JPS63140489A - Semiconductor memory device - Google Patents
Semiconductor memory deviceInfo
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- JPS63140489A JPS63140489A JP61287339A JP28733986A JPS63140489A JP S63140489 A JPS63140489 A JP S63140489A JP 61287339 A JP61287339 A JP 61287339A JP 28733986 A JP28733986 A JP 28733986A JP S63140489 A JPS63140489 A JP S63140489A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ビット線対をイコライズする手段を有する
半導体記憶装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor memory device having means for equalizing bit line pairs.
[従来の技術]
第3図は従来のダイナミックメモリのセンス系の回路の
一部を示す図である。[Prior Art] FIG. 3 is a diagram showing part of a sensing circuit of a conventional dynamic memory.
図において、複数のメモリセルに接続されたビット線対
1.2には、データの読出し時にビット線対1.2間に
現われる微少な電位差を増幅するセンスアンプ3が接続
されている。図においては、ビット線1に接続された1
つのメモリセル4のみが示されている。メモリセル4は
キャパシタとトランスファゲートとで構成され、トラン
スファゲートにはワード線5が接続されている。また、
ビット線対1,2には、このビット線1,2間を短絡し
て等電位にするためのイコライズ用トランジスタ6が接
続されている。In the figure, a sense amplifier 3 is connected to a bit line pair 1.2 connected to a plurality of memory cells, which amplifies a minute potential difference that appears between the bit line pair 1.2 when reading data. In the figure, 1 connected to bit line 1
Only one memory cell 4 is shown. The memory cell 4 is composed of a capacitor and a transfer gate, and a word line 5 is connected to the transfer gate. Also,
An equalizing transistor 6 is connected to the bit line pair 1 and 2 to short-circuit the bit lines 1 and 2 to equalize the potential.
この半導体記憶装置においては、データの読出し前にイ
コライズ用トランジスタ6をオンさせてビット線1,2
間を短絡することによってビット線1.2を予めイコラ
イズしておく。次に、メモリセル4のトランスファゲー
トに接続されたワード線5が高レベルになると、トラン
スファゲートが導通状態となり、メモリセルのキャパシ
タに蓄積された電荷(情報)がビット線1に伝達される
。In this semiconductor memory device, the equalizing transistor 6 is turned on and the bit lines 1 and 2 are turned on before reading data.
Bit lines 1.2 are equalized in advance by short-circuiting between them. Next, when the word line 5 connected to the transfer gate of the memory cell 4 becomes high level, the transfer gate becomes conductive and the charge (information) accumulated in the capacitor of the memory cell is transmitted to the bit line 1.
このときビット線対1.2間に現われた微少な電位差を
センスアンプ3によって増幅することによって蓄積され
ていた情報が「1」であるか「0」であるかを判定する
。At this time, the sense amplifier 3 amplifies the minute potential difference that appears between the bit line pair 1.2, thereby determining whether the stored information is "1" or "0".
以上説明したようにビット線間の微少な電位差からデー
タを判定するため、読出し前にビット線対をイコライズ
するという動作が非常に重要な意味を持つ。As explained above, since data is determined based on a minute potential difference between bit lines, the operation of equalizing the bit line pair before reading has a very important meaning.
[発明が解決しようとする問題点]
ところが上記のように構成された従来の半導体記憶装置
においては、nチャネル形トランジスタのみを用いてビ
ット線間を短絡させているため、ゲートへの入力信号が
高レベルから低レベルに下がってトランジスタがオフす
るときに、トランジスタのゲート・ソース間およびゲー
ト・ドレイン間の容量によりカップリングを受けて、ビ
ット線のレベルも低下してしまう。これは特に、ビット
線を電源電圧VCCの1/2の電圧にプリチャージする
最近は一般的である(1/2)Vccビット線プリプリ
チャージ方式いては、(1/2)V。Cレベルよりも低
いレベルでプリチャージされることになり、これが読出
しのマージン不足につながる等の問題があった。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional semiconductor memory device configured as described above, only n-channel transistors are used to short-circuit the bit lines, so that the input signal to the gate is When the transistor is turned off by going from a high level to a low level, the level of the bit line also decreases due to coupling due to capacitance between the gate and source and between the gate and drain of the transistor. This is especially true in the recently common (1/2) Vcc bit line pre-precharge method in which the bit line is precharged to a voltage that is 1/2 of the power supply voltage VCC. This results in precharging at a level lower than the C level, leading to problems such as a lack of read margin.
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ビット線のイコライズ終了時にイコライズ用
トランジスタのカップリングを受けず、イコライズレベ
ルを所望の値に設定することができる半導体記憶装置を
得ることを目的とする。This invention was made to solve the above-mentioned problems, and provides a semiconductor memory device in which the equalization level can be set to a desired value without being coupled by an equalizing transistor when bit line equalization is completed. The purpose is to obtain.
