on for the maximum address and thereafter. Adjacent circuit activation input signal 9
5 is connected to the adjacent circuit activation output signal of the adjacent storage circuit, and when turned on, the storage control unit 70 is activated by the operation control signal 92.
It has the function of controlling the CPU to execute write or read operations.

第2図は本発明の一実施例の動作を示すタイムチャート
である。第2図における本発明の一実施例について、0
66番地ら066番地含んで連続する4番地のメモリ素
子に対する読出しの動作について説明する。なお書込み
の場合も全く同様の動作であり読出しの場合から容易に
類推できるものである。
FIG. 2 is a time chart showing the operation of one embodiment of the present invention. For one embodiment of the invention in FIG.
A read operation for memory elements at four consecutive addresses including addresses 66 to 066 will be described. Note that the operation for writing is exactly the same, and can be easily inferred from the case for reading.

先ず上位装置からアドレス情報65として“06”がア
ドレスレジスタ60に与えられ蓄積される。
First, "06" is given to the address register 60 as address information 65 from the host device and is stored.

行アドレス“0”は行駆動回路20及び行駆動回路30
に夫々入力される。行駆動回路20では行駆動制御部2
4が列アドレス“6′を入力し、これが下位列選択アド
レスであることを解読してローテートシフト回路23を
オンに動作させる。この結果行駆動選択回路22は次の
行アドレス”1”に相当する行選択線121を選択・駆
動する。行駆動回路30では行駆動選択回路:!、、2
は行選択線130を選択駆動する。
Row address “0” is the row drive circuit 20 and row drive circuit 30
are input respectively. In the row drive circuit 20, the row drive control section 2
4 inputs the column address "6", decodes that this is the lower column selection address, and turns on the rotate shift circuit 23. As a result, the row drive selection circuit 22 selects the next row address "1". Selects and drives the corresponding row selection line 121.The row drive selection circuit 30 selects and drives the row selection line 121.
selectively drives the row selection line 130.

記憶制御部70に対する制御情報75の1つとして第2
図示す動作クロックCOが与えられると。
As one of the control information 75 for the storage control unit 70, the second
When the illustrated operating clock CO is given.

記憶制御部70は書込読出制御部80に制御信号71を
介して動作クロックに対応して読出しの動作を開始させ
る。書込読出制御部80は予め与えられている列アドレ
ス“6nを列テドレス線82bを介して列読出回路50
に与え、アドレスデコーダ51のデコード結果に従い、
読出選択回路52によシ列情報線146が選択されメモ
リ素子“6”の内容が読出情報55として読出される。
The storage control section 70 causes the write/read control section 80 to start a read operation in response to an operation clock via a control signal 71. The write/read controller 80 sends the column address "6n" given in advance to the column read circuit 50 via the column address line 82b.
and according to the decoding result of the address decoder 51,
The column information line 146 is selected by the read selection circuit 52 and the contents of the memory element "6" are read out as the read information 55.

次動作クロックCIが与えられると、書込読出制御部8
0は記憶していた列アドレスに1を加えた”7”を新し
い列アドレスとして前記の動作を繰返し。
When the next operation clock CI is applied, the write/read controller 8
For 0, add 1 to the stored column address, ``7'', as the new column address, and repeat the above operation.

メモリ素子“7”の内容が読出される。さらにクロック
C2が与えられると1列アドレス”′0”として前記動
作を繰返し2列情報線140と行駆動回路20により既
に選択・駆動されている行選択線121との交点である
8番地の内容が読出される。更にクロックC3が与えら
れると、前記と同様に9番地の内容が読出される。
The contents of memory element "7" are read. Furthermore, when clock C2 is applied, the above operation is repeated with the first column address "'0", and the contents of address 8, which is the intersection of the second column information line 140 and the row selection line 121 that has already been selected and driven by the row drive circuit 20. is read out. When clock C3 is further applied, the contents of address 9 are read out in the same manner as above.

