JPS63142230A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被測定光ファイバの損失等を測定する光パル
ス試験器に関する。

［従来の技ｆｒ］ 従来の光パルス試験器を第４図に示す。

第４図（ａ）は、被測定ファイバ６としてシングルモー
ドファイバ６ａを測定する光パルス試験器の光学部であ
る。この場合、シングルモードファイバ６ａと光路変更
素子５との間にシングルモードファイバ３０を設けてい
る。

また、第４図（ｂ）は、被測定ファイバとしてマルチモ
ードファイバ６ｂを測定する光パルス試験器の光学部で
ある。この場合、マルチモードファイバ６ｂと光路変更
素子５との間にはマルチモードファイバ３１が設けられ
ている。

従来は、シングルモードファイバ６ａ及びマルチモード
ファイバ６ｂを同一の光パルス試験器で測定しようとす
ると、これら相違する光フアイバ同志間のコア径により
光が減衰してしまう。このため、光パルス試験器として
十分な性能が得られなかった。

［発明が解決しようとする間層点］ 例えば、シングルモードファイバ６ａ用の光ノ＼ルス試
験器でマルチモードファイバ６ｂを測定しようとすると
、マルチモードファイバ６ｂのコア径よりシングルモー
ドファイバ３０のコア径の方が小さいためマルチモード
ファイバ６ｂｑシングルモードフアイバ３０との接続点
にて反射パルス光および後方散乱光が減衰してしまう。

このため、ダイナミックレンジが減少してしまい、測定
距離が短くなり光パルス試験器として十分な性能が得ら
れない。

一方、マルチモードファイバ６ｂ用の光パルス試験器で
シングルモードファイバ６ａを測定しようとすると、マ
ルチモードファイバ３１のコア径よりシングルモードフ
ァイバ６ａのコア径の方が小さいため、マルチモードフ
ァイバ３１とシングルモードファイバ６ａとの接続点に
てマルチモードファイバ３１からの出射光が減衰してし
まう。

しかし、発光素子１からマルチモードファイバ３１への
出射光を低次モード励振することにより、マルチモード
ファイバ３１とシングルモードファイバ６ａとの接続点
にてマルチモードファイバ３１からシングルモードファ
イバ６ａへの出射光の減衰量を従来の定状モード励振と
比べ大幅に減少させる事ができる。

このよ、うにして、マルチモードファイバ６ｂ用の光パ
ルス試験器でシングルモードファイバ６ａを測定した測
定結果を第５図に示す。図に示すように測定値は、安定
しておらずこの原因は、ゆらぎ、つまり反射パルス光お
よび後方散乱光がある特有な偏光状態のまま偏光依存性
のある光方向性結合器等の光路変更素子５へ入射するた
めにより生じる。このゆらぎは、被測定光ファイバ６と
してシングルモードファイバ６ａを接続したときのみに
生じるものでマルチモードファイバ６ｂを接続した時に
は生じない。このゆらぎにより、例えば光ファイバの損
失、接続状態右よび障害点位置等を正確に測定すること
ができなくなる問題点がある。

本発明は、上述の事情に鑑みて成されたものであり、シ
ングルモードファイバ及び、マルチモードファイバのい
ずれも測定することができる光パルス試験器を提供する
ことを目的としている。

［問題点を解決するための手段］ したがって本発明の光パルス試験器は、シングルモード
ファイバ（６ａ）あるいは、マルチモードファイバ（６
ｂ）のいずれの被測定光ファイバ（６）からの反射パル
ス光および後方散乱光を検出することにより被測定光フ
ァイバ（６）の損失、接続状態および障害点位置等を測
定可能な光パルス試験器であって： 該被測定光ファイバ（６）に光を出射するための発光素
子（１）と： 該発光素子（１）と、前記被測定光ファイバ（６）との
間に設けられ、前記発光素子（１）の光を前記被測定光
ファイバに出射するとともに、被測定光ファイバ（６）
からの反射パルス光および後方散乱光を出力する光路変
更素子（５）と；該光路変更素子（５）から出力された
反射パルス光および後方散乱光を検出する受光素子（７
）と； 前記被測定光ファイバ（６）と光路変更素子（５）との
間に設けられたマルチモードファイバ（２）と； 該マルチモードファイバ（２）を機械的に繰返し励振す
る励振器（８）と： を具備することを特徴としている。

また、前記励振器（８）は、圧電素子（ｌＯ）の伸張に
より前記マルチモードファイバを縁り返し加圧する構成
としてもよい。

［作用］ 発光素子１の光は、低次モード励振され光路変更素子５
及びマルチモードファイバ２を通り、コネクタ３に接続
された被測定光ファイバ６に入射する。被測定光ファイ
バ６からは反射パルス光および後方散乱光が戻ってきて
この反射パルス光および後方散乱光は光路変更素子５か
ら出力されて受光素子７に入射する。