[問題点を解決するための手段]
この発明に係る半導体記憶装置は、ビット線間を短絡す
るトランジスタとして、ゲートにイコライズ信号φが加
えられることによりオンする第1導電チヤネ゛ル形トラ
ンジスタと、ゲートに前記イコライズ信号φの反転信号
であるイコライズ信号φが加えられることによりオンす
る第2導電チャネル形トランジスタとを用い、これらの
両方のトランジスタによってビット線間を同時にイコラ
イズするものである。[Means for Solving the Problems] A semiconductor memory device according to the present invention includes a first conductive channel type transistor that is turned on when an equalization signal φ is applied to its gate, as a transistor that shorts between bit lines; A second conductive channel type transistor that is turned on when an equalize signal φ, which is an inverted signal of the equalize signal φ, is applied to the gate thereof is used, and both of these transistors simultaneously equalize the bit lines.
[作用]
この発明に係る半導体記憶装置においては、イコライズ
終了時に一方のトランジスタのゲートに加わる信号が高
レベルから低レベルに変化するとカップリングによりビ
ット線対の電圧が低下しようとするが、同時に、他方の
トランジスタのゲートに加わる信号が低レベルから高レ
ベルに変化するため、カップリングによりビット線対の
電圧が上昇しようとする。したがって、両方のトランジ
スタによるビット線対の電圧の動きが相殺されることに
なり、ビット線の電圧は変動しない。[Function] In the semiconductor memory device according to the present invention, when the signal applied to the gate of one transistor changes from a high level to a low level at the end of equalization, the voltage of the bit line pair tends to decrease due to coupling, but at the same time, Since the signal applied to the gate of the other transistor changes from low level to high level, the voltage on the bit line pair tends to rise due to coupling. Therefore, the voltage movements of the bit line pair due to both transistors are canceled out, and the voltage of the bit line does not change.
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図面を用いて説明する。[Example] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はこの発明による半導体記憶装置の主要部の回路
図である。複数のメモリセルに接続されたビット線対1
,2には、第3図に示した従来の半導体記憶装置と同様
に、センスアンプ3が接続されている。第1図において
もビット線1に接続された1つのメモリセル4のみが示
されており、このメモリセルのトランスファゲートには
ワード線5が接続されている。FIG. 1 is a circuit diagram of the main parts of a semiconductor memory device according to the present invention. Bit line pair 1 connected to multiple memory cells
, 2 are connected to a sense amplifier 3, similar to the conventional semiconductor memory device shown in FIG. Also in FIG. 1, only one memory cell 4 connected to the bit line 1 is shown, and the word line 5 is connected to the transfer gate of this memory cell.
この半導体記憶装置には、ビット線1,2間を短絡する
イコライズ用トランジスタとして、nチャネル形トラン
ジスタ6およびpチャネル形トランジスタ7が用いられ
ており、各トランジスタ6゜7のソース、ドレインがそ
れぞれビット線1,2に接続されている。This semiconductor memory device uses an n-channel transistor 6 and a p-channel transistor 7 as equalizing transistors that short-circuit between bit lines 1 and 2, and the source and drain of each transistor 6 and 7 are connected to the bit lines, respectively. Connected to lines 1 and 2.
次にこの半導体記憶装置におけるビット線対1゜2のイ
コライズ動作について説明する。データを読出す前のイ
コライズ時には、nチャネル形トランジスタ6のゲート
に第2図(a)に示すように低レベルから高レベルに変
化するイコライズ信号φを加え、同時にpチャネル形ト
ランジスタ7のゲートに第2図(b)に示すように高レ
ベルから低レベルに変化するイコライズ信号7を加える
ことによって、nチャネル形トランジスタ6およびpチ
ャネル形トランジスタ7をオンさせてビット線1,2間
をこの2つのトランジスタ6.7によって短絡させる。Next, the equalizing operation of bit line pair 1.degree.2 in this semiconductor memory device will be explained. During equalization before reading data, an equalize signal φ that changes from a low level to a high level is applied to the gate of the n-channel transistor 6 as shown in FIG. As shown in FIG. 2(b), by applying an equalize signal 7 that changes from a high level to a low level, the n-channel type transistor 6 and the p-channel type transistor 7 are turned on, and the bit lines 1 and 2 are connected between the bit lines 1 and 2. short-circuited by two transistors 6.7.
このイコライズは、nチャネル形トランジスタ6のゲー
トに加えられる高レベルのイコライズ信号φを低レベル
にするとともにpチャネル形トランジスタ7のゲートに
加えられている低レベルのイコライズ信号φを高レベル
にして2つのトランジスタ6.7をオフさせることによ
って終了する。このとき、nチャネル形トランジスタ6
のゲートに加えられているイコライズ信号φとビット線
対1,2のカップリングによってビット線対1,2の電
圧が低下しようとするが、pチャネル形トランジスタ7
のゲートに加えられているイコライズ信号7とビット線
対1.2のカップリングによってビット線対1.りの電
圧は上昇しようとするため、これらの電圧の動きが相殺
され、イコライズ期間中の電圧レベルのままイコライズ
は終了する。This equalization is carried out by lowering the high-level equalization signal φ applied to the gate of the n-channel transistor 6 and high level the low-level equalization signal φ applied to the gate of the p-channel transistor 7. The process ends by turning off the two transistors 6.7. At this time, the n-channel transistor 6
The voltage of the bit line pair 1, 2 tends to decrease due to the coupling between the equalize signal φ applied to the gate of the p-channel transistor 7 and the bit line pair 1, 2.