第3図は本発明による記憶回路を複数個用いて記憶回路
間如渡って任意の番地から連続した番地の情報を読出し
あるいは書込む回路の構成例を示した図である。第3図
における第1ないし第4の記憶回路200〜203はい
ずれも第1図で説明した記憶回路と同じものである。そ
してこれら記憶回路200〜203における信号A、D
J、Do。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of a circuit that uses a plurality of memory circuits according to the present invention to read or write information from arbitrary addresses to consecutive addresses across the memory circuits. The first to fourth memory circuits 200 to 203 in FIG. 3 are all the same as the memory circuit explained in FIG. 1. The signals A and D in these memory circuits 200 to 203
J.Do.

AI、AOは第1図におけるアドレス情報65.書込情
報45.読出情報55.隣接回路起動入力信号95.隣
接回路起動出力信号91にそれぞれ対応している。なお
E及びCは第1図における制御情報75であり、イネー
ブル信号、クロック信号をそれぞれあられしている。
AI and AO are address information 65. in FIG. Write information 45. Read information 55. Adjacent circuit activation input signal 95. Each corresponds to the adjacent circuit activation output signal 91. Note that E and C are the control information 75 in FIG. 1, and represent an enable signal and a clock signal, respectively.

第3図の実施例では、4個の記憶回路200〜203の
組み合わせて番地をO〜255番地の記憶装置を構成し
ており、各記憶回路200〜203の入出力信号は相互
に接続されている。番地は各記憶回路200〜203の
アドレス265とさらに上位2ピツトのアドレスをデコ
マドして第1の記憶回路200の第1のイネーブル信号
270〜第4の記憶回路203の第4のイネーブル信号
273に加えることによシ第1〜第4の記憶回路200
〜203に順次O〜63.64〜127゜128〜19
1.192〜255番地と割シ分けるように構成する。
In the embodiment shown in FIG. 3, four memory circuits 200 to 203 are combined to form a memory device with addresses O to 255, and the input and output signals of each memory circuit 200 to 203 are interconnected. There is. The address is determined by decoding the address 265 of each memory circuit 200 to 203 and the address of the upper two pits to form the first enable signal 270 of the first memory circuit 200 to the fourth enable signal 273 of the fourth memory circuit 203. By adding the first to fourth memory circuits 200
~203 sequentially O~63.64~127°128~19
1. It is configured to be divided into addresses 192 to 255.

第4図は第3図の実施例において回路間を渡って連続し
て番地の情報を読出す説明図である。第4図の動作クロ
ックCOでは“62”番地のアドレスが与えられ第3図
の第1の記憶回路200の′″62”番地が読み出され
る。動作クロックCIでも同様に第1の記憶回路200
の”63”番地が読み出される。動作クロックC2では
第1の記憶回路200の最大番地を越えているため、第
1図における隣接回路起動出力信号91がオンとなり。
FIG. 4 is an explanatory diagram for reading out address information continuously across circuits in the embodiment of FIG. 3. In the operation clock CO of FIG. 4, the address of address "62" is given, and address ``62'' of the first memory circuit 200 of FIG. 3 is read out. Similarly, in the operation clock CI, the first memory circuit 200
The address "63" is read out. Since the operating clock C2 exceeds the maximum address of the first memory circuit 200, the adjacent circuit activation output signal 91 in FIG. 1 is turned on.

これが第3図の第2の記憶回路201の隣接回路起動入
力信号(AI )をオンとして第2の記憶回路201の
読出動作が起動される。その除温1の記憶回路200に
おいては読出動作が禁止され、第2の記憶回路201に
おいては番地゛64#が選択され、”64”番地の情報
が読出される。動作クロックC3では同様に第2の記憶
回路201の番地”65″が選択され、65”番地の情
報が読出される。
This turns on the adjacent circuit activation input signal (AI) of the second storage circuit 201 in FIG. 3, thereby starting the read operation of the second storage circuit 201. In the storage circuit 200 of temperature removal 1, the read operation is prohibited, and in the second storage circuit 201, the address "64#" is selected and the information at the address "64" is read. Similarly, at the operation clock C3, address "65" of the second memory circuit 201 is selected, and information at address "65" is read out.