このときマルチモードファイバ２は励振器８にて励振さ
れている。制御部１６は制御信号を励振器８に供給して
いて、圧電素子１０は伸張を繰り返し、マルチモードフ
ァイバ２を加圧している。

従って、被測定ファイバ６としてシングルモードファイ
バ６ａを接続した場合は、マルチモードファイバ２内に
て、光は偏光状態が強制的に変えられているためにマル
チモードファイバ２からの出射光の偏光状態を強制的に
常時変えている。

よって戻ってくる反射パルス光および後方散乱光の偏光
状態も常時変化している。このため偏光依存性のある光
路変更素子５からの出力が強制的に変化させられ受光素
子７に入射する。受光素子７の電気信号は、信号処理部
にて電気的にアベレージング処理され、ゆらぎの影響を
排したデータがＣＲＴディスプレイ上に表示される。ま
た、被測定ファイバ６としてマルチモードファイバ６ｂ
を接続した場合は、マルチモードファイバ６ｂの特性に
より反射パルス光および後方散乱光の偏光状態はくずれ
ているためマルチモードファイバ６ｂの損失、接続状態
および障害点位置等を問題なく測定できる。

［実施例］ 以下、本発明の光パルス試験器の一実施例を図面に基づ
き説明する。

第１図は、光パルス試験器の光学部を示す概要図である
。

図に示すように、１は、ＬＥＤ、ＬＤ等の発光素子であ
り、素子の種類あるいは配置により任意の偏光状態て発
光する。この発光素子１の出射方向には、マルチモード
ファイバ２が配置されている。マルチモードファイバ２
にはコネクタ３が接続されている。そして、°コネクタ
３には被測定光ファイバ６が着脱自在である。被測定光
ファイバとしてはシングルモードファイバ６ａあるいは
マ、ルチモードファイバがある。

前記発光素子１及びマルチモードファイバ２の間には、
レンズ群４８〜４Ｃが配置されこれらレンズ間は光が平
行光とされている。そしてレンズ４ａとレンズ４ｂとの
間には、光路変更素子５が配置されている。

光路変更素子５は、光方向性結合器あるいは、音雷光学
素子などにより構成される。この光路変更素子５は、発
光素子１の光をレンズ４ｂ方向に出射し、この光は低次
モード励振されマルチモードファイバ２を介して被測定
光ファイバ６に出射するとともに、被測定光ファイバ６
からの反射パルス光および後方散乱光をレンズ４Ｃ方向
に出射する。

そしてレンズ４Ｃ方向には、受光素子７が設けられてい
る。受光素子７の電気信号は、図示しない信号処理部に
出力されて処理データはＣＲＴディスプレイ上に表示さ
れる。

また、前記マルチモードファイバ２には励振器８が設け
られている。

第２図（ａ）は、この励振器８の一例を示す正面断面図
；第２図（ｂ）は、同図（ａ）の側面図である。図に示
すように、光フアイバ励振器８は、中空の筺体９内の構
成部により構成されている。筺体９の中空部９ａには、
圧電セラミックより成る圧電素子１０が立設されている
。この圧電素子ｌＯは、電圧印加時の伸張方向が上方向
となっている。また、圧電素子１０の電極は、筺体９の
端子１１ａ、１１ｂに接続されている。

また、筺体９の上部には、マルチモードファイバ２のク
ラッドあるいは、クラッド上のＵｖ被被覆固定する固定
部材１２が、螺子１２ａ、１２ｂを介して筺体９に着脱
自在となっている。この固定部材１２の中央部には、ダ
ブルナツトの押え端子１２ｃが圧電素子１０方向に伸張
自在に設けられている。

また、固定部材１２の両側の筺体９上部には、マル、チ
モードファイバ２のナイロン被覆固定用の固定部材１３
が螺子１３ａにより筺体９に着説自在である。

そして、前記固定部材１２と、圧電素子１０の間には、
マルチモードファイバ２のクラッドあるいはＬＩ　Ｖ　
Ｍ　Ｍｌが挟持されるわけであるが、このマルチモード
ファイバ２は、ベークあるいはガラス製の押え板１４．
１４そしてステンレス製の押え板１５．１５を介して固
定部材１２及び圧電素子１０間に挟持されるようになっ
ている。

そして、前記端子１１ａ、ｌｌｂは、制御部１６に接続
されている。制御部１６は、圧電素子１０に対し直流あ
るいは、交流の印加電圧を生成し、マルチモードファイ
バ２の押圧力を制御するものであや。さらに、この制御
部１６は、圧電素子１０に周期的に電圧が変化する制御
信号を供給することができる。制御信号としては、例え
ば、商用電源の５０Ｈｚ、ＳＩＮ波を使用することがで
き、波形および周波数は任意に設定することができる。