The bit line pair 1.2 is coupled to the equalization signal 7 applied to the gate of the bit line pair 1.2. Since the other voltages tend to rise, the movements of these voltages cancel each other out, and equalization ends at the same voltage level as during the equalization period.
したがって、次の動作であるデータの読出しは充分なマ
ージンをもって行なうことができる。Therefore, the next operation, data reading, can be performed with sufficient margin.
なお、上記実施例においては、ビット線1.2間を短絡
させるためにnチャネル形トランジスタ6とpチャネル
形トランジスタ7を1つずつ用いているがこれらのトラ
ンジスタ6.7を複数個ずつ用いてもよく、この場合も
nチャネル形トランジスタ6とpチャネル形トランジス
タ7によるビット線対1,2の電圧の低下および上昇が
互いに相殺されるように構成することによって上記実施
例と同様の効果が得られる。In the above embodiment, one n-channel transistor 6 and one p-channel transistor 7 are used to short-circuit between the bit lines 1.2, but it is also possible to use a plurality of these transistors 6.7. In this case as well, the same effect as in the above embodiment can be obtained by configuring the bit line pair 1 and 2 so that the decrease and increase in voltage of the bit line pair 1 and 2 due to the n-channel transistor 6 and the p-channel transistor 7 cancel each other out. It will be done.
また、上記実施例においては、nチャネル形トランジス
タ6およびpチャネル形トランジスタ7のゲート・に直
接イコライズ信号を加えているが、これらのトランジス
タ6.7にいくつかのトランジスタを接続してこのトラ
ンジスタを介してnチャネル形トランジスタ6およびp
チャネル形トランジスタ7にイコライズ信号を加えても
よい。Further, in the above embodiment, an equalization signal is applied directly to the gates of the n-channel transistor 6 and the p-channel transistor 7, but it is possible to connect several transistors to these transistors 6 and 7 to control this transistor. via n-channel transistor 6 and p
An equalization signal may be applied to the channel type transistor 7.
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、ビット線イコライズ用
のトランジスタとして第1導電チャネル形トランジスタ
と第2導電チャネル形トランジスタの両方を用いている
ので、イコライズ終了時におけるカップリングによるビ
ット線対の電圧の低下および上昇が相殺されてビット線
対の電圧が変動せず、より確実なイコライズ動作を行な
うことができる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, since both the first conductive channel type transistor and the second conductive channel type transistor are used as transistors for bit line equalization, the coupling due to the end of equalization is reduced. The decrease and increase in the voltage of the bit line pair are canceled out, so that the voltage of the bit line pair does not fluctuate, and a more reliable equalization operation can be performed.
第1図はこの発明に係る半導体記憶装置の一実施例の回
路図、第2図(a)および(b)はイコライズ用トラン
ジスタに加えられるイコライズ信号の波形図、第3図は
従来の半導体記憶装置の回路図である。
図において、1.2はビット線、4はメモリセル、6は
nチャネル形トランジスタ、7はpチャネル形トランジ
スタである。
なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of a semiconductor memory device according to the present invention, FIGS. 2(a) and (b) are waveform diagrams of equalization signals applied to equalization transistors, and FIG. 3 is a conventional semiconductor memory device. FIG. 3 is a circuit diagram of the device. In the figure, 1.2 is a bit line, 4 is a memory cell, 6 is an n-channel transistor, and 7 is a p-channel transistor. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
報の入出力を行なうビット線対と、前記ビット線対を第
1のイコライズ信号に応じて短絡する第1導電チャネル
形トランジスタと、前記ビット線対を前記第1のイコラ
イズ信号と相補な第2のイコライズ信号に応じて同時に
短絡する第2導電チャネル形トランジスタとを備えた半
導体記憶装置。(1) a plurality of memory cells, a bit line pair that inputs and outputs information to and from the memory cells, a first conductive channel type transistor that shorts the bit line pair in response to a first equalization signal; A semiconductor memory device comprising a second conductive channel type transistor that simultaneously shorts a bit line pair in response to a second equalize signal complementary to the first equalize signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61287339A JPS63140489A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61287339A JPS63140489A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Semiconductor memory device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63140489A true JPS63140489A (en) | 1988-06-13 |
Family
ID=17716089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61287339A Pending JPS63140489A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Semiconductor memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63140489A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007179602A (en) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
US8035147B2 (en) | 2007-06-26 | 2011-10-11 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60212894A (en) * | 1984-04-06 | 1985-10-25 | Hitachi Ltd | Dynamic ram |
JPS6135019A (en) * | 1984-07-27 | 1986-02-19 | Hitachi Ltd | Drive circuit of cmos switch |
-
1986
- 1986-12-01 JP JP61287339A patent/JPS63140489A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60212894A (en) * | 1984-04-06 | 1985-10-25 | Hitachi Ltd | Dynamic ram |
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---|---|---|---|---|
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US8035147B2 (en) | 2007-06-26 | 2011-10-11 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
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