なお上記の実施例では行の数と列の数がいずれも8の場
合について説明したが、これに限られることはなく1両
方共偶数であればよく2列情報線の合計をNとすれば、
第1の列情報線を0,1.・・・。
In the above embodiment, the case where both the number of rows and the number of columns are 8 has been explained, but the invention is not limited to this, and it is sufficient if both numbers are even numbers, and if the total number of 2 column information lines is N, then ,
Connect the first column information line to 0, 1 . ....

(N−1)/2の計N/2個とし、第2の列情報線をN
/2 、 (N+1 )/2 、・・・、N−1の計N
/2個とする。
(N-1)/2, a total of N/2, and the second column information line is N
/2, (N+1)/2, ..., N-1 total N
/2 pieces.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は2行選択線を2分割し、そ
の一方を駆動する行駆動回路にローテートシフト回路と
、最大番地を検出してそれ以降の動作を禁止するととも
に隣接回路を起動する機能とを付加して、指定された番
地から連続した番地のメモリ素子の読出・書込を複数の
記憶回路間でも次の行にまたがって行えるように構成す
ることにより、任意の番地から特定の長さのデータを一
つの指令で連続して得ることを可能にした記憶回路を供
給できるという効果がある。
As explained above, the present invention divides two row selection lines into two, includes a rotation shift circuit in the row drive circuit that drives one of them, detects the maximum address, prohibits subsequent operations, and activates the adjacent circuit. By adding this function, the memory elements at consecutive addresses can be read and written from a specified address to the next row, even between multiple memory circuits. This has the advantage of being able to provide a memory circuit that makes it possible to continuously obtain length data with one command.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第2図は本発明の一実施例におけるタイムチャートを示
す図、第3図は複数個の記憶回路を用いた本発明の一実
施例を示すブロック図、第4図は複数個の記憶回路を用
いた本発明の一実施例におけるタイムチャートを示す図
、第5図は従来の記憶回路を示すブロック図、第6図は
従来の記憶回路におけるタイムチャートを示す図である
。 記号の説明:10・・・メモリマトリックス、20゜3
0・・・行駆動回路、21.31・・・アドレスデコー
ダ、22.32・・・行駆動選択回路、23・・・ロー
テートシフト回路、24・・・行駆動制御部、40・・
・列書込回路、50・・・列読出回路、41.51・・
・アドレスデコーダ、42・・・書込選択回路、45・
・・書込情報、52・・・読出選択回路、55・・・読
出情報。 60・・・アドレスレジスタ、61・・・行アドレス線
。 62・・・列アドレス線、70・・・記憶制御部、71
゜72・・・制御信号線、75・・・制御情報、80・
・・書込読出制御部、82a 、82b・・・列アドレ
ス線。 120〜127.130〜137・・・行選択線。 140〜147・・・列情報線。 第2図 行アドレス二61  =刈】互「==二列アドレス・6
2  コC=[=====第6図
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. Fig. 2 is a diagram showing a time chart in an embodiment of the present invention, Fig. 3 is a block diagram showing an embodiment of the invention using a plurality of memory circuits, and Fig. 4 is a diagram showing an embodiment of the invention using a plurality of memory circuits. FIG. 5 is a block diagram showing a conventional memory circuit, and FIG. 6 is a diagram showing a time chart in the conventional memory circuit. Explanation of symbols: 10...Memory matrix, 20°3
0... Row drive circuit, 21.31... Address decoder, 22.32... Row drive selection circuit, 23... Rotate shift circuit, 24... Row drive control unit, 40...
・Column write circuit, 50... Column read circuit, 41.51...
・Address decoder, 42...Write selection circuit, 45.
. . . Write information, 52 . . . Read selection circuit, 55 . . . Read information. 60... Address register, 61... Row address line. 62... Column address line, 70... Storage control unit, 71
゜72... Control signal line, 75... Control information, 80...
. . . Write/read control unit, 82a, 82b . . . Column address lines. 120-127.130-137... Row selection line. 140-147...Column information lines. Figure 2 Row Address 261 =Kari] Mutual '==2nd Column Address 6
2 KoC=[=====Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、行方向に配列されたM個(0、1、・・・、M−1
)の行選択線と、列方向に配列されたN個(0、1、・
・・、N−1)の列情報線と、前記行選択線及び列情報
線の交点にM行N列(共に偶数)のマトリックス状に配
置された夫々に番地付けされたメモリ素子と、該メモリ
素子の一つの番地を指定する行アドレスと列アドレスか
ら成るアドレスを蓄積するアドレスレジスタと、前記行
アドレス及び列アドレスを夫々デコードするアドレスデ
コーダ並びに前記アドレスデコーダの出力により前記行