そして、前述の構成部は、機器本体１７に固設されてい
る。

次に本発明の光パルス試験器の動作を説明する。

発光素子ｌの光は、光路変更素子５及びマルチモードフ
ァイバ２を通り、コネクタ３に接続された被測定光ファ
イバ６に入射する。このとき発光素子１がＬＤである場
合、光は所定方向に偏光している。

被測定光ファイバ６からは反射パルス光および後方散乱
光が戻ってきて光路変更素子５から反射パルス光および
後方散乱光が受光素子７に入射する。

被測定光ファイバ６としてシングルモードファイバが接
続されているとすると、反射パルス光および後方散乱光
は偏光した状態で戻ってきてこのままの状態ではマルチ
モードファイバ２が十分短いものであるため特有な偏光
状態を保ったまま光路変更素子５に入射する。このまま
では、光路変更素子５部分で前記偏光状態の影響を受は
受光素子７方向へ一定な出力の光を得ることができない
。

しかし、このときマルチモードファイバ２は励振器８に
て励振されている。制御部１６は制御信号を励振器８に
供給していて、圧電素子１０は伸張を繰り返し、マルチ
モードファイバ２を励振している。

従って、マルチモードファイバ２内にて、光の偏光状態
が強制的に変えられているためにマルチモードファイバ
２から被測定光ファイバ６へ出射される光の偏光状態も
強制的に常時変化させられる。また反射パルス光および
後方散乱光の偏光状態も常時変化している。このため偏
光依存性のある光路変更素子５からの出力が強制的に変
化させられ、受光素子７に入射することができる。受光
素子７の電気信号は、信号処理部にて電気的にアベレー
ジング処理され、ゆらぎの影響を排したデータがＣＲＴ
ディスプレイ上に表示される。

第３図に示すのは本発明の光パルス試験器のデータを示
す図であり、この図に示すように従来に比べてゆらぎを
排した安定なデータが得られる。

また、被測定ファイバ６としてマルチモードファイバ６
ｂを接続した場合は、マルチモードファイバ６ｂの特性
により反射パルス光および後方散乱光の偏光状態はくず
れているため、マルチモードファイバ６ｂの損失、接続
状態および障害点位置等を問題なく測定できる。

上述の実施例において励振器８は、マルチモードファイ
バ２を繰り返し加圧するよう構成したが、外、マルチモ
ードファイバ２をゆする構成としてもよい。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明の光パルス試験器によれば
、シングルモードファイバ及び、マルチモードファイバ
のいずれも偏光の影響を排し、安定した高精度な測定を
行なうことができる。

また、被測定ファイバにシングルモードファイパを接続
したときには、従来、マルチモード用光パルス試験器に
シングルモードファイバを接続したときに比べ、接続損
失が低く、広いダイナミックレンジが得られ、長距離測
定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は、本発明の光パルス試験器の光学部を示す概要
図、第２図（ａ）、（ｂ）は、各々、同光パルス試験器
に用いられる励振器の一例を示す正面断面図及び側面図
、第３図は、同光パルス試験器によるデータを示す図、
第４図（ａ）。 （ｂ）は、各々、従来の光パルス試験器の光学部を示す
図、第５図は、従来の光パルス試験器によるデータを示
す図である。 １−発光素子、２−マルチモードファイバ、５−光路変
更素子、６・−被測定光ファイバ、６ａ−シングルモー
ドファイバ、６ｂマルチモードフアイバ、７−受光素子
、８−励振器。 特許出願人　　アンリツ株式会社 代理人・弁理士　　、西　村　教　先 竿１図 ′−１６ 第２図（ａ）　　　　　第２図（ｂ） 第３図 第５図 ＋ｌＦ！毅

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）シングルモードファイバ（６ａ）あるいは、マル
   チモードファイバ（６ｂ）のいずれの被測定光ファイバ
   （６）からの反射パルス光および後方散乱光を検出する
   ことにより、被測定光ファイバ（６）の損失、接続状態
   および障害点位置等を測定可能な光パルス試験器であっ
   て； 該被測定光ファイバ（６）に光を出射するための発光素
   子（１）と； 該発光素子（１）と、前記被測定光ファイバ（６）との
   間に設けられ、前記発光素子（１）の光を前記被測定光
   ファイバに出射するとともに、被測定光ファイバ（６）
   からの反射パルス光および後方散乱光を出力する光路変
   更素子（５）と；該光路変更素子（５）から出力された
   反射パルス光および後方散乱光を検出する受光素子（７
   ）前記被測定光ファイバ（６）と光路変更素子（５）と
   の間に設けられたマルチモードファイバ（２）と； 該マルチモードファイバ（２）を機械的に繰返し励振す
   る励振器（８）と； を具備することを特徴とする光パルス試験器。
2. （２）前記励振器（８）は、圧電素子（１０）の伸張に
   より前記マルチモードファイバを繰り返し加圧する特許
   請求の範囲第１項記載による光パルス試験器。