選択線を択一的に選択する行駆動選択回路を有する行駆
動回路と、前記列情報線に択一的に書込情報を与える書
込選択回路を有する列書込回路と、前記列情報線から択
一的に読出情報を読出す読出選択回路を有する列読出回
路とを有する記憶回路において、前記N個の列情報線を
上位列情報線(0−N/2−1)と下位列情報線(N/
2〜N−1)に分類し、前記行選択線を前記上位列情報
線と交差する第1の行選択線及び前記下位列情報線と交
差する第2の行選択線に分割し、前記行駆動回路を、前
記第1の行選択線を選択・駆動し、前記アドレスデコー
ダと行駆動選択回路の間にあって、上位列を選択する列
アドレスの場合は前記アドレスデコーダの出力をそのま
ま前記行駆動選択回路に与え、下位列を選択する列アド
レスの場合は前記アドレスデコーダの出力をシフトさせ
て次の行アドレスを前記行駆動選択回路に与えるローテ
ートシフト回路を有する第1の行駆動回路と、前記第2
の行選択線を選択・駆動する第2の行駆動回路とに分割
し、更に、最大の番地を選択された場合にそれ以降の読
出しあるいは書込みを禁止する手段と、他の記憶回路の
読出しあるいは書込みを可能とする信号および他の記憶
回路からの信号により読出しあるいは書込む動作を起動
できる手段とを有し、前記アドレスで指定された番地か
ら行をまたいであるいは記憶回路をまたいで連続した複
数個の番地のメモリ素子を時分割的に読出しあるいは書
込み可能にしたことを特徴とする記憶回路。
1, M pieces arranged in the row direction (0, 1, ..., M-1
) row selection lines and N selection lines (0, 1, . . . ) arranged in the column direction.
. . , N-1) column information lines, memory elements arranged in a matrix of M rows and N columns (all even numbers) at the intersections of the row selection line and the column information line, respectively addressed. an address register that stores an address consisting of a row address and a column address specifying one address of a memory element, an address decoder that decodes the row address and column address, respectively, and the row selection line is selected based on the output of the address decoder. a row drive circuit having a row drive selection circuit that selectively selects write information; a column write circuit having a write selection circuit that selectively supplies write information to the column information line; In a memory circuit having a column readout circuit having a readout selection circuit for reading readout information, the N column information lines are connected to an upper column information line (0-N/2-1) and a lower column information line (N/2-1).
2 to N-1), and divides the row selection line into a first row selection line that intersects with the upper column information line and a second row selection line that intersects with the lower column information line; The row drive circuit selects and drives the first row selection line, and in the case of a column address that is located between the address decoder and the row drive selection circuit and selects an upper column, the output of the address decoder is directly used to drive the row. a first row drive circuit having a rotation shift circuit which is applied to a selection circuit and, in the case of a column address for selecting a lower column, shifts the output of the address decoder and provides the next row address to the row drive selection circuit; Said second
and a second row drive circuit that selects and drives the row selection line, and further includes a means for prohibiting further reading or writing when the largest address is selected, and a second row driving circuit that selects and drives the row selection line of the memory circuit. A signal that enables writing and a means that can start a read or write operation by a signal from another memory circuit, and a plurality of consecutive memory cells extending across rows or across memory circuits from the address specified by the address. 1. A memory circuit characterized in that memory elements at different addresses can be read or written in a time-division manner.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07325754A (en) * 1994-05-17 1995-12-12 Winbond Electron Corp Memory device with page selection function
JP2021174561A (en) * 2020-04-20 2021-11-01 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション Semiconductor storage device

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